JPS6149278A - 円形状パタ−ン発生装置 - Google Patents
円形状パタ−ン発生装置Info
- Publication number
- JPS6149278A JPS6149278A JP17048884A JP17048884A JPS6149278A JP S6149278 A JPS6149278 A JP S6149278A JP 17048884 A JP17048884 A JP 17048884A JP 17048884 A JP17048884 A JP 17048884A JP S6149278 A JPS6149278 A JP S6149278A
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- Japan
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- circular
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は円、楕円等の円形状のパターンを′a画する装
置に関するものであり、特にCRT、 ド、ソトプリ
ンク等の画素又はドラトチより規定されて成る出力装置
に円形状のパターンを描画する装置に関する。
置に関するものであり、特にCRT、 ド、ソトプリ
ンク等の画素又はドラトチより規定されて成る出力装置
に円形状のパターンを描画する装置に関する。
CRT、プロッタ等に円又は楕円等の円形状のパターン
を描画することは良く行なわれており、このような描画
装置についてはすでに知られている。
を描画することは良く行なわれており、このような描画
装置についてはすでに知られている。
例えば円パターンを描画する場合、最も一般的な方法と
しては、円の一般式(x −x、 )”+(y −yc
)2=r2、但し、XcI)’eは中心座標、rは円径
、について円の軌跡を二次元のX及びY座標を求めてい
る。一方、CRT等は画素と呼ばれる離散的な最小の区
域が合成されており、円パターンはドツトの1つ1つに
ついて、円パターンに対応するものを選択していくこと
となる。ところが、CRT等ではドツトの数が多くなる
と、まIC大きい円ノ〈ターンヶ描く場合も多くのドツ
トを選択する必要がある。従って対応するドy ) f
1つづつ決定するのに2次式として示される一般的な
円の方程式ヲ解いていると、1つの円ノくターンを発生
させるのには、相尚の処理時間がか\る。
しては、円の一般式(x −x、 )”+(y −yc
)2=r2、但し、XcI)’eは中心座標、rは円径
、について円の軌跡を二次元のX及びY座標を求めてい
る。一方、CRT等は画素と呼ばれる離散的な最小の区
域が合成されており、円パターンはドツトの1つ1つに
ついて、円パターンに対応するものを選択していくこと
となる。ところが、CRT等ではドツトの数が多くなる
と、まIC大きい円ノ〈ターンヶ描く場合も多くのドツ
トを選択する必要がある。従って対応するドy ) f
1つづつ決定するのに2次式として示される一般的な
円の方程式ヲ解いていると、1つの円ノくターンを発生
させるのには、相尚の処理時間がか\る。
か\る問題を解決するものとしては、少くとも1つの象
限についてのみ上記円ノくターンを計算し、他の3つの
象限については1つの象限からの一次的な座標変換にL
り、パターン発生時間を1/4程度にしようとし友もの
がある0しかしながら、ノくターン発生時間を短縮する
という点においては充分でない。
限についてのみ上記円ノくターンを計算し、他の3つの
象限については1つの象限からの一次的な座標変換にL
り、パターン発生時間を1/4程度にしようとし友もの
がある0しかしながら、ノくターン発生時間を短縮する
という点においては充分でない。
このため、円V t=数に分割し、複数の分割点につい
てのみ円の方程式を解き、それらの開音直線で近似する
方法が考えられる。即ち2次式を計算する回数を低減し
てパターン発生時間を帰線しようとするものである。こ
の方法は数多くの分割ケ行うことにニジ近似的に円パタ
ーンを発生させることも可能であるが、一般的にみて円
ノくターンが粗くなるという欠点を有する。特に高密度
CRT等分解能のすぐれたものには、パターンの品質上
適用できない。
てのみ円の方程式を解き、それらの開音直線で近似する
方法が考えられる。即ち2次式を計算する回数を低減し
てパターン発生時間を帰線しようとするものである。こ
の方法は数多くの分割ケ行うことにニジ近似的に円パタ
ーンを発生させることも可能であるが、一般的にみて円
ノくターンが粗くなるという欠点を有する。特に高密度
CRT等分解能のすぐれたものには、パターンの品質上
適用できない。
〔問題を解決する次めの手段及び作用〕本発明は上述の
問題点を解決すべく、ドツト等の画素によシ規定される
許容誤差(分解能)の範囲内で、円状のパターン方程式
を直接解くことをせず一次式などの計算量の少ない処理
によシ円形状のパターンを発生しようとするものである
。
問題点を解決すべく、ドツト等の画素によシ規定される
許容誤差(分解能)の範囲内で、円状のパターン方程式
を直接解くことをせず一次式などの計算量の少ない処理
によシ円形状のパターンを発生しようとするものである
。
本発明においては、離散的な画素により規定され二次元
出力領域を有する出力装置に円形状のパターンを描画す
る九めの円形状パターン発生装置において、画素に対応
する円形状パターンの軌跡に沿って順次前回選択された
円形状パターンの軌跡の一点に対応する画素に隣接する
3画素のうち誤差の最小となるものを次の画素として選
択して円形状画素パターンを発生させることを特徴とす
る、円形状パターン発生装置が提供される。
出力領域を有する出力装置に円形状のパターンを描画す
る九めの円形状パターン発生装置において、画素に対応
する円形状パターンの軌跡に沿って順次前回選択された
円形状パターンの軌跡の一点に対応する画素に隣接する
3画素のうち誤差の最小となるものを次の画素として選
択して円形状画素パターンを発生させることを特徴とす
る、円形状パターン発生装置が提供される。
・本発明の一実施例としてCRT画面上に円パターンを
描画する場合について述べるー 第1図は本発明の円パターン描画装置の構成を示す。当
該描画装置はマイクロプロセッサユニツ)(MPUII
、Xアドレスレジスタ2、Xアドレスレジスタ3、画面
バッファ記憶装!!!4及びCRT表示器5から構成さ
れている。描画すべき円パターンのパラメータとして中
心座標(Xc。
描画する場合について述べるー 第1図は本発明の円パターン描画装置の構成を示す。当
該描画装置はマイクロプロセッサユニツ)(MPUII
、Xアドレスレジスタ2、Xアドレスレジスタ3、画面
バッファ記憶装!!!4及びCRT表示器5から構成さ
れている。描画すべき円パターンのパラメータとして中
心座標(Xc。
Yc)及び半径RがMPUIに印加されている。
これらのパラメータにもとづいてMPUIが円パターン
を発生させ、X方向のドツトアドレスを指定するXアド
レスレジスタ2及びY方向のドツトアドレスを指定する
Xアドレスレジスタ3を介して画面バッファメモリ4の
該尚するドツトが指定され、この画面バッファメモリ4
のドツト内容がCRT表示器5に表示される。
を発生させ、X方向のドツトアドレスを指定するXアド
レスレジスタ2及びY方向のドツトアドレスを指定する
Xアドレスレジスタ3を介して画面バッファメモリ4の
該尚するドツトが指定され、この画面バッファメモリ4
のドツト内容がCRT表示器5に表示される。
本発明の具体的実施例を述べるに先立って本発明の基本
的事項について下記に述べる。
的事項について下記に述べる。
上記の中心座標(Xc 、 Yc )及び半径Rが与
えられた場合、一般に円の方程式は次式で与えられる。
えられた場合、一般に円の方程式は次式で与えられる。
(X−Xc) + (Y−Yc)=R−(13この方
程式について、!2図に図示の如く、例えば始点P8か
ら順次、例えばX方向について、画素としてドツトとし
た場合、1ドツト毎計算し対応するY方向のドラトラ計
算すると、上述の如<ツクターン発生時間が非常にか\
るという問題が生ずる〇一方、CRTの画面上は離散的
なドツトで規定され完全な、すなわち厳密な意味の円と
しては表示されず、部分的に拡大すると第3図に図示の
如くドツトの集合となっている0従って、このドツトの
大きさに規定される以上の精度をもっては。
程式について、!2図に図示の如く、例えば始点P8か
ら順次、例えばX方向について、画素としてドツトとし
た場合、1ドツト毎計算し対応するY方向のドラトラ計
算すると、上述の如<ツクターン発生時間が非常にか\
るという問題が生ずる〇一方、CRTの画面上は離散的
なドツトで規定され完全な、すなわち厳密な意味の円と
しては表示されず、部分的に拡大すると第3図に図示の
如くドツトの集合となっている0従って、このドツトの
大きさに規定される以上の精度をもっては。
円パターンを描画できないのであるが、このドツトに規
定される誤差の範囲内で、第(1)式をそのまま解くこ
となく簡便な方法で、第1式を解いたと同じパターンを
発生することも可能な訳である。
定される誤差の範囲内で、第(1)式をそのまま解くこ
となく簡便な方法で、第1式を解いたと同じパターンを
発生することも可能な訳である。
その方法について述べる0第2図の21点に対応するド
ラトラ第3図のPl 点、座標(X、、Yl)とした場
合、第2図の第1象限についてのパターンを求め工うと
する場合、第3図に斜線で示した隣接するQl 、Q−
Q一点、それぞれの座標は(X、 、 Y、+i )、
(Xl−1、Y1+ 1 )、(X、−1,y、)、
F)いずれか1つが次に続く円パターンに対応するドツ
トであることは明らかである。一般1′こ、Pl 点
の次のドツト点としてはその周囲に8イ12のドツト、
Q1〜Q3+田〜R6が考えられるが、第2南σ)第1
象限について反時計方向に軌跡?とりで円パターンを発
生させ工うとする場合、上記3個のド・、)点Q1〜Q
、のみとなる。次に、これらのドツト点のいずれを選択
するかについて述べる。(I4差(又はずれ)の251
2Aは次式で与えられる。
ラトラ第3図のPl 点、座標(X、、Yl)とした場
合、第2図の第1象限についてのパターンを求め工うと
する場合、第3図に斜線で示した隣接するQl 、Q−
Q一点、それぞれの座標は(X、 、 Y、+i )、
(Xl−1、Y1+ 1 )、(X、−1,y、)、
F)いずれか1つが次に続く円パターンに対応するドツ
トであることは明らかである。一般1′こ、Pl 点
の次のドツト点としてはその周囲に8イ12のドツト、
Q1〜Q3+田〜R6が考えられるが、第2南σ)第1
象限について反時計方向に軌跡?とりで円パターンを発
生させ工うとする場合、上記3個のド・、)点Q1〜Q
、のみとなる。次に、これらのドツト点のいずれを選択
するかについて述べる。(I4差(又はずれ)の251
2Aは次式で与えられる。
A=R2−((Xi −Xc)2+ (7t−)’a)
”) =123j:任意の数 従ってAが最/J\になるL5なドツト点′に選べばL
い。ここで、R,Xc、Yc汀一定であるから、第3図
のQ1〜Q3 と始点P1との間において(Xビ 1
12−X、”=−2X1+1 ・・・(3)(Y
、+ 1)”−Yl”= 2 Y、+ 1
・・・(4)の関係が10られ、この関係を用いて偏差
の最も小さぐなる次のドツトを選択し、これをくり返し
ていけば工い。
”) =123j:任意の数 従ってAが最/J\になるL5なドツト点′に選べばL
い。ここで、R,Xc、Yc汀一定であるから、第3図
のQ1〜Q3 と始点P1との間において(Xビ 1
12−X、”=−2X1+1 ・・・(3)(Y
、+ 1)”−Yl”= 2 Y、+ 1
・・・(4)の関係が10られ、この関係を用いて偏差
の最も小さぐなる次のドツトを選択し、これをくり返し
ていけば工い。
以上述べた方法に従って、マイクロプロセッサが行う処
理を70−チャートで示したものが第4図である。この
例では、@l象限のドツトの座標C,(Xl、 Y、
)について円パターンを形成するドツトを先ず求め、第
2〜6(4象限のドツトの拠標C2〜C1は座標の一次
変換、すなわち、C,(X、 。
理を70−チャートで示したものが第4図である。この
例では、@l象限のドツトの座標C,(Xl、 Y、
)について円パターンを形成するドツトを先ず求め、第
2〜6(4象限のドツトの拠標C2〜C1は座標の一次
変換、すなわち、C,(X、 。
Yl) −Cs (Xs −Yz ) −04(Xl
、η)t−求める工うにしている。
、η)t−求める工うにしている。
先ずパラメータXc 、 Yc 、 R(H入力する(
ステップ5001)o次いで始点P1のドツト座標をX
、;Xc +R,Yl = Ycと定め、偏差の2乗A
の初期値をOとする( S o t) 2 )。以下X
方向のドツトを一つづつ減少させてX1=Xc に一
致するまで。
ステップ5001)o次いで始点P1のドツト座標をX
、;Xc +R,Yl = Ycと定め、偏差の2乗A
の初期値をOとする( S o t) 2 )。以下X
方向のドツトを一つづつ減少させてX1=Xc に一
致するまで。
すなわち@1象限について円のドツトパターンが得られ
るまで下記を反覆する(801)3)。先ず最小職差判
断のための可能性のある隣接するドツト位置に関するパ
ラメータB1 〜B、t−計算する(8004)e、こ
れらのパラメータから最小の誤差となる隣接ドツトを選
択する(S005〜5OO7’)。ステップ5OO8は
第3図においてドツト座標Qs、すなわちX方向ドツト
座標が(Xl−1)となり、Y方向ドツトが前のま\の
状態の座標が選択されtことを示す〇一方、第3象限に
ついてみると、Xc、Yct中心として対称であるから
、X方向は(X2+、17となる。この時のBs ’
x次の誤差判定の友めの値Aとして更新する。ステップ
8009はQz、5OLOはQ、が選(Xl、Y、 )
、 C2(X2 、Yl ) 、C,(X、、Y、)
。
るまで下記を反覆する(801)3)。先ず最小職差判
断のための可能性のある隣接するドツト位置に関するパ
ラメータB1 〜B、t−計算する(8004)e、こ
れらのパラメータから最小の誤差となる隣接ドツトを選
択する(S005〜5OO7’)。ステップ5OO8は
第3図においてドツト座標Qs、すなわちX方向ドツト
座標が(Xl−1)となり、Y方向ドツトが前のま\の
状態の座標が選択されtことを示す〇一方、第3象限に
ついてみると、Xc、Yct中心として対称であるから
、X方向は(X2+、17となる。この時のBs ’
x次の誤差判定の友めの値Aとして更新する。ステップ
8009はQz、5OLOはQ、が選(Xl、Y、 )
、 C2(X2 、Yl ) 、C,(X、、Y、)
。
C4(XI 、Yz )が定まり、これを画像バッファ
記憶部4にストアする。
記憶部4にストアする。
このようにして、本来の円の軌跡に最も近似するドツト
ベースの円パターンが第5図に図示の如く求められる。
ベースの円パターンが第5図に図示の如く求められる。
第5図において曲線CTは本来の′円の軌跡、Cdはド
ツトベースの円ノくターンである。
ツトベースの円ノくターンである。
以上に述べたところから明らかな工うに、本発明におい
ては、パラメータB1〜B、について単なる1次の計算
、及び和、差を計算するのみであるから、従来のように
2次式金牌く場合に比し、著しく計算処理が短縮できる
。一方、本発明によって得られる円パターンは従来のも
のにおいて2次式を解いた場合と同じ精度のものが得ら
れる。
ては、パラメータB1〜B、について単なる1次の計算
、及び和、差を計算するのみであるから、従来のように
2次式金牌く場合に比し、著しく計算処理が短縮できる
。一方、本発明によって得られる円パターンは従来のも
のにおいて2次式を解いた場合と同じ精度のものが得ら
れる。
以上の例示においては、円パターンについて述べ友が、
楕円についても同様に処理することができる。
楕円についても同様に処理することができる。
又、上記の例示はCRTに描画する場合について述べ九
が、ドツトペースで規定されるドツトプリンタ、プリン
タプロッタ等についても同様に適用できる。
が、ドツトペースで規定されるドツトプリンタ、プリン
タプロッタ等についても同様に適用できる。
以上に述べたように本発明によれば、在来の場合と同等
の精度若しくはそれ以上の精度で、迅速に円形状のパタ
ーンを発生させることができる0
の精度若しくはそれ以上の精度で、迅速に円形状のパタ
ーンを発生させることができる0
第1図は本発明の一実施例として円形状パターン発生装
置の構成図、第2図は本発明の円形状パターン描画につ
いの説明図、第3図は第2図の拡大図、第4図は本発明
のパターン発生を示すフローチャート、第5図は本発明
のパターン発生だより描画される円パターン図、である
。 (符号の説明) 1・・・・・・MPU、2・・・・・・Xアドレスレジ
スタ、3・・・・・・Yアドレスレジスタ、4・・・・
・・画面ハッ7ア、5・・・・・・CRTo
置の構成図、第2図は本発明の円形状パターン描画につ
いの説明図、第3図は第2図の拡大図、第4図は本発明
のパターン発生を示すフローチャート、第5図は本発明
のパターン発生だより描画される円パターン図、である
。 (符号の説明) 1・・・・・・MPU、2・・・・・・Xアドレスレジ
スタ、3・・・・・・Yアドレスレジスタ、4・・・・
・・画面ハッ7ア、5・・・・・・CRTo
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、離散的な画素により規定され二次元出力領域を有す
る出力装置に円形状のパターンを抽画するための円形状
パターン発生装置において、画素に対応する円形状パタ
ーンの軌跡に沿って順次前回選択された円形状パターン
の軌跡の一点に対応する画素に隣接する3画素のうち誤
差の最小となるものを次の画素として選択して円形状画
素パターンを発生させることを特徴とする、円形状パタ
ーン発生装置。 2、前記円形状パターンは円パターンであることを特徴
とする、特許請求の範囲第1項に記載の装置。 3、前記円形状パターン発生は1つの象限について行な
い、他の3つの象限については座標の一次変換により行
うことを特徴とする、特許請求の範囲第2項に記載の装
置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP17048884A JPS6149278A (ja) | 1984-08-17 | 1984-08-17 | 円形状パタ−ン発生装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP17048884A JPS6149278A (ja) | 1984-08-17 | 1984-08-17 | 円形状パタ−ン発生装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6149278A true JPS6149278A (ja) | 1986-03-11 |
Family
ID=15905883
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP17048884A Pending JPS6149278A (ja) | 1984-08-17 | 1984-08-17 | 円形状パタ−ン発生装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6149278A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH01286086A (ja) * | 1988-05-13 | 1989-11-17 | Hitachi Ltd | 図形描画方式 |
-
1984
- 1984-08-17 JP JP17048884A patent/JPS6149278A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH01286086A (ja) * | 1988-05-13 | 1989-11-17 | Hitachi Ltd | 図形描画方式 |
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