JPS612341A - Wafer transfer jig - Google Patents
Wafer transfer jigInfo
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- JPS612341A JPS612341A JP12181984A JP12181984A JPS612341A JP S612341 A JPS612341 A JP S612341A JP 12181984 A JP12181984 A JP 12181984A JP 12181984 A JP12181984 A JP 12181984A JP S612341 A JPS612341 A JP S612341A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。(57) [Summary] This bulletin contains application data before electronic filing, so abstract data is not recorded.
Description
【発明の詳細な説明】
〔技術分野〕
本発明は被収容物品を移し換える物品移換治具、たとえ
ば、プラスチック製のカートリッジと石英治具との間に
おいてウェハを簡単に移し換えることができる物品移換
治具に関する。Detailed Description of the Invention [Technical Field] The present invention relates to an article transfer jig for transferring stored articles, for example, an article that can easily transfer a wafer between a plastic cartridge and a quartz jig. Regarding transfer jig.
半導体製品の集積度向上によって、回路パターンは一層
微細化が図られている。そして、TCパターンの最小線
幅は3μm、2μmを経て1μm以下になろうとしてい
る。このような状況下における半導体製造プロセスにお
いて、微細パターンを正確に形成することおよび歩留り
(プローブ歩留り)を向上させるためには、ウェハの塵
埃による汚染低減化、特に付着塵埃の低減を図ることが
重要であることが、たとえば、電子材料、1982年。As the degree of integration of semiconductor products increases, circuit patterns are becoming increasingly finer. The minimum line width of the TC pattern is about to become 1 μm or less after passing through 3 μm and 2 μm. In semiconductor manufacturing processes under these circumstances, in order to accurately form fine patterns and improve yield (probe yield), it is important to reduce contamination from wafer dust, especially reducing adhering dust. For example, Electronic Materials, 1982.
別冊号、119〜116頁における良友等による″ウェ
ハ処理システム″あるいは1日立評論。"Wafer processing system" or 1 Hitachi review by Yoshitomo et al., special issue, pp. 119-116.
Vol、 65. Nn7 (1983) 、 39−
42頁における入掛等による″表面検査装置による微粒
子検出″と題する文献において論じられている。Vol, 65. Nn7 (1983), 39-
It is discussed in the article entitled "Particle Detection by Surface Inspection Device" by Ikake et al. on page 42.
ウェハは、たとえば、電子材料、’1975年。Wafers, for example, Electronic Materials, '1975.
7月号、92〜99頁における尾木による″部品のハン
ドリングシステム″と題する文献あるいは前記長友等に
よる文献に記載されているように、ピンセント、真空ピ
ンセット等による枚葉処理、またはダンプトランスファ
、 Index TransjtsonDevice等
の名称で呼称されている移し替え機によるカートリッジ
内のウェハ全体のバッチ処理によって取り扱われている
。As described in the document entitled "Parts Handling System" by Ogi in the July issue, pages 92-99, or in the document by Nagatomo et al., single wafer processing using tweezers, vacuum tweezers, etc., or dump transfer, The entire wafer in the cartridge is handled by batch processing using a transfer machine called .
ところで、前記ピンセット等によるウェハ処理において
は、ウェハのカートリッジあるいは石英治具への出入時
に、収容溝の縁にウェハが当たって破損(クラック、欠
けの発生)したり、破損によって新たに異物発生を引き
起こす難点がある。By the way, in the wafer processing using the tweezers, etc., when the wafer is inserted into and removed from the cartridge or the quartz jig, the wafer may hit the edge of the storage groove and be damaged (creating cracks or chips), or new foreign matter may be generated due to the damage. There are some difficulties it causes.
また、ウェハは前述のようにその取扱い時にピンセット
が直接触れること、およびウェハの周縁がカートリッジ
や石英治具に接触すること、によって異物が付着してウ
ェハが汚染される。これらについては、前記長友等によ
る文献に記載されている。なお、ピンセットの接触によ
るウェハの汚染状態については前記人掛等による文献に
詳細に記載されている。Furthermore, as described above, when the wafer is handled directly, the tweezers touch it, and the periphery of the wafer comes into contact with the cartridge or quartz jig, resulting in foreign matter adhering to the wafer and contaminating the wafer. These are described in the literature by Nagatomo et al. Note that the state of contamination of wafers due to contact with tweezers is described in detail in the literature by Hikake et al.
しかし、ピンセット等によるウェハのハンドリングは枚
葉処理であることから、手間暇が掛かり作業性が低い。However, since wafer handling using tweezers or the like is a single wafer process, it is time consuming and has low workability.
そこで、ウェハのカートリッジと石英治具間等の移し替
え作業は、移し替え機によるバッチ処理で効率的に行わ
れている。また、前艷良友等による文献にはウェハ周辺
の欠け(チッピング)の発生はダンプトランスファによ
るものがピンセット等によるものよりも勝っている例が
示されている。Therefore, the work of transferring wafers between cartridges and quartz jigs is efficiently performed by batch processing using a transfer machine. Furthermore, a document by Yoshitomo Mae et al. shows an example in which dump transfer is superior to tweezers when it comes to chipping around the wafer.
また、歩留りの向上のためウェハの大口径化がすすめら
れている。大口径ウェハはそれ自体の自重が大きいため
真空ピンセットでは保持しずらく、また保持するために
は習熟が必要となる。また前記ピンセットで保持し、カ
ートリッジ治具間の相互の移換え作業の最中に、大口径
ウェハが真空ピンゼットから脱落するという事故も起き
たりし、ウェハ大口径化により歩留の向上を計っている
にもかかわらず、歩留りが低下してしまうということが
あきらかとなった。Furthermore, increasing the diameter of wafers is being promoted to improve yields. Large-diameter wafers have a large weight and are difficult to hold with vacuum tweezers, and holding them requires skill. In addition, while holding the wafers with the tweezers and transferring them between the cartridge jigs, there have been accidents where large-diameter wafers fall out of the vacuum pinzettes. It has become clear that the yield is decreasing despite the fact that
本発明はこのように移し替え機(物品移換治具)に関す
るものである。The present invention thus relates to a transfer machine (article transfer jig).
本発明の目的は物品の移し換え時、物品の破損。 The purpose of the present invention is to prevent damage to articles when transferring them.
汚染が生じ難い物品移換治具を提供することにある。An object of the present invention is to provide an article transfer jig that hardly causes contamination.
本発明の他の目的は物品の移換作業効率が高い物品移換
治具を提供することにある。Another object of the present invention is to provide an article transfer jig with high article transfer efficiency.
本発明の前記ならびにそのほかの目的と新規な特徴は、
本明細書の記述および添付図面からあきらかになるであ
ろう。The above and other objects and novel features of the present invention include:
It will become clear from the description of this specification and the accompanying drawings.
本願において開示される発明のうち代表的なものの概要
を簡単に説明すれば、下記のとおりである。A brief overview of typical inventions disclosed in this application is as follows.
すなわち、本発明の物品移換治具は、ウェハを収容した
カートリッジを物品移換治具の治具セット台に、上方か
ら物品移換治具のガイドに沿って降下させることによっ
て、カートリッジ内のウェハを治具セット台上面にあら
かじめ載置された石英治具上に移換るようになっていて
、石英治具は取扱い自在となる。また、石英治具の側面
には、あらかじめ一対の挿入孔が設けられていることか
らこの挿入孔にフォークを差し込み、フォークを所定箇
所に運ぶことによって、石英治具を所定部に運ぶことが
できるようになっている。この結果、ウェハの移換作業
において、ウェハはピンセット等の工具には直接接触す
ることがなく、ウェハの汚染の防止が達成できる。また
、カートリッジを治具セット台に対してゆっくりと降下
させることによって、ウェハへの石英治具に接触する際
のショックは緩和できるため、ウェハの破損およびこれ
に伴う異物発生は防止できる。さらに、ウェハの移換作
業はカートリッジ内の全体の移し換えであるバッチ処理
で行われることから、移換作業の高能率化が達成できる
。That is, the article transfer jig of the present invention lowers the cartridge containing the wafer onto the jig set table of the article transfer jig from above along the guide of the article transfer jig, thereby removing the contents inside the cartridge. The wafer is transferred onto a quartz jig placed in advance on the top surface of the jig setting table, and the quartz jig can be handled freely. In addition, since a pair of insertion holes are pre-prepared on the side of the quartz jig, the quartz jig can be carried to the specified location by inserting a fork into these insertion holes and carrying the fork to the specified location. It looks like this. As a result, during the wafer transfer operation, the wafer does not come into direct contact with tools such as tweezers, and contamination of the wafer can be prevented. Furthermore, by slowly lowering the cartridge relative to the jig setting table, the shock that occurs when the wafer comes into contact with the quartz jig can be alleviated, thereby preventing damage to the wafer and the generation of foreign matter accompanying this. Furthermore, since the wafer transfer operation is performed in a batch process that involves transferring the entire cartridge, high efficiency of the transfer operation can be achieved.
第1図は本発明の一実施例によるウェハ移換治具を示す
斜視図、第2図は同じくウェハの移し換え開始状態を示
す一部を断面とした断面図、第3図は同じく治具セット
を示す平面図、第4図は同じくカートリッジから石英治
具をウェハを移す状態を示す断面図、第5図は同じく治
具セット台から石英治具を所定箇所に運ぶ状態を示す断
面図である。FIG. 1 is a perspective view showing a wafer transfer jig according to an embodiment of the present invention, FIG. 2 is a partially cross-sectional view showing a wafer transfer start state, and FIG. 3 is a similar jig. FIG. 4 is a plan view showing the set, FIG. 4 is a cross-sectional view showing how the wafer is transferred from the cartridge to the quartz jig, and FIG. be.
第1図に示すように、本発明のウェハ移換治具(物品移
換治具)は、移換治具本体1と、保持治具2とからなっ
ていて、いずれも金属、たとえば、ステンレスで形成さ
れている。前記移換治具本体1は矩形板状の底面となる
ベース3と、このベース3の四隅にぞれぞれ垂設された
細長り半断面のガイド4と、前記ベース3の上面(移換
治具本体1の底上面)中央に設けられた直方体の治具セ
ット台5と、からなっている。As shown in FIG. 1, the wafer transfer jig (article transfer jig) of the present invention consists of a transfer jig main body 1 and a holding jig 2, both of which are made of metal, such as stainless steel. It is formed of. The transfer jig main body 1 includes a base 3 having a rectangular plate-like bottom surface, guides 4 having elongated half-sections vertically installed at the four corners of the base 3, and an upper surface of the base 3 (transfer It consists of a rectangular parallelepiped jig setting table 5 provided at the center (bottom top surface) of the jig main body 1.
前記4本のガイド4は、ウェハ6を25枚収容するプラ
スチックのカートリッジ7をガイドするようになってい
る。すなわち、各ガイド4はその直角に開口する部分を
内側に対面させ、カートリッジ7の四隅をガイドするよ
うになっている。また、ウェハ6は、カートリッジ7の
相互に対面する一対の側板8の内壁に上下方向に平行に
設けられた25本の収容溝9に、その周縁が挿入される
形で収容される。カートリッジ7は前記のように一対の
側板8と、この側板8の両端部分を連結する連結部1o
とからなっているため、上下が開口しているが、収容溝
9は側板8の下端近傍までしか設けられていないので、
ウェハ6はカートリッジ7の下方から脱落はしない。し
たがって、ウェハ6はカートリッジ7の上方から出入さ
れる。The four guides 4 guide a plastic cartridge 7 that accommodates 25 wafers 6. That is, each guide 4 has its perpendicularly opened portion facing inward, and guides the four corners of the cartridge 7. The wafers 6 are housed with their peripheral edges inserted into 25 housing grooves 9 provided vertically in parallel on the inner walls of a pair of side plates 8 of the cartridge 7 facing each other. As described above, the cartridge 7 includes a pair of side plates 8 and a connecting portion 1o that connects both end portions of the side plates 8.
Because it consists of a
The wafer 6 does not fall out from below the cartridge 7. Therefore, the wafer 6 is taken in and out from above the cartridge 7.
一方、ベース3の中央に設けられた治具セット台5は、
前記カートリッジ7の一対の側板8および連結部10と
によって形成された空間領域11よりも、縦横の寸法が
小さくなっている。しかし、治具セット台5の高さは、
カートリッジ7の連結部10の高さよりも高くなってい
る。これは、後述するように、カートリッジ7をベース
3上に載せた際、保持治具2で治具セット台5上に載置
された石英治具12が保持できるようにするためである
。前記治具セット台5上には熱処理治具である石英治具
12が載置される。この石英治具12は平行に延在する
一対の棒体13と、これら棒体I3の両端部分を連結す
る連結体14と、前記棒体13上面に棒体13に沿って
固定された細長の台座棒15とからなっている。また、
前記一対の台座棒】5の間隔は棒体13の間隔よりも広
くなっていて、ウェハ6を受は入れ易くなっている。On the other hand, the jig setting table 5 provided at the center of the base 3 is
The vertical and horizontal dimensions are smaller than the space area 11 formed by the pair of side plates 8 and the connecting part 10 of the cartridge 7. However, the height of the jig set table 5 is
It is higher than the height of the connecting portion 10 of the cartridge 7. This is to enable the holding jig 2 to hold the quartz jig 12 placed on the jig set table 5 when the cartridge 7 is placed on the base 3, as will be described later. A quartz jig 12, which is a heat treatment jig, is placed on the jig set table 5. This quartz jig 12 includes a pair of rods 13 extending in parallel, a connecting body 14 connecting both ends of these rods I3, and an elongated quartz jig fixed to the upper surface of the rods 13 along the rods 13. It consists of a pedestal rod 15. Also,
The distance between the pair of pedestal rods 5 is wider than the distance between the rods 13, making it easier to receive the wafer 6.
前記−通の台座棒15の上面には、25枚のウェハ6を
載置収容する収容溝16(第2図参照)が設けれらてい
る。前記石英治具12の収容溝16のピットと、カート
リッジ7の収容溝9のピッチとは、当然のこととして、
たとえば、2.5Mrlあるいは5mと同一となってい
る。さらに、この石英治具12もカートリッジ7の空間
領域11よりも縦横の寸法が小さくなっている。なお、
前記治具セット台5の上面には、第3図に示されるよう
に、位置決め片17が一対設けられていて、石英治具1
2の両端部分の内側空間部分に嵌合するようになってい
る。A storage groove 16 (see FIG. 2) is provided on the upper surface of the open pedestal rod 15 for placing and storing 25 wafers 6 therein. Naturally, the pitch of the accommodation groove 16 of the quartz jig 12 and the pitch of the accommodation groove 9 of the cartridge 7 are as follows.
For example, it is the same as 2.5 Mrl or 5 m. Further, this quartz jig 12 also has smaller vertical and horizontal dimensions than the spatial area 11 of the cartridge 7. In addition,
As shown in FIG. 3, a pair of positioning pieces 17 are provided on the upper surface of the jig setting table 5, and the quartz jig 1
It is designed to fit into the inner space portions of both end portions of 2.
他方、前記保持治具2はフォーク状となっている。すな
わち、保持治具2は細長の握り部18と、この握り部1
8の先端に二股となって平行に延在する細長の挿入部1
9とからなっている。そして、この保持治具2の挿入部
19は、前記石英治具12にあらかじめ設けられた挿入
孔20(第2図参照)に挿入されるようになっている。On the other hand, the holding jig 2 has a fork shape. That is, the holding jig 2 includes an elongated grip portion 18 and this grip portion 1.
An elongated insertion portion 1 bifurcates at the tip of 8 and extends in parallel.
It consists of 9. The insertion portion 19 of this holding jig 2 is inserted into an insertion hole 20 (see FIG. 2) provided in advance in the quartz jig 12.
挿入孔20は前記棒体13を管体とすることによって形
成される。The insertion hole 20 is formed by making the rod 13 into a tube.
つぎに、このような物品移換治具の使用方法について説
明する。Next, a method of using such an article transfer jig will be explained.
最初に、第2図に示されるように、治具セット台5の上
面に空の石英治具12が位置決め片]7を利用して位置
決め載置されるとともに、ウェハ6を収容したカートリ
ッジ7が用意される。First, as shown in FIG. 2, an empty quartz jig 12 is positioned and mounted on the top surface of the jig setting table 5 using a positioning piece]7, and a cartridge 7 containing a wafer 6 is placed on the top surface of the jig setting table 5. It will be prepared.
つぎに、第4図に示されるように、カー1〜リツジ7が
移換治具本体1にガイド4を利用して取付けられる。カ
ートリッジ7はガイド4に四隅をガイドされながら、ゆ
っくり降下され、ベース3上面に載る。このカートリッ
ジ7の降下時、カートリッジ7に収容されているウェハ
6は、治具セット台5の通過によって移る。カートリッ
ジ7は移換治具本体1のガイド4に位置決めされるとと
もに、石英治具12は移換治具本体1の治具セット台5
に設けられた位置決め片17によって位置決めされるこ
とから、カートリッジ7の収容溝9と石英治具12の収
容溝16とは相互に対応する。Next, as shown in FIG. 4, the cars 1 to 7 are attached to the transfer jig main body 1 using the guides 4. The cartridge 7 is slowly lowered while being guided by the guide 4 at its four corners and placed on the upper surface of the base 3. When the cartridge 7 is lowered, the wafer 6 housed in the cartridge 7 is moved by passing the jig setting table 5. The cartridge 7 is positioned on the guide 4 of the transfer jig main body 1, and the quartz jig 12 is positioned on the jig set base 5 of the transfer jig main body 1.
Since the cartridge 7 is positioned by a positioning piece 17 provided thereon, the housing groove 9 of the cartridge 7 and the housing groove 16 of the quartz jig 12 correspond to each other.
したがって、ウェハ6はカートリッジ7から石英治具1
2に移動した際、正確に石英治具12の収容溝16に納
まる。また、この際、石英治具12はカートリッジ7の
上方に露出する。Therefore, the wafer 6 is transferred from the cartridge 7 to the quartz jig 1.
2, it is accurately accommodated in the accommodation groove 16 of the quartz jig 12. Further, at this time, the quartz jig 12 is exposed above the cartridge 7.
つぎCコ、保持治具2が石英治具12に取付けらける。Next, at C, the holding jig 2 is attached to the quartz jig 12.
すなわち、作業者は保持治具2の握り部18を掴み、挿
入部19を石英治具12の挿入孔20に挿入する。その
後、第5図に示されるように、保持治具2は上方に移動
させられるとともに、石英治具12はテーブル21上に
運ばれる。保持治具2はテーブル21上の石英治具12
から引き抜かれ、カートリッジ7から石英治具12への
ウェハ6の移し換え作業が終了する。That is, the operator grasps the grip portion 18 of the holding jig 2 and inserts the insertion portion 19 into the insertion hole 20 of the quartz jig 12. Thereafter, as shown in FIG. 5, the holding jig 2 is moved upward and the quartz jig 12 is carried onto the table 21. The holding jig 2 is a quartz jig 12 on the table 21
The process of transferring the wafer 6 from the cartridge 7 to the quartz jig 12 is completed.
なお、石英治具12からカートリッジ7ヘウエハ6を移
し換える場合は、前記移換手順と逆となる手順で行えば
良い。すなわち、最初に移換治具本体1に空のカートリ
ッジ7が装着された後、保持治具2によってウェハ6が
収容されたカートリッジ7が治具セット台5上に載置さ
れる。その後、空のカートリッジ7がゆっくりと持ち上
げられる。In addition, when transferring the wafer 6 from the quartz jig 12 to the cartridge 7, the transfer procedure may be reversed to the above-described transfer procedure. That is, first, an empty cartridge 7 is mounted on the transfer jig main body 1, and then the cartridge 7 containing the wafer 6 is placed on the jig setting table 5 by the holding jig 2. Thereafter, the empty cartridge 7 is slowly lifted.
すると、カートリッジ7が石英治具12を通過する際、
石英治具12に収容されているウェハ6がカートリッジ
7の収容溝9に入り、総てのウェハ6はカートリッジ7
に乗り移ることになる。Then, when the cartridge 7 passes through the quartz jig 12,
The wafers 6 accommodated in the quartz jig 12 enter the accommodation groove 9 of the cartridge 7, and all wafers 6 are placed in the cartridge 7.
will be transferred to.
以上述べてきた実施例においては、大断面化されたウェ
ハを取扱う場合において特に有効な技術である。大断面
のウェハを真空ピンセット等で取扱う場合、ウェハ自体
の重量が重く、取扱は習熟者であっても極めて難しい作
業である。しかし、本発明の移換治具を使用することに
より、大口径ウェハの取扱いにおいても優れた効果を有
している。The embodiments described above are particularly effective techniques when handling wafers with large cross sections. When handling a wafer with a large cross section using vacuum tweezers or the like, the weight of the wafer itself is heavy, and handling is extremely difficult even for experienced users. However, by using the transfer jig of the present invention, excellent effects are obtained even in handling large diameter wafers.
1、本発明のウェハ移換治具はカートリッジ7と石英治
具12との相対的な擦り抜けによって、自動的に一方か
ら他方に乗り移ることから、ウェハの移換作業にあって
、ウェハには移換用の工具等は接触せず、ウェハ6は汚
染されなくなるという効果が得られる。1. The wafer transfer jig of the present invention automatically transfers from one side to the other by passing through the cartridge 7 and the quartz jig 12 relative to each other. There is no contact between the transfer tools and the like, and the effect is that the wafer 6 is not contaminated.
2、本発明によれば、カートリッジ7と石英治具12と
の間にウェハ6の移換において、両者の擦り抜は速さは
、作業者によって充分コントロールされ、ウェハ6が他
方の収容溝に接触する際のショックは小さく出来ること
から、ウェハ6におけるクランク、欠は等の破損発生が
低減でき、製造歩留りが向上するという効果が得られる
。2. According to the present invention, when transferring the wafer 6 between the cartridge 7 and the quartz jig 12, the speed at which the two are scraped is sufficiently controlled by the operator, and the wafer 6 is placed in the other storage groove. Since the shock at the time of contact can be reduced, occurrence of damage such as cranks, chips, etc. in the wafer 6 can be reduced, and the manufacturing yield can be improved.
3、上記2から、ウェハ6の破損が低減できることは、
破損によって発生する異物の発生も少なくなることを意
味し、作業環境の汚染もなくなるという効果が得られる
。3. From 2 above, damage to the wafer 6 can be reduced by:
This means that the generation of foreign matter caused by breakage is reduced, and the effect of eliminating contamination of the working environment can be obtained.
4、本発明によれば、ウェハ6の移し換えは、カートリ
ッジ7あるいは石英治具12に収容されているウェハ全
体が一度に移し換えられるバッチ処理であるため、手間
用が掛からず、極め作業性が良く、移換作業の高効率化
が達成できるという効果が得られる。4. According to the present invention, the transfer of the wafers 6 is a batch process in which the entire wafers housed in the cartridge 7 or the quartz jig 12 are transferred at once, so it does not take much time and effort, and the workability is extremely high. This has the effect of increasing the efficiency of the migration work.
5、本発明の物品移換治具は、移換治具本体1における
カートリッジ7のガイド4を利用した上下動操作、およ
び保持治具2による石英治具12の治具セット台5に対
する簡単なローディング、アンローディング操作を行え
ば良いだけであることから、作業者には習熟度は必ずし
も必要ではなくなり、誰にでも作業が行えるという効果
が得られる。5. The article transfer jig of the present invention allows the cartridge 7 to be moved up and down using the guide 4 in the transfer jig main body 1, and the quartz jig 12 to be moved relative to the jig set table 5 by the holding jig 2. Since it is only necessary to perform loading and unloading operations, the operator does not necessarily need to have any skill, and the effect is that anyone can perform the work.
6、本発明の物品移換治具は、保持治具2による治具セ
ット台5に対する石英治具12のローディング、アンロ
ーディング動作、および移換治具本体1に対するカート
リッジ7のローディング、アンローディング動作と、そ
の動きも単純であることから、ロボットを用いた自動化
もし易いという効果が得られる。6. The article transfer jig of the present invention allows loading and unloading operations of the quartz jig 12 to the jig set table 5 by the holding jig 2, and loading and unloading operations of the cartridge 7 to the transfer jig main body 1. And since its movements are simple, it can be easily automated using robots.
7、上記1〜6より、本発明の物品移換治具によれば、
ウェハの移換作業歩留りの向上によって、移換作業コス
トの低減が図れるという相乗効果が得られる。7. From 1 to 6 above, according to the article transfer jig of the present invention,
By improving the yield of wafer transfer operations, a synergistic effect can be obtained in that transfer operation costs can be reduced.
以上本発明者によってなされた発明を実施例に基づき具
体的に説明したが、本発明は上記実施例に限定されるも
のではなく、その要旨を逸脱しない範囲で種々変更可能
であることはいうまでもない。たとえば、移換治具本体
におけるカートリッジの位置ガイドおよび石英治具の保
持機構等は一般に用いられている各種の機構を採用して
も、前記実施例と同様な効果が得られる。Although the invention made by the present inventor has been specifically explained above based on Examples, it goes without saying that the present invention is not limited to the above Examples and can be modified in various ways without departing from the gist thereof. Nor. For example, even if various commonly used mechanisms are used for the cartridge position guide in the transfer jig main body, the quartz jig holding mechanism, etc., the same effects as in the embodiments described above can be obtained.
以上の説明では主として本発明者によってなされた発明
をその背景となった利用分野である半導体装置の製造技
術におけるウェハの移換技術に適用した場合について説
明したが、それに限定されるものではない。In the above description, the invention made by the present inventor is mainly applied to the wafer transfer technology in the semiconductor device manufacturing technology, which is the background field of application, but the present invention is not limited thereto.
本発明は少なくとも一方向に通り抜けが可能な収容体に
収容されている物品の移換作業に適用できる。The present invention can be applied to the work of transferring articles stored in a container that can be passed through in at least one direction.
第1図は本発明の一実施例によるウェハ移換治具を示す
斜視図、
第2図は同じくウェハの移し換え開始状態を示す一部を
断面とした断面図、
第3図は同じく治具セット台を示す平面図、第4図は同
じくカートリッジから石英治具にウェハを移す状態を示
す断面図、
第5図は同じく治具セット台から石英治具を所定箇所に
運ぶ状態を示す断面図である。FIG. 1 is a perspective view showing a wafer transfer jig according to an embodiment of the present invention, FIG. 2 is a partially cross-sectional view showing a wafer transfer start state, and FIG. 3 is a similar jig. A plan view showing the setting table, FIG. 4 is a cross-sectional view showing the state in which the wafer is transferred from the cartridge to the quartz jig, and FIG. It is.
Claims (1)
カートリッジを上方から位置決め収容する物品移換治具
本体と、前記物品移換治具本体の底上面に配設されると
ともに、その上面に前記被収容物品が載置収容できる治
具を載置でき、かつ前記カートリッジが通過可能な治具
セット台と、前記治具を保持する保持治具と、からなり
、前記カートリッジを前記物品移換治具にセットして降
下させると、カートリッジに収容されていた被収容物品
は治具セット台上の治具上に載り、治具は保持治具によ
って移動可能な状態になることを特徴とする物品移換治
具。 2、前記保持治具は握り部と、この握り部の端先から二
股となって延在する一対の挿入部とからなり、挿入部は
前記治具の側面にあらかじめ設れられた一対の挿入孔に
挿入されるようになっていることを特徴とする特許請求
の範囲第1項記載の物品移換治具。[Scope of Claims] 1. An article transfer jig main body that positions and accommodates a cartridge whose top and bottom are open and from which stored articles are taken in and taken out from the top surface, and an article transfer jig body that is disposed on the bottom upper surface of the article transfer jig main body. and a jig setting table on which a jig capable of placing and accommodating the stored article can be placed and through which the cartridge can pass; and a holding jig that holds the jig; When the cartridge is set in the article transfer jig and lowered, the article to be accommodated in the cartridge is placed on the jig on the jig setting table, and the jig becomes movable by the holding jig. An article transfer jig characterized by: 2. The holding jig consists of a gripping part and a pair of insertion parts extending in two from the end of the gripping part, and the insertion parts are formed by a pair of insertion parts provided in advance on the side of the jig. The article transfer jig according to claim 1, wherein the jig is adapted to be inserted into a hole.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP12181984A JPS612341A (en) | 1984-06-15 | 1984-06-15 | Wafer transfer jig |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP12181984A JPS612341A (en) | 1984-06-15 | 1984-06-15 | Wafer transfer jig |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS612341A true JPS612341A (en) | 1986-01-08 |
| JPH0570936B2 JPH0570936B2 (en) | 1993-10-06 |
Family
ID=14820712
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP12181984A Granted JPS612341A (en) | 1984-06-15 | 1984-06-15 | Wafer transfer jig |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS612341A (en) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH07223289A (en) * | 1994-02-10 | 1995-08-22 | Fuooles:Kk | Composite panel material |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5337056U (en) * | 1976-09-07 | 1978-04-01 | ||
| JPS5348591U (en) * | 1976-09-27 | 1978-04-24 |
-
1984
- 1984-06-15 JP JP12181984A patent/JPS612341A/en active Granted
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5337056U (en) * | 1976-09-07 | 1978-04-01 | ||
| JPS5348591U (en) * | 1976-09-27 | 1978-04-24 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0570936B2 (en) | 1993-10-06 |
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