JPS6130731A - 放射エネルギ−検出器 - Google Patents
放射エネルギ−検出器Info
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- JPS6130731A JPS6130731A JP15375384A JP15375384A JPS6130731A JP S6130731 A JPS6130731 A JP S6130731A JP 15375384 A JP15375384 A JP 15375384A JP 15375384 A JP15375384 A JP 15375384A JP S6130731 A JPS6130731 A JP S6130731A
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- Japan
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- temperature
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- photovoltaic element
- radiant energy
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J5/00—Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry
- G01J5/02—Constructional details
- G01J5/04—Casings
-
- G—PHYSICS
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- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J5/00—Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry
- G01J5/02—Constructional details
- G01J5/0215—Compact construction
-
- G—PHYSICS
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- G01J5/00—Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry
- G01J5/02—Constructional details
- G01J5/06—Arrangements for eliminating effects of disturbing radiation; Arrangements for compensating changes in sensitivity
- G01J5/064—Ambient temperature sensor; Housing temperature sensor; Constructional details thereof
-
- G—PHYSICS
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- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J5/00—Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry
- G01J5/02—Constructional details
- G01J5/08—Optical arrangements
- G01J5/0801—Means for wavelength selection or discrimination
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
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- G01J5/08—Optical arrangements
- G01J5/0801—Means for wavelength selection or discrimination
- G01J5/0802—Optical filters
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
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- G01J5/70—Passive compensation of pyrometer measurements, e.g. using ambient temperature sensing or sensing of temperature within housing
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J5/00—Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry
- G01J5/02—Constructional details
- G01J5/04—Casings
- G01J5/046—Materials; Selection of thermal materials
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- Radiation Pyrometers (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(1)発明の分野
この発明は、シリコン光起電力素子、シリコン太陽電池
、シリコン素子(以下Si素子という。)を使用した赤
外線放射エネルギー検出器に関するものである。
、シリコン素子(以下Si素子という。)を使用した赤
外線放射エネルギー検出器に関するものである。
(2)従来技術
出願人は、実公昭51−1839において、Sl素子の
受光面に略1μmより長い波長領域の放射エネルギーを
選択的に吸収する光学フィルタを設けるとともに、Sl
素子に並列または直列に温度検出抵抗を接続してなる温
度補償回路を設けた放射エネルギー検出器を提案してい
る。
受光面に略1μmより長い波長領域の放射エネルギーを
選択的に吸収する光学フィルタを設けるとともに、Sl
素子に並列または直列に温度検出抵抗を接続してなる温
度補償回路を設けた放射エネルギー検出器を提案してい
る。
また、近年、マイクロコンビ一一タ、パソコン等のデジ
タル技術が進展し、小型、軽量、高精度化が求められて
いる。
タル技術が進展し、小型、軽量、高精度化が求められて
いる。
(3)発明の目的
この発明の目的は9以上の点に鑑み、より小型。
為精度の放射エネルギー検出器を提供することである。
(4)発明の概要
この発明は、シリコン光起電力素子(Si素子)および
このシリコン光起電力素子の前面に設けられた少くとも
略1μmより長い波長領域の放射工ネルギーを選択的(
こ吸収する光学フィルタを保持体により一体に保持し、
保持体またはシリコン光起電力素子の温度を検出器で検
出し演算手段によりシリコン光起電力素子の出力の温度
補償を行うようにした放射エネルギー検出器である。
このシリコン光起電力素子の前面に設けられた少くとも
略1μmより長い波長領域の放射工ネルギーを選択的(
こ吸収する光学フィルタを保持体により一体に保持し、
保持体またはシリコン光起電力素子の温度を検出器で検
出し演算手段によりシリコン光起電力素子の出力の温度
補償を行うようにした放射エネルギー検出器である。
(5)発明の実施例
第1図は、この発明の一実施例を示す構成説明図である
。
。
図において、lは、放射エネルギーを検出するSi素子
2の前面に設けられた少くとも略1μmより長い波長領
域の放射エネルギーを選択的に吸収する光学フィルタで
、これら光学フィルタl、Si素子2は熱伝導の良好な
金属ブロック等よりなる保持体4に保持手段41 、4
2でそれぞれ抜は止めされて一体に保持されている。保
持体4の所要箇所にサーミスタ、測温抵抗体、あるいは
熱電対等の温度検出器5が設けられでおり、その出力e
tはSi素子2の出力elとともに演算手段6に供給さ
れ。
2の前面に設けられた少くとも略1μmより長い波長領
域の放射エネルギーを選択的に吸収する光学フィルタで
、これら光学フィルタl、Si素子2は熱伝導の良好な
金属ブロック等よりなる保持体4に保持手段41 、4
2でそれぞれ抜は止めされて一体に保持されている。保
持体4の所要箇所にサーミスタ、測温抵抗体、あるいは
熱電対等の温度検出器5が設けられでおり、その出力e
tはSi素子2の出力elとともに演算手段6に供給さ
れ。
温度補償演算が行われる。
なお、この演算手段6は、実公昭51−1839で示す
ような温度補償回路でもよく、また、マイクロコンピュ
ータ、パーソナルコンピュータのようなデジタル演算手
段その他のものでもよい。
ような温度補償回路でもよく、また、マイクロコンピュ
ータ、パーソナルコンピュータのようなデジタル演算手
段その他のものでもよい。
つまり、光学フィルタ1により長波長側の放射エネルギ
ーは透過されず、はぼ1μm以下、あるいは、中心波長
0.65μmというような放射エネルギーがSi素子2
に入射する。これにより、S工素子2の温度ドリフトは
一定方向に軽減される。このSi素子2の出力勅は、更
に温度検出器5の出力6tに基いて、演算手段6により
、温度補償演算が行われ、温度補償された正しい出力e
oが得られる。なお、演算手段6により温度Tへの変換
、リニアライズ変換その他の演算を行ってもよい。
ーは透過されず、はぼ1μm以下、あるいは、中心波長
0.65μmというような放射エネルギーがSi素子2
に入射する。これにより、S工素子2の温度ドリフトは
一定方向に軽減される。このSi素子2の出力勅は、更
に温度検出器5の出力6tに基いて、演算手段6により
、温度補償演算が行われ、温度補償された正しい出力e
oが得られる。なお、演算手段6により温度Tへの変換
、リニアライズ変換その他の演算を行ってもよい。
このように、光学フィルタ1とSi素子2とは保持体4
に両者一体に保持されているので、小型。
に両者一体に保持されているので、小型。
軽量であり、また、Si素子2と温度検出器5とは近接
しで配置されているので、温度変化に対して同じように
変化し、このため、温度安定性がよく。
しで配置されているので、温度変化に対して同じように
変化し、このため、温度安定性がよく。
高精度の放射エネルギー検出が可能となる。
第2図は、この発明の他の実施例を示し、第1図と同一
符号は同等の構成要素を示す。この例では温度検出器5
が保持体4内のプリント基板3にSi素子2とともに載
置され、 Si素子2の温度に。
符号は同等の構成要素を示す。この例では温度検出器5
が保持体4内のプリント基板3にSi素子2とともに載
置され、 Si素子2の温度に。
より等しい温度を検出する構成とされている。また、プ
リント基板3に、増幅器等の電子部品7を載置し、いっ
そう小型化を図っている。
リント基板3に、増幅器等の電子部品7を載置し、いっ
そう小型化を図っている。
(6)発明の効果
以上述べたように、この発明は、光学フィルタと81素
子を保持体に一体に保持しているので、小型、軽量で、
温度安定性が良く、いっそう高精度の放射エネルギーの
検出が可能となる。
子を保持体に一体に保持しているので、小型、軽量で、
温度安定性が良く、いっそう高精度の放射エネルギーの
検出が可能となる。
第1図、第2図は、この発明の一実施例を示す構成説明
図である。 1・・・光学フィルタ、2・・・Si素子、3・・・プ
リント基板、4・・・保持体、5・・・温度検出器、6
・・・演算手段 特許出願人 株式会社 千野製作所 ダんを子 。
図である。 1・・・光学フィルタ、2・・・Si素子、3・・・プ
リント基板、4・・・保持体、5・・・温度検出器、6
・・・演算手段 特許出願人 株式会社 千野製作所 ダんを子 。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、放射エネルギーを受光するシリコン光起電力素子お
よびこのシリコン光起電力素子の受光面の前面に設けら
れた少くとも略1μmより長い波長領域の放射エネルギ
ーを選択的に吸収する光学フィルタを一体に保持する保
持体と、この保持体または前記シリコン光起電力素子の
温度を検出する温度検出器の出力に基き前記シリコン光
起電力素子の出力の温度補償を行う演算手段とを備えた
ことを特徴とする放射エネルギー検出器。 2、前記シリコン光起電力素子を載置したプリント基板
を前記保持体に設けたことを特徴とする特許請求の範囲
第1項記載の放射エネルギー検出器。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15375384A JPS6130731A (ja) | 1984-07-24 | 1984-07-24 | 放射エネルギ−検出器 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15375384A JPS6130731A (ja) | 1984-07-24 | 1984-07-24 | 放射エネルギ−検出器 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6130731A true JPS6130731A (ja) | 1986-02-13 |
| JPH0481133B2 JPH0481133B2 (ja) | 1992-12-22 |
Family
ID=15569365
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP15375384A Granted JPS6130731A (ja) | 1984-07-24 | 1984-07-24 | 放射エネルギ−検出器 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6130731A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH03501820A (ja) * | 1988-09-15 | 1991-04-25 | テムプ‐スティック コーポレイション | 赤外線体温計 |
| US20110090505A1 (en) * | 2008-06-04 | 2011-04-21 | Naohiro Kuze | Quantum Infrared Sensor and Quantum Infrared Gas Concentration Meter Using the Same |
Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5028782U (ja) * | 1973-07-09 | 1975-04-02 | ||
| JPS569028U (ja) * | 1979-06-30 | 1981-01-26 | ||
| JPS59107650A (ja) * | 1982-12-11 | 1984-06-21 | Anritsu Corp | 光電変換装置のドリフト補償回路 |
-
1984
- 1984-07-24 JP JP15375384A patent/JPS6130731A/ja active Granted
Patent Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5028782U (ja) * | 1973-07-09 | 1975-04-02 | ||
| JPS569028U (ja) * | 1979-06-30 | 1981-01-26 | ||
| JPS59107650A (ja) * | 1982-12-11 | 1984-06-21 | Anritsu Corp | 光電変換装置のドリフト補償回路 |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH03501820A (ja) * | 1988-09-15 | 1991-04-25 | テムプ‐スティック コーポレイション | 赤外線体温計 |
| US20110090505A1 (en) * | 2008-06-04 | 2011-04-21 | Naohiro Kuze | Quantum Infrared Sensor and Quantum Infrared Gas Concentration Meter Using the Same |
| US8803092B2 (en) * | 2008-06-04 | 2014-08-12 | Asahi Kasei Microdevices Corporation | Quantum infrared sensor and quantum infrared gas concentration meter using the same |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0481133B2 (ja) | 1992-12-22 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |