JPS6150264B2 - - Google Patents
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- JPS6150264B2 JPS6150264B2 JP9726878A JP9726878A JPS6150264B2 JP S6150264 B2 JPS6150264 B2 JP S6150264B2 JP 9726878 A JP9726878 A JP 9726878A JP 9726878 A JP9726878 A JP 9726878A JP S6150264 B2 JPS6150264 B2 JP S6150264B2
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- insulation
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- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 16
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- Testing Relating To Insulation (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は機器絶縁組織の機能を簡便に診断する
絶縁診断方法およびその装置に関するものであ
る。
絶縁診断方法およびその装置に関するものであ
る。
絶縁組織は、使用されている機器の長期間運転
中に生じる種々の電気的、機械的、熱的、化学的
ストレスの作用で劣化し、はなはだしい場合には
絶縁の機能を全とうし得ず、絶縁破壊に達し、重
大な事故を招くことがある。絶縁破壊事故を未然
に防止するためには種々の絶縁診断法が提案され
ている。しかし、機器が設置されている現場で非
破壊方式で信頼に足る絶縁診断を下すためには
種々の障害がある。特に比較的高電圧を印加して
検査する電気試験において交流電圧を用いる場合
には大きな電源容量が必要となり困難なことが多
い。このため直流高電圧電源が利用される。しか
し一般に直流電圧印加方式では交流電圧印加方式
に比し、得られる判断材料が不足する。すなわち
交流印加時には絶縁組織の内部欠陥を敏感に示す
部分放電の発生が容易なため、部分放電検出が可
能であるが、直流印加時には電圧の昇圧もしくは
降圧過程にしか部分放電の発生がみられない。こ
のため直流印加法では従来絶縁抵抗の測定が主体
とならざるを得なかつた。絶縁抵抗測定では絶縁
組織のはがれのような重大な欠陥であつても、吸
湿でもしていない限り検出が困難なことが多い。
中に生じる種々の電気的、機械的、熱的、化学的
ストレスの作用で劣化し、はなはだしい場合には
絶縁の機能を全とうし得ず、絶縁破壊に達し、重
大な事故を招くことがある。絶縁破壊事故を未然
に防止するためには種々の絶縁診断法が提案され
ている。しかし、機器が設置されている現場で非
破壊方式で信頼に足る絶縁診断を下すためには
種々の障害がある。特に比較的高電圧を印加して
検査する電気試験において交流電圧を用いる場合
には大きな電源容量が必要となり困難なことが多
い。このため直流高電圧電源が利用される。しか
し一般に直流電圧印加方式では交流電圧印加方式
に比し、得られる判断材料が不足する。すなわち
交流印加時には絶縁組織の内部欠陥を敏感に示す
部分放電の発生が容易なため、部分放電検出が可
能であるが、直流印加時には電圧の昇圧もしくは
降圧過程にしか部分放電の発生がみられない。こ
のため直流印加法では従来絶縁抵抗の測定が主体
とならざるを得なかつた。絶縁抵抗測定では絶縁
組織のはがれのような重大な欠陥であつても、吸
湿でもしていない限り検出が困難なことが多い。
本発明は以上のような従来法の欠点に鑑みてな
されたもので、比較的軽量な装置を用いて直流高
電圧を直線的に上昇および下降させて印加し、こ
れによつて部分放電を発生させて、従来の交流電
圧印加法と同等以上の豊富な劣化判定データを得
る合理的な絶縁診断方法およびその装置を提供す
るものである。
されたもので、比較的軽量な装置を用いて直流高
電圧を直線的に上昇および下降させて印加し、こ
れによつて部分放電を発生させて、従来の交流電
圧印加法と同等以上の豊富な劣化判定データを得
る合理的な絶縁診断方法およびその装置を提供す
るものである。
第１図は本発明の基本的構成を示すブロツク図
である。第１図において、低圧整流回路１によつ
て直流に変換された電圧は直流交流変換回路２に
よつて数ｋHzの高周波低電圧となる。小形小容量
の高周波昇圧変圧器３を経て高電圧となつた波形
は極性切換器１４および高圧整流回路４を経て正
逆の直流高電圧となつて被試験物８に印加され
る。印加電圧波形は分圧器７によつて分割され、
比較照合器６であらかじめプログラム化された基
準電圧発生器５の出力電圧波形と比較照合され、
過不足が生じていれば低圧整流回路の出力レベル
を減増するよう制御される。被試験物を流れる電
流のうち放電に起因したパルス性電流はパルスト
ランス９によつて検出され、高周波増巾器１０及
び波形整形回路１１を経てパルスカウンタ１３に
よつて試験時に生ずるパルス数の累積個数が表示
される。また分圧器７より供給される印加電圧波
形とともに波形整形回路１１の出力波形が波形記
録計１２に導かれ、放電発生時点が印加電圧波形
との関連で表示される。基準電圧発生器５は直線
昇圧、定電圧保持、直線降圧の指示を出すととも
に降圧後、極性切換器１４に作用して電圧の極性
を反転させる。これによつて正逆に直線的な変化
を繰返す直流高電圧が所定プログラムに従つて発
生し、被試験物に印加される。
である。第１図において、低圧整流回路１によつ
て直流に変換された電圧は直流交流変換回路２に
よつて数ｋHzの高周波低電圧となる。小形小容量
の高周波昇圧変圧器３を経て高電圧となつた波形
は極性切換器１４および高圧整流回路４を経て正
逆の直流高電圧となつて被試験物８に印加され
る。印加電圧波形は分圧器７によつて分割され、
比較照合器６であらかじめプログラム化された基
準電圧発生器５の出力電圧波形と比較照合され、
過不足が生じていれば低圧整流回路の出力レベル
を減増するよう制御される。被試験物を流れる電
流のうち放電に起因したパルス性電流はパルスト
ランス９によつて検出され、高周波増巾器１０及
び波形整形回路１１を経てパルスカウンタ１３に
よつて試験時に生ずるパルス数の累積個数が表示
される。また分圧器７より供給される印加電圧波
形とともに波形整形回路１１の出力波形が波形記
録計１２に導かれ、放電発生時点が印加電圧波形
との関連で表示される。基準電圧発生器５は直線
昇圧、定電圧保持、直線降圧の指示を出すととも
に降圧後、極性切換器１４に作用して電圧の極性
を反転させる。これによつて正逆に直線的な変化
を繰返す直流高電圧が所定プログラムに従つて発
生し、被試験物に印加される。
また装置の電源が交流ではなく、蓄電池等の直
流を利用することが考えられる。この場合は低圧
整流回路１の前段に直流交流変換回路を組込むこ
とで簡単に実現できる。また被試験物８と直列に
直流電流検出回路を挿入すれば従来の絶縁抵抗計
としての機能ももたせることができる。上記した
本発明の絶縁診断装置を用いると従来の診断装置
に比し、次のような利点が生ずる。すなわち従来
の印加電圧波形は第２図Ａに示すように昇圧およ
び降圧波形にはほとんど関心が向けられない結
果、大部分が被試験物の静電容量と直流電源の制
限抵抗、交流側昇圧速度できまる波形となつてい
る。そのため指数関数的に上昇および下降曲線を
描く例が多い。この時生ずる放電パルス位相は第
２図Ｂのようになる。すなわち放電パルスは電圧
変化速度の大きな初期に集中して発生し、電圧変
化が緩やかになると放電パルスは発生し難くな
る。このため、もし測定環境に恵まれず外部雑音
の多い状態で放電計測を行なう時には、一度この
放電集中時期を妨害されて計測を失敗すると、容
易に再計測ができない。理論的には昇圧過程で失
敗しても、降圧過程で再計測ができることになる
が、実際は電極構成の非対称性のために一度たい
積した電荷は降圧過程では放電しない場合が非常
に多い。再度昇圧しても、たい積電荷の放電が不
充分のため、新たな放電検出は不可能である。こ
れが直流電圧での放電検出を困難としていた理由
である。次に第３図Ａは本発明による印加電圧波
形を示す。本波形によれば以上の欠点がとり除か
れる。まず昇圧、降圧過程が意図的に直線変化す
るから、第３図Ｂに示すように放電発生間隔に疎
密がなくなり、検出の失敗がなくなる。さらに降
圧後極性反転によつて逆極性に等速度で昇圧する
直流電圧が印加されるため、部分放電検出からみ
た印加直流電圧は、従来の方法に比し２倍の大き
さで加えられることになり、検出能力が増大す
る。直流印加法の欠点である片極性偏充電のへい
害はこの両極性印加により解決される。もちろん
定電圧保持期間を利用すれば従来の絶縁抵抗時間
特性の測定が可能である。
流を利用することが考えられる。この場合は低圧
整流回路１の前段に直流交流変換回路を組込むこ
とで簡単に実現できる。また被試験物８と直列に
直流電流検出回路を挿入すれば従来の絶縁抵抗計
としての機能ももたせることができる。上記した
本発明の絶縁診断装置を用いると従来の診断装置
に比し、次のような利点が生ずる。すなわち従来
の印加電圧波形は第２図Ａに示すように昇圧およ
び降圧波形にはほとんど関心が向けられない結
果、大部分が被試験物の静電容量と直流電源の制
限抵抗、交流側昇圧速度できまる波形となつてい
る。そのため指数関数的に上昇および下降曲線を
描く例が多い。この時生ずる放電パルス位相は第
２図Ｂのようになる。すなわち放電パルスは電圧
変化速度の大きな初期に集中して発生し、電圧変
化が緩やかになると放電パルスは発生し難くな
る。このため、もし測定環境に恵まれず外部雑音
の多い状態で放電計測を行なう時には、一度この
放電集中時期を妨害されて計測を失敗すると、容
易に再計測ができない。理論的には昇圧過程で失
敗しても、降圧過程で再計測ができることになる
が、実際は電極構成の非対称性のために一度たい
積した電荷は降圧過程では放電しない場合が非常
に多い。再度昇圧しても、たい積電荷の放電が不
充分のため、新たな放電検出は不可能である。こ
れが直流電圧での放電検出を困難としていた理由
である。次に第３図Ａは本発明による印加電圧波
形を示す。本波形によれば以上の欠点がとり除か
れる。まず昇圧、降圧過程が意図的に直線変化す
るから、第３図Ｂに示すように放電発生間隔に疎
密がなくなり、検出の失敗がなくなる。さらに降
圧後極性反転によつて逆極性に等速度で昇圧する
直流電圧が印加されるため、部分放電検出からみ
た印加直流電圧は、従来の方法に比し２倍の大き
さで加えられることになり、検出能力が増大す
る。直流印加法の欠点である片極性偏充電のへい
害はこの両極性印加により解決される。もちろん
定電圧保持期間を利用すれば従来の絶縁抵抗時間
特性の測定が可能である。
波形記録計は印加直流波形に対応して放電パル
ス発生位相を第３図Ｂのように表示する。これに
よつて絶縁物の吸湿の程度が推定できる。すなわ
ち乾燥した絶縁物では、印加電圧波形の変化過程
でしか放電は容易には生じないが、吸湿すると定
電圧時期にも頻繁に生ずることが研究の結果わか
つた。従つてパルス発生位相表示器は絶縁診断上
極めて有効である。
ス発生位相を第３図Ｂのように表示する。これに
よつて絶縁物の吸湿の程度が推定できる。すなわ
ち乾燥した絶縁物では、印加電圧波形の変化過程
でしか放電は容易には生じないが、吸湿すると定
電圧時期にも頻繁に生ずることが研究の結果わか
つた。従つてパルス発生位相表示器は絶縁診断上
極めて有効である。
試験中に生ずるパルス累積発生数を表示するこ
とによつて、劣化の進行状況が容易に数値化され
る。また、部分放電計測は再現性がなければ判定
を誤まることになるが、本方法では正負両極性の
直流電圧がくり返し印加できるため、容易に再現
性のチエツクができる利点を有している。
とによつて、劣化の進行状況が容易に数値化され
る。また、部分放電計測は再現性がなければ判定
を誤まることになるが、本方法では正負両極性の
直流電圧がくり返し印加できるため、容易に再現
性のチエツクができる利点を有している。
以上説明したように本発明によれば、比較的小
形な装置を用いて正逆両極性で交互に直線的な電
圧上昇下降を繰返す直流高電圧を絶縁物に印加
し、これによつて絶縁物のたい積電荷の影響を無
くし、部分放電パルスの発生を均一にし、さらに
再現性を向上して測定精度を高めると共に、発生
パルスを計数することによつて絶縁度を数値化し
て測定できる合理的な絶縁診断方法およびその装
置を得ることができる。
形な装置を用いて正逆両極性で交互に直線的な電
圧上昇下降を繰返す直流高電圧を絶縁物に印加
し、これによつて絶縁物のたい積電荷の影響を無
くし、部分放電パルスの発生を均一にし、さらに
再現性を向上して測定精度を高めると共に、発生
パルスを計数することによつて絶縁度を数値化し
て測定できる合理的な絶縁診断方法およびその装
置を得ることができる。
第１図は本発明による絶縁診断装置の基本的構
成を示すブロツク図、第２図Ａ，Ｂは従来の絶縁
診断方法における試験電圧波形および放電パルス
の一例を示す図、第３図Ａ，Ｂは本発明における
試験電圧波形と放電パルスの一例を示す図であ
る。 １……低圧整流回路、２……直流交流交換回
路、３……昇圧変圧器、４……高圧整流回路、５
……基準電圧発生器、６……比較照合器、７……
分圧器、８……被試験物、９……パルストラン
ス、１０……高周波増巾器、１１……波形整形回
路、１２……波形記録計、１３……パルスカウン
タ、１４……極性切換器。
成を示すブロツク図、第２図Ａ，Ｂは従来の絶縁
診断方法における試験電圧波形および放電パルス
の一例を示す図、第３図Ａ，Ｂは本発明における
試験電圧波形と放電パルスの一例を示す図であ
る。 １……低圧整流回路、２……直流交流交換回
路、３……昇圧変圧器、４……高圧整流回路、５
……基準電圧発生器、６……比較照合器、７……
分圧器、８……被試験物、９……パルストラン
ス、１０……高周波増巾器、１１……波形整形回
路、１２……波形記録計、１３……パルスカウン
タ、１４……極性切換器。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ 絶縁物に印加する高電圧を所定の正逆電圧ま
で所定の傾斜で直線的に上昇および下降すると共
に、上記各所定電圧に達したとき所定時間その電
圧を保持することを繰返し、発生する部分放電を
印加電圧波形に対応して測定するようにしたこと
を特徴とする絶縁診断方法。 ２ 所定のプログラムに従つて直線電圧上昇、電
圧一定保持、直線電圧下降を繰返す正逆直流高電
圧発生装置と、上記高電圧が印加された絶縁物に
発生する部分放電を上記印加電圧波形に対応して
計数表示する表示装置とを備えたことを特徴とす
る絶縁診断装置。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9726878A JPS5524622A (en) | 1978-08-11 | 1978-08-11 | Insulation inspecting method and device |
| GB7928161A GB2029587B (en) | 1978-08-11 | 1979-08-13 | Methods and apparatus for diagnosing faults in the insulation of electrical insulator |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9726878A JPS5524622A (en) | 1978-08-11 | 1978-08-11 | Insulation inspecting method and device |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5524622A JPS5524622A (en) | 1980-02-21 |
| JPS6150264B2 true JPS6150264B2 (ja) | 1986-11-04 |
Family
ID=14187778
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP9726878A Granted JPS5524622A (en) | 1978-08-11 | 1978-08-11 | Insulation inspecting method and device |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5524622A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US11815930B1 (en) * | 2023-03-22 | 2023-11-14 | GM Global Technology Operations LLC | System for actuating vehicle brake and accelerator pedals by hand |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS55104770A (en) * | 1979-02-06 | 1980-08-11 | Toshiba Corp | Method of and device for diagnosing insulation |
| CN102759691B (zh) * | 2012-07-20 | 2015-02-25 | 云南电力试验研究院（集团）有限公司电力研究院 | 应用于gis缺陷诊断的正负极性直流高压局放测试系统 |
-
1978
- 1978-08-11 JP JP9726878A patent/JPS5524622A/ja active Granted
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US11815930B1 (en) * | 2023-03-22 | 2023-11-14 | GM Global Technology Operations LLC | System for actuating vehicle brake and accelerator pedals by hand |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5524622A (en) | 1980-02-21 |
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