JPS6126876B2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPS6126876B2 JPS6126876B2 JP10858179A JP10858179A JPS6126876B2 JP S6126876 B2 JPS6126876 B2 JP S6126876B2 JP 10858179 A JP10858179 A JP 10858179A JP 10858179 A JP10858179 A JP 10858179A JP S6126876 B2 JPS6126876 B2 JP S6126876B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- signal
- frame
- amplitude
- circuit
- difference
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
Links
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
- H04N17/00—Diagnosis, testing or measuring for television systems or their details
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Biomedical Technology (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- Multimedia (AREA)
- Signal Processing (AREA)
- Testing, Inspecting, Measuring Of Stereoscopic Televisions And Televisions (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は符号化特性測定方法に関し、さらに詳
しくはフレーム間符号化装置の移動する画像の符
号化特性を定量的に測定することを可能とする測
定方法に関するものである。
しくはフレーム間符号化装置の移動する画像の符
号化特性を定量的に測定することを可能とする測
定方法に関するものである。
例へばテレビ会議用のモニタとして用いられる
フレーム間符号化装置を用いて移動する画像を伝
送する場合移動画像の符号化特性を測定するため
従来はアナログ変換された映像信号をテレビ用モ
ニタに写し出し目視で良い悪いの判断を行なつて
いたため判断規準があいまいでまた人によつて評
価が異なり定量的に画像品質の比較をすることが
できなかつた。
フレーム間符号化装置を用いて移動する画像を伝
送する場合移動画像の符号化特性を測定するため
従来はアナログ変換された映像信号をテレビ用モ
ニタに写し出し目視で良い悪いの判断を行なつて
いたため判断規準があいまいでまた人によつて評
価が異なり定量的に画像品質の比較をすることが
できなかつた。
本発明の目的はこの欠点を解決するため定量的
にフレーム間符号化装置の画像品質特性を測定可
能とする符号化特性測定方法を提供することにあ
る。
にフレーム間符号化装置の画像品質特性を測定可
能とする符号化特性測定方法を提供することにあ
る。
本発明によれば第n番目のフレームと第n+1
番目のフレーム画像の差信号をとり出し、誤差信
号を圧縮して送信し、受信部においては前記圧縮
して送信された差信号より差信号を復元するとと
もに第n番目と第n+1番目のフレームに共通な
部分は第n番目のフレームの画像を補間して第n
+1番目のフレーム画像を受信するフレーム間符
号化装置において、同一のスリツト幅および振幅
を有する静止したパイロツト信号と移動するテス
トパターンとを同時に伝送し、前記スリツト幅を
除々に狭くしていき、受信部において前記パイロ
ツト信号と前記テストパターンとを比較し前記パ
イロツト信号と前記テストパターンの振幅の差が
ある特定の閾値を超えるような前記スリツト幅を
測定することにより移動するパターンの符号化特
性を定量的に測定することを特徴とする符号化特
性測定方法が提案される。
番目のフレーム画像の差信号をとり出し、誤差信
号を圧縮して送信し、受信部においては前記圧縮
して送信された差信号より差信号を復元するとと
もに第n番目と第n+1番目のフレームに共通な
部分は第n番目のフレームの画像を補間して第n
+1番目のフレーム画像を受信するフレーム間符
号化装置において、同一のスリツト幅および振幅
を有する静止したパイロツト信号と移動するテス
トパターンとを同時に伝送し、前記スリツト幅を
除々に狭くしていき、受信部において前記パイロ
ツト信号と前記テストパターンとを比較し前記パ
イロツト信号と前記テストパターンの振幅の差が
ある特定の閾値を超えるような前記スリツト幅を
測定することにより移動するパターンの符号化特
性を定量的に測定することを特徴とする符号化特
性測定方法が提案される。
以下本発明にかゝる符号化特性測定方法の実施
例について図面により詳細に説明する。
例について図面により詳細に説明する。
まず被測定装置すなわちフレーム間符号化装置
についてその大要を説明する。第1図はフレーム
間符号化装置の動作原理を説明する図であつて、
aは第1フレームの画像、bは第2フレームの画
像で第1フレームの位置より移動した位置にある
もの、cは第1フレームの画像と第2フレームの
画像との差分、dはcに示す差分を圧縮したもの
で送信部から受信部へ伝送されるもの、eは受信
部に受信された波形、fは受信部においてすでに
受信されてメモリに蓄えられている第1フレーム
の画像、gは受信された差分波形を第1フレーム
の画像eにより補間した波形、hは差分cを繰返
し受信することによつて再現された第2フレーム
の波形で波形bの受信波形に対応するものであ
る。
についてその大要を説明する。第1図はフレーム
間符号化装置の動作原理を説明する図であつて、
aは第1フレームの画像、bは第2フレームの画
像で第1フレームの位置より移動した位置にある
もの、cは第1フレームの画像と第2フレームの
画像との差分、dはcに示す差分を圧縮したもの
で送信部から受信部へ伝送されるもの、eは受信
部に受信された波形、fは受信部においてすでに
受信されてメモリに蓄えられている第1フレーム
の画像、gは受信された差分波形を第1フレーム
の画像eにより補間した波形、hは差分cを繰返
し受信することによつて再現された第2フレーム
の波形で波形bの受信波形に対応するものであ
る。
第2図はフレーム間符号化装置、すなわち本発
明において測定の対称となる被測定装置であつ
て、第2図においてAの送信部のブロツク図Bは
送信部における動作原理図、Cは受信部のブロツ
ク図である。第2図Aにおいて画像は8ビツト
PCMデータとして入力される。同図において
1,2,3,4は加算器、5は振幅圧縮器、6は
フレームメモリ、7は量子化器、8はサンプルメ
モリ、9はバツフアメモリ、10はユニポールバ
イポール変換器であつてその出力は伝送路へ送出
される。第2図Bはその原理図で第1フレーム1
1と第2フレームの画像の差分が振幅圧縮されさ
らにその出力の複合差分がバツフアメモリ9にい
たる経過が明らかにされている。なお振幅圧縮係
数αはバツフアメモリ9のデータ内容量によつて
変化しデータ内容量が小さい場合αの値は大でデ
ータ内容量が大きい場合αは小となりデータの振
幅が縮小される。第2図Cは受信部であつて、1
5はバイポーラユニポーラ変換器、16はバツフ
アメモリ、17,18は加算器、19はサンプル
メモリ、20はサンプル補間回路、21はフレー
ムメモリであり、受信部では送信部と逆の符号変
換を行なつて伝送画像を復調する。
明において測定の対称となる被測定装置であつ
て、第2図においてAの送信部のブロツク図Bは
送信部における動作原理図、Cは受信部のブロツ
ク図である。第2図Aにおいて画像は8ビツト
PCMデータとして入力される。同図において
1,2,3,4は加算器、5は振幅圧縮器、6は
フレームメモリ、7は量子化器、8はサンプルメ
モリ、9はバツフアメモリ、10はユニポールバ
イポール変換器であつてその出力は伝送路へ送出
される。第2図Bはその原理図で第1フレーム1
1と第2フレームの画像の差分が振幅圧縮されさ
らにその出力の複合差分がバツフアメモリ9にい
たる経過が明らかにされている。なお振幅圧縮係
数αはバツフアメモリ9のデータ内容量によつて
変化しデータ内容量が小さい場合αの値は大でデ
ータ内容量が大きい場合αは小となりデータの振
幅が縮小される。第2図Cは受信部であつて、1
5はバイポーラユニポーラ変換器、16はバツフ
アメモリ、17,18は加算器、19はサンプル
メモリ、20はサンプル補間回路、21はフレー
ムメモリであり、受信部では送信部と逆の符号変
換を行なつて伝送画像を復調する。
第2図に示したごとき装置によつて画像を送像
すると静止した画像は固定であるので劣化しない
が動スリツトは画面を移動するのですでに第1図
において示したような差分が発生して劣化すると
いう現象が見られる。この劣化を定量的に測定す
るのが本発明でありその原理を第3図に示す。第
3図においてaは送信信号であつて、送信信号に
おいて31は固定パイロツト信号、32は移動テ
スト信号である。またbは受信信号であり31a
および32bはそれぞれ受信された固定パイロツ
ト信号および移動テスト信号を示す。
すると静止した画像は固定であるので劣化しない
が動スリツトは画面を移動するのですでに第1図
において示したような差分が発生して劣化すると
いう現象が見られる。この劣化を定量的に測定す
るのが本発明でありその原理を第3図に示す。第
3図においてaは送信信号であつて、送信信号に
おいて31は固定パイロツト信号、32は移動テ
スト信号である。またbは受信信号であり31a
および32bはそれぞれ受信された固定パイロツ
ト信号および移動テスト信号を示す。
第3図に示したように静止したパイロツト信号
31と画面上を移動するテスト信号32を有し、
スリツト幅W1とW2を等しく設定する。測定にお
いては最初スリツト幅を広く設定してテスト信号
32を速度V0で画面上を移動させる波形を被測
定装置に入力する。被測定装置に入力された波形
は前記で述べたごとく第1フレームと第2フレー
ムとの信号の差分をとりその差信号に振幅係数α
を乗じて送つている。移動しないパイロツト信号
は第1フレームと第2フレームとの差が生じない
ため送つた波形がそのまま再現されるが、移動す
るテスト信号は第1フレームと第2フレームとの
間に差が速度に応じて常に生じるため、振幅係数
αをかける制御を行なつた波形が伝送される。
31と画面上を移動するテスト信号32を有し、
スリツト幅W1とW2を等しく設定する。測定にお
いては最初スリツト幅を広く設定してテスト信号
32を速度V0で画面上を移動させる波形を被測
定装置に入力する。被測定装置に入力された波形
は前記で述べたごとく第1フレームと第2フレー
ムとの信号の差分をとりその差信号に振幅係数α
を乗じて送つている。移動しないパイロツト信号
は第1フレームと第2フレームとの差が生じない
ため送つた波形がそのまま再現されるが、移動す
るテスト信号は第1フレームと第2フレームとの
間に差が速度に応じて常に生じるため、振幅係数
αをかける制御を行なつた波形が伝送される。
その動作を第6図を用いて詳細に説明する。た
とえば第6図a,bに示すごとく第nフレームと
第n+1フレームの間にW1/5だけ移動するテス
ト信号の場合を考えると、第nフレームと第n+
1フレームの間にW1/5のスリツト幅の差が生じ
る。情報量として第6図cに示すようにW1/5×
h1なる波形が発生する。このままでは情報量が多
いため振幅h1を制御するため第6図dに示すごと
く振幅係数α(α<1)をかけて情報量を制御す
ることにより伝送路とのマツチングをとる。その
ため波形としては第6図eに示すようにW1/5の
パルス幅でh1×αの振幅のものが伝送される。受
信部においてはその信号を使用して前フレームの
信号fに加算してn+1フレームの信号を再生す
る。振幅係数αがかかつているため復号すると第
6図gの波形になる。
とえば第6図a,bに示すごとく第nフレームと
第n+1フレームの間にW1/5だけ移動するテス
ト信号の場合を考えると、第nフレームと第n+
1フレームの間にW1/5のスリツト幅の差が生じ
る。情報量として第6図cに示すようにW1/5×
h1なる波形が発生する。このままでは情報量が多
いため振幅h1を制御するため第6図dに示すごと
く振幅係数α(α<1)をかけて情報量を制御す
ることにより伝送路とのマツチングをとる。その
ため波形としては第6図eに示すようにW1/5の
パルス幅でh1×αの振幅のものが伝送される。受
信部においてはその信号を使用して前フレームの
信号fに加算してn+1フレームの信号を再生す
る。振幅係数αがかかつているため復号すると第
6図gの波形になる。
送信部においても受信部と同じ動作でgの波形
を再生しているため、第6図hに汁示す第n+1
フレームの信号と次の同じくW1/5だけ移動した
iに示す第n+2フレームとの信号の差jとgの
波形との間でnフレームとn+1フレームと同じ
動作原理で第n+1フレームと第n+2フレーム
との間においても処理を行う。この処理が順次連
続的に行なわれる。第6図j,kはそれぞれ第6
図e,gに対応する波形である。
を再生しているため、第6図hに汁示す第n+1
フレームの信号と次の同じくW1/5だけ移動した
iに示す第n+2フレームとの信号の差jとgの
波形との間でnフレームとn+1フレームと同じ
動作原理で第n+1フレームと第n+2フレーム
との間においても処理を行う。この処理が順次連
続的に行なわれる。第6図j,kはそれぞれ第6
図e,gに対応する波形である。
そうすると最初にW1/5だけ移動した部分につ
いてはh1とn+2フレームとの信号の差分の情報
が発生するのではなく、h2とh1との差の信号にα
をかけた情報量が発生することになり、波形kの
W11/5の部分の波形になる。つぎにW1/5だけ移
動した部分については最初の第nフレームと第n
+1フレームとの動作が生じ、波形kのW12/5の
部分と同じ波形になる。かくしてWのスリツト幅
で第n+1フレームにおいてWだけ移動した場合
を考えると第6図1の伝送波形より第6図mの波
形が復号できることは容易に想像できる。
いてはh1とn+2フレームとの信号の差分の情報
が発生するのではなく、h2とh1との差の信号にα
をかけた情報量が発生することになり、波形kの
W11/5の部分の波形になる。つぎにW1/5だけ移
動した部分については最初の第nフレームと第n
+1フレームとの動作が生じ、波形kのW12/5の
部分と同じ波形になる。かくしてWのスリツト幅
で第n+1フレームにおいてWだけ移動した場合
を考えると第6図1の伝送波形より第6図mの波
形が復号できることは容易に想像できる。
振幅係数αが情報発生量及び伝送可能な情報量
にて変化するため、移動速度によつて前フレーム
との差としてWと振幅hによつて劣化の度合が異
なる。入力信号の振幅と速度を一定にしておくと
情報発生量はW1に影響されるため、処理時間に
より入力信号h1が低下する現象が生じる。その時
のW1を規定すれば劣化度を測定できる。
にて変化するため、移動速度によつて前フレーム
との差としてWと振幅hによつて劣化の度合が異
なる。入力信号の振幅と速度を一定にしておくと
情報発生量はW1に影響されるため、処理時間に
より入力信号h1が低下する現象が生じる。その時
のW1を規定すれば劣化度を測定できる。
以上説明したように静止したパイロツト信号3
1と移動するテスト信号32を有しスリツト幅
W1とW2とを等しく設定してスリツト幅を可変し
てゆきその途中の段階において2つの信号の振幅
h1およびh2の差が一定の値以上になつた場合のパ
イロツト信号のスリツト幅W1を測定することに
よりテスト信号が速度v0で劣化なしに何μSのス
リツト幅まで伝送できるかを測定するものであ
る。
1と移動するテスト信号32を有しスリツト幅
W1とW2とを等しく設定してスリツト幅を可変し
てゆきその途中の段階において2つの信号の振幅
h1およびh2の差が一定の値以上になつた場合のパ
イロツト信号のスリツト幅W1を測定することに
よりテスト信号が速度v0で劣化なしに何μSのス
リツト幅まで伝送できるかを測定するものであ
る。
本発明にかゝる方法を実現するための測定装置
の送信部を第4図に受信部を第5図に示す。第4
図に示す送信部において41は水平同期発生回
路、42は垂直同期発生回路、43はスリツト幅
可変回路、44は動スリツト制御回路、45はバ
ツフア−ステート制御回路、46はデータ発生回
路であつてその出力データは8ビツトPCMデー
タに構成されて被測定回路に入力される。スリツ
ト幅可変回路43はスリツト幅W1,W2を可変す
る回路、動スリツト制御回路44はテスト信号の
速度V0を可変する回路、バツフアーステート制
御回路45は前記振幅係数αを可変する回路であ
つて、第6図における波形a,b,h,iはデー
タ発生回路46の出力にあらわれる波形である。
なお水平垂直同期回路41および42は被測定回
路よりの制御信号によつて制御される。また第5
図に示す受信部において51はデータ入力回路、
52はデータサンプル制御回路、53は固定スリ
ツト幅測定回路、54は動スリツトの振幅測定回
路、55は固定スリツトの振幅測定回路、56は
振幅比較回路、57はスリツト幅表示回路であ
る。データ入力回路51は第6図g,k,mの信
号を入力する。データサンプル制御回路はデータ
入力回路51を制御して入力データよりデータ部
分をとり出す。固定スリツト幅測定回路53は固
定スリツト幅Wを測定し、動スリツトの振幅測定
回路54は動スリツトの振幅hを測定し、固定ス
リツトの幅測定回路は固定スリツトの振幅hを測
定する。第5図の回路において回路54および5
5の出力を比較してその振幅の差がある一定の値
になつたとき回路53の内容を読出してその値を
スリツト幅表示回路に表示する。
の送信部を第4図に受信部を第5図に示す。第4
図に示す送信部において41は水平同期発生回
路、42は垂直同期発生回路、43はスリツト幅
可変回路、44は動スリツト制御回路、45はバ
ツフア−ステート制御回路、46はデータ発生回
路であつてその出力データは8ビツトPCMデー
タに構成されて被測定回路に入力される。スリツ
ト幅可変回路43はスリツト幅W1,W2を可変す
る回路、動スリツト制御回路44はテスト信号の
速度V0を可変する回路、バツフアーステート制
御回路45は前記振幅係数αを可変する回路であ
つて、第6図における波形a,b,h,iはデー
タ発生回路46の出力にあらわれる波形である。
なお水平垂直同期回路41および42は被測定回
路よりの制御信号によつて制御される。また第5
図に示す受信部において51はデータ入力回路、
52はデータサンプル制御回路、53は固定スリ
ツト幅測定回路、54は動スリツトの振幅測定回
路、55は固定スリツトの振幅測定回路、56は
振幅比較回路、57はスリツト幅表示回路であ
る。データ入力回路51は第6図g,k,mの信
号を入力する。データサンプル制御回路はデータ
入力回路51を制御して入力データよりデータ部
分をとり出す。固定スリツト幅測定回路53は固
定スリツト幅Wを測定し、動スリツトの振幅測定
回路54は動スリツトの振幅hを測定し、固定ス
リツトの幅測定回路は固定スリツトの振幅hを測
定する。第5図の回路において回路54および5
5の出力を比較してその振幅の差がある一定の値
になつたとき回路53の内容を読出してその値を
スリツト幅表示回路に表示する。
以上詳細に説明したごとく本発明によれば従来
定量的に評価できなかつたフレーム間符号化装置
の符号化特性を定量的に測定できるため移動画像
の品質の評価比較にあたりその効果は頗る大なも
のがある。
定量的に評価できなかつたフレーム間符号化装置
の符号化特性を定量的に測定できるため移動画像
の品質の評価比較にあたりその効果は頗る大なも
のがある。
第1図は本発明にかゝる測定方法により測定さ
れる被測定装置の動作波形図、第2図は被測定装
置のブロツク図、第3図は本発明にかゝる測定方
法の送信波形および受信波形、第4図は本発明に
かゝる測定装置の送信部の一実施例のブロツク
図、第5図はその受信部の一実施例のブロツク
図、第6図は本発明にかかる方法により測定され
る装置の動作波形の具体的実施例を示す。 図において31がパイロツト信号、31aが受
信されたパイロツト信号32がテスト信号、32
aが受信されたテスト信号、41が水平同期発生
回路、42は垂直同期発生回路、43はスリツト
幅可変回路、44は動スリツト制御回路、45は
バツフアーステート制御回路、46はデータ発生
回路、51はデータ入力回路、52はデータサン
プル制御回路、53は固定スリツト幅測定回路、
54は動スリツトの振幅測定回路、55は固定ス
リツトの振幅測定回路、56は振幅比較回路、5
7はスリツト幅表示回路である。
れる被測定装置の動作波形図、第2図は被測定装
置のブロツク図、第3図は本発明にかゝる測定方
法の送信波形および受信波形、第4図は本発明に
かゝる測定装置の送信部の一実施例のブロツク
図、第5図はその受信部の一実施例のブロツク
図、第6図は本発明にかかる方法により測定され
る装置の動作波形の具体的実施例を示す。 図において31がパイロツト信号、31aが受
信されたパイロツト信号32がテスト信号、32
aが受信されたテスト信号、41が水平同期発生
回路、42は垂直同期発生回路、43はスリツト
幅可変回路、44は動スリツト制御回路、45は
バツフアーステート制御回路、46はデータ発生
回路、51はデータ入力回路、52はデータサン
プル制御回路、53は固定スリツト幅測定回路、
54は動スリツトの振幅測定回路、55は固定ス
リツトの振幅測定回路、56は振幅比較回路、5
7はスリツト幅表示回路である。
Claims (1)
- 1 第n番目のフレームと第n+1番目のフレー
ム画像の差信号をとり出し、誤差信号を圧縮して
送信し、受信部においては前記圧縮して送信され
た差信号より差信号を復元するとともに第n番目
と第n+1番目のフレームに共通な部分は第n番
目のフレームの画像を補間して第n+1番目のフ
レーム画像を受信するフレーム間符合化装置にお
いて、同一のスリツト幅および振幅を有する静止
したパイロツト信号と移動するテストパターンと
を同時に伝送し、前記スリツト幅を除々に狭くし
ていき、受信部において前記パイロツト信号と前
記テストパターンとを比較し前記パイロツト信号
と前記テストパターンの振幅の差がある特定の閾
値を超えるような前記スリツト幅を測定すること
により移動するパターンの符合化特性を定量的に
測定することを特徴とする符合化特性測定方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10858179A JPS5632888A (en) | 1979-08-28 | 1979-08-28 | Measuring method for coding characteristic |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10858179A JPS5632888A (en) | 1979-08-28 | 1979-08-28 | Measuring method for coding characteristic |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5632888A JPS5632888A (en) | 1981-04-02 |
| JPS6126876B2 true JPS6126876B2 (ja) | 1986-06-23 |
Family
ID=14488435
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP10858179A Granted JPS5632888A (en) | 1979-08-28 | 1979-08-28 | Measuring method for coding characteristic |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5632888A (ja) |
-
1979
- 1979-08-28 JP JP10858179A patent/JPS5632888A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5632888A (en) | 1981-04-02 |
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