JPS61233366A - キヤピラリイ・カラム用基板 - Google Patents
キヤピラリイ・カラム用基板Info
- Publication number
- JPS61233366A JPS61233366A JP59265094A JP26509484A JPS61233366A JP S61233366 A JPS61233366 A JP S61233366A JP 59265094 A JP59265094 A JP 59265094A JP 26509484 A JP26509484 A JP 26509484A JP S61233366 A JPS61233366 A JP S61233366A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- capillary
- column substrate
- capillary column
- glass plate
- groove
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 239000000758 substrate Substances 0.000 title claims description 9
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 8
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 8
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 claims description 8
- 239000010703 silicon Substances 0.000 claims description 8
- 239000000463 material Substances 0.000 claims description 5
- 238000007740 vapor deposition Methods 0.000 claims description 2
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 8
- 238000005530 etching Methods 0.000 description 6
- 238000004587 chromatography analysis Methods 0.000 description 1
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
- 238000000151 deposition Methods 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 239000012530 fluid Substances 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N30/00—Investigating or analysing materials by separation into components using adsorption, absorption or similar phenomena or using ion-exchange, e.g. chromatography or field flow fractionation
- G01N30/02—Column chromatography
- G01N30/60—Construction of the column
- G01N30/6095—Micromachined or nanomachined, e.g. micro- or nanosize
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Nanotechnology (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Particle Formation And Scattering Control In Inkjet Printers (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(産業上の利用分野)
本発明は、〃ス・クロマトグラフ用のキャピラリィ・カ
ラムにおけるキャピラリィ・カラム用基板に関する。
ラムにおけるキャピラリィ・カラム用基板に関する。
(従来技術とその問題点)
シリコン・ウェハーに半導体プロセスのエツチング技術
を用いて溝を形成し、その上にガラス板を密着させる従
来におけるシリコン・ウェハーキャピラリィ・カラムは
、キャピダリイ・カラム用基板のプロセス工数が多く歩
留りが悪いという問題点があった。
を用いて溝を形成し、その上にガラス板を密着させる従
来におけるシリコン・ウェハーキャピラリィ・カラムは
、キャピダリイ・カラム用基板のプロセス工数が多く歩
留りが悪いという問題点があった。
(発明の目的)
本発明は、このような問題点を解消するものであり、キ
ャピラリィ・カラム用基板のプロセス工数を減らして歩
留り率の高いキャピラリィ・カラム用基板を提供するこ
とを目的とする。
ャピラリィ・カラム用基板のプロセス工数を減らして歩
留り率の高いキャピラリィ・カラム用基板を提供するこ
とを目的とする。
(発明の概要)
本発明は、キャピラリィ・カラム用細溝を穿設したシリ
コンが蒸着法により蒸着できる板材と、該板材の平面に
シリコンを蒸着して成るキャピラリィ・カラム用基板で
あり、この基板にガラス板を密着させて〃スその他の流
体物が流入するキャピラリィ・カラムとして使用できる
キャピラリィ・カラム用基板である。
コンが蒸着法により蒸着できる板材と、該板材の平面に
シリコンを蒸着して成るキャピラリィ・カラム用基板で
あり、この基板にガラス板を密着させて〃スその他の流
体物が流入するキャピラリィ・カラムとして使用できる
キャピラリィ・カラム用基板である。
(発明の実施例)
本発明の実施例を図面に基づいて説明する。第1図(1
)から(6)は、本発明のプロセス工数を示す図であり
、ガラス板1(以下、本発明においては少なくともシリ
コンが蒸着法、例えば真空蒸着法またはスバタリング蒸
着法により蒸着できる板材であれば材質には限定されな
いが説明の便宜上一実施例としてガラス板を用いて説明
する。)にレジス)li2を形成しエツチング処理で溝
3を形成し、溝3にシリコン膜4を形成する状態を示す
図である。
)から(6)は、本発明のプロセス工数を示す図であり
、ガラス板1(以下、本発明においては少なくともシリ
コンが蒸着法、例えば真空蒸着法またはスバタリング蒸
着法により蒸着できる板材であれば材質には限定されな
いが説明の便宜上一実施例としてガラス板を用いて説明
する。)にレジス)li2を形成しエツチング処理で溝
3を形成し、溝3にシリコン膜4を形成する状態を示す
図である。
ガラス板1にレジスト膜2を塗布して形成し、このレジ
スト膜2を紫外llAM光及び現像によりプラス板1に
穿設するとほぼ同幅の溝2aを形成し、ガラス板1の反
対面1b及び側面1cにレジスト膜2b(ライトワック
ス膜でもよい、)をガラス板1の反対面1b及び側面1
cをエツチングから保護するため形成する(11図(2
)(3)参照)。
スト膜2を紫外llAM光及び現像によりプラス板1に
穿設するとほぼ同幅の溝2aを形成し、ガラス板1の反
対面1b及び側面1cにレジスト膜2b(ライトワック
ス膜でもよい、)をガラス板1の反対面1b及び側面1
cをエツチングから保護するため形成する(11図(2
)(3)参照)。
レノスト膜2に形成したレジスト膜溝2aの幅に準じて
等方性エツチング(実施例ではガラス板を用いているた
め等方性エツチングが適切であるが材質によっては異方
性エツチングでもよい、)によりガラス板1に溝3を穿
設し、ガラス板のレジスト膜2を除去する(第1図(4
)(5)参照)。
等方性エツチング(実施例ではガラス板を用いているた
め等方性エツチングが適切であるが材質によっては異方
性エツチングでもよい、)によりガラス板1に溝3を穿
設し、ガラス板のレジスト膜2を除去する(第1図(4
)(5)参照)。
ガラス板1に形成した溝3の面に対して直流二極スバタ
リング装置による標準的な動作条件(例えばが電圧〜1
0=Torr、電圧〜1 kv)で厚さ約1μmのシリ
コン膜4を形成してキャピラリィ・カラム用基板Aが形
成される(第1図(6)参照)。
リング装置による標準的な動作条件(例えばが電圧〜1
0=Torr、電圧〜1 kv)で厚さ約1μmのシリ
コン膜4を形成してキャピラリィ・カラム用基板Aが形
成される(第1図(6)参照)。
(発明の効果)
本発明は、以上の構成であるから、従来におけるシリコ
ン・ウェハーにエツチング処理により溝を形成する技術
よりもプロセス工数が少ないため(第2図従来例参照)
、歩留り率の高いキャピラリィ・カラム用基板を得るこ
とができる。
ン・ウェハーにエツチング処理により溝を形成する技術
よりもプロセス工数が少ないため(第2図従来例参照)
、歩留り率の高いキャピラリィ・カラム用基板を得るこ
とができる。
第1図は、本発明の工程及び構造を示す一部拡大断面図
であり、第2図は従来例を示す断面図である。
であり、第2図は従来例を示す断面図である。
Claims (1)
- キャピラリィ・カラム用細溝を穿設したシリコンが蒸着
法により蒸着できる板材と、該板材の面に形成されたシ
リコン膜とを有するキャピラリィ・カラム用基板。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59265094A JPS61233366A (ja) | 1984-12-15 | 1984-12-15 | キヤピラリイ・カラム用基板 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59265094A JPS61233366A (ja) | 1984-12-15 | 1984-12-15 | キヤピラリイ・カラム用基板 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61233366A true JPS61233366A (ja) | 1986-10-17 |
Family
ID=17412516
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP59265094A Pending JPS61233366A (ja) | 1984-12-15 | 1984-12-15 | キヤピラリイ・カラム用基板 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS61233366A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4935040A (en) * | 1989-03-29 | 1990-06-19 | The Perkin-Elmer Corporation | Miniature devices useful for gas chromatography |
| US5087275A (en) * | 1987-09-22 | 1992-02-11 | Thomson-Csf | Electrochemical sensor having microcavities |
| US5720798A (en) * | 1996-04-30 | 1998-02-24 | Hewlett-Packard Company | Micromachined analyte trap for gas phase streams |
-
1984
- 1984-12-15 JP JP59265094A patent/JPS61233366A/ja active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5087275A (en) * | 1987-09-22 | 1992-02-11 | Thomson-Csf | Electrochemical sensor having microcavities |
| US4935040A (en) * | 1989-03-29 | 1990-06-19 | The Perkin-Elmer Corporation | Miniature devices useful for gas chromatography |
| US5720798A (en) * | 1996-04-30 | 1998-02-24 | Hewlett-Packard Company | Micromachined analyte trap for gas phase streams |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| GB2107472A (en) | Electostatic bonded silicon capacitive pressure transducer | |
| KR940016874A (ko) | 실리콘 전계방출 소자 및 그의 제조방법 | |
| KR890007364A (ko) | 반도체 소자 제조 방법 | |
| JPS61233366A (ja) | キヤピラリイ・カラム用基板 | |
| JPS60144973A (ja) | 短路薄膜形電界効果トランジスタ | |
| JPH0362927A (ja) | 半導体装置およびその製造方法 | |
| US3839177A (en) | Method of manufacturing etched patterns in thin layers having defined edge profiles | |
| JPS61155858A (ja) | キヤピラリイ・カラム用基板 | |
| JPS61233365A (ja) | キヤピラリイ・カラム用基板 | |
| JPS6092663A (ja) | 電界効果トランジスタ− | |
| JPS58100212A (ja) | 薄膜磁気ヘツド | |
| JPS60133758A (ja) | Mos型半導体装置の製造方法 | |
| JPS5963720A (ja) | 半導体単結晶の成長方法 | |
| US6642154B2 (en) | Method and apparatus for fabricating structures using chemically selective endpoint detection | |
| JP2004531863A (ja) | 集積化された集束放出器 | |
| JPH10326406A5 (ja) | ||
| JPS59124166A (ja) | 半導体装置 | |
| JPS58199326A (ja) | 液晶表示素子のギヤツプ用スペ−サ形成法 | |
| JPH0258251A (ja) | 半導体装置の製造方法 | |
| KR100210311B1 (ko) | 양극형으로 결합된 용량성 센서의 전극 구조체 및 그 제조 방법 | |
| JPS6398561A (ja) | ガスクロマトグラフ用キヤピラリ−カラム | |
| KR960039324A (ko) | 알파입자에 의한 소프트에러율을 감소시키기 위한 반도체 메모리장치 및 이의 제조방법 | |
| JPH09232305A (ja) | 成膜方法 | |
| JPS59171124A (ja) | ホトレジスト被膜の埋込み方法 | |
| JPS61237217A (ja) | 薄膜磁気ヘツドの製造方法 |