JPS6122443A - 光デイスク装置の自動利得制御装置 - Google Patents

光デイスク装置の自動利得制御装置

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JPS6122443A
JPS6122443A JP14182284A JP14182284A JPS6122443A JP S6122443 A JPS6122443 A JP S6122443A JP 14182284 A JP14182284 A JP 14182284A JP 14182284 A JP14182284 A JP 14182284A JP S6122443 A JPS6122443 A JP S6122443A
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JP
Japan
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attenuator
signal
gain
output
servo error
Prior art date
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JP14182284A
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JPH0444810B2 (ja
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Hiroshi Inada
稲田 博司
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NEC Corp
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NEC Corp
Nippon Electric Co Ltd
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明は光学手段を用いて、記録媒体上に情報を記録し
、あるいは、既に記録されている情報を再生する光学式
情報再生装置に関し、特に前記装置のトラッキングおよ
びフォーカス位置制御装置に関する。
(従来技術とその問題点) レーザー光を光源とし、このレーザー光を外部の情報源
からパルス状信号で変調して、ディスク上の記録媒体に
2値的に記録し、あるいは、既に記録されている情報を
読出す光学式情報記録再生装置においては、情報の記録
あるいは再生を正確に行うために焦点制御によって、記
録媒体面が常に集光レンズの焦点位置となるように集光
レンズの光軸方向の焦点位置が制御され、また、情報の
記録あるいは、再生時の前記レーザー光のスポットの情
報トラックに対するトラック位置制御は、通常°記録媒
体上にその光スポットに最適な巾および使用レーザー光
の波長に最適な深さをもつ案内溝を設けて、その案内溝
にビームスポットが沿うように、トラック位置制御を行
う。
このとき情報の記録時には、レーザー光のパワーを読出
し時の10倍程度大きくし、記録媒体面に熱的に情報を
記録する。このようにレーザー元パワーを大きくすると
、反射光も、それにともなって大きくなり、この反射光
をもとにして検出するサーボエラー信号も大きくなり、
その結果サーボ系が発振を起こし、情報が正確に記録さ
れず、さらには、フォーカスサーボがずれることにより
、トラッキングサーボ系にも悪影響を及ぼし、光スポッ
トが所望のトラックからはずれてしまうことがある。
また、情報記録後は、記録媒体の樵類によっては、反射
率が低重でこの場合、上記とは逆に反射光が減少し、サ
ーボエラー信号も減少する。その結果サーボ系のループ
ゲインが低下し、記録媒体このようにレーザー光パワー
変化および記録媒体の反射変化によってサーボエラー信
号検出ゲインが大きく変化し、記録媒体面に対する元ビ
ームの追従性が悪化し、情報の記録再生の信頼性が大き
く低下する。
(発明の目的) 本発明の目的は上記欠点を取除き、レーザ元のパワー変
化および記録媒体面の反射変化が発生しても、常に一定
のサーボエラー検出ゲインが得られる自動利得制御装置
を提供するととKSる。
(発明の構成) 本発明によれば、ディスク面上からの反射光を受けサー
ボエラー信号を検出するための2分割光センサと前記2
分割光センサの2つの出力の差であるサーボエラー信号
を出力する第1の演算増巾器と、前記サーボエラー信号
を受け外部から与えられるゲート信号によって前記サー
ボエラー信号に対するゲインが一定値減衰する第1のア
ッテネータと前記第1のアッテネータの出力を受けゲイ
ンコントロール信号によって前記第1のアッテネータの
出力であるサーボエラー信号に対するゲインが変化する
第2のアッテネータと、前記2分割光センサの2つの出
力の和である和信号を出力する第2の演算増巾器と、前
記和信号を受け、前記!ゲート信号によって前記和信号
に対するゲインが前記第1のアッテネータと同様一定値
減衰する第3のアッテネータと、前記第3のアッテネー
タの出力を受け前記ゲインコントロール信号によって前
記第4のアッテネータの出力である和信号に対するゲイ
ンが変化する第4のアッテネータと、前記第4のアッテ
ネータの出力を受け基準信号との差を演算し、前記ゲイ
ンコントロール信号を出力する第3の演算増巾器とから
構成され、前記2分割光センサが受ける光量変化に対し
、その光量変化が小さい時は、前記ゲート信号は与えず
、前記第4のアッテネータの出力が前記基準信号と等し
くなるようにゲインコントロール信号が制御されること
によって、前記第2のアッテネータの出力であるトラッ
クエラー信号の検出ゲインを一定に制御し、前記光量変
化が大きい時は前記ゲート信号によって前記第1のアッ
テネータおよび前記第3のアッテネータのゲインをそれ
ぞれ一定値減衰し、その後、前記第4のアッテネータの
出力が前記基準信号と等しくなるようにゲインコントロ
ール信号が制御されることによって前記第2のアッテネ
ータの出力であるサーボエラー信号の検出ゲインを一定
に制御することを特徴とする自動利得制御装置が得られ
る。
(実施例) 以下、本発明の実施例について図面を参照して詳細に説
明する。
第1図は本発明の第1の実施例を示すブロック図である
。2分割光センサ1のそれぞれのニレメン)15.16
から検出された信号は演算増巾器2によって、それぞれ
の差が演算され、サーボエラー信号としてアッテネータ
13に入力される。アッテネータ13ではゲート信号1
7が入力されるか否かによって、前記サーボエラー信号
に対するゲインを一定値減衰するか、しないかの動作を
行う。
続いてサーボエラー信号はゲインコントロール信号10
によって連続的にゲインが変化するアッテネータ3に入
力され、ゲインコントロールされたサーボエラー信号と
して信号線11に出力される。
一方2分割光センサ1で検出された2つの信号は演算増
巾器4によって、それぞれの和が演算され、和信号とし
てアッテネータ14に入力される。
アッテネータ14ではゲート信号17によってアッテネ
ータ13と同様に、前記和信号に対するゲインを一定値
減衰するか、しないかの動作を行う。
そして租=号は続いて、アッテネータ3と同様にゲイン
コントロール信号10によって連続的にゲインが変化す
るアッテネータ5に入力され、ゲインコントロールされ
た和信号として差動増巾器6に入力され、そこで、基準
信号7との差が演算され、その結果ゲインコントロール
信号10が出力される。こうすることによって、ゲイン
コントロールされた和信号12が基準信号7より大きい
場合には、アッテネータ3および5おゲインを下げるゲ
インコントロール信号が出力され、逆に、和信号12が
基準信号7より小さい場合には、アッテネータ3および
5のゲインを上げるゲインコントロール信号が出力され
る。すなわち、和信号12と基準信号7とが等しい大き
さになるようにゲインコントロール信号10によりてア
ッテネータ5および3のゲインが制御される°。このと
き、アッテネータ5および3のそれぞれのゲインコント
ロール信号に対するゲイン変化特性を等しくしておけば
、アッテネータ5および3はゲインコントロール信号1
0に別して同一のゲインを有することになる。さらにゲ
ート信号17によってアッテネータ13および14のゲ
インをそれぞれ一定値減衰することにより、例えば情報
の記録時のように反射光パワー変動が大きい場合、およ
びおおまかなゲイン補正をあらかじめアッテネータ13
および14で行うことにより、続くアッテネータ3およ
び5のゲイン補正量を小さくすることができ、正確なゲ
イン補正を行うことができる。
第2図は、第1図のアッテネータ3およびアッテネータ
5を詳しく示す図回路図である。アッテネータ3は抵抗
31およびFET30  から構成され、アッテネータ
5もアッテネータ3と同様に抵抗51およびFET50
 から構成される。サーボエラー信号8は抵抗31゛を
介してFET50  のドレインに接続されと同時に信
号線11に出力される。このときFET50  のソー
スは接地されているため、FET50  のゲートに接
続されているゲインコントロール信410のレベルで決
まるFET50のドレイン−ソース間抵抗と抵抗31に
よってアッテネータが構成され〆、ゲインコントローに
4号x oによってサーボエラー信号8の大キさが制御
される。一方、アッテネータ5もアッテネータ3と同様
の構成となっているためゲインコントロール信号によっ
て和信号9の大きさが制御される。このとき、FET3
0とFET50 を同一サブストレート上に形成された
複合型FETを用いることにより、両者の特性を良く一
致させることができ、第1図で説明した如く、反射光の
パワー変動に対しても、常に一定のゲインをもつ、サー
ボエラー信号を検出することができる。
第3図は第1図の演算増巾器2および4、アッテネータ
13および14を詳しく示す回路図である。2分割光セ
ンサ1の2つの信号は、演算増巾器2によってそれぞれ
の差が演算されサーボエラー信号が出力され、演算増巾
器4によってそれぞれの和が演算され、和信号が出力さ
れる。このとき、抵抗およびスイッチ131 によって
構成されるアッテネ〜り13は、ゲート信号17が入力
された場合、演算増巾器2のゲインを一定値減衰させる
。同様に抵抗とスイッチ141  によって構成される
アッテネータ14ij:、ゲート信号17が入力された
場合、演算増巾器4のゲインを一定値減衰させる。ここ
で、それぞれのアッテネータ13および14の抵抗値を
ゲート信号17が入力されたとき、アッテネータ13お
よび14の減衰量が等しくなるように選ぶことにより、
サーボエラー信号8および和信号9に対する減衰量が等
しくなり、アッテネータ3および5だけでゲイン補正が
できない程大きな反射光パワー変動が発生した場合でも
、より正確にゲイン補正ができ常に一定のサーボエラー
検出ゲインを確保することができる。
(発明の効果) 以上i明した如く、本発明によれば、情報読出し時と比
較して情報の記録時のように10倍以上場合でも、自動
的に常に一定のサーボエラー検出ゲインを得ることがで
き、情報の記録時および記録後処安定良ト2ツキングサ
ーボおよびフォーカスサーボをかんることかでき、ディ
スク面上およびデータトラックに対する元ビームの追従
性を大きく向上させることができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の第1の実施例を示すブロック図、第2
図は第1図のアッテネータ3および5を詳しく示す回路
図、第3図は第1図の演算増巾器2および4、アッテネ
ータ13および14を詳しく示す回路図である。 図において、 1 ・−−−−−2分割光センサ、  2,4・・・・
・・演算増巾器、3、5.13.14−−−−−アッテ
ネータ、  6−差動増巾器、 7・・・・−基準信号
をそれぞれ示す。 第1 図 72図

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 光学手段を用いて記録媒体上に設けられた同心円状また
    は、スパイラル状のデータトラックに対して光スポット
    のトラッキング位置制御を行い、前記記録媒体上に情報
    の記録あるいは、既に記録された情報の読出しを行う光
    ディスク装置において、ディスク面上からの反射光を受
    けサーボエラー信号を発生するための2分割光センサと
    、前記2分割光センサの2つの出力の差であるサーボエ
    ラー信号を出力する第1の演算増巾器と、前記サーボエ
    ラー信号を受け外部から与えられるゲート信号によって
    前記サーボエラー信号に対するゲインが一定値減衰す第
    1のアッテネータと、前記第1のアッテネータの出力を
    受けゲインコントロール信号によって前記第1のアッテ
    ネータの出力であるサーボエラー信号に対するゲインが
    変化する第2のアッテネータと、前記2分割光センサの
    2つの出力の和である和信号を出力する第2の演算増巾
    器と、前記和信号を受け、前記ゲート信号によって前記
    和信号に対するゲインが前記第1のアッテネータと同様
    一定値減衰する第3のアッテネータと、前記第3のアッ
    テネータの出力を受け前記ゲインコントロール信号によ
    って前記第3のアッテネータの出力である和信号に対す
    るゲインが変化する第4のアッテネータと、前記第4の
    アッテネータの出力を受け基準信号との差を演算し、前
    記ゲインコントロール信号を出力する第3の演算増巾器
    とから構成され、前記2分割光センサが受ける光量変化
    に対し、その光量変化が小さい時は前記ゲート信号は与
    えず、前記第4のアッテネータの出力が前記基準信号と
    等しくなるようにゲインコントロール信号が制御される
    ことによって前記第2のアッテネータの出力であるサー
    ボエラー信号の検出ゲインを一定に制御し、前記光量変
    化が大きい時は前記ゲート信号によって前記第1のアッ
    テネータおよび前記第3のアッテネータのゲインをそれ
    ぞれ一定値減衰し、その後前記第4のアッテネータの出
    力が前記基準信号と等しくなるようにゲインコントロー
    ル信号が制御されることによって、前記第2のアッテネ
    ータの出力であるサーボエラー信号の検出ゲインを一定
    に制御することを特徴とする光ディスク装置の自動利得
    制御装置。
JP14182284A 1984-07-09 1984-07-09 光デイスク装置の自動利得制御装置 Granted JPS6122443A (ja)

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JP14182284A JPS6122443A (ja) 1984-07-09 1984-07-09 光デイスク装置の自動利得制御装置

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JPS6122443A true JPS6122443A (ja) 1986-01-31
JPH0444810B2 JPH0444810B2 (ja) 1992-07-22

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JP (1) JPS6122443A (ja)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS61248234A (ja) * 1985-04-26 1986-11-05 Matsushita Electric Ind Co Ltd 光デイスク装置
JPS63164026A (ja) * 1986-12-25 1988-07-07 Toshiba Corp 情報処理装置
JPH02192036A (ja) * 1989-01-19 1990-07-27 Nec Corp 光ディスク装置のトラッキング制御装置

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JPS61248234A (ja) * 1985-04-26 1986-11-05 Matsushita Electric Ind Co Ltd 光デイスク装置
JPS63164026A (ja) * 1986-12-25 1988-07-07 Toshiba Corp 情報処理装置
JPH02192036A (ja) * 1989-01-19 1990-07-27 Nec Corp 光ディスク装置のトラッキング制御装置

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JPH0444810B2 (ja) 1992-07-22

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