JPS6141764A - 真空ア−ク反応性蒸着法及びその蒸着装置 - Google Patents
真空ア−ク反応性蒸着法及びその蒸着装置Info
- Publication number
- JPS6141764A JPS6141764A JP16159984A JP16159984A JPS6141764A JP S6141764 A JPS6141764 A JP S6141764A JP 16159984 A JP16159984 A JP 16159984A JP 16159984 A JP16159984 A JP 16159984A JP S6141764 A JPS6141764 A JP S6141764A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- cathode
- vacuum arc
- vapor deposition
- reactive gas
- reactive
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 238000007740 vapor deposition Methods 0.000 title claims abstract description 14
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 16
- 238000001704 evaporation Methods 0.000 claims abstract description 5
- 239000011148 porous material Substances 0.000 claims description 10
- 238000010891 electric arc Methods 0.000 claims description 6
- 238000001816 cooling Methods 0.000 claims description 5
- 239000002184 metal Substances 0.000 claims description 5
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 claims description 5
- 230000008018 melting Effects 0.000 claims description 4
- 238000002844 melting Methods 0.000 claims description 4
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 4
- 238000007664 blowing Methods 0.000 claims description 2
- 239000000463 material Substances 0.000 abstract description 8
- 230000008020 evaporation Effects 0.000 abstract description 4
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 abstract description 4
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 abstract description 2
- 238000007599 discharging Methods 0.000 abstract 2
- 239000007789 gas Substances 0.000 abstract 2
- 239000012495 reaction gas Substances 0.000 abstract 2
- 239000004020 conductor Substances 0.000 abstract 1
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 7
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 6
- 230000004927 fusion Effects 0.000 description 4
- 239000011810 insulating material Substances 0.000 description 4
- 238000000151 deposition Methods 0.000 description 3
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 3
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 3
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 3
- 239000010936 titanium Substances 0.000 description 3
- ATJFFYVFTNAWJD-UHFFFAOYSA-N Tin Chemical compound [Sn] ATJFFYVFTNAWJD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000010406 cathode material Substances 0.000 description 2
- 238000005524 ceramic coating Methods 0.000 description 2
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 description 2
- 238000000576 coating method Methods 0.000 description 2
- 230000008021 deposition Effects 0.000 description 2
- RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N Titanium Chemical compound [Ti] RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000005856 abnormality Effects 0.000 description 1
- 239000011247 coating layer Substances 0.000 description 1
- 238000011161 development Methods 0.000 description 1
- 230000004907 flux Effects 0.000 description 1
- 239000012535 impurity Substances 0.000 description 1
- 238000002347 injection Methods 0.000 description 1
- 239000007924 injection Substances 0.000 description 1
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 1
- 238000012827 research and development Methods 0.000 description 1
- 239000002345 surface coating layer Substances 0.000 description 1
- 229910052719 titanium Inorganic materials 0.000 description 1
- MTPVUVINMAGMJL-UHFFFAOYSA-N trimethyl(1,1,2,2,2-pentafluoroethyl)silane Chemical compound C[Si](C)(C)C(F)(F)C(F)(F)F MTPVUVINMAGMJL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
Classifications
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C23—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
- C23C—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
- C23C14/00—Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material
- C23C14/22—Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material characterised by the process of coating
- C23C14/228—Gas flow assisted PVD deposition
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C23—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
- C23C—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
- C23C14/00—Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material
- C23C14/22—Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material characterised by the process of coating
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J37/00—Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
- H01J37/32—Gas-filled discharge tubes
- H01J37/32431—Constructional details of the reactor
- H01J37/3244—Gas supply means
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
- Materials Engineering (AREA)
- Mechanical Engineering (AREA)
- Metallurgy (AREA)
- Organic Chemistry (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Plasma & Fusion (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Physical Vapour Deposition (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
トカマク型核融合炉では、プラズマを包む容器壁の部品
に炭化チタンなどを金属表面に蒸着した被覆材料を用い
ている。これらの材料は核融合炉運転中に起きるプラズ
マ異常時の大きな熱流束により表面被覆層に破壊的な損
傷を被る。
に炭化チタンなどを金属表面に蒸着した被覆材料を用い
ている。これらの材料は核融合炉運転中に起きるプラズ
マ異常時の大きな熱流束により表面被覆層に破壊的な損
傷を被る。
これ罠よシ被覆層を失った部品金属は直接グラズマK1
1lされプラズマ汚染される。従って、損耗箇所を局所
的にその場で修復する技術開発がりを被覆する技術は、
核融合炉のみならず、各種の化学プラント反応装置等の
内面被覆あるいは補修技術としても、その研究開発が要
望されている。
1lされプラズマ汚染される。従って、損耗箇所を局所
的にその場で修復する技術開発がりを被覆する技術は、
核融合炉のみならず、各種の化学プラント反応装置等の
内面被覆あるいは補修技術としても、その研究開発が要
望されている。
従来の技術
従来、真空アーク放電を利用したセラミック被覆法は知
られている。その方法として第5図に示すようK、陰極
2の端部に絶縁材11を接触、介在させて陽極1oを設
け、全体を真空容器12内に収容し、その容器内圧基体
を設置し、反応性ガスを容器内に導入し、金属蒸気と反
応性ガスのプラズマ流を基板13に当て蒸着させていた
。14は排気口を示す。
られている。その方法として第5図に示すようK、陰極
2の端部に絶縁材11を接触、介在させて陽極1oを設
け、全体を真空容器12内に収容し、その容器内圧基体
を設置し、反応性ガスを容器内に導入し、金属蒸気と反
応性ガスのプラズマ流を基板13に当て蒸着させていた
。14は排気口を示す。
このような方法によると、(1)アーク放電を安定化す
るために放電面の面積を大きくする必要がある。
るために放電面の面積を大きくする必要がある。
(2)反応性ガスは真空容器内圧導入するため、アーク
放電を安定化するには反応圧力をある程度高くせざるを
得ない。
放電を安定化するには反応圧力をある程度高くせざるを
得ない。
(3)陰極点の放電面からの逸散を防ぐために、陰極に
接触して絶縁材を用いるため、絶縁材の材料がアークで
蒸発し、蒸着被膜中に不純物としで混入する。また絶縁
材料にセラミックが蒸着し、しばしば短絡トラブルが発
生する。
接触して絶縁材を用いるため、絶縁材の材料がアークで
蒸発し、蒸着被膜中に不純物としで混入する。また絶縁
材料にセラミックが蒸着し、しばしば短絡トラブルが発
生する。
(4)この方法では、核融合炉、化学プラント反応装置
の内壁面の損傷箇所をその場で蒸着補修できない。など
の欠点があった〇 発明の目的 本発明は従来法の真空アーク反応蒸着法の欠点を解消す
べくなされたもので、核融合炉、化学プラント反応装置
の内壁の損傷箇所もその場で、蒸着することが可能で、
しかも真空アーク放電によるイオン化率も高く、高速安
定に、かつ蒸着被膜も汚染させることがなく、トラブル
の発生もない真空アーク反応性蒸着法ならびKその蒸着
装置を提供するにある。
の内壁面の損傷箇所をその場で蒸着補修できない。など
の欠点があった〇 発明の目的 本発明は従来法の真空アーク反応蒸着法の欠点を解消す
べくなされたもので、核融合炉、化学プラント反応装置
の内壁の損傷箇所もその場で、蒸着することが可能で、
しかも真空アーク放電によるイオン化率も高く、高速安
定に、かつ蒸着被膜も汚染させることがなく、トラブル
の発生もない真空アーク反応性蒸着法ならびKその蒸着
装置を提供するにある。
発明の構成
(1)真空アーク放電により発生させた金属蒸気
Iと反応性ガスのプラズマ流を作り、これを収 1
束輸送して基体上に蒸着させる方法において、放電面に
細孔を有する真空アーク陰極を使用し、該細孔から反応
性ガスを吹出し、かつ真 1極で収束輸送させるこ
とを特徴とする真空アク反応性蒸着法。
Iと反応性ガスのプラズマ流を作り、これを収 1
束輸送して基体上に蒸着させる方法において、放電面に
細孔を有する真空アーク陰極を使用し、該細孔から反応
性ガスを吹出し、かつ真 1極で収束輸送させるこ
とを特徴とする真空アク反応性蒸着法。
(2)真空アーク陰極がその放電面に反応性ガス吹出し
用の細孔を設けたものからなり、該陰極の周囲を冷却ジ
ャケットで囲むと共に、放電面を除く陰極全体を高融点
シールドで狭い間隙を隔てて覆い、かつ収束コイルを外
周に設けた陽極を陰極放電面の前方へ設けたことを特徴
とする真空アーク反応性蒸着装置にある。
用の細孔を設けたものからなり、該陰極の周囲を冷却ジ
ャケットで囲むと共に、放電面を除く陰極全体を高融点
シールドで狭い間隙を隔てて覆い、かつ収束コイルを外
周に設けた陽極を陰極放電面の前方へ設けたことを特徴
とする真空アーク反応性蒸着装置にある。
本発明を図面に基づいて説明すると、第1図吐本発明に
おける電極の説明図で、陰極2は水冷ジャケット1によ
って冷却され、その放電面3には開口端をMするガス出
口4とガス人口5とを結ぶ細孔が設けられている0反応
性ガスは歯極のガス人口5の直前に設けた高周波などに
よるガスプラズマ発生系6により、予めイオン化した後
、ガス人口5から送や込む。
おける電極の説明図で、陰極2は水冷ジャケット1によ
って冷却され、その放電面3には開口端をMするガス出
口4とガス人口5とを結ぶ細孔が設けられている0反応
性ガスは歯極のガス人口5の直前に設けた高周波などに
よるガスプラズマ発生系6により、予めイオン化した後
、ガス人口5から送や込む。
一方、真空アーク数式の陰極輝点が放電面から逸散する
のを防ぐために、陰極は放電面以外の周囲を、出来るだ
け狭い間隙を隔ててチタンなどの高融点のものからなる
ルールド7で覆われている。陰極2の前方に水冷等によ
り冷却された陽極8の外周に収束コイル9を設け、磁場
によりプラズマビーム径を任意に制御するように構成さ
れている。
のを防ぐために、陰極は放電面以外の周囲を、出来るだ
け狭い間隙を隔ててチタンなどの高融点のものからなる
ルールド7で覆われている。陰極2の前方に水冷等によ
り冷却された陽極8の外周に収束コイル9を設け、磁場
によりプラズマビーム径を任意に制御するように構成さ
れている。
前記構成において、ガス人口5の直前にガスプラズマ発
生系6は必ずしも設けることを必要としない。
生系6は必ずしも設けることを必要としない。
本発明においては陰極5の放電面に反応性ガスの出口の
細孔を設け、これより反応性ガスを導入するため、真空
アークの陰極輝点を開口端周辺部に集中させることがで
き、その放電を高度に安定させることができる。また、
反応性ガスを予めイオン化して導入すると、放電が安定
化し、且つプラズマ反応の効率が上昇し得られ、そのた
め良質のセラミック被膜の高速蒸着をすることができる
。更に放電面以外の陰極の周囲を小間隔を隔ててシール
ドで覆ったため、シールド材料の蒸発や導電性物質の付
着による陰極−陽極間の短絡のトラブルが全くなくなる
。
細孔を設け、これより反応性ガスを導入するため、真空
アークの陰極輝点を開口端周辺部に集中させることがで
き、その放電を高度に安定させることができる。また、
反応性ガスを予めイオン化して導入すると、放電が安定
化し、且つプラズマ反応の効率が上昇し得られ、そのた
め良質のセラミック被膜の高速蒸着をすることができる
。更に放電面以外の陰極の周囲を小間隔を隔ててシール
ドで覆ったため、シールド材料の蒸発や導電性物質の付
着による陰極−陽極間の短絡のトラブルが全くなくなる
。
発明の効果
前記の効果に加え、本発明によると、(1)放電が高度
に安定化するため、放電を持続することができる雰囲気
ガス圧力、放電電流の範囲が広がる。(2)蒸着速度が
同一の放電電流で、従来法と比ベアークの輝点が集中安
定化するため、顕著に増加する。(3)陰極の放電面を
小さくすることが可能なため、小面積の陰極面から蒸着
物質を高密度で放出することができる。従って所望の場
所に局所被覆が可能となる。(4)小断面積を有するシ
リンダー状陰極を採用できるため、陰極材料を機械的K
かつ連続的に補給することが容易で、現場で蒸着するの
に適する電極構造とすることも容易である。等の優れた
効果を奏し得られる。
に安定化するため、放電を持続することができる雰囲気
ガス圧力、放電電流の範囲が広がる。(2)蒸着速度が
同一の放電電流で、従来法と比ベアークの輝点が集中安
定化するため、顕著に増加する。(3)陰極の放電面を
小さくすることが可能なため、小面積の陰極面から蒸着
物質を高密度で放出することができる。従って所望の場
所に局所被覆が可能となる。(4)小断面積を有するシ
リンダー状陰極を採用できるため、陰極材料を機械的K
かつ連続的に補給することが容易で、現場で蒸着するの
に適する電極構造とすることも容易である。等の優れた
効果を奏し得られる。
実施例
陰極材料としてTiを、反応性ガスとしてN、を用より
イオン化して供給した。陰極表面の放電面を写真撮影し
て観察した結果、従来法における反応性ガスを陰極から
離れた場所から導入した場合には、アーク陰極輝点が放
電面全体を動きまわっていたが、本発明のように陰極の
放電面に設けた細孔から導入すると、反応性ガスの導入
前のイオン化操作の有無に係わらず、アーク陰極輝点が
反応性ガス出口周辺のみにあり、蒸着物質が高密度で放
出されることが判った。
イオン化して供給した。陰極表面の放電面を写真撮影し
て観察した結果、従来法における反応性ガスを陰極から
離れた場所から導入した場合には、アーク陰極輝点が放
電面全体を動きまわっていたが、本発明のように陰極の
放電面に設けた細孔から導入すると、反応性ガスの導入
前のイオン化操作の有無に係わらず、アーク陰極輝点が
反応性ガス出口周辺のみにあり、蒸着物質が高密度で放
出されることが判った。
雰囲気ガス圧力と放電電流との関係を示すと第2図の通
りである。図においてAは従来法、B、Cは本発明の方
法で、Bは反応性ガスを予めイオン化せずに導入した場
合、Cは反応性ガスを予めイりである。結晶学的に健全
なTiNの格子定数の値は4.24Aである。この点を
考慮すると、化学量論組成(Ti/N=1.0)を有す
る被膜の生成する雰囲気ガス圧は3X10”〜I X
10−” Torrの範囲であることがわかる。従来法
によると、この圧力範囲では安定放電が得られないが、
本発明の方法によると、安定放電領域に入り、従って良
質の皮膜を得ることができる。
りである。図においてAは従来法、B、Cは本発明の方
法で、Bは反応性ガスを予めイオン化せずに導入した場
合、Cは反応性ガスを予めイりである。結晶学的に健全
なTiNの格子定数の値は4.24Aである。この点を
考慮すると、化学量論組成(Ti/N=1.0)を有す
る被膜の生成する雰囲気ガス圧は3X10”〜I X
10−” Torrの範囲であることがわかる。従来法
によると、この圧力範囲では安定放電が得られないが、
本発明の方法によると、安定放電領域に入り、従って良
質の皮膜を得ることができる。
第4図に蒸着速度を示す。図中、Aは従来法、B、Cは
本発明の方法を示す。Bは反応性ガスを予めイオン化せ
ずに導入した場合、Cは反応性ガスを予めイオン化して
導入した場合である。図が示すように、本発明の方法に
よると蒸発速度が早いことがわかる。
本発明の方法を示す。Bは反応性ガスを予めイオン化せ
ずに導入した場合、Cは反応性ガスを予めイオン化して
導入した場合である。図が示すように、本発明の方法に
よると蒸発速度が早いことがわかる。
第1図は本発明における電極の一実施態様図で、第2図
は雰囲気ガス圧力と放電電流との関係図、第3図は本発
明方法によって得られたTiN皮膜の格子定数と雰囲気
ガス圧との関係図、pc4図は蒸着速度の比較図、第5
図は従来法における電極概要図を示す。 1:水冷ジャケット 2:陰 極 3:放電面 4:反応性ガス出口5:反応性ガ
ス人口 6:ガスプラズマ発生系7:シールド
8:水冷陽極 9:収束コイル 1o:陽 極 11:絶縁材 12:真空容器13:基 板
14:排気ロ A線:従来法の場合、B線:本発明の方法で、予め反応
性ガスをイオン化しない場合、C線二本発明の方法で、
予め反注ガスをイオン化した場合、
は雰囲気ガス圧力と放電電流との関係図、第3図は本発
明方法によって得られたTiN皮膜の格子定数と雰囲気
ガス圧との関係図、pc4図は蒸着速度の比較図、第5
図は従来法における電極概要図を示す。 1:水冷ジャケット 2:陰 極 3:放電面 4:反応性ガス出口5:反応性ガ
ス人口 6:ガスプラズマ発生系7:シールド
8:水冷陽極 9:収束コイル 1o:陽 極 11:絶縁材 12:真空容器13:基 板
14:排気ロ A線:従来法の場合、B線:本発明の方法で、予め反応
性ガスをイオン化しない場合、C線二本発明の方法で、
予め反注ガスをイオン化した場合、
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、真空アーク放電により発生させた金属蒸気と反応性
ガスのプラズマ流を作り、これを収束輸送して基体上に
蒸着させる方法において、放電面に細孔を有する真空ア
ーク陰極を使用し、該細孔から反応性ガスを吹出し、か
つ真空アークの放電面を除く陰極全体を高融点のシール
ドで狭い間隙を隔てて覆い、真空アーク陰極輝点を放電
面のガス吹出し口周辺部に集中させたプラズマ流を発生
させ、これを陽極で収束輸送させることを特徴とする真
空アーク反応性蒸着法。 2、反応性ガスを導入する直前において、反応性ガスを
放電によりイオン化して導入する特許請求の範囲第1項
記載の真空アーク反応性蒸着法。 3、真空アーク陰極がその放電面に反応性ガス吹出し用
の細孔を設けたものからなり、該陰極の周囲を冷却ジャ
ケットで囲むと共に、放電面を除く陰極全体を高融点シ
ールドで狭い間隙を隔てて覆い、かつ収束コイルを外周
に設けた陽極を陰極放電面の前方へ設けたことを特徴と
する真空アーク反応性蒸着装置。 4、反応性ガスの入口の直前に反応性ガスプラズマ発生
装置を設けた特許請求の範囲第3項記載の真空アーク反
応性蒸着装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP16159984A JPS6141764A (ja) | 1984-08-02 | 1984-08-02 | 真空ア−ク反応性蒸着法及びその蒸着装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP16159984A JPS6141764A (ja) | 1984-08-02 | 1984-08-02 | 真空ア−ク反応性蒸着法及びその蒸着装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6141764A true JPS6141764A (ja) | 1986-02-28 |
| JPH0225986B2 JPH0225986B2 (ja) | 1990-06-06 |
Family
ID=15738210
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP16159984A Granted JPS6141764A (ja) | 1984-08-02 | 1984-08-02 | 真空ア−ク反応性蒸着法及びその蒸着装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6141764A (ja) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6318056A (ja) * | 1986-07-10 | 1988-01-25 | Nissin Electric Co Ltd | ア−ク式蒸発源 |
| JPH01132756A (ja) * | 1987-11-18 | 1989-05-25 | Kobe Steel Ltd | 耐摩耗性膜被覆方法 |
| JPH01287270A (ja) * | 1988-05-13 | 1989-11-17 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | スパッタリング装置 |
| JPH05193916A (ja) * | 1992-01-24 | 1993-08-03 | Agency Of Ind Science & Technol | 窒化チタン薄膜 |
| US5843293A (en) * | 1995-01-23 | 1998-12-01 | Nissin Electric Co., Ltd. | Arc-type evaporator |
-
1984
- 1984-08-02 JP JP16159984A patent/JPS6141764A/ja active Granted
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6318056A (ja) * | 1986-07-10 | 1988-01-25 | Nissin Electric Co Ltd | ア−ク式蒸発源 |
| JPH01132756A (ja) * | 1987-11-18 | 1989-05-25 | Kobe Steel Ltd | 耐摩耗性膜被覆方法 |
| JPH01287270A (ja) * | 1988-05-13 | 1989-11-17 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | スパッタリング装置 |
| JPH05193916A (ja) * | 1992-01-24 | 1993-08-03 | Agency Of Ind Science & Technol | 窒化チタン薄膜 |
| US5843293A (en) * | 1995-01-23 | 1998-12-01 | Nissin Electric Co., Ltd. | Arc-type evaporator |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0225986B2 (ja) | 1990-06-06 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US4749587A (en) | Process for depositing layers on substrates in a vacuum chamber | |
| US3540993A (en) | Sputtering apparatus | |
| JPH0773994A (ja) | 中空陰極アレイおよびこれを用いた表面処理方法 | |
| JP4364950B2 (ja) | プラズマ処理装置 | |
| US6245394B1 (en) | Film growth method and film growth apparatus capable of forming magnesium oxide film with increased film growth speed | |
| JPH0225986B2 (ja) | ||
| JPH01108374A (ja) | 陰極スパツタリング装置 | |
| JPH07238370A (ja) | スパッタリング式成膜装置 | |
| JPS5947728A (ja) | プラズマ付着方法および装置 | |
| US4540868A (en) | Plasma gun that reduces cathode contamination | |
| JPS61266568A (ja) | コ−テイング装置 | |
| US3595773A (en) | Process for depositing on surfaces | |
| JP2001059165A (ja) | アーク式イオンプレーティング装置 | |
| JPS6380534A (ja) | プラズマ処理装置 | |
| JPS6016419A (ja) | プラズマcvd処理装置 | |
| JPH09256148A (ja) | イオンプレーティング装置 | |
| JP2001143894A (ja) | プラズマ発生装置及び薄膜形成装置 | |
| JPH0445254A (ja) | 溶射複合膜形成方法 | |
| JP3079789B2 (ja) | プラズマ銃及びプラズマ発生装置 | |
| US3881038A (en) | Low temperature metallization of ferrite | |
| JP2000017431A (ja) | MgO膜形成方法およびパネル | |
| JP2005105314A (ja) | 蒸着源、その蒸着源を有する蒸着装置、及び薄膜の製造方法 | |
| JP2000017429A (ja) | 真空成膜装置 | |
| JPS62235466A (ja) | 蒸着物質発生装置 | |
| JPH05315093A (ja) | プラズマトーチ |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| EXPY | Cancellation because of completion of term |