JPS6163600A - 圧電性を有する五酸化タンタル単結晶薄膜を製造する方法 - Google Patents
圧電性を有する五酸化タンタル単結晶薄膜を製造する方法Info
- Publication number
- JPS6163600A JPS6163600A JP18425884A JP18425884A JPS6163600A JP S6163600 A JPS6163600 A JP S6163600A JP 18425884 A JP18425884 A JP 18425884A JP 18425884 A JP18425884 A JP 18425884A JP S6163600 A JPS6163600 A JP S6163600A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- thin film
- tantalum pentoxide
- single crystal
- crystal thin
- production
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 239000010409 thin film Substances 0.000 title claims abstract description 29
- 239000013078 crystal Substances 0.000 title claims abstract description 24
- BPUBBGLMJRNUCC-UHFFFAOYSA-N oxygen(2-);tantalum(5+) Chemical compound [O-2].[O-2].[O-2].[O-2].[O-2].[Ta+5].[Ta+5] BPUBBGLMJRNUCC-UHFFFAOYSA-N 0.000 title claims abstract description 18
- PBCFLUZVCVVTBY-UHFFFAOYSA-N tantalum pentoxide Inorganic materials O=[Ta](=O)O[Ta](=O)=O PBCFLUZVCVVTBY-UHFFFAOYSA-N 0.000 title claims abstract description 18
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 title claims description 7
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 11
- 239000000126 substance Substances 0.000 abstract description 3
- GUVRBAGPIYLISA-UHFFFAOYSA-N tantalum atom Chemical compound [Ta] GUVRBAGPIYLISA-UHFFFAOYSA-N 0.000 abstract description 3
- BGPVFRJUHWVFKM-UHFFFAOYSA-N N1=C2C=CC=CC2=[N+]([O-])C1(CC1)CCC21N=C1C=CC=CC1=[N+]2[O-] Chemical compound N1=C2C=CC=CC2=[N+]([O-])C1(CC1)CCC21N=C1C=CC=CC1=[N+]2[O-] BGPVFRJUHWVFKM-UHFFFAOYSA-N 0.000 abstract 1
- 229910052715 tantalum Inorganic materials 0.000 abstract 1
- 238000010897 surface acoustic wave method Methods 0.000 description 7
- 238000004891 communication Methods 0.000 description 3
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 3
- 238000000034 method Methods 0.000 description 3
- XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N Argon Chemical compound [Ar] XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N atomic oxygen Chemical compound [O] QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 2
- 230000008878 coupling Effects 0.000 description 2
- 238000010168 coupling process Methods 0.000 description 2
- 238000005859 coupling reaction Methods 0.000 description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 230000005284 excitation Effects 0.000 description 2
- 239000010408 film Substances 0.000 description 2
- 239000000463 material Substances 0.000 description 2
- 239000001301 oxygen Substances 0.000 description 2
- 229910052760 oxygen Inorganic materials 0.000 description 2
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000002253 acid Substances 0.000 description 1
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 description 1
- 229910052786 argon Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 238000011156 evaluation Methods 0.000 description 1
- 239000005350 fused silica glass Substances 0.000 description 1
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 1
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 1
- 238000001259 photo etching Methods 0.000 description 1
- 238000004544 sputter deposition Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Crystals, And After-Treatments Of Crystals (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(1)産業上の利用分野
本発明は、圧電性を有する五酸化タンタル+ii結晶薄
膜を製造する方法に関する。
膜を製造する方法に関する。
(2)従来の技術
従来、五酸化タンタル薄膜は、タンタル酸を加熱脱水す
るか、金属タンタルを酸素気流中で強熱することによっ
て得られており、酸化物の中で最も安定度が高いと言わ
れている。そのため、古くから高安定な電解コンデンサ
に用いられている。
るか、金属タンタルを酸素気流中で強熱することによっ
て得られており、酸化物の中で最も安定度が高いと言わ
れている。そのため、古くから高安定な電解コンデンサ
に用いられている。
また最近では、薄膜中での伝搬損失が少ないことがら光
導波路用材料としても注目されている。しかしながら、
これらの五酸化タンタル薄膜はすべて非晶質な薄膜であ
る。したがって、本来の単結晶が持つ色々な性質を通信
素子に応用することは不可能であった。
導波路用材料としても注目されている。しかしながら、
これらの五酸化タンタル薄膜はすべて非晶質な薄膜であ
る。したがって、本来の単結晶が持つ色々な性質を通信
素子に応用することは不可能であった。
(3)発明が解決しようとする問題点
本発明はこのような点を考慮して、基板に垂直にX軸を
配向させ、圧電性を有する五酸化タンタル単結晶薄膜を
得ることを目的とする。
配向させ、圧電性を有する五酸化タンタル単結晶薄膜を
得ることを目的とする。
(4)問題点を解決するための手段
本発明は、基板に垂直に結晶軸を配向させることにより
、圧電性を持たせて五酸化タンタル単結晶薄膜を製造す
ることにある。
、圧電性を持たせて五酸化タンタル単結晶薄膜を製造す
ることにある。
(5) 作用
本発明は上記の手段によって、五酸化タンタル単結晶薄
膜は圧電性を有し、弾性表面波素子に応用することがで
きる。
膜は圧電性を有し、弾性表面波素子に応用することがで
きる。
(6)実施例
次に、薄膜を製造する方法を説明する。製造方法は〔反
応性直流二極スパッタリング方式〕を用いる。第1図は
構成図で、1は基板、2はターゲットとなるタンタル金
属である。基板1とターゲット2は間隔20〜5Qmm
で平行に配置されている。ターゲットの下に永久磁石を
用いるプレーナ・マグネトロン方式を採用している。雰
囲気ガスは、アルゴンと酸素(3:1)の混合ガス、全
ガス圧は1.0パスカル、基板の温度は400〜500
”Cである。陽極電圧は2.0〜3.0kVの範囲で製
造を行なうものである。
応性直流二極スパッタリング方式〕を用いる。第1図は
構成図で、1は基板、2はターゲットとなるタンタル金
属である。基板1とターゲット2は間隔20〜5Qmm
で平行に配置されている。ターゲットの下に永久磁石を
用いるプレーナ・マグネトロン方式を採用している。雰
囲気ガスは、アルゴンと酸素(3:1)の混合ガス、全
ガス圧は1.0パスカル、基板の温度は400〜500
”Cである。陽極電圧は2.0〜3.0kVの範囲で製
造を行なうものである。
本発明の実施例を第2図に示す。6は基板となる溶融石
英ガラス板で、この基板6の上に五酸化タンタル単結晶
薄膜7を、上で述べた作成方法を用いて製造し、さらに
その上に弾性表面波励振用電極8をホトエツチング法を
用いて設けたものである。
英ガラス板で、この基板6の上に五酸化タンタル単結晶
薄膜7を、上で述べた作成方法を用いて製造し、さらに
その上に弾性表面波励振用電極8をホトエツチング法を
用いて設けたものである。
X線を用いた結晶構造解析によれば、薄膜7は単斜晶系
の点群mに属し、そのX軸が基板に垂直に配向している
単結晶薄膜である。したがって、単結晶薄膜であるため
に圧電性を示し、電極8を用いて、弾性表面波を励振お
よび受信することができる。圧電性薄膜の評価量として
、電気機械結合係数 K がある。実施例の第2図にお
いて、K を求めたところ、規格化膜厚 hk(、=2
π1〕/ λ)−10において、K=0.5% を得て
いる。ここで、hは膜厚、λは表面波波長、kは波数で
ある。このK の値は、現在量も大きな電気機械結合係
数を持つ圧電性薄膜として知られている、ZnO圧電性
薄膜に対するK の値の約7596と大きな値である。
の点群mに属し、そのX軸が基板に垂直に配向している
単結晶薄膜である。したがって、単結晶薄膜であるため
に圧電性を示し、電極8を用いて、弾性表面波を励振お
よび受信することができる。圧電性薄膜の評価量として
、電気機械結合係数 K がある。実施例の第2図にお
いて、K を求めたところ、規格化膜厚 hk(、=2
π1〕/ λ)−10において、K=0.5% を得て
いる。ここで、hは膜厚、λは表面波波長、kは波数で
ある。このK の値は、現在量も大きな電気機械結合係
数を持つ圧電性薄膜として知られている、ZnO圧電性
薄膜に対するK の値の約7596と大きな値である。
このように、基板に垂直に結晶軸を配向させることによ
って、五酸化タンタル単結晶薄膜は圧電性を有し、弾性
表面波素子に応用することが可能となった。この性質は
これまで知られておらず本発明によって初めて明らかに
された。
って、五酸化タンタル単結晶薄膜は圧電性を有し、弾性
表面波素子に応用することが可能となった。この性質は
これまで知られておらず本発明によって初めて明らかに
された。
現在、五酸化タンタル薄膜を通信素子に応用するための
研究が各方面でなされており、特に高安定な電解コンデ
ンサに関する研究が最も進んでいる。しかし、これらの
五酸化タンタル薄膜は非晶質であるため、本来の単結晶
が持つ色々な性質を通信素子に応用することはできなか
った。
研究が各方面でなされており、特に高安定な電解コンデ
ンサに関する研究が最も進んでいる。しかし、これらの
五酸化タンタル薄膜は非晶質であるため、本来の単結晶
が持つ色々な性質を通信素子に応用することはできなか
った。
一方、薄膜形の弾性表面波素子用の材料としては、従来
ZnO薄膜が多く用いられている。しかし、化学的安定
度が悪く、その改良が望まれていた。
ZnO薄膜が多く用いられている。しかし、化学的安定
度が悪く、その改良が望まれていた。
本発明人も種々研究を重ねた結果、前述の作成方法によ
って五酸化タンタル単結晶薄膜を得ることができ、所記
の目的を達成できた。
って五酸化タンタル単結晶薄膜を得ることができ、所記
の目的を達成できた。
(7)発明の効果
この発明は以上説明したように、五酸化タンタル単結晶
薄膜の圧電性を利用することにより、化学的に安定な耐
久性のある弾性表面波素子を実現することが出来る。
薄膜の圧電性を利用することにより、化学的に安定な耐
久性のある弾性表面波素子を実現することが出来る。
図面は本発明の一実施例を説明したもので、第1図は作
成方法の構成図である。1は基板、2はターゲット、3
は陽極、4は永久磁石、5はベルンヤーである。第2図
は実施例の側面図である。 第2図において、6は石英ガラス、7は五酸化タンタル
単結晶薄膜、8は弾性表面波励振用電極。
成方法の構成図である。1は基板、2はターゲット、3
は陽極、4は永久磁石、5はベルンヤーである。第2図
は実施例の側面図である。 第2図において、6は石英ガラス、7は五酸化タンタル
単結晶薄膜、8は弾性表面波励振用電極。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 基板に、垂直に結晶軸を配向させることに よつて、圧電性を持たせることを特徴とする五酸化タン
タル単結晶薄膜の製造方法
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP18425884A JPS6163600A (ja) | 1984-09-03 | 1984-09-03 | 圧電性を有する五酸化タンタル単結晶薄膜を製造する方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP18425884A JPS6163600A (ja) | 1984-09-03 | 1984-09-03 | 圧電性を有する五酸化タンタル単結晶薄膜を製造する方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6163600A true JPS6163600A (ja) | 1986-04-01 |
Family
ID=16150163
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP18425884A Pending JPS6163600A (ja) | 1984-09-03 | 1984-09-03 | 圧電性を有する五酸化タンタル単結晶薄膜を製造する方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6163600A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007013101A (ja) * | 2005-06-30 | 2007-01-18 | Hynix Semiconductor Inc | 半導体素子のキャパシタ及びその製造方法 |
| CN114108087A (zh) * | 2021-11-23 | 2022-03-01 | 北京工业大学 | 一种正交相五氧化二钽单晶薄膜的制备方法 |
-
1984
- 1984-09-03 JP JP18425884A patent/JPS6163600A/ja active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007013101A (ja) * | 2005-06-30 | 2007-01-18 | Hynix Semiconductor Inc | 半導体素子のキャパシタ及びその製造方法 |
| CN114108087A (zh) * | 2021-11-23 | 2022-03-01 | 北京工业大学 | 一种正交相五氧化二钽单晶薄膜的制备方法 |
| CN114108087B (zh) * | 2021-11-23 | 2022-11-04 | 北京工业大学 | 一种正交相五氧化二钽单晶薄膜的制备方法 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| KR910005504A (ko) | 고상선 전해질을 이용하는 연료 전지 및 이의 형성 방법 | |
| JPS62205266A (ja) | 強誘電体薄膜素子及びその製造方法 | |
| US5565725A (en) | Surface acoustic wave device | |
| US4490641A (en) | Three electrode piezoelectric ceramic resonator | |
| JPS62158311A (ja) | 薄いフイルム コンデンサおよびその製造方法 | |
| US20220385267A1 (en) | Surface acoustic wave device with high electromechanical coupling coefficient based on double-layer electrodes and preparation method thereof | |
| JPS6163600A (ja) | 圧電性を有する五酸化タンタル単結晶薄膜を製造する方法 | |
| Nakagawa et al. | New piezoelectric Ta2O5 thin films | |
| US5824419A (en) | Thin film of potassium niobate, process for producing the thin film, and optical device using the thin film | |
| GB2024503A (en) | Piezo-electric resonator | |
| US6246149B1 (en) | Surface acoustic wave device | |
| JPS6241311B2 (ja) | ||
| JPH05254991A (ja) | 薄膜積層結晶体およびその製造方法 | |
| Iwasaki et al. | Temperature-stable ferroelectric ceramics for surface wave devices | |
| JPS61195013A (ja) | 零温度係数をもつ弾性表面波材料 | |
| JPS60147180A (ja) | 圧電素子 | |
| JPS59141104A (ja) | 強誘電体薄膜の製造方法 | |
| JPH092845A (ja) | 導電体薄膜と非晶質絶縁体との接合体及びその形成方法 | |
| Masuda et al. | Ferroelectric properties of Ba2NaNb5O15 films by RF magnetron sputtering method | |
| JPH0672800B2 (ja) | 焦電型赤外線センサ | |
| JPS54133124A (en) | Piezoelectric type speaker | |
| JP3068901B2 (ja) | 薄膜作製方法 | |
| JPS6323128A (ja) | 光空間変調素子 | |
| JPS59143384A (ja) | 配向性金属薄膜の製造法 | |
| JPS58199326A (ja) | 液晶表示素子のギヤツプ用スペ−サ形成法 |