JPS6142182A - 半導体レ−ザ駆動回路 - Google Patents
半導体レ−ザ駆動回路Info
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- JPS6142182A JPS6142182A JP16311084A JP16311084A JPS6142182A JP S6142182 A JPS6142182 A JP S6142182A JP 16311084 A JP16311084 A JP 16311084A JP 16311084 A JP16311084 A JP 16311084A JP S6142182 A JPS6142182 A JP S6142182A
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- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01S—DEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
- H01S5/00—Semiconductor lasers
- H01S5/06—Arrangements for controlling the laser output parameters, e.g. by operating on the active medium
- H01S5/068—Stabilisation of laser output parameters
- H01S5/0683—Stabilisation of laser output parameters by monitoring the optical output parameters
- H01S5/06832—Stabilising during amplitude modulation
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- Optics & Photonics (AREA)
- Semiconductor Lasers (AREA)
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は、半導体レーザの光出力を変調する半導体レー
ザ駆動回路、特にディジタル信号での変調時にパワーサ
ーボ制御を行なう半導体レーザ駆動回路に関するもので
ある。
ザ駆動回路、特にディジタル信号での変調時にパワーサ
ーボ制御を行なう半導体レーザ駆動回路に関するもので
ある。
従来例の構成とその問題点
近年、半導体レーザは、光通信や光記録などの分野で広
く利用されるようになってきた。
く利用されるようになってきた。
光記録の分野において、光ディスクは高密度記録が可能
であるため、大容量メモリとして注目されている。以下
、光デイスク装置に使用する半導体レーザ駆動回路につ
いて説明を行なう。
であるため、大容量メモリとして注目されている。以下
、光デイスク装置に使用する半導体レーザ駆動回路につ
いて説明を行なう。
第1図は、光ディスクに記録および再生を行なう時の半
導体レーザの駆動電流による光出力の変化を表わしたも
のである。光ディスクに信号を記録するには、光ディス
クの記録層にレーザ光を照射し、記録層に穴をあけたり
、あるいは記録層の反射率を変化させ、記録ビットを形
成する。この記録ビットの有無により信号を記録する。
導体レーザの駆動電流による光出力の変化を表わしたも
のである。光ディスクに信号を記録するには、光ディス
クの記録層にレーザ光を照射し、記録層に穴をあけたり
、あるいは記録層の反射率を変化させ、記録ビットを形
成する。この記録ビットの有無により信号を記録する。
以下、記録ビットを形成する時の半導体レーザの光出力
をピークパワーと呼び、第1図のPpで表わす。
をピークパワーと呼び、第1図のPpで表わす。
ディジタル信号を記録する場合、記録ビットを、例えば
、変調信号の“1”に対応させる。”o ”の時は、記
録層に変化がふ・こらない程度のレーザ光を照射する。
、変調信号の“1”に対応させる。”o ”の時は、記
録層に変化がふ・こらない程度のレーザ光を照射する。
このときの光出力をバイアスパワーと呼ひ、第1図のP
bで表わす。バイアスパワーを加えることにより、記録
層が予熱され記録特性を改善することができる。光ディ
スクから記録した信号を再生するには、弱いレーザ光を
照射し、記録ビットの有無による反射光量の変化を検出
する。このときの半導体レーザの光出力を再生パワーと
呼び、第1図のPoて表わす。
bで表わす。バイアスパワーを加えることにより、記録
層が予熱され記録特性を改善することができる。光ディ
スクから記録した信号を再生するには、弱いレーザ光を
照射し、記録ビットの有無による反射光量の変化を検出
する。このときの半導体レーザの光出力を再生パワーと
呼び、第1図のPoて表わす。
また、各パワーの値として、例えば、Po−1mW。
Pb−2mW1Pp−8mWとする。
第2図に半導体レーザの光出力の変化の一例を示す。第
2図では、最初、再生モードで半導体レーザは再生パワ
ーP0で発光している。つきに記録モードになり、図の
上部に示す変調信号に従ってピークパワーPpあるいは
バイアスパワーPbて発光し、記録を行なう。その後再
び、再生モードとなっている。
2図では、最初、再生モードで半導体レーザは再生パワ
ーP0で発光している。つきに記録モードになり、図の
上部に示す変調信号に従ってピークパワーPpあるいは
バイアスパワーPbて発光し、記録を行なう。その後再
び、再生モードとなっている。
第3図は、従来の半導体レーザ駆動回路の構成を示すも
のである。第3図において、1は半導体レーザである。
のである。第3図において、1は半導体レーザである。
2は光検出器で、半導体レーザ1の後方への光あるいは
、光学系を通るレーザ光の一部を受光することにより、
半導体レーザ1の光出力をモニタする。3は再生パワー
を決める電流源であり、再生電流I0を流す。4は光検
出器2からの出力に従って再生電流10の大きさを制御
するパワーサーボ回路である。6は記録時のバイアスパ
ワーを決める電流源であり、バイアス電流11を流す。
、光学系を通るレーザ光の一部を受光することにより、
半導体レーザ1の光出力をモニタする。3は再生パワー
を決める電流源であり、再生電流I0を流す。4は光検
出器2からの出力に従って再生電流10の大きさを制御
するパワーサーボ回路である。6は記録時のバイアスパ
ワーを決める電流源であり、バイアス電流11を流す。
8は記録時のピークパワーを決める電流源であり、ピー
ク電流I2を流す。5はモード切換回路であり、モード
信号aにより、記録と再生とのモードを切換える。7は
スイッチング回路であり、変調信号すにより、オン−オ
フする。
ク電流I2を流す。5はモード切換回路であり、モード
信号aにより、記録と再生とのモードを切換える。7は
スイッチング回路であり、変調信号すにより、オン−オ
フする。
まず、再生モードの動作について説明する。
入力端子1oからモード信号aを入力し、モード切換回
路6を開く。このとき半導体レーザ1には再生電流I0
が流れ、再生パワーP0で発光する。
路6を開く。このとき半導体レーザ1には再生電流I0
が流れ、再生パワーP0で発光する。
つぎに、記録モードでは、モード信号aによりモード切
換回路5を閉じる。入力端子9より変調信号すを入力し
、変調信号が”1′”の時、スイッチング回路7を閉じ
、”O”の時は開く。
換回路5を閉じる。入力端子9より変調信号すを入力し
、変調信号が”1′”の時、スイッチング回路7を閉じ
、”O”の時は開く。
変調信号がパ0”の場合、半導体レーザ1には、再生電
流とバイアス電流の和: I。−1−71が流れ、バイ
アスパワーPbて発光する。また、変調信号が”1″の
場合、さらにピーク電流I2が加わり、合計工。+11
+I2の電流が流れ、半導体レーザ1は、ピークパワー
Ppで発光する。
流とバイアス電流の和: I。−1−71が流れ、バイ
アスパワーPbて発光する。また、変調信号が”1″の
場合、さらにピーク電流I2が加わり、合計工。+11
+I2の電流が流れ、半導体レーザ1は、ピークパワー
Ppで発光する。
つきにパワーサーボ回路について説明する。一般に半導
体レーザは、温度変化により光出力が変化する。これを
第4図に示す。温度がtからt′へ上昇した場合、同じ
電流Iを流しても光出力は低下する(P−+P’)。光
出力を一定にするため、半導体レーザに流れる電流をI
からI′へ増加させなければならない。この制御を行な
うのが、パワーサーボ回路である。パワーサーボ回路の
構成を第5図に示す。半導体レーザ1の光出力を光検出
器2で受光し、受光量の変化は、光検出器2を流れるモ
ニタ電流工。の変化で表わすことができる。光検出器と
して、例えば、PINホトダイオードなどが使用できる
、オペアンプ11は、抵抗12をRmとし、基準電圧源
13をvRとすれば、モニタ電流−の変化により、比較
電圧vfn==VR−工mR1nを出力する。切換回路
14はモード信号aにより、トランジスタ160ベース
の接続を切換える。再生モードの場合、ベースの端子α
をオペアンプ11からの端子βへ接続する。これにより
、トランジスタ16のベースに比較電圧Vエカ功口わり
、トランジスタ16に流れるコレクタ電流、即ち、半導
体レーザの駆動電流が制御される。
体レーザは、温度変化により光出力が変化する。これを
第4図に示す。温度がtからt′へ上昇した場合、同じ
電流Iを流しても光出力は低下する(P−+P’)。光
出力を一定にするため、半導体レーザに流れる電流をI
からI′へ増加させなければならない。この制御を行な
うのが、パワーサーボ回路である。パワーサーボ回路の
構成を第5図に示す。半導体レーザ1の光出力を光検出
器2で受光し、受光量の変化は、光検出器2を流れるモ
ニタ電流工。の変化で表わすことができる。光検出器と
して、例えば、PINホトダイオードなどが使用できる
、オペアンプ11は、抵抗12をRmとし、基準電圧源
13をvRとすれば、モニタ電流−の変化により、比較
電圧vfn==VR−工mR1nを出力する。切換回路
14はモード信号aにより、トランジスタ160ベース
の接続を切換える。再生モードの場合、ベースの端子α
をオペアンプ11からの端子βへ接続する。これにより
、トランジスタ16のベースに比較電圧Vエカ功口わり
、トランジスタ16に流れるコレクタ電流、即ち、半導
体レーザの駆動電流が制御される。
このサーボ回路で、半導体レーザ1の光出力が低下する
と光検出器2の電流が減少し、比較電圧vmが大きくな
り、トランジスタ15を流れる駆動電流が増加し、半導
体レーザ1の光出力が増加する。また、半導体レーザ1
の光出力が増加した場合には、前記と逆方向の制御がか
かる。以上のようにパワーサーボ回路は、再生パワーを
常に一定に保つように制御を行なう。
と光検出器2の電流が減少し、比較電圧vmが大きくな
り、トランジスタ15を流れる駆動電流が増加し、半導
体レーザ1の光出力が増加する。また、半導体レーザ1
の光出力が増加した場合には、前記と逆方向の制御がか
かる。以上のようにパワーサーボ回路は、再生パワーを
常に一定に保つように制御を行なう。
また、サンプルスイッチ16は、モード信号aにより制
御され、再生モードで閉じ、記録モードで開く、再生モ
ードでは、オペアンプ11からの比較電圧v!nをホー
ルドコンデンサ17へ加える。
御され、再生モードで閉じ、記録モードで開く、再生モ
ードでは、オペアンプ11からの比較電圧v!nをホー
ルドコンデンサ17へ加える。
記録モードでは、サンプルスイッチ16を[、切換回路
14は、端子αを端子βへ接続する。ホールドコンデン
サ17で保持した比較電圧はvmはオペアンプ18.切
換回路14を通りトランジスタ15のベースへ加わり、
半導体レーザ1の駆動電流を保持する。なお、オペアン
プ18はホールドコンデンサ17で比較電圧vmを保持
するためインピーダンスの変換を行なうものである。
14は、端子αを端子βへ接続する。ホールドコンデン
サ17で保持した比較電圧はvmはオペアンプ18.切
換回路14を通りトランジスタ15のベースへ加わり、
半導体レーザ1の駆動電流を保持する。なお、オペアン
プ18はホールドコンデンサ17で比較電圧vmを保持
するためインピーダンスの変換を行なうものである。
以上のように記録モードでは、再生モードでの駆動電流
(再生電流I0に対応する)を保持し、これにバイアス
電流11.ピーク電流I2を重畳するように構成してい
る。このように記録モードではサーボ制御を行なってい
ないため、記録中に温度変化等により、光出力が変化し
良好な記録ができなくなる。そのため、記録モードでは
、連続記録時間を短かくし、一定の時間毎に再生モード
に切換え、パワー制御を行なう必要がある。
(再生電流I0に対応する)を保持し、これにバイアス
電流11.ピーク電流I2を重畳するように構成してい
る。このように記録モードではサーボ制御を行なってい
ないため、記録中に温度変化等により、光出力が変化し
良好な記録ができなくなる。そのため、記録モードでは
、連続記録時間を短かくし、一定の時間毎に再生モード
に切換え、パワー制御を行なう必要がある。
例えば、ディジタル信号を記録する場合に用いる変調信
号は、一般に、低域成分が多いため、ピークパワーとバ
イアスパワーは各々別々に制御する必要がある。
号は、一般に、低域成分が多いため、ピークパワーとバ
イアスパワーは各々別々に制御する必要がある。
発明の目的
本発明は、上記欠点に鑑みてなされたものであり、記録
時のピークパワーおよびバイアスパワーに対してもパワ
ー制御を行なうことができる半導体し〜ザ駆動回路を提
供するものである。
時のピークパワーおよびバイアスパワーに対してもパワ
ー制御を行なうことができる半導体し〜ザ駆動回路を提
供するものである。
発明の構成
本発明は、変調信号中のピークパワーとなる符号値で光
検出器の出力をサンプリングするピークサンプルホール
ド回路と、バイアスパワーとなる符号値で光検出器の出
力をサンプリングするバイアスサンプルホールド回路を
備えた半導体レーザ駆動回路であり、ピークサンプルホ
ールド回路のホールド値を°用いてピーク電流を制御し
、バイアスサンプルホールド回路のホールド値を用いて
バイアス電流を制御することにより、記録時に、バイア
スパワーおよびピークパワーを直接制御することのでき
るものである。
検出器の出力をサンプリングするピークサンプルホール
ド回路と、バイアスパワーとなる符号値で光検出器の出
力をサンプリングするバイアスサンプルホールド回路を
備えた半導体レーザ駆動回路であり、ピークサンプルホ
ールド回路のホールド値を°用いてピーク電流を制御し
、バイアスサンプルホールド回路のホールド値を用いて
バイアス電流を制御することにより、記録時に、バイア
スパワーおよびピークパワーを直接制御することのでき
るものである。
実施例の説明
まず、本発明の基本的な構成について、図面を参照しな
がら説明する。第6図は、本発明の第1の実施例におけ
る半導体レーザ駆動回路の基本的な構成を示すものであ
る。第6図において、1は半導体レーザ、2は光検出器
、11はオペアンプ。
がら説明する。第6図は、本発明の第1の実施例におけ
る半導体レーザ駆動回路の基本的な構成を示すものであ
る。第6図において、1は半導体レーザ、2は光検出器
、11はオペアンプ。
12は抵抗、13は再生用基準電圧源、16はトランジ
スタであり、以上は第5図の構成と同じものである。1
9はモード切換回路で、モード信号aにより半導体レー
ザ1の接続を切換える。2゜は変調回路で、変調信号す
により半導体レーザ1の接続を切換える。21はオペア
ンプ、22は抵抗、23はバイアス用基準電圧源、24
はトランジスタで、これらによりバイアス電流の大きさ
を制御する。26はオペアンプ、26は抵抗、27はピ
ーク用基準電圧源、28はトランジスタで、これらによ
りピーク電流の大きさを制御する。
スタであり、以上は第5図の構成と同じものである。1
9はモード切換回路で、モード信号aにより半導体レー
ザ1の接続を切換える。2゜は変調回路で、変調信号す
により半導体レーザ1の接続を切換える。21はオペア
ンプ、22は抵抗、23はバイアス用基準電圧源、24
はトランジスタで、これらによりバイアス電流の大きさ
を制御する。26はオペアンプ、26は抵抗、27はピ
ーク用基準電圧源、28はトランジスタで、これらによ
りピーク電流の大きさを制御する。
まず、再生モードの動作について説明する。再生モード
での動作は、第6図のパワーサーボ回路の再生モードの
場合と同様である。再生モードでは、モード信号aによ
り、モード切換回路19は半導体レーザ1からの端子α
を端子βに接続する。
での動作は、第6図のパワーサーボ回路の再生モードの
場合と同様である。再生モードでは、モード信号aによ
り、モード切換回路19は半導体レーザ1からの端子α
を端子βに接続する。
再生パワー比較回路Aでは、オペアンプ11と抵抗12
により、光検出器2からのモニタ電流Irnの大きさと
、再生用基準電圧源13の値v0とを比較し比較電圧■
。。を発生する。これをトランジスタ16のベースへ加
える。トランジスタ15は再生用電流源であり、半導体
レーザ1の光出力を一定ノ再生パワーに制御する。
により、光検出器2からのモニタ電流Irnの大きさと
、再生用基準電圧源13の値v0とを比較し比較電圧■
。。を発生する。これをトランジスタ16のベースへ加
える。トランジスタ15は再生用電流源であり、半導体
レーザ1の光出力を一定ノ再生パワーに制御する。
つぎに記録モードの動作について説明する。記録モード
では、モード切換回路19はモード信号aにより、半導
体レーザ1からの端子αを変調回路20への端子γに接
続する。変調回路2oは変調信号すにより、端子δをバ
イアス電流源のトランジスタ24のコレクタへの端子η
、あるいは、ピーク電流源のトランジスタ28のコレク
タへの端子εに接続し、半導体レーザ1の光出力を変調
にピークパワーを対応させる。バイアス用比較回路Bで
は、モニタ電流工。とバイアス用基準電圧源23(vb
)をオペアンプ21.抵抗22で比較し比較電圧vfn
b をトランジスタ24へ加え、半導体レーザ1の光出
力をバイアスパワーとなるように制御する。また、ピー
ク用比較回路Cでも同様に、モニタ電流−とピーク用基
準電圧源27(vp)をオペアンプ26.抵抗26て比
較し、その比較電圧V。pをトランジスタ28へ加え、
半導体レーザ1の光出力をピークパワーとなるように制
御する。
では、モード切換回路19はモード信号aにより、半導
体レーザ1からの端子αを変調回路20への端子γに接
続する。変調回路2oは変調信号すにより、端子δをバ
イアス電流源のトランジスタ24のコレクタへの端子η
、あるいは、ピーク電流源のトランジスタ28のコレク
タへの端子εに接続し、半導体レーザ1の光出力を変調
にピークパワーを対応させる。バイアス用比較回路Bで
は、モニタ電流工。とバイアス用基準電圧源23(vb
)をオペアンプ21.抵抗22で比較し比較電圧vfn
b をトランジスタ24へ加え、半導体レーザ1の光出
力をバイアスパワーとなるように制御する。また、ピー
ク用比較回路Cでも同様に、モニタ電流−とピーク用基
準電圧源27(vp)をオペアンプ26.抵抗26て比
較し、その比較電圧V。pをトランジスタ28へ加え、
半導体レーザ1の光出力をピークパワーとなるように制
御する。
以上のように、本実施例では再生パワー2バ〆アスバワ
ー、ピークパワーをそれぞれ個別に光検出器2のモニタ
′亀流で検出し、これをそれぞれの基準電圧源と比較し
、モニタ電流が所定の大きさとなるように制御すること
により、半導体レーザ1の光出力を所定のパワーとなる
ように制御することができる。特に、ピークパワーおよ
びバイアスパワーは、変調信号に従い直接、半導体レー
ザり光出力をモニタするため、長時間の連続記録でのパ
ワーサーボが可能となる。
ー、ピークパワーをそれぞれ個別に光検出器2のモニタ
′亀流で検出し、これをそれぞれの基準電圧源と比較し
、モニタ電流が所定の大きさとなるように制御すること
により、半導体レーザ1の光出力を所定のパワーとなる
ように制御することができる。特に、ピークパワーおよ
びバイアスパワーは、変調信号に従い直接、半導体レー
ザり光出力をモニタするため、長時間の連続記録でのパ
ワーサーボが可能となる。
また、本実施例では、変調信号の各符号”0”あるいは
”1′″の全ての場合についてパワーサーボを行なうた
め細かな制御が可能であるが、その反面、変調信号のデ
ータレートが高くなると、同符号の続く期間が短かい場
合に、パワーサーボ回路の動作が追いつかなくなる。
”1′″の全ての場合についてパワーサーボを行なうた
め細かな制御が可能であるが、その反面、変調信号のデ
ータレートが高くなると、同符号の続く期間が短かい場
合に、パワーサーボ回路の動作が追いつかなくなる。
つぎに、変調信号のデータレートが高い場合でも使用で
きる実施例について説明する。第7図は本発明の第2の
実施例における半導体レーザ駆動回路の構成を示すもの
である。第7図において、1は半導体レーザ、2は光検
出器、11,21゜26はオペアンプ、12,22.2
6は抵抗。
きる実施例について説明する。第7図は本発明の第2の
実施例における半導体レーザ駆動回路の構成を示すもの
である。第7図において、1は半導体レーザ、2は光検
出器、11,21゜26はオペアンプ、12,22.2
6は抵抗。
13.23.27はそれぞれ再生用、バイアス用。
ピーク用の基準電圧源、15,24.28は、それぞれ
駆動用のトランジスタ、19はモード切換回路、2oは
変調回路であシ、以上は第6図の構成と同じものである
。29はバイアスサンプルスイッチで、ベイアスサンプ
ル信号Cにより比較電JE vm b をサンプリン
グする。3Qはバイアスホールドコンデンサ、35はオ
ペアンプで、サンプリングした比較電圧■mbをホール
ドする。32はピークサンプルスイッチで、ピークサン
プル信号dにより比較″電圧Vよ をサンプリングする
。
駆動用のトランジスタ、19はモード切換回路、2oは
変調回路であシ、以上は第6図の構成と同じものである
。29はバイアスサンプルスイッチで、ベイアスサンプ
ル信号Cにより比較電JE vm b をサンプリン
グする。3Qはバイアスホールドコンデンサ、35はオ
ペアンプで、サンプリングした比較電圧■mbをホール
ドする。32はピークサンプルスイッチで、ピークサン
プル信号dにより比較″電圧Vよ をサンプリングする
。
33はピークホールドコンデンサ、34はオペアンプで
、サンプリングした比較電圧vm、をホールドする。
、サンプリングした比較電圧vm、をホールドする。
再生モードの動作は、第6図に示した第1の実施例と同
様であるため説明を省略し、記録モードの動作について
説明する。記録モードでのモート電圧vmb、 vmp
を発生する動作も、第1の実施例と同様である。第1の
実施例では、比較電圧を直接電流源のトランジスタ24
.28へ加えて駆動したが、第2の実施例では、この比
較電圧をサンプルホールドした値で電流源を駆動するよ
うに構成している。第7図において、ノくイアスサンプ
ルスイッチ29.バイアスホールドコンデンサー0゜芽
ペアンブ31は、サンプルホールド回路を構成し、バイ
アスサンプル信号Cにより、比較電圧vmb をサンプ
ルホールドする。このホールド電圧をトランジスタ24
のベースへ加え、半導体レーザ1の光出力がバイアスパ
ワーとなるように制御する。
様であるため説明を省略し、記録モードの動作について
説明する。記録モードでのモート電圧vmb、 vmp
を発生する動作も、第1の実施例と同様である。第1の
実施例では、比較電圧を直接電流源のトランジスタ24
.28へ加えて駆動したが、第2の実施例では、この比
較電圧をサンプルホールドした値で電流源を駆動するよ
うに構成している。第7図において、ノくイアスサンプ
ルスイッチ29.バイアスホールドコンデンサー0゜芽
ペアンブ31は、サンプルホールド回路を構成し、バイ
アスサンプル信号Cにより、比較電圧vmb をサンプ
ルホールドする。このホールド電圧をトランジスタ24
のベースへ加え、半導体レーザ1の光出力がバイアスパ
ワーとなるように制御する。
ピークサンプルスイッチ32、ピークホールドコンデン
サ33、オペアンプ34も、同様にサンプルホールド回
路を構成し、ピークサンプル信号dにより、比較電圧v
mpをサンプルホールドする。
サ33、オペアンプ34も、同様にサンプルホールド回
路を構成し、ピークサンプル信号dにより、比較電圧v
mpをサンプルホールドする。
このホールド電圧をトランジスタ28のベースへ加え、
半導体レーザ1の光出力がピークパワーとなるように制
御する。
半導体レーザ1の光出力がピークパワーとなるように制
御する。
つぎに、バイアスサンプル信号Cおよびピークサンプル
信号dについて説明する。これらのサンプル信号は、サ
ンプルホールド回路のホールートコンデンサをチャージ
するために必要な所定の期間以上同じ符号が続く符号パ
ターンを変調信号の中から検出した信号である。第8図
に符号パターン検出回路の構成の一例を示す。第8図に
おいて、35はシフトレジスタ、36はアンドゲート、
37はノアゲートである。第8図では、サンプルホール
ドに必要な期間として、変調信号すの3ビツト分を用い
る場合を示している。変調信号すを、順にシフトレジス
タ35へ入力する。シフトレジス、り36は、変調信号
すを1ビツトずつシフトする。
信号dについて説明する。これらのサンプル信号は、サ
ンプルホールド回路のホールートコンデンサをチャージ
するために必要な所定の期間以上同じ符号が続く符号パ
ターンを変調信号の中から検出した信号である。第8図
に符号パターン検出回路の構成の一例を示す。第8図に
おいて、35はシフトレジスタ、36はアンドゲート、
37はノアゲートである。第8図では、サンプルホール
ドに必要な期間として、変調信号すの3ビツト分を用い
る場合を示している。変調信号すを、順にシフトレジス
タ35へ入力する。シフトレジス、り36は、変調信号
すを1ビツトずつシフトする。
アンドゲート36は、シフトレジスタの出力が全て1”
のとき1°゛を出力する。つまり、変調信号すが3ビツ
ト以上”1”が連続する場合に、ピークサンプル信号d
が”1”となる。また、ノアゲート37は、シフトレジ
スタの出力が全て°゛0”のとき°°1”を出力する。
のとき1°゛を出力する。つまり、変調信号すが3ビツ
ト以上”1”が連続する場合に、ピークサンプル信号d
が”1”となる。また、ノアゲート37は、シフトレジ
スタの出力が全て°゛0”のとき°°1”を出力する。
つまり、変調信号すで3ビツト以上”0”が連続する場
合に、バイアスサンプル信号Cが”1”となる。
合に、バイアスサンプル信号Cが”1”となる。
以上のように、本実施例では、変調信号から所定の期間
同じ符号が連続するパターンを検出し、この期間に各パ
ワーの比較回路の比較電圧をサンプリングし、その他の
期間はホールドし、これKより半導体レーザの駆動電流
を制御する構成とすることにより、変調信号のデータレ
ートが高い場ムでも、安定な制御を行なうことができる
。
同じ符号が連続するパターンを検出し、この期間に各パ
ワーの比較回路の比較電圧をサンプリングし、その他の
期間はホールドし、これKより半導体レーザの駆動電流
を制御する構成とすることにより、変調信号のデータレ
ートが高い場ムでも、安定な制御を行なうことができる
。
なお、2つの実施例では、半導体レーザを再生パワー、
バイアスパワー、ピークパワーで発光させるために、そ
れぞれ単独の電流源を用い、モード信号、変調信号でこ
れらを切換えることにより行なう構成としたが、従来例
に示したように、3つの電流源の電流を加えることによ
り各パワーの光出力を得る構成とすることもできる。
バイアスパワー、ピークパワーで発光させるために、そ
れぞれ単独の電流源を用い、モード信号、変調信号でこ
れらを切換えることにより行なう構成としたが、従来例
に示したように、3つの電流源の電流を加えることによ
り各パワーの光出力を得る構成とすることもできる。
また、変調信号の0″に対してバイアスパワ−Pbを対
応させたが、バイアスパワーによる予熱効果を利用しな
い場合等は、Pb=oとしても良い。
応させたが、バイアスパワーによる予熱効果を利用しな
い場合等は、Pb=oとしても良い。
発明の効果
以上のように本発明は、半導体レーザの光出力を検出す
る光検出器を有し、変調信号中のピークパワーとなる符
号値で光検出器の出力と基準値を比較して所定のピーク
パワーとなるように制御し、変調信号中のバイアスパワ
ーとなる符号値で光検出器の出力を比較して所定のバイ
アスパワーとなるように制御することにより、記録中に
、バイアスパワーおよびピークパワーを直接制御するこ
とができ、そのため長時間の連続記録の場合にもパワー
制御を行なうことができ、その実用的効果は大なるもの
がある。
る光検出器を有し、変調信号中のピークパワーとなる符
号値で光検出器の出力と基準値を比較して所定のピーク
パワーとなるように制御し、変調信号中のバイアスパワ
ーとなる符号値で光検出器の出力を比較して所定のバイ
アスパワーとなるように制御することにより、記録中に
、バイアスパワーおよびピークパワーを直接制御するこ
とができ、そのため長時間の連続記録の場合にもパワー
制御を行なうことができ、その実用的効果は大なるもの
がある。
第1図は、半導体レーザの光出力を示す特性図、第2図
は記録および再生時の半導体レーザの光出力を示す模式
図、第3図は従来の半導体レーザ駆動回路の構成を示す
ブロック図、第4図は半導体レーザの光出力の温度特性
図、第6図はパワーサーボ回路の構成を示す回路図、第
6図は本発明の第1の実施例における半導体レーザ駆動
回路を示す回路図、第7図は本発明の第2の実施例にお
ける半導体レーザ駆動回路を示す回路図、第8図は本発
明の第2の実施例における符号パターン検出回路を示す
回路図である。 1・・・・・・半導体レーザ、2・・・・・・光検出器
、16゜24.28・・・・・・電流源、A、B、C・
・・・・・比較回路、D、 E・・・・・・サンプルホ
ールド回路0代理人の氏名 弁理士 中 尾 敏 男
ほか1名第1図 光出力 第2図 第5図 第6図 第8図 ?く −41’
は記録および再生時の半導体レーザの光出力を示す模式
図、第3図は従来の半導体レーザ駆動回路の構成を示す
ブロック図、第4図は半導体レーザの光出力の温度特性
図、第6図はパワーサーボ回路の構成を示す回路図、第
6図は本発明の第1の実施例における半導体レーザ駆動
回路を示す回路図、第7図は本発明の第2の実施例にお
ける半導体レーザ駆動回路を示す回路図、第8図は本発
明の第2の実施例における符号パターン検出回路を示す
回路図である。 1・・・・・・半導体レーザ、2・・・・・・光検出器
、16゜24.28・・・・・・電流源、A、B、C・
・・・・・比較回路、D、 E・・・・・・サンプルホ
ールド回路0代理人の氏名 弁理士 中 尾 敏 男
ほか1名第1図 光出力 第2図 第5図 第6図 第8図 ?く −41’
Claims (3)
- (1)半導体レーザを光出力の大きいピークパワーと光
出力の小さいバイアスパワーの2値で変調信号に従い光
出力を変調するように構成し、前記半導体レーザの光出
力を検出する光検出器を有し、変調信号中のピークパワ
ーとなる符号値の期間で光検出器の出力とピークの基準
値を比較するピーク比較回路と、この出力により半導体
レーザの駆動電流を制御するピーク電流源と、変調信号
中のバイアスパワーとなる符号値の期間で光検出器の出
力とバイアスの基準値を比較するバイアス比較回路と、
この出力により半導体レーザの駆動電流を制御するバイ
アス電流源を具備し、ピークパワーおよびバイアスパワ
ーを所定の大きさに保つことを特徴とする半導体レーザ
駆動回路。 - (2)変調信号中のピークパワーとなる符号値の期間で
ピーク比較回路の出力をサンプリングするピークサンプ
ルホールド回路と、この回路のホールド出力により半導
体レーザの駆動電流を制御するピーク電流源と、変調信
号中のバイアスパワーとなる符号値の期間でバイアス比
較回路の出力をサンプリングするバイアスサンプルホー
ルド回路とこの回路のホールド出力により半導体レーザ
の駆動電流を制御するバイアス電流源を具備することを
特徴とする特許請求の範囲第1項記載の半導体レーザ駆
動回路。 - (3)変調信号中に、所定期間同じ符号が連続する符号
パターンを検出する符号パターン検出回路を有し、ピー
クパワーとなる符号の連続を検出するピークサンプル信
号によりピークサンプルホールド回路でサンプリングし
、バイアスパワーとなる符号の連続を検出するバイアス
サンプル信号によりバイアスサンプルホールド回路でサ
ンプリングすることを特徴とする特許請求の範囲第2項
記載の半導体レーザ駆動回路。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59163110A JPH0626275B2 (ja) | 1984-08-02 | 1984-08-02 | 半導体レ−ザ駆動回路 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59163110A JPH0626275B2 (ja) | 1984-08-02 | 1984-08-02 | 半導体レ−ザ駆動回路 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6142182A true JPS6142182A (ja) | 1986-02-28 |
| JPH0626275B2 JPH0626275B2 (ja) | 1994-04-06 |
Family
ID=15767351
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP59163110A Expired - Lifetime JPH0626275B2 (ja) | 1984-08-02 | 1984-08-02 | 半導体レ−ザ駆動回路 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0626275B2 (ja) |
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4903273A (en) * | 1987-02-28 | 1990-02-20 | U.S. Philips Corp. | Laser diode control method and circuit |
| US5224112A (en) * | 1991-01-31 | 1993-06-29 | Sumitomo Electric Industries, Ltd. | Semiconductor laser device driving circuit |
| JPH06318337A (ja) * | 1994-01-28 | 1994-11-15 | Sharp Corp | 半導体レーザ駆動装置 |
| US5953690A (en) * | 1996-07-01 | 1999-09-14 | Pacific Fiberoptics, Inc. | Intelligent fiberoptic receivers and method of operating and manufacturing the same |
| KR20040051207A (ko) * | 2002-12-12 | 2004-06-18 | 린나이코리아 주식회사 | 가스기기용 단조절밸브의 조립구조 |
| WO2005104099A1 (en) * | 2004-04-19 | 2005-11-03 | Ricoh Company, Ltd. | Recording/reproduction method for optical recording medium, recording condition determining method, recording method, optical disk apparatus, program, and recording medium thereof |
Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS56140477A (en) * | 1980-04-02 | 1981-11-02 | Ricoh Co Ltd | Laser driving control system |
| JPS5840878A (ja) * | 1981-09-04 | 1983-03-09 | Hitachi Ltd | ディジタル光ディスク用半導体レーザの駆動装置 |
| JPS58158051A (ja) * | 1982-03-15 | 1983-09-20 | Toshiba Corp | 光学的記録再生装置 |
-
1984
- 1984-08-02 JP JP59163110A patent/JPH0626275B2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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| JPS56140477A (en) * | 1980-04-02 | 1981-11-02 | Ricoh Co Ltd | Laser driving control system |
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| US5953690A (en) * | 1996-07-01 | 1999-09-14 | Pacific Fiberoptics, Inc. | Intelligent fiberoptic receivers and method of operating and manufacturing the same |
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| WO2005104099A1 (en) * | 2004-04-19 | 2005-11-03 | Ricoh Company, Ltd. | Recording/reproduction method for optical recording medium, recording condition determining method, recording method, optical disk apparatus, program, and recording medium thereof |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0626275B2 (ja) | 1994-04-06 |
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