JPS61245134A - 平面光導波路及びその製造方法 - Google Patents

平面光導波路及びその製造方法

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JPS61245134A
JPS61245134A JP61088422A JP8842286A JPS61245134A JP S61245134 A JPS61245134 A JP S61245134A JP 61088422 A JP61088422 A JP 61088422A JP 8842286 A JP8842286 A JP 8842286A JP S61245134 A JPS61245134 A JP S61245134A
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magneto
optic
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refractive index
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JP61088422A
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ウォルフガング・フランツ・マリア・トルクスドルフ
インシェ・エリザベス・ヘートヴィヒ・バーテルス
ハンス・オット・ベルンハルド・ダンマン
クラウス−ペーター・クラーゲス
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Philips Gloeilampenfabrieken NV
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は基板上に・エピタキシャル成長させた第1磁気
−光学層及び該第1磁気−光学層上にエピタキシャル成
長させた第2磁気−光学層を有する非磁性基板から成り
、該磁気−光学2履が鉄ガーネットを基礎とした物質か
ら成り、第2磁気−光学層の屈折率n2が第1磁気−光
学層の屈折率n1よりも約I Xl0−’〜I Xl0
−”高い結晶体を有する平面光導波路に関するものであ
る。
本発明はさらに酸型の先導波路の製造方法及び利用に関
するものである。
光ガラスファイバを用いる光通信において一方向導波路
を、光アイソレーターとして、又は恐らく連結部より反
射した光から半導体レーザーダイオードを保護する光サ
ーキニレーターとしても使用すると同時に磁気−光学物
質の非可逆な特性をファラデー効果により利用する。
基板上にエピタキシャル成長させた磁気−光学物質層に
より実現される平面光一方向導波路は連結すべき光ファ
イバの大きさに適合する層厚みの放射−伝送層を有する
必要があり;単一モード光ファイバは、例えばコア直径
が5〜10μm範囲であり、即ち、単一モード先導波路
の放射伝送層の層厚みも5〜10μmとすべきである。
かかる大きさの層を高希釈融解溶液からの液相エピタキ
シー(LPD) により製造することができ、該溶液中
の溶媒は通常PbO及びB2O3の混合物から成る。磁
気−光学層に適する物質としては、例えばイツトリウム
鉄ガーネット(Y3FeSDI2>があり、かかる層が
エピタキシャル成長するのに適する基板は例えば(11
1)一方向に配向した市場で入手し得る0、5mm厚単
結晶片の形態のガドリニウムガリウムガーネット(Gd
3Ga50+z) がある。
磁気−光学層に適する他の鉄ガーネットは例えばGd3
Fe50.、又はビスマス置換した鉄ガーネットである
光ファイバによる光通信において、単一モード技術を高
度なデータ伝送に使用する。序文で述べた平面光導波路
は、磁気−光学2層間の屈折率差が小さい2層の磁気−
光学鉄ガーネット層により作動するので、基板上に設け
た第1層に隣接する第2鉄ガーネット層は5〜10μm
厚みの場合に単一モード導波路である。
基板及び第1磁気−光学層間の屈折率差が比較的大きい
ために、なお一層のモードを全磁気−光学2重層内に付
加的に伝送することができる。最適単一モード操作に対
してかかる効果は望ましくない。
本発明の目的は序文で述べた平面光導波路を、望ましく
ないモードの伝送が確実に回避されるような方法で改良
することにある。
本発明 おいてかかる目的は鉄ガーネットを基礎とし1
.0<;λり2.5μmの波長範囲の放射線を吸収する
物質の層を基板及び第1磁気−光学層間に設けることに
より達成され、上記鉄ガーネットを基礎とした層の屈折
率nAは第1磁気−光学層の屈折率より高い。
かかる型の平面光導波路の製造方法は、鉄ガーネットを
基礎とし1.0≦λ≦2.5μmの波長範囲の放射線を
吸収する物質の層を非磁性基板上にエピタキシャル成長
させ、屈折率差ΔnがI Xl×l0−2範囲である2
層の磁気光学層を上記吸収層上にエピタキシャル成長さ
せ、該吸収層は1.0≦λ≦2.5μmの波長範囲の放
射線を吸収するイオンをガーネット格子中へ組込むこと
により、さらに組成の選定により吸収層に隣接する第1
磁気−光学層の屈折率n1より高い屈折率nAを示すこ
とを特徴とする。
本発明は基板及び磁気光学2重層の間に1.0≦λ≦2
.5μmのスペクトル範囲の放射線を吸収する中間層を
設ける場合、好ましくないモードの伝送を回避すること
ができ、該中間層は吸収層に隣接する第1磁気−光学層
の屈折率n1よりわずかに高い屈折率nAを有するとい
うことを知見したことに基づいている。本方法において
単一モード操作に好ましくない他のモードは吸収層を通
過することにより極端に減衰してその伝送が抑制される
例えばSi■、Ge■、TiN及び/又はZr1Vの4
価イオンと組合わされるCo11及び/又はCa1lは
特に吸収層の屈折率を変え、1.0りλ≦2.5μmの
波長範囲の放射線を吸収するように作用する。
従って本発明の先導波路を1.0≦λ≦2.5μmの波
長範囲に対する光一方向導波路として利用できる。
本発明の他の好適例にふいてガーネット格子中の吸収層
の物質はカチオンの形態で少なくとも1個の置換基を含
み、該物質は12面体、8面体及び/又は4面体格子点
配置をとり、一方本発明の他の好適例において吸収層は
一般式; Y3Fes−x−y−gA、D、M、0.2
(但しA=Col[[、D=Coff及びM=Si■、
 Ge■、 TiN、 Zr■及び/又はがかるイオン
の混合物で、O<x≦0.3;0≦y≦0,3;z≧y
;0<y+z≦0.6 ;  x+y+zり0.6 ;
  x+y〉0でありy=oの場合はz=Qである)で
表わされる組成を有する。
本発明の他の好適例において次の式; %式% で表わされるフェリ磁性吸収層を基板上に被着する。組
成物YJe4.9COO,1012の吸収層の製造を実
施例として記載する。
PbO及びB2O3の形態の溶媒を用いるが成長層中の
ホウ素含量は無視できる程少量である。
本発明を図面を参照して次の実施例により説明する。
第1図は(111)一方向に配向した500μmの厚み
を有する単結晶片から成るGd5Ga50.、の基板3
を有する平面光導波路1を示す。エピタキシャルY3F
es、 、(’oo1012層を屈折率nAが2.22
4であるフェリ磁性吸収層5として設ける。屈折率n、
が2、220であるエピタキシ’r 71zYz、 5
3aPtlo、 ossPesO+z層を、第1磁気−
光学層7として設ける。
屈折率n2が2.224であるエピタキシャルy、、 
1llPbo、 09Pe5012層を第2磁気−光学
層9として設ける。屈折率の差Δn=n、−n、は4.
0X10−3である。吸収層5と第1磁気−光学層7の
屈折率差はnΔnl=4xlO−’である。
磁気−光学層7,9及びフェリ磁性吸収層5を製造する
ために、例えばジャーナル オブ クリスタル グo−
ス(Jouenal of Crystal Grow
th)52 (1981) 、722〜728ページか
ら知られる液相エピタキシ一方法を用い、この際直径3
0mmの(111)一方向に配向した水平にクランプさ
れた0、5mm厚Gd5GasO+z単結晶基板を基板
として用いた。溶融物■又は溶融物■のどちらか一方を
磁気−光学層7及び9の製造に用いた。溶融物■をフェ
リ磁性吸収層5の製造に用いた。
溶融物■、■及び■は使用した酸化物に関して次の組成
(重量%)を有した。
溶融物I〜■の組成(溶融物中のカチオン部分)を次の
表に示す。
第1表 フェリ磁性吸収層5は第1表に示す組成の溶融物■から
865℃の溶融物の成長温度Tgで6μmの層厚みを伴
ってエピタキシャル成長させた。屈折率nAは2.22
4である。この層の波長範囲1.0≦λ≦2.0μmの
放射線の吸収を第2図に示す:これはフェリ磁性吸収層
5上にエピタキシャル成長した2層の磁気−光学層7.
9における多モード伝送を抑制するに十分であった。
波長1.0りλ≦2.5μmにおける放射線の吸収測定
はYsFe<、s*5COo、o+aGeo、o<20
+a (第3図)及びY3Fe*、 73COO,+a
SIo、 +sO12(第4図)の組成物層で厚みd:
100μm(第3図及び第4図参照)を用いて同様に実
施した。引用記号αは測定層の吸収係数を示す。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一例の平面光一方向導波路の斜視図、 第2〜4図は近赤外範囲における放射線に関する本発明
の吸収層の吸収挙動を波長と吸収係数の関係で示す線図
である。 1・・・光導波路     3・・・基板5・・・フェ
リ磁性吸収層 7・・・第1磁気−光学層9・・・第2
磁気−光学層

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、基板上にエピタキシャル成長させた第1磁気−光学
    層及び該第1磁気−光学層上にエピタキシャル成長させ
    た第2磁気−光学層を有する非磁性基板から成り、該磁
    気−光学2層が鉄ガーネットを基礎とした物質から成り
    、該第2磁気−光学層の屈折率n_2が該第1磁気−光
    学層の屈折率n_1より1×10^−^3〜1×10^
    −^2高い結晶体を有する平面光導波路において、鉄ガ
    ーネットを基礎とし、1.0≦λ≦2.5μmの波長の
    放射線を吸収する物質の層5を、基板3と第1磁気−光
    学層7の間に設け、前記の鉄−ガーネットを基礎とした
    層が第1磁気光学層の屈折率より高い屈折率n_Aを有
    することを特徴とする平面光導波路。 2、磁気光学層の物質は一般式Y_3_−_xPb_x
    Fe_5O_1_2で表わされる組成物で、吸収層5に
    隣接する第1磁気−光学層7ではx=0.007〜0.
    025であり、該第1磁気−光学層上に設ける第2磁気
    −光学層9ではx=0.02〜0.04である特許請求
    の範囲第1項記載の平面光導波路。 3、吸収層5の物質中に、12面体、8面体及び/又は
    4面体格子点を占め得るカチオンの形で少なくとも1個
    の置換基がガーネット格子内に存在する特許請求の範囲
    第1項又は第2項記載の平面光導波路。 4、吸収層5は次の一般式; Y_3Fe_5_−_x_−_y_−_zA_xD_y
    M_zO_1_2(但しA=Co^III、D=C0^II
    、M=Si^IV、Ge^IV、Ti^IV、Zr^IV及び/
    又はかかるイオンの混合物で、0≦x≦0.3、0≦y
    ≦0.3、z≧y、0≦y+z≦0.6、x+y+z≦
    0.6、x+y>0であり、y=0の場合はz=0であ
    る)で表わされる組成を有する特許請求の範囲第3項記
    載の平面光導波路。 5、吸収層5が次の式;Y_3Fe_4_._9Co_
    0_._1O_1_2で表わされる組成を有する特許請
    求の範囲第4項記載の平面光導波路。 6、吸収層5は次の式; Y_3Fe_4_._9_3_9Co_0_._0_1
    _8Ge_0_._0_4_2O_1_2で表わされる
    組成を有する特許請求の範囲第4項記載の平面光導波路
    。 7、吸収層5が次の式; Y_3Fe_4_._7_3Co_0_._1_2Si
    _0_._1_5O_1_2で表される組成を有する特
    許請求の範囲第4項記載の平面光導波路。 8、吸収層5が≦100μmの厚みを有する特許請求の
    範囲第1〜第7項のいずれか1つの項記載の平面光導波
    路。 9、基板3が次の式;Gd_3Ga_5O_1_2で表
    わされる組成を有する特許請求の範囲第1〜第8項のい
    ずれか1つの項記載の平面光導波路。 10、基板上にエピタキシャル成長させた第1磁気−光
    学層及び該第1磁気−光学層上にエピタキシャル成長さ
    せた第2磁気−光学層を有する非磁性基板から成り、該
    磁気−光学2層が鉄ガーネットを基礎とした物質から成
    り、該第2磁気−光学層の屈折率n2が該第1磁気−光
    学層の屈折率n1より×10^−^3〜1×10^−^
    2高い結晶体を有する平面光導波路の製造方法において
    、鉄ガーネットを基礎とし1.0≦λ≦2.5μmの波
    長の放射線を吸収する物質を非磁性基板上にエピタキシ
    ャル成長させ、屈折率差Δnが1×10^−^3〜1×
    10^−^2範囲である磁気光学2層を、1.0≦λ≦
    2.5μmの波長範囲の放射線を吸収するイオンをガー
    ネット格子中へ組込むことにより、さらに組成の選定に
    より吸収層に隣接する第1磁気−光学層の屈折率n_1
    より高い屈折率n_Aを示す上記吸収層上にエピタキシ
    ャル成長させることを特徴とする平面光導波路の製造方
    法。 11、一般式;Y_3Fe_5_−_x_−_y_−_
    zA_xD_yM_zO_1_2(但しA=Co^III
    、D=Co^II、M=Si^IV、Ge^IV、Ti^IV、
    Zr^IV及び/又はかかるイオンの混合物で、0≦x≦
    0.3、0≦y≦0.3、z≧y、0≦y+z≦0.6
    、x+y+z≦0.6、x+y>0であり、y=0の場
    合はz=0である)で表わされる組成を有する吸収層が
    基板上に被着する特許請求の範囲第10項記載の製造方
    法。 12、Y_3Fe_4_._3Co_0_._1O_1
    _2で表される吸収層が基板上に被着する特許請求の範
    囲第11項記載の製造方法。 13、Y_3Fe_4_._9_3_9Co_0_._
    0_1_8Ge_0_._0_4_2O_1_2で表さ
    れる吸収層が基板上に被着する特許請求の範囲第11項
    記載の製造方法。 14、Y_3Fe_4_._7_3Co_0_._1_
    2Si_0_._1_5O_1_2で表される吸収層が
    基板上に被着する特許請求の範囲第11項記載の製造方
    法。 15、組成Gd_3Ga_5O_1_2の基板を用いる
    特許請求の範囲第10〜第15項のいずれか1つの項記
    載の製造方法。
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