JPS6158031A - デ−タブロツク認識方法 - Google Patents
デ−タブロツク認識方法Info
- Publication number
- JPS6158031A JPS6158031A JP59158230A JP15823084A JPS6158031A JP S6158031 A JPS6158031 A JP S6158031A JP 59158230 A JP59158230 A JP 59158230A JP 15823084 A JP15823084 A JP 15823084A JP S6158031 A JPS6158031 A JP S6158031A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- data
- read
- data block
- mark
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- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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- Signal Processing For Digital Recording And Reproducing (AREA)
- Techniques For Improving Reliability Of Storages (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、書込み時異常を検出したデータブロックに所
定マークを付加して凹込む装置に係り。
定マークを付加して凹込む装置に係り。
特に前記所定マークを誤検出した場合のデータブロック
認識方法に関する。
認識方法に関する。
情頼処理システムの外部記憶装置として利用さているデ
ータファイル（例えば、磁気ディスク装置、光デイスク
装置等）に書込んだり、読取ったりするデータは高信頼
度のものが要求される。そのため、データエラーを売主
させないような記録媒体の開発やデータエラーを検出し
た場合の各種訂正方法が実用化されている。
ータファイル（例えば、磁気ディスク装置、光デイスク
装置等）に書込んだり、読取ったりするデータは高信頼
度のものが要求される。そのため、データエラーを売主
させないような記録媒体の開発やデータエラーを検出し
た場合の各種訂正方法が実用化されている。
一方、データ凹込み時所定データブロックにデータを書
込み、書込んだデータの良否をチェックした時、エラー
が検出された場合前記データブロックに異常を示すマー
クを付与して１次のデータブロックにデータを書込む方
法を取っている場合がある。
込み、書込んだデータの良否をチェックした時、エラー
が検出された場合前記データブロックに異常を示すマー
クを付与して１次のデータブロックにデータを書込む方
法を取っている場合がある。
かかる方法で取り扱うデータの品質を確保する場合、異
常を示すマークは正確に読取られることが必要である。
常を示すマークは正確に読取られることが必要である。
しかし、万一前記マークが読取れなかった場合でも、読
取りたいデータブロック位置に正確に位置付けされるこ
とがデータの品質を確保する上で要求される条件となる
。
取りたいデータブロック位置に正確に位置付けされるこ
とがデータの品質を確保する上で要求される条件となる
。
従来技術として、光デイスク装置のデータ管理方法を例
に取り図面を参照して説明する。
に取り図面を参照して説明する。
第３図は従来の光デイスク装置のブロックダイヤグラム
で、 （Ａ）は書込み回路、 （Ｂ）は読取り回路、第
４図はデータの書込み／読取りを行う光デイスク媒体の
構成をそれぞれ示す。
で、 （Ａ）は書込み回路、 （Ｂ）は読取り回路、第
４図はデータの書込み／読取りを行う光デイスク媒体の
構成をそれぞれ示す。
本例は、光デイスク媒体Ｃへのデータの書込み／読取り
制御をマイクロプロセッサ（以下ＭＰＵと称する）１に
て行う場合を示す。又光デイスク媒体Ｃは、第４図に示
すように連続した番号を持つトランクのデータブロック
単位にデータの凹込み／読取りを行う。
制御をマイクロプロセッサ（以下ＭＰＵと称する）１に
て行う場合を示す。又光デイスク媒体Ｃは、第４図に示
すように連続した番号を持つトランクのデータブロック
単位にデータの凹込み／読取りを行う。
各データブロック単位にデータを書込む場合。
光デイスク媒体Ｃ上の未記録部分をＭＰＵＩが検出し。
所定長のギャップを取り所定のデータブロック形式でデ
ータを書込む。即ち、 ＭＰＵＩから書込みする管理デ
ータ（トラック番号、データブロック番号等）の出力指
示■をＭＰＩＪバス２経由凹経由周込ジスタ３が受ける
と、書込み用レジスタ３は格納している最新の管理デー
タをマルチプレクサ（以下ＭＰＸと称する）４に出力す
る。
ータを書込む。即ち、 ＭＰＵＩから書込みする管理デ
ータ（トラック番号、データブロック番号等）の出力指
示■をＭＰＩＪバス２経由凹経由周込ジスタ３が受ける
と、書込み用レジスタ３は格納している最新の管理デー
タをマルチプレクサ（以下ＭＰＸと称する）４に出力す
る。
・ＭＰＸ４は、上位装置（図示してない）からの転送デ
ータ■と書込み用レジスタ３からの管理データを順次選
択し、装置内変調回路（図示してない）へ出力し、光デ
イスク媒体Ｃ上に記録する。
ータ■と書込み用レジスタ３からの管理データを順次選
択し、装置内変調回路（図示してない）へ出力し、光デ
イスク媒体Ｃ上に記録する。
尚凹込み用レジスタ３は格納している最新の管理データ
を出力すると、書込み用レジスタ３に格納する管理デー
タの更新をする。
を出力すると、書込み用レジスタ３に格納する管理デー
タの更新をする。
このデータ書込み時は通常、書込んだデータを直ちに読
取り、書込んだデータのチェックをする。
取り、書込んだデータのチェックをする。
この時、エラーが検出され何回か再書込みしても更にエ
ラーがある場合は、そのデータプロ、７りは書込み不能
として異常を示す所定マークを記録し。
ラーがある場合は、そのデータプロ、７りは書込み不能
として異常を示す所定マークを記録し。
次のデータプロ・ツクに同一ブロック番号でデータの書
込みを行う。
込みを行う。
尚本例のトランクは予め所定論理セクタ数（データブロ
ック数）１例えば１０論理セクタ数で構成することが決
められているものとする。この場合。
ック数）１例えば１０論理セクタ数で構成することが決
められているものとする。この場合。
例えばトラックＮの１０番目のデータブロックへの書込
みが不能の場合は１次の書込みはトラックＮ＋１の１番
目のデータブロックへは凹込みせず。
みが不能の場合は１次の書込みはトラックＮ＋１の１番
目のデータブロックへは凹込みせず。
交代トラック領域すに、ト、う・ツクＮの１０番目のデ
ータブロックとして四込む。
ータブロックとして四込む。
上述の方法で書込まれたデータの読取りの場合。
読取り信号■を可変周波数発振器回路（以下ＶＦＯと称
する）５にて復調し１位相修正したシリアルデータをシ
フトレジスタ６にてパラレルデータに変換し、セクタバ
ッファ７ （２つのセクタバッファで構成）に順次バッ
ファリングする。
する）５にて復調し１位相修正したシリアルデータをシ
フトレジスタ６にてパラレルデータに変換し、セクタバ
ッファ７ （２つのセクタバッファで構成）に順次バッ
ファリングする。
セクタバッファ７から取出した読取り信号■データは排
他的論理和回路（以下ＥＯＩ？と称する）９にてエラー
訂正回路（以下ＥＣＣと称する）８からの出力によりデ
ータエラーの発生があれば訂正し。
他的論理和回路（以下ＥＯＩ？と称する）９にてエラー
訂正回路（以下ＥＣＣと称する）８からの出力によりデ
ータエラーの発生があれば訂正し。
転送用バッファ（図示してない）へ出力され、上位装置
（図示してない）に送られる。
（図示してない）に送られる。
一方、管理データは読取り用レジスタ１０に格納され、
ＭＰＵバス２′経由ＭＰＵＩに送出され、データの読
取りが正常に行われているか判定される。もしＭＰＵＩ
に記憶されている′ブロック番号と、読取ったブロック
番号が相違すると、 ＭＰＵＩは再読出しか。
ＭＰＵバス２′経由ＭＰＵＩに送出され、データの読
取りが正常に行われているか判定される。もしＭＰＵＩ
に記憶されている′ブロック番号と、読取ったブロック
番号が相違すると、 ＭＰＵＩは再読出しか。
又はブロック番号相違でエラー処理とする。
尚ブロック番号相違の発生する原因の１つは異常が検出
されたことを示すマークの誤検出の場合がある。
されたことを示すマークの誤検出の場合がある。
即ち、データの読取りは、読取り開始時光デイスク媒体
Ｃ上に１個所印されていて、光デイスク媒体Ｃの回転の
基準位置を示すインデックスマークか、又は正常に読取
れたブロック番号位置を基準として読取りを開始し、順
次読取って行く。
Ｃ上に１個所印されていて、光デイスク媒体Ｃの回転の
基準位置を示すインデックスマークか、又は正常に読取
れたブロック番号位置を基準として読取りを開始し、順
次読取って行く。
読取りの途中で異常が検出されたことを示すマークを検
出した場合はその個所はスキツプするが。
出した場合はその個所はスキツプするが。
若し前記マークの誤検出があり、ブロック番号が１つと
して計数された場合は、最終的なデータブロック位置で
のブロック番号照合が期待する番号値と不一致となる。
して計数された場合は、最終的なデータブロック位置で
のブロック番号照合が期待する番号値と不一致となる。
上記のような従来方法で媒体に記録したデータブロック
に異常が検出されたことを示すマークを誤検出すると、
ＭＰＵ１との遺り取りでエラーと判定され、再読取り
やエラー処理となり、その分余分な時間を要すると言う
問題点がある。
に異常が検出されたことを示すマークを誤検出すると、
ＭＰＵ１との遺り取りでエラーと判定され、再読取り
やエラー処理となり、その分余分な時間を要すると言う
問題点がある。
本発明は、上記問題点を解消した新規なデータプロ・ツ
ク認識方法を実現することを目的とするものであり、該
問題点は、読取った該マークを格納する不良マーク格納
手段と、正常に読取れたブロック番号か又はインデック
スマークを基準として。
ク認識方法を実現することを目的とするものであり、該
問題点は、読取った該マークを格納する不良マーク格納
手段と、正常に読取れたブロック番号か又はインデック
スマークを基準として。
次に読取りたい該当ブロック番号までにあるブロック数
を計数する計数手段と１次に読取りたい該当ブロック番
号値を設定し、前記不良マーク格納手段と前記計数手段
との出力を比較照合する照合手段とを設け、前記装置の
読取り動作時、前記各手段で異常を示す所定マークの検
出抜けをチェックする本発明によるデータブロック認識
方法により解決される。
を計数する計数手段と１次に読取りたい該当ブロック番
号値を設定し、前記不良マーク格納手段と前記計数手段
との出力を比較照合する照合手段とを設け、前記装置の
読取り動作時、前記各手段で異常を示す所定マークの検
出抜けをチェックする本発明によるデータブロック認識
方法により解決される。
即ち、読取るブロック番号の期待値をセットする回路と
、正常に読取ったブロック番号と期待値を比較照合して
、不一致であれば異常を示す該マークの誤検出があった
ことを確認すると共に、正常に読取ったブロック番号に
期待値をリセットし。
、正常に読取ったブロック番号と期待値を比較照合して
、不一致であれば異常を示す該マークの誤検出があった
ことを確認すると共に、正常に読取ったブロック番号に
期待値をリセットし。
次の読取りに備える。
こうすることにより、ブロック番号の認識を肝Ｕとの遺
り取りで確認することなく即時に出来。
り取りで確認することなく即時に出来。
マークの誤検出等によるブロック番号不一致時のリカバ
リが即時に出来る。
リが即時に出来る。
以下本発明の要旨を第１図、第２図に示す実施例により
具体的に説明する。
具体的に説明する。
第１図は本発明に係る光デイスク装置の一実施例、第２
図は本発明に係るデータブロック番号読取り状況をそれ
ぞれ示す。
図は本発明に係るデータブロック番号読取り状況をそれ
ぞれ示す。
尚全図を通じて同一記号は同一対象物又は内容を示す。
又、第２図の（１１はトラック、（２）は正常読取りを
行ったデータブロック番号、（３）は照合回路１２の保
持データをそれぞれ示す。
行ったデータブロック番号、（３）は照合回路１２の保
持データをそれぞれ示す。
本実施例では、データブロック（Ｄ）のデータを読取り
転送用バッファ（図示してない）へ送出する場合とする
。データブロック（Ｄ）の読取りに行くためにインデッ
クスマーク位３ｅを基準としてデータブロック（Ｄ）へ
の位置付けを開始する。
転送用バッファ（図示してない）へ送出する場合とする
。データブロック（Ｄ）の読取りに行くためにインデッ
クスマーク位３ｅを基準としてデータブロック（Ｄ）へ
の位置付けを開始する。
データブロック （Ａ）、 （Ｂ）、 （Ｂ）’、
（Ｃ）は西込み時異常を検出したため不良マーク（
第２図の斜線マーク及び点１点マーク部分）を付加した
データブロックとする。
（Ｃ）は西込み時異常を検出したため不良マーク（
第２図の斜線マーク及び点１点マーク部分）を付加した
データブロックとする。
次に本実施例の動作を説明する。尚データブロック（Ｄ
）に相当する期待値（計数値３）は予めＭＰ’Ｕ１によ
り照合回路１２内にセットされているものとする。
）に相当する期待値（計数値３）は予めＭＰ’Ｕ１によ
り照合回路１２内にセットされているものとする。
インテ・７クスマ一ク位置ｅを基準としてデータブロッ
ク （Ａ）の読取りでは不良マーフカ脣売取られ不良マ
ーフレジス、り１３に格納し、不良マークレジスタ１３
の出力とクロックとの論理積回路１４の論理積条件によ
り照合回路１２内カウンタ（図示してない）は計数せず
、又データブロック番号が読取れないことによりカウン
タ１１も計数値は歩進じない。
ク （Ａ）の読取りでは不良マーフカ脣売取られ不良マ
ーフレジス、り１３に格納し、不良マークレジスタ１３
の出力とクロックとの論理積回路１４の論理積条件によ
り照合回路１２内カウンタ（図示してない）は計数せず
、又データブロック番号が読取れないことによりカウン
タ１１も計数値は歩進じない。
次に、データブロック（Ａ）′の読取りではデータブロ
ック番号が正常に読取りが出来たことにより、カウンタ
１１は計数値を“Ｏ”にセントし、照合回路１２はカウ
ンタ１１の計数値“０”をそのままセットする。
ック番号が正常に読取りが出来たことにより、カウンタ
１１は計数値を“Ｏ”にセントし、照合回路１２はカウ
ンタ１１の計数値“０”をそのままセットする。
チータブロック（Ｂ）、 （Ｂ）’ではデータも読取
れないが不良マークも読取れなかった場合で。
れないが不良マークも読取れなかった場合で。
この場合は論理積口９１４の論理積条件により、照合回
路１２内カウンタ（図示してない）を進め２”とする。
路１２内カウンタ（図示してない）を進め２”とする。
次に、チータブロック（Ｂ） “では正常にデータブ
ロック番号が読取れ、カウンタ１１は計数値を“１”に
セントし、照合回路】２の計数値は“２”から１”にリ
セットされる。
ロック番号が読取れ、カウンタ１１は計数値を“１”に
セントし、照合回路】２の計数値は“２”から１”にリ
セットされる。
同様にして、データブロック （Ｃ）は不良マーりが読
取られたことにより計数値ば歩進・ヒず、又データブロ
ック（Ｃ）′は正常にデータブロック番号が読取れ、そ
れぞれの計数値は“２”にセントされ、データブロック
（Ｄ）の読取りとなる。
取られたことにより計数値ば歩進・ヒず、又データブロ
ック（Ｃ）′は正常にデータブロック番号が読取れ、そ
れぞれの計数値は“２”にセントされ、データブロック
（Ｄ）の読取りとなる。
データブロック（Ｄ）が正常に読取られると照合回路】
２に予めセントしている数値３と、計数値３とが一致し
、このことにより一致信号をＭＰＵＩに出力し、 ？Ｉ
ＰＵ１は読取ったデータの上位装置（図示してない）へ
の転送を指示する。
２に予めセントしている数値３と、計数値３とが一致し
、このことにより一致信号をＭＰＵＩに出力し、 ？Ｉ
ＰＵ１は読取ったデータの上位装置（図示してない）へ
の転送を指示する。
以上のような本発明によれば、データブロックに付加さ
れている不良マークを誤検出しても正常なデータブロッ
ク位置への位置付けが容易に出来ると言う効果がある。
れている不良マークを誤検出しても正常なデータブロッ
ク位置への位置付けが容易に出来ると言う効果がある。
第１図は本発明に係る光デイスク装置の一実施例。
第２図は本発明に係るデータブロック番号読取り状況。
第３図は従来の光デイスク装置のブロックダイヤグラム
で、 （Ａ）は書込み回路、 （Ｂ）は読取り回路。 第４図はデータの書込み／読取りを行う光デイスク媒体
の構成９ をそれぞれ示す。 図において。 １ばＭＰＵ 、 ２ばｈｐｕハス。 ３は書込み用レジスタ、４はＭＰＸ 。 ５はＶＦｏ 、 ６はシフトレジスタ。 ７はセクタハソファ、 ８はＥＣＣ回路。 ９はＥＯＲ、１０は読取り用レジスタ。 １１はカウンタ、１２は照合回路。 １３は不良マークレジスタ。 １４は論理積回路。 をそれぞれ示す。
で、 （Ａ）は書込み回路、 （Ｂ）は読取り回路。 第４図はデータの書込み／読取りを行う光デイスク媒体
の構成９ をそれぞれ示す。 図において。 １ばＭＰＵ 、 ２ばｈｐｕハス。 ３は書込み用レジスタ、４はＭＰＸ 。 ５はＶＦｏ 、 ６はシフトレジスタ。 ７はセクタハソファ、 ８はＥＣＣ回路。 ９はＥＯＲ、１０は読取り用レジスタ。 １１はカウンタ、１２は照合回路。 １３は不良マークレジスタ。 １４は論理積回路。 をそれぞれ示す。
Claims (1)
- トラック単位でシーケンシャルな番号を有するディスク
ファイルのデータブロック中にブロック番号を付加して
書込みを行い、且つ異常を検出した該データブロックに
は異常を示す所定マークを付加して書込み、異常を検出
した該データブロックの次のデータブロックには、異常
を検出した該データブロックと同一データを同一ブロッ
ク番号で書込む装置において、読取った該マークを格納
する不良マーク格納手段と、正常に読取れたブロック番
号か又はインデックスマークを基準として、次に読取り
たい該当ブロック番号までにあるブロック数を計数する
計数手段と、次に読取りたい該当ブロック番号値を設定
し、前記不良マーク格納手段と前記計数手段との出力を
比較照合する照合手段とを設け、前記装置の読取り動作
時、前記各手段で異常を示す所定マークの検出抜けをチ
ェックすることを特徴とするデータブロック認識方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59158230A JPS6158031A (ja) | 1984-07-28 | 1984-07-28 | デ−タブロツク認識方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59158230A JPS6158031A (ja) | 1984-07-28 | 1984-07-28 | デ−タブロツク認識方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6158031A true JPS6158031A (ja) | 1986-03-25 |
Family
ID=15667116
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP59158230A Pending JPS6158031A (ja) | 1984-07-28 | 1984-07-28 | デ−タブロツク認識方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6158031A (ja) |
Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5769518A (en) * | 1980-08-14 | 1982-04-28 | Philips Nv | Information writing and reading method and device |
| JPS5814387A (ja) * | 1981-07-20 | 1983-01-27 | Hitachi Medical Corp | 磁気ディスクへのアクセス方法 |
| JPS6117274A (ja) * | 1984-07-04 | 1986-01-25 | Nec Corp | 光デイスク制御装置 |
-
1984
- 1984-07-28 JP JP59158230A patent/JPS6158031A/ja active Pending
Patent Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5769518A (en) * | 1980-08-14 | 1982-04-28 | Philips Nv | Information writing and reading method and device |
| JPS5814387A (ja) * | 1981-07-20 | 1983-01-27 | Hitachi Medical Corp | 磁気ディスクへのアクセス方法 |
| JPS6117274A (ja) * | 1984-07-04 | 1986-01-25 | Nec Corp | 光デイスク制御装置 |
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