JPS61268235A - Ｘ線ｃｔ装置の不良箇所判別回路 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の利用分野〕 本発明は、Ｘ１ＩＡＣＴ装置のＸ線検出器から画像処理
装置の前段回路（通常はインターフェイス回路）までの
検出回路系中の動作不良箇所を判別する不良箇所判別回
路に関するものである。

〔発明の背景〕

従来、この種の回路には、Ｘ線検出器を構成する多数の
検出素子（チャンネル）がらの信号が入力されるプリア
ンプの入力端に所定レベルの電圧信号からなるチェック
信号を入力し、その際の検出回路系の出力信号により不
良箇所を判別するというものがあった。

しかしながらこのような従来回路では、前記プリアンプ
の次段回路以降の検出回路系のいずれの箇所も正常であ
ることを前提として、Ｘ線検出器の各検出素子からプリ
アンプまでのチャンネル信号増幅部分の良否を判定でき
るに過ぎなかった。

したがって上記前提が成り立たない場合には、単にチェ
ック信号が入力された検出回路系中の特定のチャンネル
の回路系全体のうちのどこかが不良であるとの判別しか
できず、そのうちのどの箇所（回路）が不良であるかを
判別することはできなかった。

〔発明の目的〕

本発明は北記のような実情に鑑みてなされたもので、検
出回路系中のどの箇所が不良であるかをより具体的に判
別することができるＸ線ＣＴ装置の不良箇所判別回路を
提供することを目的とする。

〔発明の概要〕

本発明回路は、Ｘ線ＣＴ装置において、プリアンプの入
力端をＸ線検出器出力端側と接地側のいずれかに切換接
続する第１スイッチと、プリアンプの次段回路以降の検
出回路系中の回路及び画像処理装置の入力回路のうちの
所望回路の入力端をその前段回路出力端とチェック信号
供給端のいずれかに切換接続する第２スイッチと、チェ
ック信号供給端にチェック信号を出力するチェック信号
発生回路を設け、前記第１．第２スイッチを所定の順序
で各別に切換作動させながら、その際の画像処理装置へ
の入力信号により、前記検出回路系を構成する回路の動
作状態の良否を順次判定していき、最終的に不良箇所（
回路）を判別できるようにしたものである。

〔発明の実施例〕

以下図面を参照して本発明の詳細な説明する。

第１図は本発明による不良箇所判別回路が適用されたＸ
線ＣＴ装置の一例を示すブロック図である。

この第１図において、１はプリアンプ、２はバッファ回
路、３はＡ／Ｄ変換回路（以下、ＡＤＣと略称する）、
４はデータ保持回路、５はインターフェイス回路、６は
制御回路、７は画像処理装置でこれらによりＸ線ＣＴ装
置が構成されている。

この場合、図示しないＸ線検出器を構成する多数の（こ
こでは５７６個の）検出素子が複数の（ここでは３６個
の）検出素子群に分けられており、その各群に対応して
１個のプリアンプ１が設けられている。そして各プリア
ンプ１は、割当てられた検出素子群を構成する検出素子
からの信号を各々増幅する増幅回路を有し、チャンネル
切換信号によってその増幅回路からの信号が順次選択さ
れて出力される。また、プリアンプ１相互についても、
順次選択されたプリアンプ１からの出力信号がバッファ
回路２に入力されるようになされている。これにより、
１回（１角度分）のＸ線曝射に対してＸ線検出器の第１
番目の検出素子（チャンネル）から最終番目（第５７６
番目）の検出素子（チャンネル）にわたって、順次検出
信号が増幅されてバッファ回路２に送られる。バッファ
回路２は、各プリアンプ１からの出力信号に応じて任意
の増幅を行い、プリアンプ１の出力レンジをＡＤＣ３の
入力レンジに対応させる。ＡＤＣ３はバッファ回路２か
らの信号（アナログ信号）をディジタル信号に変換し、
その信号をデータ保持回路４が一定時間保持する。イン
ターフェイス回路５はデータ保持回路４からの信号を画
像処理装置７に入力させるもので、画像処理装置７は入
力信号に基づき、画像再構成を行い、図示しないＣＲＴ
にＣＴ像を表示させる。制御回路６は、その間、プリア
ンプ１からインターフェイス回路５に至る検出回路系の
制御を行う。

第２図は上述ＣＴ装置の動作タンミングチャートで、（
ａ）は画像処理装置７からの計測スタート信号で、この
信号により制御回路６が動作し、１角度分の計測シーケ
ンスが実行される。この計測スタート信号のパルス数は
、通常のＸ線ＣＴ装置において、１回のスキャンで２０
０〜１２００個である。

（ｂ）はＸ線曝射信号、（ｃ）はＸ線曝射後、プリアン
プ１の増幅回路出力信号のチャンネルを順次切　　　′
換えるチャンネル切換信号（パルス列）である。

このチャンネル切換信号に対応して、各プリアンプ１で
の各チャンネル（１〜１６チヤンネル）切換え及び１〜
３６個のプリアンプ１の選択スイッチの切換え、Ａ’Ｄ
Ｃ３のＡ／Ｄ変換、データ保持回路４のデータ保持の切
換え、画像処理装置７へのデータ転送などの制御が行わ
れる。プリアンプ１の全チャンネル数（５７６）分のデ
ータ転送が終了すると、制御回路６は、大角度の計測ス
タート信号待ちとなるもので、これを所定角度、ここで
は６０００分にわたって繰返し、１回のスキャンを終え
、画像処理装置７で画像再構成して表示装置でＣＴ像を
表示する。

以上は従来のＸ線ＣＴ装置と同様であり、本発明回路は
、このようなＸ線ＣＴ装置に次のような構成が付加され
てなる。すなわち本発明回路は。

検出回路系を構成する複数の回路（プリアンプ１からイ
ンターフェイス回路５までの回路）及び画像処理装置７
の入力回路のうち、各プリアンプ１の入力端部分と、プ
リアンプ１を除く他の上記各回路のうちの所望回路、こ
こではプリアンプ１を除く他の上記全回路の入力端部分
とに、不良箇所判別用のスイッチＳＷが設けられてなる
。この場合、各プリアンプ１の入力端部分に設けられる
スイッチ（第１スイッチ）ＳＷＩは、各々プリアンプ１
の入力端を、Ｘ線検出器の各々割当てられた検出素子の
出力端（ａ接点側）と接地側（ｂ接点側）のいずれかに
切換接続する。また他の回路２〜５及び画像処理装置７
の入力回路の入力端部分に設けられるスイッチ（第２ス
イッチ）ＳＷ２ａ〜Ｓ　Ｗ　２　ｅは、各々その入力端
を前段回路１〜５の出力端（ａ接点側）とチェック信号
供給端（ｂ接点側）のいずれかに切換接続する。

８はアナログチェック信号発生回路で、基準電源やＤ／
Ａ変換器（図示せず）を用いて任意の電圧を発生し得る
もので、その出力端はスイッチ５Ｗ２ａ及び５Ｗ２ｂの
ｂ接点に接続されている。９はディジタルチェック信号
発生回路で、ＡＤＣ３の出力ビツト数に対応するパター
ンコード、例えばＡＤＣ３の出力ビットが４ビツトのと
き、ｏ。

００→１０１０→０１０１→１１１１などのようなコー
ドのディジタル信号を発生するもので、その出力端はス
イッチＳＷ２ｃｍＳＷ２ｅのｂ接点に接続されている。

なお、これらのチェック信号発生回路８，９は、前記制
御回路６によって制御されるもので、そのチェック信号
値の変更は１回ないし数回、ここでは数回のＸ線曝射に
応じて、したがって例えば第２図中の信号ａ又はｂの数
個分に対応して変化される。１０はスイッチ切換回路で
、上記信号ａ又はｂによってタイミングをとりながら、
制御回路６によって上記スイッチＳＷＩ、ＳＷ　２　ａ
　＝　Ｓ　Ｗ　２　ｅを所定の順序、ここでは図示左側
のスイッチＳＷＩから右側のスイッチＳ　Ｗ　２　ｅに
向かって各別にｂ接点側に切換作動させる。この場合、
作動させるスイッチ、例えばＳＷＩ　（又は５Ｗ２ａ）
を除く他のスイッチ、例えばＳ　Ｗ　２　ａ〜５Ｗ２ｅ
（又はＳ　’Ｗ　１　、　Ｓ　Ｗ　２ｂ”　Ｓ　Ｗ　２
ｅ）はａ接点側に接続されている。なお画像処理装置７
は、ここでは前記スインＳＷ１，５Ｗ２ａ”５Ｗ２ｅが
切換作動されたときの入力信号により、前記検出回路系
を構成する回路１〜５の動作状態の良否を判定する判定
手段としても用いられる。

次に上述本発明回路の動作について説明する。

まず、不良箇所判別のための計測が行われることを知ら
せるための制御信号が、例えば画像処理装置７から出力
され、回路８〜１０を待機状態とする。

計測スタート信号ａ、Ｘ線曝射信号す及びチャンネル切
換信号Ｃなどは、前述した通常の計測時と同様に出力さ
れる。

この状態から、まず第１判足動作Ｉを行う。この動作Ｉ
は、図示するように全スイッチＳＷＩ。

５Ｗ２ａ＝ＳＷ２ｅがａ接点側に接続された状態、すな
わち通常の計測時と同様の状態で数角度分について計測
動作することにより行う。計測されたデータＩＤの判定
は、各チャンネル（ａｈ）のデータにつき、全チャンネ
ルのデータ平均値にプリアンプ１の許容誤差を加味した
値の範囲内にあるか否かを比較することで行うもので、
計測データが上記範囲内にないとき、そのチャンネルの
検出回路系は不良であると判定する。

第２判足動作■は、次の数角度の計測をスイッチＳＷＩ
のみｂ接点に切換接続して行われる。このｂ接点は接地
されているので、この場合はプリアンプ１のオフセット
電圧を測定することになり、したがって計測データｎＤ
の判定基準として所定の閾値を設定し、各チャンネルの
データについてそれより大きいか否かを比較し、大きい
ものをチヤンネル不良（そのチャンネルの検出回路系不
良）と判定する。

第３判電動作■は１次の数角度の計測をスインｉ　Ｓ　
Ｗ　２　ａのみｂ接点に切換接続して行われる。

この場合は、計測データｌｌＩＤのデータ値が、バッフ
ァ回路２のゲイン定数により定まる値になっているかを
比較し、なっていない場合に、このバッファ回路２以降
の検出回路系は不良であると判定する。

第４判常動作■は１次の数角度の計測をスイッチ５Ｗ２
ｂのみｂ接点に切換接続して行われる。

これによりＡＤＣ３に入力されるチェック信号に応じた
値の計測データＩＶＤが得られなければ、このＡＤＣ３
以降の検出回路系は不良であると判定される。

第５判足動作Ｖ（Ｖｌ〜Ｖ３）は、次の数角度の計測を
、１〜数角度計測される毎にスイッチ５Ｗ２ｃ（Ｖｌの
場合）−＋５Ｗ２ｄ　（Ｖ２の場合）→５Ｗ２ｅ（Ｖ３
の場合）と各別に順次す接点に切換接続して行われる。

この場合は、ディジタルチェック信号発生器９からのパ
ターンコード信号が回路４，５及び画像処理装置７の入
力回路に順次入力されることになり、その際の計測デー
タＶＤ（ＶＤＩ〜ＶＤ３）によってそれら各回路の各ビ
ットについての出力判定が行われる。各回路の各ピント
についての計測データＶＤ１〜ＶＤ３が上記パターンコ
ード信号に応じた値でなければ、その回路４又は５以降
の検出回路系（回路５の場合はその回路５）は不良であ
ると判定される。

以上の判定結果から不良箇所（回路）が次のように判別
される。すなわち、前記判定動作ｌ又は■で不良と判定
され、判定動作■〜■で不良と判定されない場合には、
プリアンプ１の該当するチャンネルが不良であり、他の
回路２〜５は正常であると判別される。次に、判定動作
■〜■で不良と判定され、判定動作ＩＶ、　Ｖで不良と
判定されない場合には、バッファ回路２及び／又はプリ
アンプ１が不良であり、他の回路３〜５は正常であると
判別される。また、判定動作Ｉ〜■で不良と判定され、
判定動作■１で不良と判定されない場合には、ＡＤＣ３
，バッファ回路２及びプリアンプ１の少なくともいずれ
か１つが不良であり、他の回路４，５は正常であると判
別される。以下、判定動作■〜（ｎ−１）で不良と判定
され、判定動作ｎで不良と判定されない場合には、その
判定動作ｎ時にｂ接点に切換接続さ九たスイッチＳＷ２
より前段側の回路の少なくともいずれか１つが不良であ
り、後段側の回路は正常であると判別される。そして、
これらの判別結果を総合的に判断すれば、検出回路系中
のどの箇所（回路）が不良であるかを具体的に判別でき
ることになる。

なお、このような不良箇所の判別は、判定動作１〜■に
よって得られた計測データに基づいて人為的に行うこと
もできるが、画像処理装置７に行わせてもよく、さらに
その判別結果を前記ＣＲＴに表示させるようにしてもよ
い。

第３図は上述判定動作Ｉ〜■によって得られた計測デー
タの配列の一例を示す図である。この第３図において、
Ｃｈ（チャンネル）方向及びθ（Ｘ線曝射角）方向には
各判定動作時の計測データが順次並んでいるので、各デ
ータ値が所定の値になっているかを順次判定していくこ
とにより不良箇所の判別ができ、例えば上記のようにＣ
ＲＴに表示させればよい。

なお上述実施例では、１回のスキャンで５つの判定動作
１〜■まで行う場合について述べたが、１回のスキャン
で１つの判定動作を行うようにしてもよい。

〔発明の効果〕

以上述べたように本発明によれば、Ｘ線ＣＴ装置におい
て、検出回路中のどの箇所が°不良であるかを従来回路
に比べてより具体的に判別することができるという効果
がある。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明が適用されたＸ線ＣＴ装置の一例を示す
ブロック図、第２図は同装置の動作タイミングチャート
、第３図は本発明回路による判定動作によって得られた
計測データの配列の一例を示す図である。 １・・・プリアンプ、２・・・バッファ回路、３・・・
ＡＤＣ５４・・・データ保持回路、５・・・インターフ
ェイス回路、６・・・制御回路、７・・・画像処理装置
、８・・・アナログチェック信号発生回路、９・・・デ
ィジタルチェック信号発生回路、１０・・・スイッチ切
換回路、ＳＷ　１−・・第１スイッチ、５Ｗ２ａ＝ＳＷ
２ａ−第２スイッチ。

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. Ｘ線検出器を構成する多数の検出素子からの信号を複数
   のプリアンプで順次増幅して出力し、プリアンプの次段
   回路以降の検出回路系を経て画像処理装置に与え、ＣＴ
   像を得るＸ線ＣＴ装置において、前記各プリアンプの入
   力端を前記Ｘ線検出器出力端側と接地側のいずれかに各
   々切換接続する第１スイッチと、前記プリアンプの次段
   回路以降の検出回路系を構成する複数の回路及び前記画
   像処理装置の入力回路のうちの所望回路の入力端をその
   前段回路出力端とチェック信号供給端のいずれかに切換
   接続する第２スイッチと、前記チェック信号供給端にチ
   ェック信号を出力するチェック信号発生回路と、前記第
   １、第２スイッチを所定の順序で各別に切換作動させる
   スイッチ切換回路と、この切換回路による前記第１、第
   ２スイッチの各々が一方側と他方側に各々切換えられた
   ときの前記画像処理装置への入力信号により、前記検出
   回路系を構成する回路の動作状態の良否を判定する判定
   手段とを具備することを特徴とするＸ線ＣＴ装置の不良
   箇所判別回路。