JPS6164230A - 組織スペクトル測定プロ−ブ - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 （イ）発明の属する技術分野 本発明は組織スペクトル測定プローブて関し、より詳細
には測定プローブと測定対象組織との接触検知手段のた
めの電気回路部分を内蔵した組織プローブに関する。

（ロ）従来技術とその問題点 第５図は組織スはクトル測定プローブの構成概念および
測定原理を示す概要図、そして第６図は第５図に対応す
るズロソク図である。

プローブ１は概ね互いに並行する送光用光ファイバ２と
受光用光ファイバ３とを含み、送光用光ファイバ２およ
び受光用光ファイバ３は先端側にて外周を被俊層４に覆
れた一体の光ファイバ束５として構成され、その先端は
測定端部６を形成している。また送光用光ファイ・ζ２
と受光用光ファイ・ミ３は後端側においては互℃・６（
分岐Ｓ出立した光ファイバ束を形成している。送光用光
ファイ・ｚ２の分岐側端部には光源８およびレンズ９カ
″−隣接して設けられ、また受光用光ファイノぐ３の分
岐１ｔｔｌｌ端部には分光器１０およびイメージセンサ
アレイ１１を含む分析装置１２が隣接して設けられて℃
・る。

測定端部６を測定対象組織１３に接触させた状態で光源
８からレンズ９を経て送光用光ファイ・芙２に光を送り
こみ、測定端部６から光を」１１定対象組織１３に照射
する。組織からの反射光を受光用ファイバ３で受は分光
器１０およびイメージセンサアレイ１１を含む分析装置
１２に伝達し、ここで測定光をスペクトル分析する。分
析結果ＩＣＲＴやグラフィックプリンタにより表示する
ことカーできる。

実際のプローブｌの形状としては第７図に示すように送
光用光ファイ・Ｑ２と受光用光ファイ／８３の分岐側端
部がコネクタ部１８として形成されており、分岐した送
光用光ファイバ２および受光用光ファイバ３はそれぞれ
コネクタ金具２０．１９に接続されている。プローブ１
はコネクタ部１８を介して光源および分析装置を含む測
定装置に接続される。

このよ５な粗織スペクトル測定プローブを１吏用して正
確な測定を行うためには、測定の際プｏ　−プが測定対
象組織に接触したことを確認することが必要である。こ
の方法として第８図に示すように高周波微小電流を測定
対象組織を含む測定対象物１４上に設けたアース電極１
５とプローブ１先端に取付けたスリーブ１６との間に流
し、プローブ先端が組織に接触した際の接触インピーダ
ンスを測定する方法が用し・られている。第９図は第８
図の接触検知方法に使用される接触検知回路の回路図、
第１０図はプローブ先端外周に嵌挿されるスリーブ１６
とスリーブ１６に接続されたリードＩｇｊ、１７を示す
。

しかしながら上記従来のプローブのための接触検知の装
置にお（・ては下記問題点があった。

（１１スリーブ１６がプローブ先端外周に嵌挿される構
造のため、スリーブが取付けられた状態ではプローブ先
端部の径が大きくなってしマウ。

（２１１）　−ド線１７がプローブの外部をプローブに
沿って延坤することになる。

組織スペクトル測定プローブは内視鏡の鉗子口を通じて
体内、たとえば胃の粘膜のスペクトルを調べることが必
要とされる場合があるが、上記理由によりスリーブを取
付けた状態ではプローブを内視鏡の鉗子口を通して体内
へ挿入することか困難であった。またこの外部リード線
を伴ったスリーブを取付けたプローブは取扱いも面倒な
ものであった。

（ハ）発明の目的 本発明は上記従来の事情に鑑みなされたものであって、
測定対象組織との接触検知を行うことができ、なおかつ
内視鏡の鉗子口を通して体内に押入することができ、さ
らに取扱し・か簡単な組織スペクトル測定プローブを提
供することを目的としている。

に）発明の構成 この目的のため本発明は互いに概ね並行する送光用光フ
ァイバと受光用光ファイバが外周を被覆層に覆われて一
体光ファイバ束として形成された測定端部と、前記送光
用光ファイバと受光用光ファイバが互゛いに分岐独立し
た光ファイバ束を形成してそれぞれ送光および受光コネ
クタ金具に接続されたコネクタ端部とを有し、前記測定
端部が画定対象組織に接触させられる組織スはクトル測
定プローブにおいて、環状の導電性薄層を前記一体光フ
ァイバ束と前記被段層との間に少くとも前記一体光ファ
イバ束の全長主要部にわたって延設し、前記導電性薄層
を前記一体光ファイバ束の先端面に一致しかつ概ね前記
被覆層外径以下の径を有して前記プローブに一体に設け
られた導電接触部と前記コネクタ端部側に設けられかつ
接触検知回路に接続されるべき接続端子とに導電可能に
結合したことを特徴とする。

これにより画定対象組織との接触検知を行うことができ
、なおかつ内視鏡の鉗子口な通して体内に挿入すること
ができ、さらに取扱（・か簡単な組織スペクトル測定プ
ローブが提供される。

（ホ）発明の実、舶例 以下図面を参照して本発明の好まし℃・実施例につし・
て説明する。第１図は本発明による組織スペクトル測定
プローブの一実施例の軸方向断面図である。組織スペク
トル測定プローブ２３は第７図に示したプローブ１と基
本的に同様であり、送光用光ファイバ２と受光用光ファ
イバ３が先端側では被覆層４に覆われた一体の光ファイ
バ束５として構成され、その先端が測定端部６を形成し
ている。またコネクタ部１８を形成する他端では互し・
に分枝独立してそれぞれ送光および受光コネクタ・金具
２０．１９に接続されている。しかしながら本発明によ
るプローブにおいては一体光フアイ／薯束５と被覆層４
との間に薄層の環状体をなす導電層２４が延設されてし
・る。導電層の例としては第３図に２４αで示すように
導電性テープをらせん状に巻いて構成するか、第４図に
２４ｂで示すように網目状金属円筒で構成することが考
えられるがそれ以外の方法でも構成可能である。第１図
に示す本発明によるプローブにおし・ては測定端部６を
形成する一体光ファイバ束５の先端外周部から被覆層４
が一部リング状に除去され、概ね被覆層に等し℃・外径
を有する金属環２１が光ファイバ束５の外周上に嵌着さ
れて導電接触部を形成している。なお金属環２１の先端
と光ファイバ東５の先端とは同一面上に整列されている
。また金属環２１は外径が段付になっており小径部は被
覆層４の内側に挿入固定されている。この金属環２１は
導電接触部としての機能を有するほかに光ファイバ束５
の固定および端面仕上を容易にする効果も有する。金属
環２１からなる導電接触部は前述の導電層２４の一端と
結合されてし・る。また導電層２４の他端は一体光ファ
イバ束５の終端すなわち分岐部まで延呻しているが、こ
の導電層２４の他端と受光コネクタ金具１９とがコネク
タ１８内部を受光用光ファイバ束３に沿って延設された
リード線２５によってｍ％可能に接続されている。これ
によシブローブ２３先端の導電接触部である金属環２１
は導電層２４を介して接続端子である受光コネクタ金具
１９と導電可能に接続される。なお、上記導電層２４の
他端部は受光コネクタ金具１９でなく送光コネクタ金具
２０あるいは両方のコネクタ金具と接続することも可能
である。

第１図の実施例の場合、受光コネクタ金具１９を第９図
に示したプローブ導電接触部への回路に接続することに
より高周波微小電流が受光コネクタ金具１９からリード
線２５、導電層２４を経てプローブ２３の測定端部外周
に設けられた導電接触部としての金属環２１へ流れる。

したがってプローブ２３の測定端部６が測定対象組織に
接触すると金属環２１も測定対象組織に接触するため、
第８図に示した場合と同様にアース電極１５と導電接触
部である金属環２１との間に高周波微小電流が流れ、こ
のときの接触インピーダンスを測定することによりプロ
ーブの接触検知を行うことかできる。

第２図は本発明による組織スペクトル測定ブロ−ブの池
の実施例を示す。第１図におし・ではプローブ２３０測
定端部先端外周に導電接触部として金属環２１が嵌着さ
れたが第２図の実施例においては金属環は嵌着されてい
ない。かわりに薄層の環状体をなす導電層２４が一体光
ファイバ束５の全長に沿って被覆層４の内側を測定端部
６まで延坤されている。すなわち導電層２４の一端が測
定端部６の端面に一致して導電接触部２９を形成してお
シ、第１図の実施例の構成をより簡略化したものといえ
る。また導電層２４の他端は一体光ファイバ束５の終端
すなわち分岐部まで延坤し、この導電層２４の他端から
はり−ド線２６が延呻し、リード線２６はコネクタ部１
８内部から外部へ引出され接続端子２７に結合されてい
る。この場合接続端子２７はプローブ２８の受光または
送光コネクタ金具１９．２０とは別個のものである。以
上の構成によってもプローブ２８先端で導電接触部２９
を形成しかつ一体光ファイバ束５に沿って延坤する導電
層２４は接続端子２７と導電可能に接続される。したが
って第１図の実施例の場合と同様にして接続端子２７を
第９図に示したプローブ導電接触部への回路に接続する
ことにより高周波微小電流が接続端子２７からリード線
２６を経て導電層２４へ流れ、すなわち導電層の先端部
である導電接触部２９へ流れる。したかってプローブ２
８の測定端部６か測定対象組織に接触すると導電層２４
の先端部である導電接触部２９も測定対象組織に接触す
るため第８図に示した場合と同様にアース電極１５と導
電接触部２９との間に高周波微小電流が流れ、このとき
の接触インピーダンスを測定することによシブロープの
接触検知を行うことができる。

上記環状の導電層は微小電流を通すだけなので極めて薄
層で良く、光ファイバ束の太さへの影響は小さい。また
上記環状の導電層の使用は導電体として金稿１）　−ド
線を光ファイバ束に含めて延呻させる方法に比ベプロー
ブ使用時の曲げやねじり等の疲労に対する耐久性がすぐ
れ、さらにプローブ外周表面をより滑らかとすることが
できる等の利点がある。

（へ）発明の効果 以上のように本発明は互いに概ね並行する送光用光ファ
イバと受光用光ファイバが外周を被覆層に覆われて一体
光ファイバ束として形成された測定端部と、前記送光用
光ファイバと受光用光ファイバか互いに分岐独立した光
ファイバ束を形成してそれぞれ送光および受光コネクタ
金具に接続されたコネクタ端部とを有し、前記測定端部
が測定対象組織に接触させられる組織ス（クトル測定プ
ローブにおいて、環状の導電性薄層を前記一体光ファイ
バ束と前記被覆層との間に少くとも前記一体光ファイバ
束の全長主要部にわたって延設し、前記導電性薄層を前
記一体光ファイバ束の先端面に一致しかつ概ね前記被覆
層外径以下の径を有して前記プローブに一体に設けられ
た導電接触部と前記コネクタ端部側に設けられかつ接触
検知回路に接続されるべき接続端子とに導電可能に結合
したことを特徴とする。

これにより被覆層内に設けられた環状の導電層は薄層で
あるため導電層の存在によるプローブ外径の増加はわず
かであシかつプローブ先端にプローブに一体に設けられ
た導電接触部も概ね被覆層外径以内の径を有しているた
めプローブ全体の外径をほとんど大きくすることなく、
また被覆層内に環状の導電層を設げたためリード線をプ
ローブ外部に延坤させることなく、プローブの対象組織
への接触検知を可能にした組織スペクトル測定プローブ
が提供される。この組織スペクトル１ｌｌ１１　定プロ
ーブは内視鏡の鉗子口を通して体内に挿入するのに適し
、しかも取扱℃・が簡単である。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明による組織スペクトル測定プローブの一
実施例の軸方向断面図、 第２図は本発明による組織スペクトル捌ｊ定プローブの
他の実施例の軸方向断面図、 第３図および第４図は本発明による組織スペクトル測定
プローブの被覆層内の構成を示す概略図、第５図は組織
スペクトル測定プローブの溝底概念および測定原理を示
す概要図、 第６図は第５図に対応するズロソク図、第７図は祖熾ス
ペクトル迎１定プローブの実際の輪郭を示す斜視図、 第８図は組織ス（クトル測定プローフを使用する際の接
触検知方法を示す概要図、 第９図は第８図の接触検知方法に使用される接触検知回
路の回路図、 第１０図は従来の組織スペクトル測定プローブに使用さ
れて℃・た接触検知のためのリード線付スリーブの斜視
図。 １．２３．２８・・・組織ス（クトル測定プローブ２・
・・送光用光ファイバ　３・・・受光用光ファイバ４・
・被覆層　　　　　　５・・・一体光ファイバ束６・・
・測定端部　　　　１８・・・コネクタ端部２１・・金
属環　　　　２４・・・導電性薄層２７・・接続端子　
　　２９・・・導電接触部特許出願人　住友電気工業株
式会社 （外５名９ 第５図 ス 第８図 第９図 第１０図

Claims (6)

【特許請求の範囲】
1. （１）互いに概ね並行する送光用光ファイバと受光用光
   ファイバが外周を被覆層に覆われて一体光ファイバ束と
   して形成された測定端部と、前記送光用光ファイバと受
   光用光ファイバが互いに分岐独立した光ファイバ束を形
   成してそれぞれ送光および受光コネクタ金具に接続され
   たコネクタ金具に接続されたコネクタ端部とを有し、前
   記測定端部が測定対象組織に接触させられる組織スペク
   トル測定プローブにおいて、環状の導電性薄層を前記一
   体光ファイバ束と前記被覆層との間に少くとも前記一体
   光ファイバ束の全長主要部にわたつて延設し、前記導電
   性薄層を前記一体光ファイバ束の先端面に一致しかつ概
   ね前記被覆層外径以下の径を有して前記プローブに一体
   に設けられた導電接触部と前記コネクタ端部側に設けら
   れかつ接触検知回路に接続されるべき接続端子とに導電
   可能に結合したことを特徴とする組織スペクトル測定プ
   ローブ。
2. （２）前記導電性薄層が導電性テープまたは網目状金属
   からなることを特徴とする特許請求の範囲第１項に記載
   の組織スペクトル測定プローブ。
3. （３）前記導電接触部が前記測定端部の先端外周の前記
   被覆層を除去することにより前記一体光ファイバ束に嵌
   着された前記被覆層と概ね同径の金属環であることを特
   徴とする特許請求の範囲第１項または第２項に記載の組
   織スペクトル測定プローブ。
4. （４）前記導電接触部が前記環状の導電性薄層と連続的
   かつ一体に構成された環状の導電性薄層であることを特
   徴とする特許請求の範囲第１項または第２項に記載の組
   織スペクトル測定プローブ。
5. （５）前記接触検知回路に接続される接続端子が前記送
   光または受光コネクタ金具の少くとも１つであることを
   特徴とする特許請求の範囲第１項または第２項に記載の
   組織スペクトル測定プローブ。
6. （６）前記接触検知回路に接続される接続端子が前記送
   光または受光コネクタ金具とは別個の接続端子であるこ
   とを特徴とする特許請求の範囲第１項または第２項に記
   載の組織スペクトル測定プローブ。