JPS61277143A - 電子顕微鏡の試料移動装置 - Google Patents

電子顕微鏡の試料移動装置

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JPS61277143A
JPS61277143A JP60116624A JP11662485A JPS61277143A JP S61277143 A JPS61277143 A JP S61277143A JP 60116624 A JP60116624 A JP 60116624A JP 11662485 A JP11662485 A JP 11662485A JP S61277143 A JPS61277143 A JP S61277143A
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JP
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interference
electron microscope
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JP60116624A
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Tsugio Kurata
倉田 次男
Shigeki Kamata
鎌田 茂機
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Akashi Seisakusho KK
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Akashi Seisakusho KK
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この発明は、電子顕微鏡において、試料左微動させる試
料移動装置に係り、特に試料を対物レンズの内部で観察
するタイプの電子顕微鏡に用いられる試料移動装置に関
する。
〔従来の技術〕
一般に電子顕微鏡の試料移動装置として電子顕微鏡の鏡
筒の下方に設けられた試料室内に位置し、試料を載置す
る試料台と、この試料台を互いに直交する3方向、x、
y、z方向への移動する移動装置及び対物レンズの光軸
に直交する回転軸Tを中心とする回転を可能とする傾斜
装置からなる試料移動装置13とを備えたものがある。
ここでX方向は対物レンズの中心を通シ光軸Oと垂直な
方向、Y方向は光軸0に垂直でかつX軸に垂直な方向、
2方向は光軸と平行な方向、また回転軸Tは光軸Oと垂
直な方向であシ、通常X方向と同一方向かつ試料の電子
線照射位置を通るものとしている。
従来この電子顕微鏡の試料移動装置13として第11図
に示すようなものがある。これは、試料1を載置する試
料台2を第1の移動台3上に設けている。この第1の移
動台3は、第2の移動台6にY方向に沿って設けられた
第1のレール4上を移動可能としている。そして、この
第2の移動台6は、第1の移動台3と同様に、第3の移
動台19上にX方向に沿って設けられた第2のレール5
上を移動可能としておシ、この第3の移動台19は上述
した回転軸Tを中心として、回転動可能でかつ2方向に
沿って設けられた第3のレールT上音移動可能な第4の
移動台8に設置されている。そして、これらの移動台は
手動又はモータ(図示していない)で移動するようにし
ている。
〔発明が解決しようとする問題点〕
ところで、電子顕微鏡において、性能を高めるためには
、ワーキングディスタンスWdを−できるだけ小さくす
ることが望ましく、近年にあっては試料を対物レンズの
内部に入れて観察を行なう装置がある。この場合には、
試料台の移動可能範囲は狭いものとなシ、試料台と対物
レンズとを干渉させて試料等を破損させるおそれがある
。このため観察者は試料の移動に際しては細心の注意を
はられなければならず、大きな負担となる。
〔問題点を解決するだめの手段〕
本出願に係る発明は、上述の問題点を解決して、試料の
移動を容易に行えるようにするため、第1の発明にあっ
ては、電子顕微鏡の試料移動装置を電子顕微鏡の対物レ
ンズの内部に試料を載置する試料台と、この試料台を直
交する3方向に移動しうる移動装置と、対物レンズの光
軸に対して垂直な回転軸で回転させる傾斜装置と、対物
レンズの内部と略同一の内部形状を有する第1の干渉部
材と、上記試料を載置した試料台と略同一形状を有し第
1の干渉部材内を試料と対物レンズとの位置関係で移動
して試料と対物レンズとの干渉を防止する第2の干渉部
材とで構成するようにした。
また本願に係る第2発明にあっては、上述した第1発明
の構成に加えて、第1及び第2の干渉部材の当接位置を
表示する干渉位置表示装置を設けるようにしたものであ
る。
更に第3発明にあっては、第1発明の構成に加えて、試
料をどの方向に移動可能かを表示する移動方向表示装置
を設けるようにしたものである。
〔実施例〕
以下本願発明に係る電子顕微鏡の試料移動装置の実施例
を説明する。
第1図乃至第3図は、本願の第1発明に係る電子顕微鏡
の試料移動装置の実施例を示すものである。本実施例に
おいて、試料10は対物レンズ11内に位置するように
試料台12上に載置されており、この試料10には対物
レンズ11から電子線Eが対照される。
そしてこの試料台12は従来と同様にx、y。
2、方向への移動及び回転軸Tを中心として回この試料
移動装置13は従来に示したものと同一構造であるため
、同一の部材には同一の符号を付して、その詳細な説明
は省略する。そしてこれらの試料移動装置等が収納され
ている試料室15内であって、回転軸Tと対物レンズ1
1との間には、試料10が入れられている対物レンズ1
1の内部形状と同一の内部形状を有する第1の干渉部#
、16が設けられている。この第1の干渉部材16は、
回転41]TとY、z方向に対しては、対物レンズ11
と同位置となるように試料室15に固定される。
また、試料移動装置13の第1の移動台3には、試料台
12に試料10を載置した形状よりや中大きい相似形状
の第2の干渉部材11が腕11介して取り付けられてい
る。この第2の干渉部材11は、第1の干渉部材16と
同様に、回転軸Tの延長上であって、試料台12とY、
z方向において同位置となり、かつ第1の干渉部材16
内に位置して、対物レンズ11と試料台12との位置関
係と同一の位置関係となるよう腕18で支承されている
従って本実施例によれば、第2図及び第3図に示したよ
うに、試料移動装置13を作動させて、試料10を対物
レンズ内で移動、傾斜させた場合、第2の干渉部材17
は第1の干渉部材16内で同様に移動、傾斜する。そし
て試料10及び試料台12が対物レンズ11に近ずくと
、第2の干渉部材は試料10及び試料台よυ大きく形成
されているから、第2の干渉部材17は第1の干渉部材
16に当接し、試料10及び試料台12は対物レンズ1
1には干渉しない。
従って、本実施例によれば、試料10及び試料台12と
対物レンズ11との干渉は発生しないため、試料の移動
を容易に行なうことができる。
次に本願の第2発明の実施例について説明する。第4図
乃至第7図は本願第2発明の実施例を示すものである。
本実施例においては、試料移動装置の構造及び第1及び
第2の干渉部材を設けている点については上述した第1
発明の実施例と同様であるためその説明は省略する。本
発明にあっては、上述した第1発明の構成に加えて、第
1の干渉部材が第2の干渉部材に当接した場合、第2の
干渉部材が第1の干渉部材のどの位置に当接したかを表
示する干渉位置表示装置を設けている。この干渉位置表
示装置は、第1の干渉部材20及び第2の干渉部材21
に電極を設け、第1及び第2の干渉部材20.21が接
触した場合において、第1の干渉部材20のどの位置に
接触しているかを表示盤に表示するようにしたものであ
る。
干渉部材に設けた電極は、第4図乃至第6図に示すよう
に、第1の干渉部材20にあっては、側壁20a内面に
等角度ごとに長方形状の電極22を全周にわたり設ける
他、天板20b内面には、中心から放射状に等角度ごと
に扇形の電極23を設けている。また第2の干渉部材2
1には略全面にわたって一体となった電極24を設けて
いる。
そして表示盤は第7図に示すように第1の干渉部材20
に設けられた電極22に対応した発光ダイオード等の表
示装置25と、電極23に対応した同様の表示装置26
とで構成される。そしてこれらの表示装置25 、26
は、夫々の対応する電極と第2の干渉部材21に設けら
れた電極24とが接触した場合に点灯するものとしてい
る。
従って観察者は、試料10及び試料台12が対物レンズ
11内壁のどの位置に近接しているかを知ることができ
、試料10の移動等を容易に行なうことができる。
尚本実施例においては、接触個所の検出は、両干渉部材
に設けた電極によシ行なうよりにしたが、これは他の七
ン丈−等によシ検出するようにしてもよい。
次に本願の第3発明の詳細な説明する。第8図乃至第1
0図は本願の第3発明の実施例を示すものであシ、本実
施例において、試料移動装置の構造及び第1及び第2の
干渉部材を設けている点については上述した第1発明の
実施例と同様であるため、その詳細な説明は省略する。
本発明にあっては、上述した第1発明の構成に加えて、
試料をどの方向に移動可能かを示す移動方向表示装置を
設けている。この移動方向表示装置は、上述した第2発
明と同様に第1及び第2の干渉部材に電極を設け、これ
を第9図に示すように、第2の干渉部材の側壁を前後(
X軸方向)左右(Y軸方向)に4つに分割し、左前、左
後、右前、右後として、夫々スイッチS1゜S2.S3
.S4とし、また天板20bの電極23は左上、右上と
して夫々スイッチS5.S6として構成している。そし
て第2の干渉部材17の電極がどの位置に接触したかに
よって、いずれかのスイッチ(接触個所が前、後、左右
端のときは2つ)が作動して試料台12をどちらの方向
に移動することができるかを表示する。これは例えば第
8図に表すように、操作盤の夫々の方向への移動スイッ
チ30を移動可能な方向のみ点灯すると共にその点灯し
たスイッチのみを作動でちるようにしている。
このような操作盤を実現するためには、第10図に示す
ような回路構成とすればよい。図において、Mは試料台
12を各方向に移動するモータを、またR8z・・・R
85は、スイッチS】・・・S6の作動によりオフ状態
となるスイッチを、PBは操作盤の移動スイッチ30を
、またLは各々の移動スイッチのライトラ、更にLSは
2方向の下限に設けられたリミットスイッチを示してい
る。
この回路によれば、例えば、スイッチSlが作動すれば
、左、前、上、右回転、下、左回転の移動は禁止され、
操作スイッチのライトは右、後、だけ点灯する他これら
の操作スイッチのみ操作できることとなる。
従って本実施例によれば、観察者は、操作盤の点灯した
操作ボタンをみて試料の移動可能方向を!&!識するこ
とができる他、誤って点灯していない操作スイッチを押
しても試料は移動しないから、極めて容易に試料を移動
させることができる。
〔発明の効果〕
以上説明したように、本出願の各発明によれば、試料が
対物レンズに干渉することを有効に防止しているから、
試料及び試料台の移動が容易になる他、第2発明にあっ
ては試料の対物レンズへの最近接個所が、また第3発明
にあっては試料及び試料台の移動可能方向を知ることか
できるから、更に容易に試料の移動を行なうことができ
るという効果を奏する。
【図面の簡単な説明】
第1図は本願の第1発明に係る試料移動装置の実施例を
示す一部断面図、第2図は第1図に示した試料移動装置
の対物レンズ及び試料台を示す第1図中IF−ff線断
面図、第3図は第1図に示した試料移動装置の第1及び
第2の干渉部材を示す第1図中■−■線断面図、第4図
乃至第6図は本願の第2発明に係る試料移動装置の実施
例に用いられる第1及び第2の干渉部材の電極を示す図
、第7図は本願の第2発明に係る試料移動装置の表示盤
を示す図、第8図は本願の第3発明に係る試料移動装置
の実施例に用いられる操作盤を示す図、第9図は本願の
第3発明の実施例の第1の干渉部材の電極分割を示す図
、第10図は第8図に示した操作盤を作動させる回路を
示す回路図、第11図は従来の試料移動装置を示す斜視
図である。 10・・・試料      11・・・対物レンズ12
・・・試料台     13・・・試料移動装置16・
・・第1の干渉部材 17・・・第2の干渉部材特許出
願人  株式会社明石製作所 第2図      第3図 第1図 第!5図 IIB図 第8図 第9図 第10図 第11図

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1)電子顕微鏡の対物レンズの内部に試料を載置する試
    料台と、この試料台を直交する3方向に移動しうる移動
    装置と、対物レンズの光軸に対して垂直な回転軸で回転
    させる傾斜装置と、対物レンズの内部と略同一の内部形
    状を有する第1の干渉部材と、上記試料を載置した試料
    台と略同一形状を有し第1の干渉部材内を試料と対物レ
    ンズとの位置関係で移動して試料と対物レンズとの干渉
    を防止する第2の干渉部材とからなることを特徴とする
    電子顕微鏡の試料移動装置。 2)電子顕微鏡の対物レンズの内部に試料を載置する試
    料台と、この試料台を直交する3方向に移動しうる移動
    装置と、対物レンズの光軸に対して垂直な回転軸で回転
    させる傾斜装置と、対物レンズの内部と略同一の内部形
    状を有する第1の干渉部材と、上記試料を載置した試料
    台と略同一形状を有し第1の干渉部材内を試料と対物レ
    ンズとの位置関係で移動して試料と対物レンズとの干渉
    を防止する第2の干渉部材と、第2の干渉部材が第1の
    干渉部材のどの部位に当接しているかを表示する干渉位
    置表示装置とからなることを特徴とする電子顕微鏡の試
    料移動装置。 3)電子顕微鏡の対物レンズの内部に試料を載置する試
    料台と、この試料台を直交する3方向に移動しうる移動
    装置と、対物レンズの光軸に対して垂直な回転軸で回転
    させる傾斜装置と、対物レンズの内部と略同一の内部形
    状を有する第1の干渉部材と、上記試料を載置した試料
    台と略同一形状を有し第1の干渉部材内を試料と対物レ
    ンズとの位置関係で移動して試料と対物レンズとの干渉
    を防止する第2の干渉部材と、試料をどの方向に移動可
    能かを表示する移動方向表示装置とからなることを特徴
    とする電子顕微鏡の試料移動 装置。
JP60116624A 1985-05-31 1985-05-31 電子顕微鏡の試料移動装置 Granted JPS61277143A (ja)

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JPS61277143A true JPS61277143A (ja) 1986-12-08
JPH0256773B2 JPH0256773B2 (ja) 1990-12-03

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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0271542A (ja) * 1988-09-06 1990-03-12 Nec Corp 半導体集積回路の断面観察用治具
JP2006040761A (ja) * 2004-07-28 2006-02-09 Hitachi High-Technologies Corp 荷電粒子線装置
JP2010040460A (ja) * 2008-08-08 2010-02-18 Hitachi High-Technologies Corp 荷電粒子線装置

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JP2006040761A (ja) * 2004-07-28 2006-02-09 Hitachi High-Technologies Corp 荷電粒子線装置
JP2010040460A (ja) * 2008-08-08 2010-02-18 Hitachi High-Technologies Corp 荷電粒子線装置

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