JPH02246027A - 半導体レーザ駆動回路 - Google Patents
半導体レーザ駆動回路Info
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- JPH02246027A JPH02246027A JP1067073A JP6707389A JPH02246027A JP H02246027 A JPH02246027 A JP H02246027A JP 1067073 A JP1067073 A JP 1067073A JP 6707389 A JP6707389 A JP 6707389A JP H02246027 A JPH02246027 A JP H02246027A
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- voltage
- semiconductor laser
- monitor
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は光学的に記録・消去・再生できる光ディスクに
情報を記録あるいは消去し、この光ディスクから記録し
た情報を再生する記録・消去可能な光デイスク装置に用
いる半導体レーザ駆動回路に関するものである。
情報を記録あるいは消去し、この光ディスクから記録し
た情報を再生する記録・消去可能な光デイスク装置に用
いる半導体レーザ駆動回路に関するものである。
従来の技術
第３図に従来の半導体レーザ駆動回路の構成図を示す。
構成は大きく分けると上半分の再生・消去系と下半分の
記録系になる。まず再生・消去系から説明する。半導体
レーザ１の光出力を光検出器２で受光し、光検出器２の
モニター電流１．を抵抗４と電流電圧変換器３がモニタ
ー電圧ｖＭに変換する。電流電圧変換効率は抵抗４の大
きさで決まる。以降電流電圧変換効率は、抵抗４の大き
さで表すものとする。モニター電圧■２と光出力の再生
を決める基準電圧ｖＰ Ｌ ＋ あるいは消去の基準電
圧ｖｍｓとの比較をサーボアンプ１の５が行い。
記録系になる。まず再生・消去系から説明する。半導体
レーザ１の光出力を光検出器２で受光し、光検出器２の
モニター電流１．を抵抗４と電流電圧変換器３がモニタ
ー電圧ｖＭに変換する。電流電圧変換効率は抵抗４の大
きさで決まる。以降電流電圧変換効率は、抵抗４の大き
さで表すものとする。モニター電圧■２と光出力の再生
を決める基準電圧ｖＰ Ｌ ＋ あるいは消去の基準電
圧ｖｍｓとの比較をサーボアンプ１の５が行い。
その出力を１０のＳ／Ｉ（１がサンプルホールドする。
基準電圧Ｖｐｔ、Ｖｓｓは６，７１７）スイッチＳＷ１
゜ＳＷ２の制御で選択される。１０のＳ／Ｈ１は電流源
１の１１につながり、半導体レーザ１に流す電流を制御
する。
゜ＳＷ２の制御で選択される。１０のＳ／Ｈ１は電流源
１の１１につながり、半導体レーザ１に流す電流を制御
する。
記録系は記録の光出力を決める基準電圧Ｖｒｄ５が記録
の時に１３のスイッチＳＷ３により選択される。記録以
外では１４のスイッチＳＷ４がオンでグランドの電圧ゼ
ロが選択される。１５の基準電圧ＶＦＩＩＦとモニター
電圧ｖＭとの比較をサーボアンプ２の１２が行い、その
出力を１６のＳ／Ｈ２がサンプルホルトする。１６のＳ
／Ｈ２は電流源２の１７につながり、半導体レーザ１に
流す電流を制御する。電流源」と２でホールドした電流
の間で記録データ１９を１８の変調段が変調を行なう。
の時に１３のスイッチＳＷ３により選択される。記録以
外では１４のスイッチＳＷ４がオンでグランドの電圧ゼ
ロが選択される。１５の基準電圧ＶＦＩＩＦとモニター
電圧ｖＭとの比較をサーボアンプ２の１２が行い、その
出力を１６のＳ／Ｈ２がサンプルホルトする。１６のＳ
／Ｈ２は電流源２の１７につながり、半導体レーザ１に
流す電流を制御する。電流源」と２でホールドした電流
の間で記録データ１９を１８の変調段が変調を行なう。
以上のように構成された従来の半導体レーザ駆動回路の
光出力を第４図（ａ）に示す、再生サーボ区間で前記再
生・消去系がサーボ系として動作する。
光出力を第４図（ａ）に示す、再生サーボ区間で前記再
生・消去系がサーボ系として動作する。
消去サーボ区間では、再生・消去系の基準電圧が再生の
ＶＰＬから消去のＶ□になり、光出力が再生から消去に
立ち上がると、前記１０のＳ／Ｈ１がホールド動作にな
り電流源１の消去電流がホールドされる０次に記録サー
ボ区間で記録系の基準電圧がゼロから記録のＶＦＩＩに
なり光出力が記録パワーに立ち上がる。すると前記１６
のＳ／Ｈ２がホールド動作になり電流源２の記録電流が
ホールドされる。記録ホールド区間では、ホールドされ
た２つの電流の間で記録データの変調が行なわれる。
ＶＰＬから消去のＶ□になり、光出力が再生から消去に
立ち上がると、前記１０のＳ／Ｈ１がホールド動作にな
り電流源１の消去電流がホールドされる０次に記録サー
ボ区間で記録系の基準電圧がゼロから記録のＶＦＩＩに
なり光出力が記録パワーに立ち上がる。すると前記１６
のＳ／Ｈ２がホールド動作になり電流源２の記録電流が
ホールドされる。記録ホールド区間では、ホールドされ
た２つの電流の間で記録データの変調が行なわれる。
具体的な例として、第４図（ａ）のように光出力を再生
１ ｍ Ｗ ＋消去１０ ｍ Ｗ ＋記録２０ｍＷに設
定する場合を考える。半導体レーザの光検出器のモニタ
ー電流１．は、第４図（ｂ）のように光出力１ｍＷ当り
１ｍＡ発生するとする。これを光検出器のモニター電流
の感度と呼び、以降１ｍＡ／ｍＷと表わす。
１ ｍ Ｗ ＋消去１０ ｍ Ｗ ＋記録２０ｍＷに設
定する場合を考える。半導体レーザの光検出器のモニタ
ー電流１．は、第４図（ｂ）のように光出力１ｍＷ当り
１ｍＡ発生するとする。これを光検出器のモニター電流
の感度と呼び、以降１ｍＡ／ｍＷと表わす。
この時前記電流電圧変換器３の抵抗４がＩＫΩとすると
、モニター電圧■２はモニター電流ｒ工に抵抗ＩＫΩを
かけて、第４図（Ｃ）のようになる。
、モニター電圧■２はモニター電流ｒ工に抵抗ＩＫΩを
かけて、第４図（Ｃ）のようになる。
つまり、再生で１ボルト、消去で１０ボルト、記録で２
０ボルトのモニター電圧Ｖ、が得られる。
０ボルトのモニター電圧Ｖ、が得られる。
これが回路内での光出力を設定するための基準電圧Ｖ□
、Ｖ、、、Ｖ□としてそれぞれ設定される。
、Ｖ、、、Ｖ□としてそれぞれ設定される。
発明が解決しようとする課題
しかしながら上記のような構成では、光検出器のモニタ
ー電流の感度が異なる半導体レーザを接続した場合に、
設定される光出力が変化するため、３つの基準電圧を再
度設定しなければいけないという問題点を有していた。
ー電流の感度が異なる半導体レーザを接続した場合に、
設定される光出力が変化するため、３つの基準電圧を再
度設定しなければいけないという問題点を有していた。
例えば、従来例で半導体レーザが変わって、光検出器の
モニター電流の感度が１ｍＡ／ｍＷから、０．５ｍＡ／
ｍＷと半分になったとする。基準電圧と電流電圧変換器
３の抵抗４が同じであるなら、再生時には基準電圧が１
ボルトのためモニター電流は１ｍＡになるようサーボが
かかる。光検出器のモニター電流１ｍＡでは、感度０．
５ｍＡ／ｍＷから換算すると光出力が２ｍＷ出ることに
なり、感度が１ｍＡ／ｍＷの半導体レーザの光出力の時
の１ｍＷに比べると２倍の光出力になる。こは再生以外
の消去、記録についても同じで従来の光出力の２倍、つ
まり消去が２０ｍＷ、記録が４０ｍＷになる。この様子
を第４図（ｄ）に示す。
モニター電流の感度が１ｍＡ／ｍＷから、０．５ｍＡ／
ｍＷと半分になったとする。基準電圧と電流電圧変換器
３の抵抗４が同じであるなら、再生時には基準電圧が１
ボルトのためモニター電流は１ｍＡになるようサーボが
かかる。光検出器のモニター電流１ｍＡでは、感度０．
５ｍＡ／ｍＷから換算すると光出力が２ｍＷ出ることに
なり、感度が１ｍＡ／ｍＷの半導体レーザの光出力の時
の１ｍＷに比べると２倍の光出力になる。こは再生以外
の消去、記録についても同じで従来の光出力の２倍、つ
まり消去が２０ｍＷ、記録が４０ｍＷになる。この様子
を第４図（ｄ）に示す。
つまり、基準電圧と電流電圧変換器の抵抗が一定で、光
検出器の光出力に対するモニター電流の感度が半分の半
導体レーザになると、設定される光出力が２倍になり、
光検出器の光出力に対するモニター電流の感度が２倍の
半導体レーザでは、設定される光出力が２分の１になる
。
検出器の光出力に対するモニター電流の感度が半分の半
導体レーザになると、設定される光出力が２倍になり、
光検出器の光出力に対するモニター電流の感度が２倍の
半導体レーザでは、設定される光出力が２分の１になる
。
このため半導体レーザ毎に異なる光検出器のモニター電
流の感度の違いによる光出力の変化を吸収して同じ光出
力にするため、再生、消去、記録の基準電圧を設定し直
す必要がある。これは半導体レーザを接続する毎に、３
つの基準電圧を調整するため、調整箇所が多く半導体レ
ーザ駆動回路の信頼性が低下するという問題点を有して
いた。
流の感度の違いによる光出力の変化を吸収して同じ光出
力にするため、再生、消去、記録の基準電圧を設定し直
す必要がある。これは半導体レーザを接続する毎に、３
つの基準電圧を調整するため、調整箇所が多く半導体レ
ーザ駆動回路の信頼性が低下するという問題点を有して
いた。
本発明はかかる点に鑑み、電流電圧変換器の電流電圧変
換効率を可変として光検出器のモニター電流の感度の違
いを吸収して、再生、消去、記録の３つの基準電圧の調
整をなくし信頼性の高い半導体レーザ駆動回路を提供す
ることを目的とする。
換効率を可変として光検出器のモニター電流の感度の違
いを吸収して、再生、消去、記録の３つの基準電圧の調
整をなくし信頼性の高い半導体レーザ駆動回路を提供す
ることを目的とする。
課題を解決するための手段
本発明は半導体レーザの光出力を受光し光出力に応じた
モニター電流を発生する光検出器と、モニター電流をモ
ニター電圧に変換する電流電圧変換器と、設定光出力を
決めるための基準電圧発生手段と、モニター電流の感度
が異なる光検出器を用いて基準電圧に対する設定光出力
が同じになるよう前記電流電圧変換器の電流電圧変換効
率を可変とする手段とを備えた半導体レーザ駆動回路で
ある。
モニター電流を発生する光検出器と、モニター電流をモ
ニター電圧に変換する電流電圧変換器と、設定光出力を
決めるための基準電圧発生手段と、モニター電流の感度
が異なる光検出器を用いて基準電圧に対する設定光出力
が同じになるよう前記電流電圧変換器の電流電圧変換効
率を可変とする手段とを備えた半導体レーザ駆動回路で
ある。
作用
本発明は前記した構成により、光検出器のモニター電流
の感度が異なる半導体レーザに対して、電流電圧変換器
の変換効率を可変にすることで感度差を吸収して、設定
光出力を同一にし、再生。
の感度が異なる半導体レーザに対して、電流電圧変換器
の変換効率を可変にすることで感度差を吸収して、設定
光出力を同一にし、再生。
消去、記録の３つの基準電圧の調整をなくし、半導体レ
ーザ駆動回路の信親性を向上した。
ーザ駆動回路の信親性を向上した。
実施例
第１図は本発明の一実施例における半導体レーザ駆動回
路の構成を示す。
路の構成を示す。
第１図において先に説明した第３図の従来例に追加変更
した部分の説明を行なう、２０は電流電圧変換器３の抵
抗を可変にして電流電圧変換効率を変えるようにした。
した部分の説明を行なう、２０は電流電圧変換器３の抵
抗を可変にして電流電圧変換効率を変えるようにした。
基準電圧は調整する必要がないため、電圧の可変部をな
くした。
くした。
以上のように構成された半導体レーザ駆動回路の動作を
第２図で説明する。先の従来例と同じように、光出力を
再生１ｍＷ、消去１０ｍＷ、記録２０ｍＷに設定する場
合を考える。半導体レーザの光検出器のモニターｉｉｒ
、の感度を先の従来例と同じ＜１ｍＡ／ｍＷと０．５ｍ
Ａ／ｍＷの２種とする。光出力を設定する基準電圧は、
再生１ボルト、消去１０ボルト、記録２０ポルトで一定
である。
第２図で説明する。先の従来例と同じように、光出力を
再生１ｍＷ、消去１０ｍＷ、記録２０ｍＷに設定する場
合を考える。半導体レーザの光検出器のモニターｉｉｒ
、の感度を先の従来例と同じ＜１ｍＡ／ｍＷと０．５ｍ
Ａ／ｍＷの２種とする。光出力を設定する基準電圧は、
再生１ボルト、消去１０ボルト、記録２０ポルトで一定
である。
最初にモニター電流■２の感度が１ｍＡ／ｍＷの半導体
レーザの時には、電流電圧変換器３の可変抵抗２０の値
はＩＫΩに設定され、先の第４図（ハ）のモニター電流
１．と第４図（Ｃ）のモニター電圧■いが得られ、光出
力が再生１ｍｗ、消去１０ｍＷ。
レーザの時には、電流電圧変換器３の可変抵抗２０の値
はＩＫΩに設定され、先の第４図（ハ）のモニター電流
１．と第４図（Ｃ）のモニター電圧■いが得られ、光出
力が再生１ｍｗ、消去１０ｍＷ。
記録２０ｍＷに第４図（ａ）のように設定される。
次に光検出器のモニター電流の感度が、０．５ｍ Ａ
／ ｍ Ｗの半導体レーザの場合を第２図に示す。
／ ｍ Ｗの半導体レーザの場合を第２図に示す。
モニター電流の感度差を吸収して、光出力を設定する基
準電圧と等しいモニター電圧■２になるように、電流電
圧変換器３の可変抵抗の値を２にΩに設定する。すると
再生時のモニター電圧ｌボルトを可変抵抗２にΩでわる
と、モニター電流１゜が第２回部）のように０．５ｍＡ
になる。光検出器のモニター電流が０．５ｍＡだと、モ
ニター電流の感度から光出力が１ｍＷ出ることになる。
準電圧と等しいモニター電圧■２になるように、電流電
圧変換器３の可変抵抗の値を２にΩに設定する。すると
再生時のモニター電圧ｌボルトを可変抵抗２にΩでわる
と、モニター電流１゜が第２回部）のように０．５ｍＡ
になる。光検出器のモニター電流が０．５ｍＡだと、モ
ニター電流の感度から光出力が１ｍＷ出ることになる。
再生と同様、消去、記録の光出力もそれぞれ１０ｍＷ。
２０ｍＷに設定される。
以上のように本実施例によれば、電流電圧変換器の抵抗
を可変にすることにより、半導体レーザ毎に異なる光検
出器のモニター電流の感度差を吸収でき、光出力を設定
する基準電圧の再生、消去。
を可変にすることにより、半導体レーザ毎に異なる光検
出器のモニター電流の感度差を吸収でき、光出力を設定
する基準電圧の再生、消去。
記録の調整をなくし、半導体レーザ駆動回路の信輔性を
向上させることができる。
向上させることができる。
なお、本実施例において電流電圧変換器のフィードバッ
ク抵抗を可変抵抗として光検出器の感度差を吸収したが
、これはフィードバック抵抗を固定にし電流電圧変換器
の出力を可変とする事で光検出器の感度差を吸収しても
よい。
ク抵抗を可変抵抗として光検出器の感度差を吸収したが
、これはフィードバック抵抗を固定にし電流電圧変換器
の出力を可変とする事で光検出器の感度差を吸収しても
よい。
また、電流電圧変換器の電流電圧変換効率を可変にする
手段は、抵抗を可変にしたが、電流電圧の変換効率が変
わるものであれば何でもよい。
手段は、抵抗を可変にしたが、電流電圧の変換効率が変
わるものであれば何でもよい。
また、本実施例では光出力を再生、消去、記録。
の３つに設定したが、再生、記録の２つあるいは、再生
と３つ以上の光出力の設定についても、同様に適用でき
るのは言うまでもない。
と３つ以上の光出力の設定についても、同様に適用でき
るのは言うまでもない。
発明の詳細
な説明したように、本発明によれば、電流電圧変換器の
電流電圧変換効率を可変にすることにより、半導体レー
ザ毎に異なる光検出器のモニター電流の感度差を吸収で
き、光出力を設定する基準電圧の再生、消去、記録の調
整をなくし、半導体レーザ駆動回路の信幀性を向上させ
ることができ、その実用的効果は大きい。
電流電圧変換効率を可変にすることにより、半導体レー
ザ毎に異なる光検出器のモニター電流の感度差を吸収で
き、光出力を設定する基準電圧の再生、消去、記録の調
整をなくし、半導体レーザ駆動回路の信幀性を向上させ
ることができ、その実用的効果は大きい。
第１図は本発明の実施例の半導体レーザ駆動回路の構成
図、第２図は同実施例の動作波形図、第３図は従来の半
導体レーザ駆動回路の構成図、第４図は同従来例の動作
波形図である。 ｌ・・・・・・半導体レーザ、２・・・・−・光検出器
、３・・・・・・電流電圧変換器、５・・・・・・サー
ボアンプ１．１０・・・・・・サンプルホールド１．１
１・・・・・・電流源ｌ、１２・・・・・・サーボアン
プ２．１６・・・・・・サンプルホールド２．１７・・
・・・・電流源２．１８・・・・・・変調段、２０・・
・・・・可変抵抗。 代理人の氏名 弁理士 粟野重孝 はか１名第 図
図、第２図は同実施例の動作波形図、第３図は従来の半
導体レーザ駆動回路の構成図、第４図は同従来例の動作
波形図である。 ｌ・・・・・・半導体レーザ、２・・・・−・光検出器
、３・・・・・・電流電圧変換器、５・・・・・・サー
ボアンプ１．１０・・・・・・サンプルホールド１．１
１・・・・・・電流源ｌ、１２・・・・・・サーボアン
プ２．１６・・・・・・サンプルホールド２．１７・・
・・・・電流源２．１８・・・・・・変調段、２０・・
・・・・可変抵抗。 代理人の氏名 弁理士 粟野重孝 はか１名第 図
Claims (1)
- 半導体レーザの光出力を受光し光出力に応じたモニター
電流を発生する光検出器と、前記モニター電流をモニタ
ー電圧に変換する電流電圧変換器と、設定光出力を決め
るための基準電圧発生手段と、前記基準電圧と前記モニ
ター電圧とを比較して制御電圧を発生するサーボアンプ
と、前記制御電圧により半導体レーザに流す電流を制御
する電流源と、同一光出力に対する前記モニター電流の
大きさが異なる光検出器を用いて前記基準電圧に対する
設定光出力が同じになるよう、前記電流電圧変換器の電
流電圧変換効率を可変とする手段とを備えた半導体レー
ザ駆動回路。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1067073A JPH02246027A (ja) | 1989-03-17 | 1989-03-17 | 半導体レーザ駆動回路 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1067073A JPH02246027A (ja) | 1989-03-17 | 1989-03-17 | 半導体レーザ駆動回路 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH02246027A true JPH02246027A (ja) | 1990-10-01 |
Family
ID=13334325
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1067073A Pending JPH02246027A (ja) | 1989-03-17 | 1989-03-17 | 半導体レーザ駆動回路 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH02246027A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH03147534A (ja) * | 1989-11-02 | 1991-06-24 | Sharp Corp | 光ピックアップ |
Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6220385A (ja) * | 1985-07-18 | 1987-01-28 | Mita Ind Co Ltd | 半導体レ−ザ光出力調整装置 |
| JPH01144243A (ja) * | 1987-11-30 | 1989-06-06 | Toshiba Corp | 情報記録装置 |
| JPH0266884A (ja) * | 1988-08-31 | 1990-03-06 | Olympus Optical Co Ltd | 発光体の光量制御装置 |
-
1989
- 1989-03-17 JP JP1067073A patent/JPH02246027A/ja active Pending
Patent Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6220385A (ja) * | 1985-07-18 | 1987-01-28 | Mita Ind Co Ltd | 半導体レ−ザ光出力調整装置 |
| JPH01144243A (ja) * | 1987-11-30 | 1989-06-06 | Toshiba Corp | 情報記録装置 |
| JPH0266884A (ja) * | 1988-08-31 | 1990-03-06 | Olympus Optical Co Ltd | 発光体の光量制御装置 |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH03147534A (ja) * | 1989-11-02 | 1991-06-24 | Sharp Corp | 光ピックアップ |
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