JPS6131969A - 電圧検出回路 - Google Patents
電圧検出回路Info
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- JPS6131969A JPS6131969A JP15495584A JP15495584A JPS6131969A JP S6131969 A JPS6131969 A JP S6131969A JP 15495584 A JP15495584 A JP 15495584A JP 15495584 A JP15495584 A JP 15495584A JP S6131969 A JPS6131969 A JP S6131969A
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- Japan
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- emitter
- voltage
- collector
- transistor
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- Pending
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- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 4
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 2
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000012535 impurity Substances 0.000 description 1
- 238000002955 isolation Methods 0.000 description 1
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 1
- 229910052814 silicon oxide Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 1
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- Measurement Of Current Or Voltage (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(イ)産業上の利用分野
本発明は、過電圧保護回路等に用いられる電圧検出回路
に関する。
に関する。
(ロ)従来の技術
従来のパワーアンプなどに用いられている過電圧保護回
路は、第3図に示すように構成されている。すなわち、
3個のトランジスタ(Tr s ) (T r t )
(Trs)と5個の抵抗(R1)・(R,5)とで電圧
スイッチング回路翰を構成し、このスイッチング回路■
により、スピーカ等に信号を出力する出力トランジスタ
(T r s ) のドライバートラン、ジスタ(Tr
a) を動作せしめて、過電圧に対して装置を保護する
ものである。すなわち、電源電圧(Vcc)が所定値よ
り上昇すると、抵抗(R3)および抵抗(R4)からな
る電圧検出回路に流れる電流が所定値を越え、そのため
抵抗(R4)の両端にかかる電圧が閾値電圧より上昇し
、トランジスタ(TrJがONする。すると抵抗(几)
に電流が流れ、その両端の電位差が大きくなりトランジ
スタ(Try)のベースにバイアスがかかり、トランジ
スタ(’rrt)がONする。トランジスタ(Try)
がONすることにより、抵抗(R2)に電流が流れ、そ
の両端に電位差が生じ、トランジスタ(Trs)がON
する。トランジスタ(Tra)がONすると、ドライバ
トランジスタ(Tr4)のベースが接地し、トランジス
タ(TrJを強制的にOFFさせ、出力トランジスタ(
Tra)のベース電流の供給を停止せしめ、出力トラン
ジスタ(T r a )をOFFさせるようになってい
る。
路は、第3図に示すように構成されている。すなわち、
3個のトランジスタ(Tr s ) (T r t )
(Trs)と5個の抵抗(R1)・(R,5)とで電圧
スイッチング回路翰を構成し、このスイッチング回路■
により、スピーカ等に信号を出力する出力トランジスタ
(T r s ) のドライバートラン、ジスタ(Tr
a) を動作せしめて、過電圧に対して装置を保護する
ものである。すなわち、電源電圧(Vcc)が所定値よ
り上昇すると、抵抗(R3)および抵抗(R4)からな
る電圧検出回路に流れる電流が所定値を越え、そのため
抵抗(R4)の両端にかかる電圧が閾値電圧より上昇し
、トランジスタ(TrJがONする。すると抵抗(几)
に電流が流れ、その両端の電位差が大きくなりトランジ
スタ(Try)のベースにバイアスがかかり、トランジ
スタ(’rrt)がONする。トランジスタ(Try)
がONすることにより、抵抗(R2)に電流が流れ、そ
の両端に電位差が生じ、トランジスタ(Trs)がON
する。トランジスタ(Tra)がONすると、ドライバ
トランジスタ(Tr4)のベースが接地し、トランジス
タ(TrJを強制的にOFFさせ、出力トランジスタ(
Tra)のベース電流の供給を停止せしめ、出力トラン
ジスタ(T r a )をOFFさせるようになってい
る。
しかじながら、この従来装置では、3個のトランジスタ
(T r 1)・・・(’rrs琳よび5個の抵抗(R
1)・・・(R6)の計8個の素子を必要とし、装置が
複雑になる。
(T r 1)・・・(’rrs琳よび5個の抵抗(R
1)・・・(R6)の計8個の素子を必要とし、装置が
複雑になる。
そこで本出願人は少ない素子数で過電圧保護回路を確実
に動作せしめることのできる半導体装置を先に提案した
(特願昭58−241219号に詳しい。)。
に動作せしめることのできる半導体装置を先に提案した
(特願昭58−241219号に詳しい。)。
(/−1発明が解決しようとする問題点上述した装置は
、第4図に示すようにP型の第1領域(211、この領
域+21)に形成された少なくとも一対のN型の抵抗領
域(2邊(ハ)、この一対の抵抗領域(ハ)θ間に絶縁
層(ロ)を介して跨る電極層(ハ)を具備し、第1領域
圓と電極層(2つとの間に印加される電圧値に応じて、
一対の抵抗領域(23r23間を導通させるチャンネル
が形成され、抵抗として電流を流すように構成したもの
である。
、第4図に示すようにP型の第1領域(211、この領
域+21)に形成された少なくとも一対のN型の抵抗領
域(2邊(ハ)、この一対の抵抗領域(ハ)θ間に絶縁
層(ロ)を介して跨る電極層(ハ)を具備し、第1領域
圓と電極層(2つとの間に印加される電圧値に応じて、
一対の抵抗領域(23r23間を導通させるチャンネル
が形成され、抵抗として電流を流すように構成したもの
である。
しかしながら、上述した装置は、電圧に応じて抵抗を導
通、非導通に制御する半導体装置を別途用意しなくては
ならない問題がある。
通、非導通に制御する半導体装置を別途用意しなくては
ならない問題がある。
に)問題点を解決するための手段
本発明は上述した問題点を解決するためになされたもの
で、エミッタ電極を延在させてエミッタとコレクタ間の
ベース領域上を被覆し、且つコレクタとベースを接続し
た2テラ/I/PNP型トランジスタを1個以上継続接
続し、前記トランジスタのコレクタを正の電源端子に接
続し、且つエミッタを負の電源端子に接続して、両端子
間の電圧が所定電圧に達すると前記コレクタとエミッタ
とが導通することにより電圧を検出することを特徴とす
る。
で、エミッタ電極を延在させてエミッタとコレクタ間の
ベース領域上を被覆し、且つコレクタとベースを接続し
た2テラ/I/PNP型トランジスタを1個以上継続接
続し、前記トランジスタのコレクタを正の電源端子に接
続し、且つエミッタを負の電源端子に接続して、両端子
間の電圧が所定電圧に達すると前記コレクタとエミッタ
とが導通することにより電圧を検出することを特徴とす
る。
(ホ)作用
本発明は、コレクタどエミッタに加わる電圧が所定電圧
に達すると、コレクタとエミッタ間のベース領域表面が
反転し、コレクタとエミッタが導通することにより電圧
を検出する。
に達すると、コレクタとエミッタ間のベース領域表面が
反転し、コレクタとエミッタが導通することにより電圧
を検出する。
(へ)実施例
以下、本発明の一実施例を第1図および第2図に従い説
明する。第1図は本発明を用いたパワーアンプの過電圧
保護回路を示す回路図、第2図は本発明に用いたラテラ
ルPNP型トランジスタを示す断面図である。
明する。第1図は本発明を用いたパワーアンプの過電圧
保護回路を示す回路図、第2図は本発明に用いたラテラ
ルPNP型トランジスタを示す断面図である。
まず第2図に従い本発明の2テ2ルPNP型トランジス
タを説明する。P型シリコン半導体基板(1)上に形成
されたN−型エピタキシャル層(2)をP+型分離領域
(3)で島状に分離され島領域(4)が形成される。こ
の島領域(4)がベース領域(4)となる。また島領域
(4)の底面にはN 型の埋め込み層(5)が設けられ
ている。そして、埋め込み層(5)上の島領域(4)表
面にP 型のエミッタ領域(6)とエミッタ領域(6)
を取り囲むようにP 型のコレクタ領域(7)が形成さ
れる。ベース領域(4)にはN 型のコンタクト領域(
8)が形成されている。更に、エピタキシャル層(2)
表面には酸化シリコンなどからなる絶縁層(9)が設ゆ
られ、この絶縁層(9)に設けたコンタクトホールな介
して各領域から電極の取り出しが行われる。
タを説明する。P型シリコン半導体基板(1)上に形成
されたN−型エピタキシャル層(2)をP+型分離領域
(3)で島状に分離され島領域(4)が形成される。こ
の島領域(4)がベース領域(4)となる。また島領域
(4)の底面にはN 型の埋め込み層(5)が設けられ
ている。そして、埋め込み層(5)上の島領域(4)表
面にP 型のエミッタ領域(6)とエミッタ領域(6)
を取り囲むようにP 型のコレクタ領域(7)が形成さ
れる。ベース領域(4)にはN 型のコンタクト領域(
8)が形成されている。更に、エピタキシャル層(2)
表面には酸化シリコンなどからなる絶縁層(9)が設ゆ
られ、この絶縁層(9)に設けたコンタクトホールな介
して各領域から電極の取り出しが行われる。
エミッタ領域(6)にオーミックコンタクトしたエミッ
タ電極(1αはコレクタ領域(7)に向かって延在せし
められエミッタ領域(6)とコレクタ領域(7)のベー
ス領域(4)上を被覆する。また、コレクタ領域(7)
釦オーミククコンタクトしたコレクタ電極αυとコンタ
クト領域(8)にオーミックコンタクトしたベース電極
層2とが接続され、コレクタとベースが接続される。
タ電極(1αはコレクタ領域(7)に向かって延在せし
められエミッタ領域(6)とコレクタ領域(7)のベー
ス領域(4)上を被覆する。また、コレクタ領域(7)
釦オーミククコンタクトしたコレクタ電極αυとコンタ
クト領域(8)にオーミックコンタクトしたベース電極
層2とが接続され、コレクタとベースが接続される。
そして、エミッタ電極ααを負の電源端子(GND)、
;レクタ電極(Lυを正の電源端子(VCC)に接続す
る。
;レクタ電極(Lυを正の電源端子(VCC)に接続す
る。
而して、エミッタ電極αGとコレクタ電極層υとの間に
印加される電圧が所定電圧(■?)、すなわちエピタキ
シャル層(2)の反転電位を越えると、エミッタ領域(
6)とコレクタ領域(7)の間にあるベース領域(4)
表面がN−型からP型へ反転する。依ってエミッタ領域
(6)とコレクタ領域(7)が短絡してエミッタとコレ
クタが導通する。
印加される電圧が所定電圧(■?)、すなわちエピタキ
シャル層(2)の反転電位を越えると、エミッタ領域(
6)とコレクタ領域(7)の間にあるベース領域(4)
表面がN−型からP型へ反転する。依ってエミッタ領域
(6)とコレクタ領域(7)が短絡してエミッタとコレ
クタが導通する。
そして、前記所定電圧(■、)はエピタキシャル層(2
)の不純物濃度により決定される。従って、例えば、エ
ピタキシャル層(2)の反転電位が18vであるとすれ
ば、上述したラテラルPNP屋)ランジスタな3個継続
に接続すれば、両端子間に印加される電圧が54Vを越
えた時にエミッタとコレクタが導通して電圧が検出でき
る。
)の不純物濃度により決定される。従って、例えば、エ
ピタキシャル層(2)の反転電位が18vであるとすれ
ば、上述したラテラルPNP屋)ランジスタな3個継続
に接続すれば、両端子間に印加される電圧が54Vを越
えた時にエミッタとコレクタが導通して電圧が検出でき
る。
つぎに、第1図の過電圧保護回路について説明する1、
第2図で説明したラテラルPNP型トランジスタ(Q、
) (Q2) (Q、)を夫々継続接続する。そしてト
ランジスタ(Q、)のコレクタは正の電源端子(■cc
)に接続されると共に、トランジスタ(Q、)のエミッ
タは抵抗(R1゜)を介して負の電源端子(GND)に
接続される。トランジスタ(Q3)のエミッタと抵抗(
R,O)との中間端子に過電圧保護回路0りのドライバ
トランジスタ(Q、)のペースを接続し、このトランジ
スタのエミッタを負の電源端子(GND)に接続する。
第2図で説明したラテラルPNP型トランジスタ(Q、
) (Q2) (Q、)を夫々継続接続する。そしてト
ランジスタ(Q、)のコレクタは正の電源端子(■cc
)に接続されると共に、トランジスタ(Q、)のエミッ
タは抵抗(R1゜)を介して負の電源端子(GND)に
接続される。トランジスタ(Q3)のエミッタと抵抗(
R,O)との中間端子に過電圧保護回路0りのドライバ
トランジスタ(Q、)のペースを接続し、このトランジ
スタのエミッタを負の電源端子(GND)に接続する。
そして、パワーアンプなどのドライバトランジスタ(Q
、)のペースにトランジスタ(Q4)のコレクタが接続
される。
、)のペースにトランジスタ(Q4)のコレクタが接続
される。
而して、例えばエピタキシャル層(2)の反転電位が1
8Vとすると、本実施例ではトランジスタ(QI) (
Q2) (Qs )の3個のトランジスタを継続接続し
ているので印加電圧が54Vを越えるとコレクタとエミ
ッタが導通する。すなわち、印加電圧が所定電圧(54
V)を越えると、コレクタ領域(7)とエミッタ領域(
6)の間のベース領域(4)表面が反転し、トランジス
タ(Q、) (Qり (Qa)コレクタとエミッタが短
絡して導通する。トランジスタ(Ql)(Qt) (Q
a)が導通すると抵抗(Rho)に電流が流れ、電位差
が大きくなり、ドライバトランジスタ(Q、)がONす
る。ドライバトランジスタ(Q、)がONするとパワー
アンプのドライバトランジスタ(Q、)のペースが接地
し、ドライバトランジスタ(Q、)を強制的にOFFさ
せて、過電圧に対して装置を保護する。
8Vとすると、本実施例ではトランジスタ(QI) (
Q2) (Qs )の3個のトランジスタを継続接続し
ているので印加電圧が54Vを越えるとコレクタとエミ
ッタが導通する。すなわち、印加電圧が所定電圧(54
V)を越えると、コレクタ領域(7)とエミッタ領域(
6)の間のベース領域(4)表面が反転し、トランジス
タ(Q、) (Qり (Qa)コレクタとエミッタが短
絡して導通する。トランジスタ(Ql)(Qt) (Q
a)が導通すると抵抗(Rho)に電流が流れ、電位差
が大きくなり、ドライバトランジスタ(Q、)がONす
る。ドライバトランジスタ(Q、)がONするとパワー
アンプのドライバトランジスタ(Q、)のペースが接地
し、ドライバトランジスタ(Q、)を強制的にOFFさ
せて、過電圧に対して装置を保護する。
(ト)発明の詳細
な説明したように、本発明によれば、特別な素子を用い
ることなく、簡単な構造で確実に電圧を検出することが
できるので、量産性に優れるなどその工業的価値は大き
い。
ることなく、簡単な構造で確実に電圧を検出することが
できるので、量産性に優れるなどその工業的価値は大き
い。
第1図は本発明を用いたパワーアンプの過電圧保護回路
を示す回路図、第2図は本発明に用いたラテラルPNP
型トランジスタを示す断面図である。第3図は従来の過
電圧保護回路を示す回路図、第4図は電圧スイッチング
回路を構成する半導体装置の断面図である。 Q、 、 Q2、Q、・・・ラテラルPNP型トランジ
スタ、Q4 ・・・ドライバトランジスタ、 Q、・・
・パワーアンプなどのドライバトランジスタ、 15
・・・過電圧保護回路、 4・・・ベース領域(島領域
)、6・・・エミッタ領域、 7・・・コレクタ領域
、 1o・・・エミッタ電極、 11 ・・・コレク
タ電極、 12・・・ベース電極。 出願人 三洋電機株式会社 外1名 代理人 弁理士 佐 野 靜 夫 第1図 第2図
を示す回路図、第2図は本発明に用いたラテラルPNP
型トランジスタを示す断面図である。第3図は従来の過
電圧保護回路を示す回路図、第4図は電圧スイッチング
回路を構成する半導体装置の断面図である。 Q、 、 Q2、Q、・・・ラテラルPNP型トランジ
スタ、Q4 ・・・ドライバトランジスタ、 Q、・・
・パワーアンプなどのドライバトランジスタ、 15
・・・過電圧保護回路、 4・・・ベース領域(島領域
)、6・・・エミッタ領域、 7・・・コレクタ領域
、 1o・・・エミッタ電極、 11 ・・・コレク
タ電極、 12・・・ベース電極。 出願人 三洋電機株式会社 外1名 代理人 弁理士 佐 野 靜 夫 第1図 第2図
Claims (1)
- (1)エミッタ電極を延在させてエミッタとコレクタ間
のベース領域上を被覆し、且つコレクタとベースを接続
したラテラルPNP型トランジスタを1個以上継続接続
し、前記トランジスタのコレクタを正の電源端子に接続
し、且つエミッタを負の電源端子に接続して、両端子間
の電圧が所定電圧に達すると前記コレクタとエミッタと
が導通することにより電圧を検出することを特徴とする
電圧検出回路。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15495584A JPS6131969A (ja) | 1984-07-25 | 1984-07-25 | 電圧検出回路 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15495584A JPS6131969A (ja) | 1984-07-25 | 1984-07-25 | 電圧検出回路 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6131969A true JPS6131969A (ja) | 1986-02-14 |
Family
ID=15595559
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP15495584A Pending JPS6131969A (ja) | 1984-07-25 | 1984-07-25 | 電圧検出回路 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6131969A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0499114U (ja) * | 1991-01-25 | 1992-08-27 |
-
1984
- 1984-07-25 JP JP15495584A patent/JPS6131969A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0499114U (ja) * | 1991-01-25 | 1992-08-27 |
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