JPS6141227A - 検出されたパラメーターを積分する回路及び積分する方法 - Google Patents

検出されたパラメーターを積分する回路及び積分する方法

Info

Publication number
JPS6141227A
JPS6141227A JP16308085A JP16308085A JPS6141227A JP S6141227 A JPS6141227 A JP S6141227A JP 16308085 A JP16308085 A JP 16308085A JP 16308085 A JP16308085 A JP 16308085A JP S6141227 A JPS6141227 A JP S6141227A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
comparator
voltage
current
inverting input
applying
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP16308085A
Other languages
English (en)
Other versions
JPH028495B2 (ja
Inventor
マーク・シー・ローセル
ランダル・ダブリユ・ミラー
ロバート・ダブリユ・マイアーズ
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Bayer Corp
Original Assignee
Miles Laboratories Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Miles Laboratories Inc filed Critical Miles Laboratories Inc
Publication of JPS6141227A publication Critical patent/JPS6141227A/ja
Publication of JPH028495B2 publication Critical patent/JPH028495B2/ja
Granted legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N21/25Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
    • G01N21/27Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands using photo-electric detection ; circuits for computing concentration
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J1/00Photometry, e.g. photographic exposure meter
    • G01J1/42Photometry, e.g. photographic exposure meter using electric radiation detectors
    • G01J1/44Electric circuits
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03MCODING; DECODING; CODE CONVERSION IN GENERAL
    • H03M1/00Analogue/digital conversion; Digital/analogue conversion
    • H03M1/12Analogue/digital converters
    • H03M1/34Analogue value compared with reference values
    • H03M1/38Analogue value compared with reference values sequentially only, e.g. successive approximation type
    • H03M1/44Sequential comparisons in series-connected stages with change in value of analogue signal
    • H03M1/445Sequential comparisons in series-connected stages with change in value of analogue signal the stages being of the folding type
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J1/00Photometry, e.g. photographic exposure meter
    • G01J1/42Photometry, e.g. photographic exposure meter using electric radiation detectors
    • G01J1/44Electric circuits
    • G01J1/46Electric circuits using a capacitor
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J1/00Photometry, e.g. photographic exposure meter
    • G01J1/42Photometry, e.g. photographic exposure meter using electric radiation detectors
    • G01J1/44Electric circuits
    • G01J2001/4446Type of detector
    • G01J2001/446Photodiode
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N21/47Scattering, i.e. diffuse reflection
    • G01N21/4738Diffuse reflection, e.g. also for testing fluids, fibrous materials
    • G01N2021/4776Miscellaneous in diffuse reflection devices
    • G01N2021/478Application in testing analytical test strips
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N2201/00Features of devices classified in G01N21/00
    • G01N2201/12Circuits of general importance; Signal processing
    • G01N2201/126Microprocessor processing

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Mathematical Physics (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Analogue/Digital Conversion (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 色艶立1j 本発明は、一般に、検出器・積分器回路及び検出された
パラメーターをデュアル・スロープ型積分器を用いてデ
ジタル値に変換する方法に関する。
特に、本発明は、検出された光をデジタル値に変換する
方式に関するものである。
この種の先行技術方式は既知であり、特に、この種の方
式のあるものは、米国特許第4,313.Off?号に
記載されているが、その内容は、参考文献として本明細
書中に含まれる。
そこに記載されている方式は、フォトダイオードにより
検出される光の強さに対応する時間間隔を得、その後で
デジタル値が該時間間隔から得られるように実施するこ
とができるが、そこに開示されている回路は、この過程
を実行する為に2以上の制御線を必要とする。
」艶立[ 本発明の主要な目的は、検出器・積分器装置及び変換方
法が単一の制御線で実施可能である、先行技術方式に対
する改良を提供するものである。
本発明の他の目的及び利点は、以下の詳細な発明の記述
が、その好適な実施態様を図示する添付の図面との関連
で読まれる時に、−そう明らかになるであろう。
魚」LΩ」L塵 第1A図(FIG、IA)を参照すると、そこに示され
ている種類の古典的な積分器においては、積分器伝達関
数は、 である。
積分器をリセットするために、スイッチSW3が閉じら
れ、コンデンサーが短絡されて0ポルトになる。従って
Eoが0ポルトになる。E、が積分されるサンプル電圧
であると仮定すれば、スイッチSW+が閉じられた唯一
のスイッチであるとき、コンデンサーは負に充電される
。基準電圧E2が積分されるべきときには、次に、スイ
ッチSW2のみが閉じられ、コンデンサー電圧は、正の
方向に増大する。
第1B図(FIG、IB)は、この種の古典的積分器が
従来の種類のデュアル・スロープ型A/D変換に使用さ
れる時の結果を示している。時点TOにおいて、積分器
は、SW3を閉じることによりリセットされ、EoがO
ポルトという既知の状態にリセットされる。始動電圧は
、ToからT工における影をつけた部分の中であればど
こであってもよい。
スイッチは、コンデンサー(c)を短絡するので、リセ
ットは速やかに、起きる。
T、において、サンプル電圧は、スイッチSWIのみを
閉じることにより積分され、Eo力(上述の積分器伝達
関数により決定される。サンプル電圧E工は、測定され
るべき未知の電圧であり、T□−T2の時間間隔は、あ
らかじめ一定に設定されている。
T2においては、スイッチSW2が閉じられた唯一のス
イッチであり、基準電圧E2はリセット電圧に達するま
で積分される。T2からリセット電圧に達するまでの時
間間隔はT3−T2であり、以下の等式によるサンプル
電圧E1の関数である。
El  (T2  T1)=E2  (T3  T2)
」二記の米国特許第4,313,087号に示されてい
る回路は、前記の3つのスイッチのうちの2つを利用し
てこの結果を得、従って、AID変換用の積分を実行す
る為に2本の制御線の使用を必要としている。
本発明による回路は、単一の制御線のみを必要とし、連
続的なA/D変換を実行する為に別個のすセット制御を
要しないという点で、通常のデュアル・スロープ積分器
型A/D変換器から出発したものである。
アナログ・レギュレーターが、 47口変換用に0ll
lされる。初期においては、アナログ・レギュレーター
はOFFであり、コンデンサーは放電されている。コン
デンサーの電圧は、瞬間的に変化することができないの
で、コンデンサーの両方のリード線の電圧は、アナログ
・レギュレーター電圧に従い、コンパレーターは、レギ
ュレーターの立上り時間内にリセットされる。リセット
は1ミリ秒内にで達成される。電流工基準の選択はリセ
ット状態を保持する。
時間T、において、基準電流がOFFにされ、サンプル
電流”4j7’:j)Ltが選択される。サンプル電流
は、次にT五からT2の一定の時間間隔の間積分される
が、この時間はあらかじめ1秒に選択されている。
時間T2において、選択制御線は、逆になり、基準電流
I基準が選択される。基準電流は一定の勾配でリセット
電圧まで逆に積分される。リセット定常状態電圧に達し
た時間は、時間T3で表わされ、A/D変換は、サンプ
ル電流対基準電流の比である比(Ta  T2 ) /
 (T2  ”□)をとることにより実行される。圧電
水晶発振器を時間基準として用いることにより、時間(
T3  T2)の間に計数されるパルスの数は、上記の
比における他の全ての要素が既知のパラメーターである
ので、サンプル電流のデジタル値による表示となる。
時間T4 [第2B図(FIG、2B)]においては、
必要により、サーキットリーが計器の電力消費を保存す
るように電源をOFFにすることができる。
従って、始動状態は、T、と同じである。あるいはまた
、リセット状態への遅延が望ましくない時には、電圧低
下は省略することができる。従って、時間T4において
は、回路は、そのリセット状態にあり、次の変換に対す
る準備ができており、時間T1に対応している。
もし、サーキットリーの初期の状態が未知である場合は
、リセットは、最大のIサンプルを逆に積分するのに必
要な時間の間、■基準を選択することにより常に達成す
ることができる。
本明細書及び特許請求の範囲は、説明として記載され限
定として記載されているのではないこと、並びに、本発
明の精神及び範囲を離れることなく様々の変形や変更が
可能であることは明らかであろう。
【図面の簡単な説明】
第1A図(FIG、IA)は古典的な積分器回路の概略
図であり; 第1B図(FIG、IB)は古典的な積分器を利用する
古典的なデュアルψスロープff A10変換器の作動
の波形図であり; 第2 A r14CFIG、2A)ハ、 本発明ニよル
検出器・積分器回路の概略図であり; 第2B図(FrG、2B)は、第2A図CFIG、2A
)の回路の作動の波形図である。 W3 FIG、 IA FIG、旧

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、検出されたパラメーター又は基準電流源に従って変
    化する電流を生み出す検出手段、蓄電手段に出力が結合
    される電流増幅器を有する検出器・積分器回路において
    、該増幅器を付勢して、所定の正の定常状態リセット電
    圧を得るための手段、定常状態電圧より低い基準電圧を
    、コンパレーターの非反転入力に印加するための手段、
    積分を開始するための、かつ、検出手段からの上記電流
    及び基準電流を上記反転入力に選択的に印加するための
    手段のみから成る制御手段を具備することを特徴とする
    検出器・積分器回路。 2、検出手段がフォトダイオードから成る特許請求の範
    囲第1項記載の回路。 3、蓄電手段がコンデンサーから成る特許請求の範囲第
    2項記載の回路。 4、積分器回路を付勢する手段が定常状態リセット電圧
    を維持するための手段を含む特許請求の範囲第1項記載
    の回路。 5、(a)コンパレーターの非反転入力に、該コンパレ
    ーターの定常状態リセット電圧より低い基準電圧を印加
    し; (b)基準電流を供給し; (c)パラメーターを検出し、検出されたパラメーター
    に従って変化するサンプル電流を生み出し; (d)定常状態リセット電圧に達するまで該コンパレー
    ターの反転入力に接続している蓄電装置に基準電流を印
    加し; (e)あらかじめ設定された時間間隔の間、基準電流の
    代わりに、サンプル電流を該コンパレーターの反転入力
    に接続している蓄電装置に印加し; (f)その後で、該コンパレーターの状態が変化するま
    で、サンプル電流の代わりに基準電流を、該コンパレー
    ターの反転入力に接続している蓄電装置に印加し、そし
    て、 (g)工程(f)における定常状態電圧に達するまでの
    時間間隔を、デジタル値に変換することを特徴とするデ
    ュアル・スロープ型積分器を用いて検出されたパラメー
    ターをデジタル値に変換する方法。 8、工程(g)において定常状態電圧に達した後で、積
    分器を除勢することをさらに含む特許請求の範囲第5項
    記載の方法。
JP16308085A 1984-07-26 1985-07-25 検出されたパラメーターを積分する回路及び積分する方法 Granted JPS6141227A (ja)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US634574 1984-07-26
US06/634,574 US4621204A (en) 1984-07-26 1984-07-26 Sensor integrator system

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS6141227A true JPS6141227A (ja) 1986-02-27
JPH028495B2 JPH028495B2 (ja) 1990-02-26

Family

ID=24544357

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP16308085A Granted JPS6141227A (ja) 1984-07-26 1985-07-25 検出されたパラメーターを積分する回路及び積分する方法

Country Status (6)

Country Link
US (1) US4621204A (ja)
EP (1) EP0173051B1 (ja)
JP (1) JPS6141227A (ja)
AU (1) AU554258B2 (ja)
CA (1) CA1240000A (ja)
DE (1) DE3562951D1 (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2010520609A (ja) * 2007-03-05 2010-06-10 テセイ ソフトウェア デベロップメント ケージー リミテッド ライアビリティ カンパニー 蛍光灯アレイにおける電圧及び電流を制御するための方法及びファームウェア

Families Citing this family (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0765963B2 (ja) * 1986-04-07 1995-07-19 ホーチキ株式会社 減光式煙感知器
US4688017A (en) * 1986-05-20 1987-08-18 Cooperbiomedical, Inc. Optical detector circuit for photometric instrument
JPS63163119A (ja) * 1986-12-25 1988-07-06 Fuji Electric Co Ltd フオトセンサの受光強度測定装置
DE4224358C1 (de) * 1992-07-23 1993-10-28 Fraunhofer Ges Forschung Strahlungssensoreinrichtung
US5376834A (en) * 1993-03-05 1994-12-27 Sgs-Thomson Microelectronics, Inc. Initialization circuit for automatically establishing an output to zero or desired reference potential
US9316695B2 (en) * 2012-12-28 2016-04-19 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Semiconductor device
GB2514493B (en) 2013-06-14 2015-09-23 Welldata Subsurface Surveillance Systems Ltd Downhole detection
EP2851661B1 (en) 2013-09-24 2021-12-15 ams AG Optical sensor arrangement and method for light sensing
EP3794339B1 (en) * 2018-05-17 2024-10-02 ams International AG Sensor arrangement and method for sensor measurement
US11463268B2 (en) * 2019-09-17 2022-10-04 International Business Machines Corporation Sensor calibration

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS53120247A (en) * 1977-03-30 1978-10-20 Toshiba Corp A/d converter
JPS56126318A (en) * 1980-03-11 1981-10-03 Toshiba Corp Integrating type analog and digital converting circuit

Family Cites Families (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3913022A (en) * 1973-11-02 1975-10-14 Logetronics Inc Integrator control circuit
DE2733248A1 (de) * 1976-07-22 1978-01-26 Copal Co Ltd Anordnung zur messung der intensitaet von licht
JPS5914739Y2 (ja) * 1976-09-07 1984-05-01 旭光学工業株式会社 露出計におけるデジタル表示回路
US4320521A (en) * 1980-07-25 1982-03-16 National Semiconductor Corporation Data bus transceiver
DE3116072A1 (de) * 1981-04-22 1982-11-11 Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München Schaltungsanordnung fuer einen strahlendetektor

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS53120247A (en) * 1977-03-30 1978-10-20 Toshiba Corp A/d converter
JPS56126318A (en) * 1980-03-11 1981-10-03 Toshiba Corp Integrating type analog and digital converting circuit

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2010520609A (ja) * 2007-03-05 2010-06-10 テセイ ソフトウェア デベロップメント ケージー リミテッド ライアビリティ カンパニー 蛍光灯アレイにおける電圧及び電流を制御するための方法及びファームウェア
JP2013165066A (ja) * 2007-03-05 2013-08-22 Tecey Software Development Kg Llc 蛍光灯アレイにおける電圧及び電流を制御するための方法及びファームウェア

Also Published As

Publication number Publication date
DE3562951D1 (en) 1988-06-30
US4621204A (en) 1986-11-04
CA1240000A (en) 1988-08-02
EP0173051B1 (en) 1988-05-25
AU4451985A (en) 1986-01-30
AU554258B2 (en) 1986-08-14
JPH028495B2 (ja) 1990-02-26
EP0173051A1 (en) 1986-03-05

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US4082998A (en) Dual slope integration circuit
EP1158789B1 (en) Photodetector device
JPS6141227A (ja) 検出されたパラメーターを積分する回路及び積分する方法
US5493218A (en) Magnetic detecting apparatus with a variable voltage power supply
JPS63163119A (ja) フオトセンサの受光強度測定装置
US4160922A (en) Method of generating a direct current control signal from a noisy alternating current signal
US5745062A (en) Pulse width modulation analog to digital converter
SU389624A1 (ru) Аналого-цифровой преобразователь
SU1101690A1 (ru) Устройство дл измерени температуры
JPH051824Y2 (ja)
SU1580283A1 (ru) Цифровой омметр
SU1022062A1 (ru) Устройство дл измерени параметров порогового элемента
JPH0727630A (ja) サーミスタ温度検出回路
JP2570231B2 (ja) A/d変換装置
JPS5890180A (ja) 微小変化率検出回路
Kalvoda et al. Improved low noise differential pulse polarography
JPH11337430A (ja) ブリッジ型センサ
JP3238867B2 (ja) 電池電圧測定方法および装置
JPS5816810B2 (ja) Ad変換装置
JPS5533654A (en) Current comparating tester
JPS6318900Y2 (ja)
JPS636686Y2 (ja)
SU1739486A1 (ru) Ждущий мультивибратор
SU543983A1 (ru) Аналоговое запоминающее устройство
JPH04250314A (ja) 測定装置