JPS6161090B2 - - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】 本発明はカメラ等に使用するシヤツターの速度
を測定するためのシヤツター試験器に関するもの
である。

カメラ等に用いられるシヤツターの有効露出時
間の測定は、現在はフオーカルプレンシヤツター
においては回転ドラム式または光電変換式が主と
して用いられている。このうち回転ドラム式は測
定結果がただちに判明しないため、カメラ、シヤ
ツター等の製造工程で使用するには不便であり、
後者の光電変換式が多く用いられている。この光
電変換式による測定方法は、シヤツタースリツト
を通過して各測定点に到達した主光線を光電変換
素子で受光して光電変換し、その出力パルスの発
生時間、すなわちシヤツターの先幕の端が光を切
るまでの時間をカウンターを用いて測定するもの
である。すなわち従来の試験器では光電変換出力
を微分および波形整形して得られた開始、閉成パ
ルス間だけゲート回路を開きこの間のクロツクパ
ルスの数をカウンターで計数して時間測定を行な
うもので、特に高速シヤツター時の測定値に誤差
の生じ易いものであつた。

本発明は上記のような光電変換式シヤツター試
験器の測定精度を向上させることを目的とするも
ので、使用するスリツトの形状を改良し、かつ光
電変換出力の振幅の1/2の位相を正確に出すため
に２階微分とゼロクロスを用いて回路を構成した
ものである。

以下図面によつて本発明を詳細に説明する。

第１図は本発明によるシヤツター試験器の一実
施例を示すブロツク回路図である。図において、
１はシヤツタードラムでフオーカルプレンシヤツ
ターの先幕および後幕を巻取り不図示のシヤツタ
ー駆動系により先幕、後幕を走行させる。１′は
先幕と後幕で構成されたシヤツター開口部であ
る。２はスリツト板で適当な位置に複数個のスリ
ツトを形成したもの、３は受光用光電変換素子で
光応答特性の速い光電管を用いる。４は３の光電
出力を増幅する増幅器、５は第１の微分回路、６
は第２の微分回路であり、その出力は７のゼロク
ロス位置検出回路へ入力されシヤツター開口のス
リツト通過時間の開始および閉じ始めに対応する
信号を発生する。８はゲート回路、９はクロツク
信号発生器、１０はカウンターである。第２図は
第１図のシヤツター試験器におけるスリツト板２
の各種実施例を示す平面図である。第３図は第１
図の回路における各部の波形を示す曲線図であ
る。

つぎに第１図の回路の動作を第２図および第３
図によつて説明する。今シヤツターの開口部１′
がある速度で走行した場合を考えるとこの開口部
を通過した光がスリツト板２のスリツト部を通り
光電管３に入射し光電管３の出力へは第３図ａの
如き光電流が発生する。スリツトの形状を第２図
に示すように、菱形(a)、十字星形(b)、三角形(c)、
円形(d)、楕円形(e)等の一つを選んで構成したとす
ると、光電管３の出力信号図ａはその立上りおよ
び立下りの1/2の振幅の所に変曲点を有する波形
となる。これを４で増幅し１次微分回路５で微分
すると変曲点でピークを有するパルス波形の第３
図ｂが得られる。ついでこれを２次微分回路６で
再度微分すると変曲点で基準値（０レベル）と交
わる図ｃの如きパルスが得られる。この信号をゼ
ロクロス検出回路７へ入力し基準レベルとの交点
の位相を求めると光電流ａの1/2振幅の位相に相
当する位置に第３図ｄおよびｅの如き開始パルス
および閉成パルスを得られる。このパルスでゲー
ト回路８を開、閉する。ゲート回路８へは適当な
周波数のクロツク信号をクロツク信号発生器９か
ら印加しておけばゲート回路８の出力へは第３図
ｆに示す開始時間t₁と閉成時間t₂との間に発生し
たクロツクパルスが生じることになり、このクロ
ツクパルスの数をカウンター１０で計数すること
により正確なシヤツター開口時間が得られる。こ
れによりシヤツターの有効露出時間が正確に測定
される。

なお以上の説明では有効露出時間の測定につい
てのみ述べたが、このシヤツター試験器を用いて
幕速、タイムラグ等のすべての時間測定が同様に
して可能である。また本発明の試験器はフオーカ
ルプレンシヤツターばかりでなくレンズシヤツタ
ーにおけるシヤツター試験器としても使用し得る
ことは勿論であり、その他の光電式速度測定機等
にも本発明の装置を応用することは可能である。

以上のように本発明によるシヤツター試験器に
よれば高速シヤツター時に起り易い測定むらがな
く、また光源やシヤツター速度の変化により光電
管出力に変動がある場合でも、これらにより測定
誤差を生じることがなく常に正確な測定値が得ら
れるものであり、カメラ等のシヤツター試験器と
して効果大なるものである。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明によるシヤツター試験器の一実
施例を示すブロツク回路図、第２図は第１図示の
スリツト板の各種実施例を示す平面図、第３図は
第１図の回路における各部波形を示す曲線図であ
る。 １……シヤツタードラム、１′……シヤツター
開口部、２……スリツト板、３……光電変換素
子、４……増幅器、５……第１微分回路、６……
第２微分回路、７……ゼロクロス位置検出回路、
８……ゲート回路、９……クロツク信号発生器、
１０……カウンター。

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. １ シヤツター開口部を通過する光をスリツトを
   通して光電変換素子に入射させ該光電変換素子の
   出力を処理してシヤツターの有効露出時間を計測
   するシヤツター試験器において、前記スリツトの
   形状を前記光電出力波形がその最大値の1/2レベ
   ルに変曲点を有する信号となるような形状に成
   し、前記光電変換素子の出力を微分する１次及び
   ２次微分回路と、並びにゼロクロス点検出手段と
   を備え、前記光電出力のゼロクロス点間の時間を
   計測してシヤツター有効露出時間を得ることを特
   徴とするシヤツター試験器。