JPS6161359A - 電子顕微鏡 - Google Patents

電子顕微鏡

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Publication number
JPS6161359A
JPS6161359A JP59180540A JP18054084A JPS6161359A JP S6161359 A JPS6161359 A JP S6161359A JP 59180540 A JP59180540 A JP 59180540A JP 18054084 A JP18054084 A JP 18054084A JP S6161359 A JPS6161359 A JP S6161359A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
detector
electron beam
optical axis
detection device
deflection coil
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP59180540A
Other languages
English (en)
Inventor
Masahiro Tomita
正弘 富田
Akihiko Amano
天野 晃彦
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Ltd
Hitachi Science Systems Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
Hitachi Measurement Engineering Co Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi Ltd, Hitachi Measurement Engineering Co Ltd filed Critical Hitachi Ltd
Priority to JP59180540A priority Critical patent/JPS6161359A/ja
Publication of JPS6161359A publication Critical patent/JPS6161359A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Classifications

    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J37/00—Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
    • H01J37/26—Electron or ion microscopes; Electron or ion diffraction tubes
    • H01J37/261—Details
    • H01J37/265—Controlling the tube; circuit arrangements adapted to a particular application not otherwise provided, e.g. bright-field-dark-field illumination

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の利用分野〕 本発明は電子顕微鏡に係シ、特に電子線光軸より外れた
走査像検出装置に電子線を導くに好適な偏向コイル付検
出器を備えた電子顕微鏡に関する。
〔発明の背景〕
従来のこの種の装置では、電子線光軸より外れた下部検
出器へ電子線を導く偏向コイルは結像レンズ内に巻き込
まれ、上部検出器より更に上部に設けられてい友。この
ため、下部検出器から走査像を得る時は必ず上部検出器
を光軸外に外す必要があシ、信号の0N−OF’Fのみ
で明視野、暗視野透過走査像(以下、BRIGHT S
TEM像、DARK STEM像と称す)の切替えがで
きなかった。なお、この種の装置として関連するものに
は、電子線光軸に上に2段の検出装置を有するダークス
テム装置および検出装置を光軸より外しであるが、上方
に検出装置はなく、偏向コイルが単独であるエネルギー
アナライザーがある。
〔発明の目的〕
本発明の目的は、2つの走査像検出装置を有する電子顕
微鏡において、電子線光軸に着脱可能な上部検出器の直
下に偏向コイルを1体化して取付け、電子線光軸より外
れて位置する下部検出器に電子線を導ひき、°これによ
り、ダークステム像おソびプライトステム像を簡単な操
作で得ることができる電子顕微鏡を提供することにある
。
〔発明の概要〕
電子顕微鏡のプライトステム像とダークステム像を同時
に検出するためには、偏向コイルは0両検出器間に設け
る必要がちる。、しかし、透過像のビーム径は上部検出
器の位置で30〜50++m径と太いため、偏向コイル
を固定保持するには、コイル内径もこれ以上の太さにな
シ、励磁力も大容量化してしまう。本発明はこの偏向コ
イルを上部検出器直下に1体にして取付け、透過像観察
時は検出器と同時に光軸より外すように構成したもので
ある。
〔発明の実施例〕
本発明の一実施例を図面を用いて詳細に説明する。図に
おいて、上部走査像検出装置の中央部に小孔を有する検
出器1はライトガイド2に検出器おさえ具3にて密着固
定されている。検出器1とライトガイド2の大円には内
部が貫通した薄肉のパイプ4がセットされている。ライ
トガイド2は0リング5を介してボデー6との間で真空
シールされ、ライトガイド2には光電子増倍管7が密着
し光信号を電子信号に変換している。ボデー6と電子顕
微鏡の鏡筒8はアダプタ9とそれに組込まれているOリ
ング10.、 l 1にて固定、真空シールされている
。またボデー6の先端にはつなぎ板12が、また底部に
は偏向コイル13が組込まれている。ツナギ板12は着
脱軸14に接続され、本検出装置の着脱時のガイドの役
割を果している。
偏向コイル13は電子線光細工5の中心にくるよう取付
けられている。写真撮影装置16下部のJVアダプタ1
7には中央部に穴を有しない検出器18を有する下部検
出装置が光軸より外れて取付けられている。
検出器18はライトガイド19にライトガイド押え20
で密着され、光電子増倍管21にて光を電子に変換する
。
上記構成において、像観察の友めテレビ装置22が電子
線光軸15上に取付けられているため、下一部検出装置
はテレビへの信号に悪影響を与えなXAi位置まで取付
位置を外す必要がおる。走査電子像、モード時には、電
子線調節レンズ25で調整された電子線を検出器11/
Cて受けるが、上記電子線のメインスポットのみがパイ
プ4を通り抜ける。
偏向コイル13は上記メインスポットを検出器18に導
くようコイル電流を調整しである。この時、上部で得ら
れる像がダークステム像であシ、下部で得られるのがプ
ライトステム像である。偏向コイル13は検出器1を電
子線光軸15より外しつなぎ板12の穴中心が電子線光
軸15に移動した時、自動的に電子線光軸15より外す
ことができる。また、検出器直下に位置するため鏡筒外
壁に固定して取付けるコイル等に比べ、コイル径が非常
に小さく(固定の場合は、最低でもつなぎ°板の穴より
大きくする必要がある)な9、消費電力も従来の約11
5以下で済む。
〔発明の効果〕
以上の説明から明らかなように本発明によれば、電子線
光軸より外れた走査電子像の下部検出器に必要な電子線
を導く偏向コイルを上部検出装置と1体化したため、上
部検出装置を電子線光軸より外子ごと)により偏向コイ
ルも自動的に外れ、簡単な操作でダークステム像とプラ
イトステム像を得ることができる。また、検出器直下に
偏向コイルを設けたため、鏡筒外筒に取付けた場合等に
比較すると消費電力も大巾に減少できると共に、小形化
されて組立作業も簡単であり、大巾な原価低減ができる
という効果がある。
【図面の簡単な説明】
図は本発明の実施例を示す要部の断面図である。 1・・・検出器、6・・・ボデー、12・・・つなぎ板
、13・・・偏向コイル、15・・・電子線光軸、18
・・・検出器。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1、電子顕微鏡の最下部に位置する写真撮影装置上部に
    孔のない検出器を有する走査像検出装置と、その上方に
    検出器の中央に小穴のあいた電子線光軸から着脱可能な
    走査像検出装置を具備し、かつ前記下方側の検出装置を
    電子線光軸より外して位置するよう構成された電子顕微
    鏡において、電子線光軸より外れた下方の検出装置に電
    子線を導く偏向コイルを上方の検出装置の検出器直下に
    設け、上方の検出装置の着脱時に前記偏向コイルも同時
    に着脱可能なように構成されて成る電子顕微鏡。
JP59180540A 1984-08-31 1984-08-31 電子顕微鏡 Pending JPS6161359A (ja)

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JP59180540A JPS6161359A (ja) 1984-08-31 1984-08-31 電子顕微鏡

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JP59180540A JPS6161359A (ja) 1984-08-31 1984-08-31 電子顕微鏡

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JPS6161359A true JPS6161359A (ja) 1986-03-29

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JP59180540A Pending JPS6161359A (ja) 1984-08-31 1984-08-31 電子顕微鏡

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