JPS61242111A - スイツチング段 - Google Patents
スイツチング段Info
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- JPS61242111A JPS61242111A JP61086218A JP8621886A JPS61242111A JP S61242111 A JPS61242111 A JP S61242111A JP 61086218 A JP61086218 A JP 61086218A JP 8621886 A JP8621886 A JP 8621886A JP S61242111 A JPS61242111 A JP S61242111A
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- 230000015654 memory Effects 0.000 description 17
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 238000009825 accumulation Methods 0.000 description 1
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 1
- 230000001934 delay Effects 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 230000006870 function Effects 0.000 description 1
- 230000003601 intercostal effect Effects 0.000 description 1
- 230000004044 response Effects 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C11/00—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
- G11C11/21—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements
- G11C11/34—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices
- G11C11/40—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors
- G11C11/41—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors forming static cells with positive feedback, i.e. cells not needing refreshing or charge regeneration, e.g. bistable multivibrator or Schmitt trigger
- G11C11/413—Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing, timing or power reduction
- G11C11/414—Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing, timing or power reduction for memory cells of the bipolar type
- G11C11/415—Address circuits
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C8/00—Arrangements for selecting an address in a digital store
- G11C8/08—Word line control circuits, e.g. drivers, boosters, pull-up circuits, pull-down circuits, precharging circuits, for word lines
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C8/00—Arrangements for selecting an address in a digital store
- G11C8/10—Decoders
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Static Random-Access Memory (AREA)
- Electronic Switches (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明はダーリントンタイプのスイッチング段にあって
、第1トランジスタを具えており、前記スイッチング段
の入力端子を構成する前記第1トランジスタのベースに
より所謂選択レヘ)レト所謂非選択レベルとの間にて電
圧が変化する論理制御信号を受信せしめ、前記第1トラ
ンジスタのエミッタを第2トランジスタのベースに作用
させ、前記スイッチング段の出力端子を構成する前記第
2トランジスタのエミッタを、前記論理制′4711信
号がその信号の選択レベルにある場合には第1電流源に
接続し、前記論理制′41信号がその信号の非選択レベ
ルにある場合には第11!流源よりも電流強度の低い第
2電流源に接続するようにしたスイッチング段に関する
ものである。
、第1トランジスタを具えており、前記スイッチング段
の入力端子を構成する前記第1トランジスタのベースに
より所謂選択レヘ)レト所謂非選択レベルとの間にて電
圧が変化する論理制御信号を受信せしめ、前記第1トラ
ンジスタのエミッタを第2トランジスタのベースに作用
させ、前記スイッチング段の出力端子を構成する前記第
2トランジスタのエミッタを、前記論理制′4711信
号がその信号の選択レベルにある場合には第1電流源に
接続し、前記論理制′41信号がその信号の非選択レベ
ルにある場合には第11!流源よりも電流強度の低い第
2電流源に接続するようにしたスイッチング段に関する
ものである。
斯種のスイッチング段は現今特に出力段として、即ち高
速メモリのラインデコーダのライン毎に1個づつ出力段
として用いられており、選択されたラインには多量の選
択電流が流れ、他のラインには極めて小さな保持電流が
流れる。
速メモリのラインデコーダのライン毎に1個づつ出力段
として用いられており、選択されたラインには多量の選
択電流が流れ、他のラインには極めて小さな保持電流が
流れる。
成る別のラインの選択に相当するデコーダの入力端子へ
の7ドレスのローディング期間中には・選択解除された
ラインには選択解除時間用に予定された成る期間の間高
電流しベルから極めて低い電流レベルまでの電流が流れ
、また、選択されたラインには前述した場合とは逆に、
選択時間用に予定された成る肋間の間低2流レベルから
高電流レベルまでのNRが流れ、他のラインの電流レベ
ルは同レベルのままである。
の7ドレスのローディング期間中には・選択解除された
ラインには選択解除時間用に予定された成る期間の間高
電流しベルから極めて低い電流レベルまでの電流が流れ
、また、選択されたラインには前述した場合とは逆に、
選択時間用に予定された成る肋間の間低2流レベルから
高電流レベルまでのNRが流れ、他のラインの電流レベ
ルは同レベルのままである。
選択解除時間が選択時間よりも長くなることは当業者に
とっては周知のことである。
とっては周知のことである。
従って、斯かる電流の減少が最小の期間内に得られるよ
うにするために、メモリアクセス時間は特にデコーダの
出力段の容量によって決定される。
うにするために、メモリアクセス時間は特にデコーダの
出力段の容量によって決定される。
本発明の目的はダーリントン段の出力トランジスタを構
成する第2トランジスタのベースに蓄積されるtiを放
出し易くする回路を用いることによってラインの非選択
時間を短くすることにある。
成する第2トランジスタのベースに蓄積されるtiを放
出し易くする回路を用いることによってラインの非選択
時間を短くすることにある。
本発明の基本概念は各ライン及びそのラインに接続され
る2つの枝路に1個の補助電流源を使用し、対応するラ
インが選択される場合に補助電流の大部分が第1枝路に
流れるように前記2つの枝路を制御し、前記第1枝路を
ダーリントン段の出力トランジスタのベースにも接続す
るようにしたものである。斯かる第1枝路を通過する電
流は、ダーリントン段の出力トランジスタのベースがら
電荷を放出させるのに寄与するため、前記電流はダーリ
ントン段の出力端子における電圧低下を活性化させる。
る2つの枝路に1個の補助電流源を使用し、対応するラ
インが選択される場合に補助電流の大部分が第1枝路に
流れるように前記2つの枝路を制御し、前記第1枝路を
ダーリントン段の出力トランジスタのベースにも接続す
るようにしたものである。斯かる第1枝路を通過する電
流は、ダーリントン段の出力トランジスタのベースがら
電荷を放出させるのに寄与するため、前記電流はダーリ
ントン段の出力端子における電圧低下を活性化させる。
これに対し、ラインが選択解除される場合には、補助電
流の大部分が第2枝路に流れ、これによりトランジスタ
T2のエミッタ電流が増大し、しかも後に説明するよう
にダーリントン段の出力トランジスタのエミッタにおけ
る高レベルと低レベルとの間の差が過度に大きくならな
くなる。
流の大部分が第2枝路に流れ、これによりトランジスタ
T2のエミッタ電流が増大し、しかも後に説明するよう
にダーリントン段の出力トランジスタのエミッタにおけ
る高レベルと低レベルとの間の差が過度に大きくならな
くなる。
これがため、本発明は2つの第1電流源の電流強度の間
の大きさの電流強度を有する補助電流源と、第2トラン
ジスタのベースとの間に第1枝路を構成する第1ダイオ
ードと第2ダイオードとを順方向に直列に接続し、かつ
前記第2トランジス夕のエミッタと前記補助電流源との
間に第2枝路を構成する第3ダイオードを順方向に接続
して、前記制御信号の選択レベルと該制御信号の非選択
レベルとの間での制?■信号のスイッチング作動ノ期間
中に、前記第2トランジスタのベースに蓄積されている
電荷を前記第1枝路を経て大部分流す前記補助電流源の
電流によって放出させるようにしたことを特徴とする。
の大きさの電流強度を有する補助電流源と、第2トラン
ジスタのベースとの間に第1枝路を構成する第1ダイオ
ードと第2ダイオードとを順方向に直列に接続し、かつ
前記第2トランジス夕のエミッタと前記補助電流源との
間に第2枝路を構成する第3ダイオードを順方向に接続
して、前記制御信号の選択レベルと該制御信号の非選択
レベルとの間での制?■信号のスイッチング作動ノ期間
中に、前記第2トランジスタのベースに蓄積されている
電荷を前記第1枝路を経て大部分流す前記補助電流源の
電流によって放出させるようにしたことを特徴とする。
第2トランジスタの電荷が前動に放出されるようにする
ために、前記補助電流源の電流値を前記第2電流源の電
流値の10%以上とするか、又はそれに等しくするのが
有利である。
ために、前記補助電流源の電流値を前記第2電流源の電
流値の10%以上とするか、又はそれに等しくするのが
有利である。
本発明によるスイッチング段を、各々が論理出力信号を
供給するn個の選択モジエールから成るn個のラインを
有するメモリのラインデコーダのライン選択モジュール
の出力段として用い、デコーダに導入されるアドレスに
よって選択された前記モジュールの内の1個のモジュー
ルの論理出力信号が高レベルとなり、しかも残2)の(
n−1)個のモジュールの論理出力信号が低レベルとな
るようにする場合には、各モジュールの論理出力信号を
前述したように規定される段の入力端子に導入し、その
段の出力端子をメモリのライン選択導線に接続する。
供給するn個の選択モジエールから成るn個のラインを
有するメモリのラインデコーダのライン選択モジュール
の出力段として用い、デコーダに導入されるアドレスに
よって選択された前記モジュールの内の1個のモジュー
ルの論理出力信号が高レベルとなり、しかも残2)の(
n−1)個のモジュールの論理出力信号が低レベルとな
るようにする場合には、各モジュールの論理出力信号を
前述したように規定される段の入力端子に導入し、その
段の出力端子をメモリのライン選択導線に接続する。
以下図面につき本発明を説明する。
第1図はメモリの成る所定ラインの7ドレスを復号化す
るモジュールを示す、モジュールの数及びメモリのライ
ン数は等しくする。復号化回路(デコーダ)はダイオー
ドから成るタイプのものとし、この回路をマルチ−エミ
ッタNPNトランジスタT0で構成し、このトランジス
タのベースを直接、又は図示のように抵抗P0を介して
コレクタに結合させ、抵抗R,が存在する場合には、ト
ランジスタT0のコレクタと大地との間に抵抗R1を抵
抗R0と直列に設ける。トランジスタT0のエミッタは
既知の方法にてアドレスラインに接続されるため、トラ
ンジスタToはデコーダの入力端子に現れる前記ライン
の選択に相当するアドレスを認識することができる。斯
くして前記ラインが選択されると、トランジスタT0は
カット・オフされ、抵抗R0及びR,に電流が全く流れ
なくなる。この場合、トランジスタToのコレクタの電
位は大地電位(高レベル)となる、前記ラインが選択さ
れない場合に相当する他のすべてのアドレスに対しては
、トランジスタToがそのトランジスタのエミッタの内
の前記選択ラインに接続されるエミッタ以外の1つのエ
ミッタを経て)頭方向に接続され、このトランジスタに
は所定の電流Iが流れる。この場合におけるトランジス
タT0のコレクタ電位は−(+?。+R,)I (低レ
ベル)となる。
るモジュールを示す、モジュールの数及びメモリのライ
ン数は等しくする。復号化回路(デコーダ)はダイオー
ドから成るタイプのものとし、この回路をマルチ−エミ
ッタNPNトランジスタT0で構成し、このトランジス
タのベースを直接、又は図示のように抵抗P0を介して
コレクタに結合させ、抵抗R,が存在する場合には、ト
ランジスタT0のコレクタと大地との間に抵抗R1を抵
抗R0と直列に設ける。トランジスタT0のエミッタは
既知の方法にてアドレスラインに接続されるため、トラ
ンジスタToはデコーダの入力端子に現れる前記ライン
の選択に相当するアドレスを認識することができる。斯
くして前記ラインが選択されると、トランジスタT0は
カット・オフされ、抵抗R0及びR,に電流が全く流れ
なくなる。この場合、トランジスタToのコレクタの電
位は大地電位(高レベル)となる、前記ラインが選択さ
れない場合に相当する他のすべてのアドレスに対しては
、トランジスタToがそのトランジスタのエミッタの内
の前記選択ラインに接続されるエミッタ以外の1つのエ
ミッタを経て)頭方向に接続され、このトランジスタに
は所定の電流Iが流れる。この場合におけるトランジス
タT0のコレクタ電位は−(+?。+R,)I (低レ
ベル)となる。
メモリの選択されたラインは比較的大電流を消費するた
め、各モジュールにはダーリントン構成で接続される2
個のNPN )ランジスタT1及びT2から成る出力段
が一般に用いられ、入力トランジスタT、のベースはト
ランジスタT0のコレクタに接続し、T、のコレクタは
接地し、出力トランジスタT2の寸法は人力トランジス
タT、の寸法に較べて大きくし、この出力トランジスタ
のコレクタは接地し、エミッタはメモリの対応するライ
ン10に1妾続する。
め、各モジュールにはダーリントン構成で接続される2
個のNPN )ランジスタT1及びT2から成る出力段
が一般に用いられ、入力トランジスタT、のベースはト
ランジスタT0のコレクタに接続し、T、のコレクタは
接地し、出力トランジスタT2の寸法は人力トランジス
タT、の寸法に較べて大きくし、この出力トランジスタ
のコレクタは接地し、エミッタはメモリの対応するライ
ン10に1妾続する。
ラインが選択されると、列ラインによってi!訳された
メモリ門、L−−−の前記ラインには比較的大きな選択
電流が流れ、他のセルには保持電流16が流れる。出力
段は、例えば5600μへの比較的大きな電流を供給す
る必要がある。
メモリ門、L−−−の前記ラインには比較的大きな選択
電流が流れ、他のセルには保持電流16が流れる。出力
段は、例えば5600μへの比較的大きな電流を供給す
る必要がある。
ラインが選択されない場合には、セルに保持電流1゜し
か流れず、これは例えば300μAのように比較的小さ
な電流であり、これは適当な電流源によってラインに供
給される。
か流れず、これは例えば300μAのように比較的小さ
な電流であり、これは適当な電流源によってラインに供
給される。
なお、一般にはトランジスタT2のベースとエミッタと
の間に抵抗Ihを設け、この抵抗の抵抗値は、それに保
持N?Jiy l 6の少数部が流れるように選定する
。
の間に抵抗Ihを設け、この抵抗の抵抗値は、それに保
持N?Jiy l 6の少数部が流れるように選定する
。
スイッチング作動の期間中には非選択ラインの内の1つ
のラインが選択モードとなるも、選択されていたライン
は選択を解除する必要がある。この選択解除により出力
トランジスタT2の電流は■1から10に降下する。電
流量の増加は電流量の減少よりもずっと早く行われ、電
/Afflの減少はトランジスタTt(このトランジス
タは、電流■1を供給し得るように大きな寸法をしてい
る)のベースに電荷が蓄積されることにより著しく遅れ
る。
のラインが選択モードとなるも、選択されていたライン
は選択を解除する必要がある。この選択解除により出力
トランジスタT2の電流は■1から10に降下する。電
流量の増加は電流量の減少よりもずっと早く行われ、電
/Afflの減少はトランジスタTt(このトランジス
タは、電流■1を供給し得るように大きな寸法をしてい
る)のベースに電荷が蓄積されることにより著しく遅れ
る。
従って本発明では適当な補助電流に対する径路指定(ル
ーチング)手段を用いて、上述した従来構造のものにお
けるトランジスタT8のベースから前記蓄積電荷を放出
させるようにする。
ーチング)手段を用いて、上述した従来構造のものにお
けるトランジスタT8のベースから前記蓄積電荷を放出
させるようにする。
斯かる電流のルーチング手段は、トランジスタT!のベ
ースと補助電流sr <点A)との間に、直列に、し
かも順方向に接続される2個のダイオードD1とD2と
の直列回路を有する第1枝路と、トランジスタT2のエ
ミッタと補助電流源l (点へ)との間に順方向に配置
されるダイオードD、を含む第2枝路とをもって構成す
る。
ースと補助電流sr <点A)との間に、直列に、し
かも順方向に接続される2個のダイオードD1とD2と
の直列回路を有する第1枝路と、トランジスタT2のエ
ミッタと補助電流源l (点へ)との間に順方向に配置
されるダイオードD、を含む第2枝路とをもって構成す
る。
上記ダイオードはトランジスタT1の寸法にほぼ等しい
寸法を有しているNPN)ランジスタのエミッターベー
ス接合によって有利に構成することができ、この際斯か
るNPN トランジスタのベースは短絡させ、エミッタ
は補助ta源1の方向に配置する。
寸法を有しているNPN)ランジスタのエミッターベー
ス接合によって有利に構成することができ、この際斯か
るNPN トランジスタのベースは短絡させ、エミッタ
は補助ta源1の方向に配置する。
第28および2b図はそれぞれ図示のラインを選択した
場合及び選択しない場合のル−チンク゛手段の2つの枝
路間の電流分布を示す。
場合及び選択しない場合のル−チンク゛手段の2つの枝
路間の電流分布を示す。
以下の説明において、CはトランジスタT0のコレクタ
とトランジスタT1のベースとの間の(妄続点を示し、
BはトランジスタT1のエミッタとトランジスタT2の
ベースとの間の接続点を示し、E4まメモリライン10
に接続されたトランジスタT!のエミッタの出力端子を
示す0点りはダイオードDIとり。
とトランジスタT1のベースとの間の(妄続点を示し、
BはトランジスタT1のエミッタとトランジスタT2の
ベースとの間の接続点を示し、E4まメモリライン10
に接続されたトランジスタT!のエミッタの出力端子を
示す0点りはダイオードDIとり。
との間の接続点を示す。
選択状B(第2a図)では、トランジスタT、のエミッ
タに電流■、が流れ、第1枝路D+、Dtに電流i 1
が流れ・第2枝路D3に電流i、が流れ、メモリライン
には電流11が流れる0点Aおよび已における電流が平
衡状態にあると、以下の関係式が得られる。
タに電流■、が流れ、第1枝路D+、Dtに電流i 1
が流れ・第2枝路D3に電流i、が流れ、メモリライン
には電流11が流れる0点Aおよび已における電流が平
衡状態にあると、以下の関係式が得られる。
1、÷i’ = L + jz
i、 + i2 = 1
合ν、、;0.8ν)
トランジスタT2には比較的大きな電流が流れる。
従って、そのベースーエミソク通路間の’WEE降下は
大きく、これは特に補助電流源により供給され且つ電流
1.よりも可成り小さく選択される電流1のみを流しう
るダイオード貼の端子間電圧降下よりも大きい、′a足
さすべき条件は、Ti、KI+が流れり際のトランジス
タT2のベース−エミッタ通路間の電圧降下が電流1が
流れた際のダイオードD、の電圧降下よりも大きくなる
と仮定することにより概略的に表現することができる。
大きく、これは特に補助電流源により供給され且つ電流
1.よりも可成り小さく選択される電流1のみを流しう
るダイオード貼の端子間電圧降下よりも大きい、′a足
さすべき条件は、Ti、KI+が流れり際のトランジス
タT2のベース−エミッタ通路間の電圧降下が電流1が
流れた際のダイオードD、の電圧降下よりも大きくなる
と仮定することにより概略的に表現することができる。
これには特にダイオードD、およびトランジスタT2の
エミッタの相対寸法が影響し、電流Iの値は特にトラン
ジスタT2のベースに蓄積される電荷を放出しうる能力
に応じて選択される。
エミッタの相対寸法が影響し、電流Iの値は特にトラン
ジスタT2のベースに蓄積される電荷を放出しうる能力
に応じて選択される。
この場合、点已における電位は点りにおける電位よりも
低くなる。ダイオードD2およびり、の電V。
低くなる。ダイオードD2およびり、の電V。
−電圧特性は同じであるため、電流i、は点りとEとの
間の電圧差がnx18mνである場合比2″で電流12
よりも大きくなる。従って、ラインが選択状態にある場
合、補助電流Iは第1枝路り5.Diの方に向う。
間の電圧差がnx18mνである場合比2″で電流12
よりも大きくなる。従って、ラインが選択状態にある場
合、補助電流Iは第1枝路り5.Diの方に向う。
一例としてR2を4 kΩに選定し、従ってi′−20
0μ八、I、=5600μA 、 I=700μAとす
る。ダイオードD1およびトランジスタTtはこれらの
条件でi、−600μA、1z=100μAとなるよう
に構成する。
0μ八、I、=5600μA 、 I=700μAとす
る。ダイオードD1およびトランジスタTtはこれらの
条件でi、−600μA、1z=100μAとなるよう
に構成する。
この場合1.=5500μAとなる。本例ではi、は1
.の10分の1よりもわずかに大きくなる。
.の10分の1よりもわずかに大きくなる。
デコーダの入力端子におけるアドレスの変更に応答して
ラインの選択が解除されると、電流i、は、トランジス
タT、のベースに蓄積された電荷を放電させ、これによ
りスイッチング速度を早めるのに用いられる。
ラインの選択が解除されると、電流i、は、トランジス
タT、のベースに蓄積された電荷を放電させ、これによ
りスイッチング速度を早めるのに用いられる。
第38および3b図はこの現象を示す、これらの図にお
いては、点C,B及び已における電圧の変化を同じ電圧
レベルで示しである。しかし実際には点BおよびEはそ
れぞれ点CおよびBよりも約800a+Vだけ低い。
いては、点C,B及び已における電圧の変化を同じ電圧
レベルで示しである。しかし実際には点BおよびEはそ
れぞれ点CおよびBよりも約800a+Vだけ低い。
第3a図(従来)では、点Cにおける電圧降下は急峻で
あるが、これに比べ点Bにおける電圧降下はゆっくり行
なわれる。また点已における電圧降下は点Bに比べて時
間的にわずかに遅れて点Bの電圧降下に追従する。点B
およびCにおける曲線間に存在する面積はトランジスタ
T2のベースに蓄積される電荷による負の影響を表わす
。
あるが、これに比べ点Bにおける電圧降下はゆっくり行
なわれる。また点已における電圧降下は点Bに比べて時
間的にわずかに遅れて点Bの電圧降下に追従する。点B
およびCにおける曲線間に存在する面積はトランジスタ
T2のベースに蓄積される電荷による負の影響を表わす
。
これに対し第3b図においては、N ’IRi + 力
点Bにおける電圧降下を加速し、この電圧降下が実際上
点Cにおけるのと同じ傾斜で行なわれる。また点已にお
ける電圧降下は点Bにおける電圧降下にわずかな時間的
な遅れで追従する。従って、ラインの選択解除に際して
のスイッチング時間が節約され、これによりメモリのア
クセス時間が短縮化される。
点Bにおける電圧降下を加速し、この電圧降下が実際上
点Cにおけるのと同じ傾斜で行なわれる。また点已にお
ける電圧降下は点Bにおける電圧降下にわずかな時間的
な遅れで追従する。従って、ラインの選択解除に際して
のスイッチング時間が節約され、これによりメモリのア
クセス時間が短縮化される。
第2b図は、ラインが選択されない場合を示す。
この場合トランジスタ↑!のエミッタに’l’lA l
* ’ が流れ、2つの枝路にT:iii、’ およ
び18′がそれぞれ流れる。この場合も前述したように
以下の関係式が成立つ。
* ’ が流れ、2つの枝路にT:iii、’ およ
び18′がそれぞれ流れる。この場合も前述したように
以下の関係式が成立つ。
1、′+ i+’ ” Io + It’it’邊i
、=1 トランジスタτ2は大型寸法のトランジスタであるため
、そのベース−エミッタ通路間の電圧降下VIEはダイ
オード貼における同様な電圧降下に比べて大きくなる。
、=1 トランジスタτ2は大型寸法のトランジスタであるため
、そのベース−エミッタ通路間の電圧降下VIEはダイ
オード貼における同様な電圧降下に比べて大きくなる。
従って、この場合の形態は前述した場合に比べて逆であ
り、点已における電圧は点りにおける電圧よりもわずか
に大きくなる。補助電流1の大部分はルーチング手段の
第2枝路を構成するダイオードD、を流れる0例えばI
s” 300μAとし、他のパラメータを前述した場合
と同じにすると、i、’ = 200μ八、it’
−500μ八となり、従って1.’−600μAとな
る。
り、点已における電圧は点りにおける電圧よりもわずか
に大きくなる。補助電流1の大部分はルーチング手段の
第2枝路を構成するダイオードD、を流れる0例えばI
s” 300μAとし、他のパラメータを前述した場合
と同じにすると、i、’ = 200μ八、it’
−500μ八となり、従って1.’−600μAとな
る。
非運1尺モードでは、I@′” (L−i’ )+il
’ となるも、本発明による電流ルーチング回路が存
在しないと、l、’ =Ie−i′(すなわち上述し
た例では100μへ)となる。
’ となるも、本発明による電流ルーチング回路が存
在しないと、l、’ =Ie−i′(すなわち上述し
た例では100μへ)となる。
従って、本発明によるルーチング回路によれば、非選択
モードにおいてトランジスタT2のベースーエミフク通
路間の電圧降下が従来の場合よりも可成り大きくなり、
出力トランジスタT2が低レベルおよび高レベルに近づ
ける傾向を減少せしめる。
モードにおいてトランジスタT2のベースーエミフク通
路間の電圧降下が従来の場合よりも可成り大きくなり、
出力トランジスタT2が低レベルおよび高レベルに近づ
ける傾向を減少せしめる。
点已における高レベルHaが一800mVであり、低レ
ベルL1が一2000+aVであり、従って公称の差が
1200+Vであるものとする。従来の回路によれば、
トランジスタを流れる′:L流は選択モードにおいては
5400μAとなり非選択モードにおいては100μA
、すなわちl:54の比となる0点已における高レベル
11.と低レベルし、との差は前記の公称の差に比べ1
05mVだけ減少し、従ってその値は1095+Vとな
る。
ベルL1が一2000+aVであり、従って公称の差が
1200+Vであるものとする。従来の回路によれば、
トランジスタを流れる′:L流は選択モードにおいては
5400μAとなり非選択モードにおいては100μA
、すなわちl:54の比となる0点已における高レベル
11.と低レベルし、との差は前記の公称の差に比べ1
05mVだけ減少し、従ってその値は1095+Vとな
る。
これに対し本発明による回路によれば、選択モードにお
いてトランジスタT2のエミッタに流れる電流と非選択
モードにおいてこのトランジスタTtのエミッタに流れ
る電流との比は、従来に比べ著しく小さくなる0例えば
、選択モードにおけるエミッタ電流1.の値は5500
μAとなり、非選択モードにおけるエミッタWm1a′
の(直は600μA 、 l!+4ちその比は約1対
9.2となり、従って、前記の公称の差は58mVN少
するだけであり、点已における高レベルと低レベルとの
差の値は1142mVとなる。
いてトランジスタT2のエミッタに流れる電流と非選択
モードにおいてこのトランジスタTtのエミッタに流れ
る電流との比は、従来に比べ著しく小さくなる0例えば
、選択モードにおけるエミッタ電流1.の値は5500
μAとなり、非選択モードにおけるエミッタWm1a′
の(直は600μA 、 l!+4ちその比は約1対
9.2となり、従って、前記の公称の差は58mVN少
するだけであり、点已における高レベルと低レベルとの
差の値は1142mVとなる。
本発明によれば、トランジスタT3を用い(第1図)、
そのエミッタを点Bに接続し、コレクタを接地し、ベー
スに基!1!電圧Vユを与えることができる。この基準
電圧V、はすべてのラインに対し共通とし、この基準電
圧のレベルは、例えばメモリのラインの変更に相当する
アドレスの変更中非選択状態に維持される非選択段で生
じることのある非選択レベルの電圧の不所望なサージを
大部分除去するように選定する。このような基準電圧を
用いることは、本願人に係るフランス国特許出願(I9
85年4月17日出願)の明細書に開示されている。
そのエミッタを点Bに接続し、コレクタを接地し、ベー
スに基!1!電圧Vユを与えることができる。この基準
電圧V、はすべてのラインに対し共通とし、この基準電
圧のレベルは、例えばメモリのラインの変更に相当する
アドレスの変更中非選択状態に維持される非選択段で生
じることのある非選択レベルの電圧の不所望なサージを
大部分除去するように選定する。このような基準電圧を
用いることは、本願人に係るフランス国特許出願(I9
85年4月17日出願)の明細書に開示されている。
本発明は上述した実施例に限定されず、幾多の変更を加
えうろこと勿論である0本発明は互いに著しく相違する
高電流状態および低電流状態を有するいかなるスイッチ
ング段にも用いることができる。lライン当り1つのス
イッチング段を有するメモリのラインデコーダに本発明
を用いる場合には、各ラインに補助電流源を用いる必要
があるため、本発明はライン数が少ない(約10本まで
)高速メモリに特に通している。
えうろこと勿論である0本発明は互いに著しく相違する
高電流状態および低電流状態を有するいかなるスイッチ
ング段にも用いることができる。lライン当り1つのス
イッチング段を有するメモリのラインデコーダに本発明
を用いる場合には、各ラインに補助電流源を用いる必要
があるため、本発明はライン数が少ない(約10本まで
)高速メモリに特に通している。
第1図はメモリのラインデコーダに適用する場合におけ
る本発明によるスイッチング段の一例を示す線図、 第28及び2b図はそれぞれ選択ライン及び非選択ライ
ンに対する本発明によるスイッチング段の2つの枝路に
おける2つの電流モードを示す線図、第3a及び3b図
はダーリントン段の種々の点における9m変化を示す特
性図である。 T o”−−マルチ−エミッタNPN )ランジスタR
(I+RI+R1’−”f氏抗 T1.Tz、Ti・・・NPN トランジスタD+、D
t、Ds・・・ダイオード M+、L’−・メモリ10
−・・メモリライン 特許出願人 エヌ・ベー・フィリップス・フルーイ
ランペンファブリケン
る本発明によるスイッチング段の一例を示す線図、 第28及び2b図はそれぞれ選択ライン及び非選択ライ
ンに対する本発明によるスイッチング段の2つの枝路に
おける2つの電流モードを示す線図、第3a及び3b図
はダーリントン段の種々の点における9m変化を示す特
性図である。 T o”−−マルチ−エミッタNPN )ランジスタR
(I+RI+R1’−”f氏抗 T1.Tz、Ti・・・NPN トランジスタD+、D
t、Ds・・・ダイオード M+、L’−・メモリ10
−・・メモリライン 特許出願人 エヌ・ベー・フィリップス・フルーイ
ランペンファブリケン
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、ダーリントンタイプのスイッチング段にあって、第
1トランジスタを具えており、前記スイッチング段の入
力端子を構成する前記第1トランジスタのベースにより
所謂選択レベルと所謂非選択レベルとの間にて電圧が変
化する論理制御信号を受信せしめ、前記第1トランジス
タのエミッタを第2トランジスタのベースに作用させ、
前記スイッチング段の出力端子を構成する前記第2トラ
ンジスタのエミッタを、前記論理制御信号がその信号の
選択レベルにある場合には第1電流源に接続し、前記論
理制御信号がその信号の非選択レベルにある場合には第
1電流源よりも電流強度の低い第2電流源に接続するよ
うにしたスイッチング段において、 2つの第1電流源(I_0、I_1)の電流強度の間の
大きさの電流強度(I)を有する補助電流源と、第2ト
ランジスタ(T_2)のベースとの間に第1枝路を構成
する第1ダイオード(D_1)と第2ダイオード(D_
2)とを順方向に直列に接続し、かつ前記第2トランジ
スタ(T_2)のエミッタと前記補助電流源(I)との
間に第2枝路を構成する第3ダイオード(D_3)を順
方向に接続して、前記制御信号の選択レベルと該制御信
号の非選択レベルとの間での制御信号のスイッチング作
動の期間中に、前記第2トランジスタ(T_2)のベー
スに蓄積されている電荷を前記第1枝路(D_1、D_
2)を経て大部分流す前記補助電流源(I)の電流によ
って放出させるようにしたことを特徴とするスイッチン
グ段。 2、前記第2トランジスタ(T_2)が該トランジスタ
のエミッタとベースとの間に抵抗(R_2)を具え、該
抵抗に第3電流源(I_0)の電流の少数部に等しい値
の電流が流れるように前記抵抗の抵抗値を選定したこと
を特徴とする特許請求の範囲第1項に記載のスイッチン
グ段。 3、前記補助電流源(I)の電流値を前記第2電流源の
電流値の10%以上とするか、又はそれに等しくしたこ
とを特徴とする特許請求の範囲第1又は2項のいずれか
一項に記載のスイッチング段。 4、前記ダイオード(D_1、D_2、D_3)の内の
少なくとも1個のダイオードを少なくとも1個の第3ト
ランジスタのエミッターベース接合によって構成し、該
トランジスタのベースとコレクタを短絡させたことを特
徴とする特許請求の範囲第1〜3項のいずれか一項に記
載のスイッチング段。 5、前記スイッチング段が第3トランジスタ(T_3)
を具え、該第3トランジスタのエミッタを前記第2トラ
ンジスタ(T_2)のベースに作用させ、かつ前記第3
トランジスタのベースが基準電圧(V_3)を受信し、
該基準電圧がアドレスの変更中に非選択レベルのサージ
を大部分なくすように前記基準電圧の値を選定したこと
を特徴とする特許請求の範囲第1〜4項のいずれか一項
に記載のスイッチング段。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| FR8505702A FR2580444B1 (fr) | 1985-04-16 | 1985-04-16 | Etage de commutation du type darlington notamment pour un decodeur de lignes d'une memoire |
| FR8505702 | 1985-04-16 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61242111A true JPS61242111A (ja) | 1986-10-28 |
| JPH0758897B2 JPH0758897B2 (ja) | 1995-06-21 |
Family
ID=9318276
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP61086218A Expired - Lifetime JPH0758897B2 (ja) | 1985-04-16 | 1986-04-16 | スイツチング段 |
Country Status (5)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4706222A (ja) |
| EP (1) | EP0200255B1 (ja) |
| JP (1) | JPH0758897B2 (ja) |
| DE (1) | DE3672523D1 (ja) |
| FR (1) | FR2580444B1 (ja) |
Families Citing this family (9)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS62202537A (ja) * | 1986-02-19 | 1987-09-07 | Hitachi Ltd | 半導体集積回路装置 |
| JP2560020B2 (ja) * | 1987-02-18 | 1996-12-04 | 株式会社日立製作所 | 半導体記憶装置 |
| US5278795A (en) * | 1987-03-27 | 1994-01-11 | U.S. Philips Corporation | Memory circuit having a line decoder with a Darlington-type switching stage and a discharge current source |
| FR2613114A1 (fr) * | 1987-03-27 | 1988-09-30 | Radiotechnique Compelec | Memoire comportant un decodeur de lignes pourvu d'un etage de commutation du type darlington |
| JPH02105395A (ja) * | 1988-10-13 | 1990-04-17 | Nec Corp | プログラマブル・リード・オンリー・メモリ |
| CA2042432A1 (en) * | 1990-05-31 | 1991-12-01 | Robert M. Reinschmidt | Memory selection circuit |
| DE4030418A1 (de) * | 1990-09-26 | 1992-04-02 | Bosch Gmbh Robert | Leistungsendstufe mit einer darlington-schaltung zum schalten einer induktiven last, insbesondere der zuendspule einer brennkraftmaschine |
| US5255240A (en) * | 1991-06-13 | 1993-10-19 | International Business Machines Corporation | One stage word line decoder/driver with speed-up Darlington drive and adjustable pull down |
| US5381377A (en) * | 1992-10-14 | 1995-01-10 | Sun Microsystems, Inc. | Word line driver circuit and method |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5922414A (ja) * | 1982-07-29 | 1984-02-04 | Toshiba Corp | 自動利得制御回路 |
Family Cites Families (9)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US3533007A (en) * | 1969-10-09 | 1970-10-06 | Ibm | Difference amplifier with darlington input stages |
| US4092551A (en) * | 1976-05-20 | 1978-05-30 | International Business Machines Corporation | A.C. powered speed up circuit |
| US4236089A (en) * | 1978-09-21 | 1980-11-25 | Exxon Research & Engineering Co. | Floating power switch |
| FR2443118A1 (fr) * | 1978-11-30 | 1980-06-27 | Ibm France | Dispositif pour l'alimentation des memoires monolithiques |
| JPS606040B2 (ja) * | 1979-06-07 | 1985-02-15 | 日本電気株式会社 | 集積回路 |
| JPS5843836B2 (ja) * | 1979-12-21 | 1983-09-29 | 富士通株式会社 | デコ−ダ回路 |
| JPS5841596B2 (ja) * | 1980-11-28 | 1983-09-13 | 富士通株式会社 | スタティック型半導体記憶装置 |
| US4488263A (en) * | 1982-03-29 | 1984-12-11 | Fairchild Camera & Instrument Corp. | Bypass circuit for word line cell discharge current |
| US4603268A (en) * | 1983-12-14 | 1986-07-29 | National Semiconductor Corporation | Totem pole output circuit with reduced current spikes |
-
1985
- 1985-04-16 FR FR8505702A patent/FR2580444B1/fr not_active Expired
-
1986
- 1986-04-14 DE DE8686200621T patent/DE3672523D1/de not_active Expired - Lifetime
- 1986-04-14 EP EP86200621A patent/EP0200255B1/fr not_active Expired - Lifetime
- 1986-04-15 US US06/852,052 patent/US4706222A/en not_active Expired - Fee Related
- 1986-04-16 JP JP61086218A patent/JPH0758897B2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5922414A (ja) * | 1982-07-29 | 1984-02-04 | Toshiba Corp | 自動利得制御回路 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| DE3672523D1 (de) | 1990-08-16 |
| EP0200255B1 (fr) | 1990-07-11 |
| FR2580444A1 (fr) | 1986-10-17 |
| FR2580444B1 (fr) | 1987-06-05 |
| JPH0758897B2 (ja) | 1995-06-21 |
| US4706222A (en) | 1987-11-10 |
| EP0200255A1 (fr) | 1986-11-05 |
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