JPS6177132A - 磁気記録媒体 - Google Patents
磁気記録媒体Info
- Publication number
- JPS6177132A JPS6177132A JP19846884A JP19846884A JPS6177132A JP S6177132 A JPS6177132 A JP S6177132A JP 19846884 A JP19846884 A JP 19846884A JP 19846884 A JP19846884 A JP 19846884A JP S6177132 A JPS6177132 A JP S6177132A
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- JP
- Japan
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- plasma
- atoms
- silicon
- protective film
- carbon atoms
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- Pending
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野および発明の目的]この発明は磁気
記録媒体に関し、その目的とするところは、耐食性に優
れた磁気記録媒体を提供することにある、 〔従来の技術〕 一般に、磁性粉末を結合剤とともに基体フィルム上に塗
着させるか、或いは強磁性金属またはそれらの合金など
を真空蒸着等によって鵡体フィルム上に被着してつくら
れる磁気記録媒体は、記録再生時に磁気ヘッド等と激し
く店接するため磁性層が摩耗され易く、特に真空蒸着等
によって形成される強磁性金属薄膜型磁気記磁気体は、
高密度記録特性に優れろ反面、磁気ヘッドとの摩擦係数
が大きくてsp耗や損傷を受は易く、また空気中で徐々
に酸化を受けて最大磁束密度などの磁気特性が劣化する
などの難点がある。
記録媒体に関し、その目的とするところは、耐食性に優
れた磁気記録媒体を提供することにある、 〔従来の技術〕 一般に、磁性粉末を結合剤とともに基体フィルム上に塗
着させるか、或いは強磁性金属またはそれらの合金など
を真空蒸着等によって鵡体フィルム上に被着してつくら
れる磁気記録媒体は、記録再生時に磁気ヘッド等と激し
く店接するため磁性層が摩耗され易く、特に真空蒸着等
によって形成される強磁性金属薄膜型磁気記磁気体は、
高密度記録特性に優れろ反面、磁気ヘッドとの摩擦係数
が大きくてsp耗や損傷を受は易く、また空気中で徐々
に酸化を受けて最大磁束密度などの磁気特性が劣化する
などの難点がある。
このため、磁性層上に種々の保ff!膜暦を設けて耐久
性を改善することが行われている。近年、たとえば、ケ
イ素系有機化合物のモノマーガスをプラズマ重合して、
ケイ素系有機化合物のプラズマ重合保護膜層を磁性層上
に形成することが試みられているが、未だ、耐食性を充
分に改善することができず、充分に満足できる結果は得
られていなし嘱。
性を改善することが行われている。近年、たとえば、ケ
イ素系有機化合物のモノマーガスをプラズマ重合して、
ケイ素系有機化合物のプラズマ重合保護膜層を磁性層上
に形成することが試みられているが、未だ、耐食性を充
分に改善することができず、充分に満足できる結果は得
られていなし嘱。
本発明にかかる現状に鑑みてなされたもので。
磁性層上に少くともケイ素原子と炭素原子を含むケイ素
系有機化合物のプラズマ重合保護膜を設け、その保護層
中のケイ素原子に対する炭素原子の原子数比が約0.5
倍以上であることを特徴とするものである。
系有機化合物のプラズマ重合保護膜を設け、その保護層
中のケイ素原子に対する炭素原子の原子数比が約0.5
倍以上であることを特徴とするものである。
本発明におけるケイ素系有機化合物のプラズマ重合保′
r!i膜層は、具体的には1例えばケイ素原子と炭素原
子と酸素原子とを含むプラズマ重合物。
r!i膜層は、具体的には1例えばケイ素原子と炭素原
子と酸素原子とを含むプラズマ重合物。
あるいはケイ素原子と炭素原子と酸素原子と水素原子と
を含むプラズマ重合物、またはケイ素原子と炭素原子と
!tfi原子と水素原子と窒素原子とを含むプラズマ重
合物などから構成される。
を含むプラズマ重合物、またはケイ素原子と炭素原子と
!tfi原子と水素原子と窒素原子とを含むプラズマ重
合物などから構成される。
炭素原子の含有量がケイ素原子に対して原子数比で0.
5倍よりも少くては、5i−0結合が豊富になりすぎ、
気相中でケイ素系有機化合物でモノマーガスが反応して
粉末化したり1分解してS10被膜ができるなどして充
分に緻密で強靭なケイ素系有機化合物のプラズマ重合保
:!!膜層が得られず、走行性、耐久性において欠ける
。また炭素原子の含有量がケイ素原子に対し、て原子数
比で2.0倍よりも多くては、C−C結合が豊富となり
、ケイ素原子と炭素原子が充分に架橋した構造をもつプ
ラズマ重合保護膜層が得られ難いため耐食性が充分でな
い。
5倍よりも少くては、5i−0結合が豊富になりすぎ、
気相中でケイ素系有機化合物でモノマーガスが反応して
粉末化したり1分解してS10被膜ができるなどして充
分に緻密で強靭なケイ素系有機化合物のプラズマ重合保
:!!膜層が得られず、走行性、耐久性において欠ける
。また炭素原子の含有量がケイ素原子に対し、て原子数
比で2.0倍よりも多くては、C−C結合が豊富となり
、ケイ素原子と炭素原子が充分に架橋した構造をもつプ
ラズマ重合保護膜層が得られ難いため耐食性が充分でな
い。
また、水S原子は原子数ではケイ素原子の6〜9倍含有
させることが好ましく、窒素原子はいかなる含有量であ
ってもよい。さらに、e&素原子はプラズマ重合保護膜
層の形成過程において不純物程J捉に微量に含有されて
も、プラズマ重合保護膜層の摩擦係数および強度等に特
に悪影響を及ぼさないため、微量であれば含有されてい
ても差支えない。これに対し、a素原子を含有するケイ
素系原子系有機化合物のモノマーガスを使用したりして
プラズマ重合保護膜層中に酸素原子を含有させると、そ
の酸素含有量が多いため、気相中で反応したり、分解し
てSiO被膜ができるなどして。
させることが好ましく、窒素原子はいかなる含有量であ
ってもよい。さらに、e&素原子はプラズマ重合保護膜
層の形成過程において不純物程J捉に微量に含有されて
も、プラズマ重合保護膜層の摩擦係数および強度等に特
に悪影響を及ぼさないため、微量であれば含有されてい
ても差支えない。これに対し、a素原子を含有するケイ
素系原子系有機化合物のモノマーガスを使用したりして
プラズマ重合保護膜層中に酸素原子を含有させると、そ
の酸素含有量が多いため、気相中で反応したり、分解し
てSiO被膜ができるなどして。
充分に緻密で強靭なケイ素系有機化合物のプラズマ重合
保護ff!J層が得られず、摩擦係数も太き(なる。
保護ff!J層が得られず、摩擦係数も太き(なる。
このような少くともケイ素原子と炭素原子とを含み、か
つケイ素原子に対し原子数比で0,5倍以上の炭1fU
R子を含有するケイ素系有機化合物のプラズマ重合保護
膜層は、少くともケイ素原子。
つケイ素原子に対し原子数比で0,5倍以上の炭1fU
R子を含有するケイ素系有機化合物のプラズマ重合保護
膜層は、少くともケイ素原子。
炭素原子を含むケイ素系有機化合物の七ツマ〜ガスを高
周波によりプラズマ重合させることによって被着形成さ
れ、さらに高周波によりプラズマ重合させる際、高周波
の出力を調整するなどでプラズマ重合保護膜層の架橋密
度を調整することができる。
周波によりプラズマ重合させることによって被着形成さ
れ、さらに高周波によりプラズマ重合させる際、高周波
の出力を調整するなどでプラズマ重合保護膜層の架橋密
度を調整することができる。
このようなケイ素系有機化合物のプラズマ重合保if!
膜層を形成するのに使用するケイ素系有機化合物の七ツ
マーガスとしては、たとえば、テトラメチルシラン、ヘ
キサメチルジシラザン、ビニルトリメチルシラン、トリ
メチルシリルアセチレン等のケイ女系有機化合物のモノ
マーガスが使用されるにれらのケイ素系有機化合物のモ
ノマーガスは、高周波によりラジカルが生成され、この
生成さ九たラジカルが重合反応して被膜となる。
膜層を形成するのに使用するケイ素系有機化合物の七ツ
マーガスとしては、たとえば、テトラメチルシラン、ヘ
キサメチルジシラザン、ビニルトリメチルシラン、トリ
メチルシリルアセチレン等のケイ女系有機化合物のモノ
マーガスが使用されるにれらのケイ素系有機化合物のモ
ノマーガスは、高周波によりラジカルが生成され、この
生成さ九たラジカルが重合反応して被膜となる。
またこれらのモノマーガスをプラズマ重合する際、さら
にアルゴンガスおよびヘリウムガス等のキャリアガスを
併存させると、さらにプラズマ重合保?s膜層が速い速
度で被着されるため、これらのキャリアカスを併存させ
て行うのが好ましい。
にアルゴンガスおよびヘリウムガス等のキャリアガスを
併存させると、さらにプラズマ重合保?s膜層が速い速
度で被着されるため、これらのキャリアカスを併存させ
て行うのが好ましい。
これらのアルゴンガスおよびヘリウムガス等のキャリア
ガスを併存させる際、その組成割合はキャリアガス対前
記ケイ素系有機化合物のモノマーガスと炭化水素系化合
物のモノマーガスの混合ガスの容積比にして4対Iの割
合で併存させるのが好ましい。これらのキャリアガスが
少なすぎると被着速度が低下し、多すぎると七ツマーガ
スが少なくなってプラズマ重合反応に支障をきたす。
ガスを併存させる際、その組成割合はキャリアガス対前
記ケイ素系有機化合物のモノマーガスと炭化水素系化合
物のモノマーガスの混合ガスの容積比にして4対Iの割
合で併存させるのが好ましい。これらのキャリアガスが
少なすぎると被着速度が低下し、多すぎると七ツマーガ
スが少なくなってプラズマ重合反応に支障をきたす。
プラズマ重合を行う場合のガス圧および高周波の出力は
、ガス圧を0.(](15〜O,lOトール範囲内とし
、高周波出力を0 、3〜3 W/eI11の範囲内と
するのが/JF1ニジい、ガス圧を高くしすぎると、プ
ラズマ重合保護++* *Vが架(凸山度が低くC柔か
く。
、ガス圧を0.(](15〜O,lOトール範囲内とし
、高周波出力を0 、3〜3 W/eI11の範囲内と
するのが/JF1ニジい、ガス圧を高くしすぎると、プ
ラズマ重合保護++* *Vが架(凸山度が低くC柔か
く。
炭fl原子がケイ素原子に対して原子数比で多くなりす
ぎ、Si C結合がほとんど見られないものとなり、
ガス圧を低(しすぎると放電が起こらない。また、高周
波出力を大きくしすぎるとSi−〇結合が豊富になりす
ぎ、気相中でケイ素系有機化合物のモノマーガスが反応
して粉末化したり分解してSiQ被膜ができるなどして
充分にFIL密で強靭なケイ素系有機化合物のプラズマ
重合保iiW膜層が得られず、高周波出力を小さくしす
ぎると放電が安定しない。
ぎ、Si C結合がほとんど見られないものとなり、
ガス圧を低(しすぎると放電が起こらない。また、高周
波出力を大きくしすぎるとSi−〇結合が豊富になりす
ぎ、気相中でケイ素系有機化合物のモノマーガスが反応
して粉末化したり分解してSiQ被膜ができるなどして
充分にFIL密で強靭なケイ素系有機化合物のプラズマ
重合保iiW膜層が得られず、高周波出力を小さくしす
ぎると放電が安定しない。
二のようにしてプラズマ重合によって被着形成される少
なくともケイ素原子と炭素原子を含み。
なくともケイ素原子と炭素原子を含み。
かつケイ素原子に対し原子数比で0.5以上の炭素原子
を含有するケイ素系有機化合物のプラズマ重合保護膜層
は、5i−C,5i−0結合をバランスよく豊富にもち
、またケイ素原子と炭素原子が充分に架橋した構造をも
つため、この種のケイ素系有機化合物のプラズマ重合保
護膜層が形成されると耐食性が一段と向上する。二のよ
うなケイ素系有機化合物のプラズマ重合保護膜層の膜厚
は20〜1000人の範囲内であることが好ましく。
を含有するケイ素系有機化合物のプラズマ重合保護膜層
は、5i−C,5i−0結合をバランスよく豊富にもち
、またケイ素原子と炭素原子が充分に架橋した構造をも
つため、この種のケイ素系有機化合物のプラズマ重合保
護膜層が形成されると耐食性が一段と向上する。二のよ
うなケイ素系有機化合物のプラズマ重合保護膜層の膜厚
は20〜1000人の範囲内であることが好ましく。
膜厚が薄すぎると二の保護膜層による耐久性の効果が充
分に発揮されず、厚すぎるとスペーシングロスが大きく
なりすぎて電磁変換特性に悪影響を及ぼす。
分に発揮されず、厚すぎるとスペーシングロスが大きく
なりすぎて電磁変換特性に悪影響を及ぼす。
基体上に形成される磁性層は、γ−F e : 03粉
末、Fe5Oj粉末、Co含有y −F e : 03
粉末、Co含有Fe5O4flJ末、re扮末、G。
末、Fe5Oj粉末、Co含有y −F e : 03
粉末、Co含有Fe5O4flJ末、re扮末、G。
粉末、Fe−Ni粉末などの磁性粉末を結合剤成分およ
び有機溶剤等とともに基体上に塗布、乾燥するか、或い
は、Go、Ni、Fe、Co−Ni。
び有機溶剤等とともに基体上に塗布、乾燥するか、或い
は、Go、Ni、Fe、Co−Ni。
Go−Cr、Go−P、Co−N I−Pなどの強磁性
材を真空蒸着、イオンブレーティング、スパッタリング
、メッキ等の手段によって基体上に被着するなどの方法
で形成される。
材を真空蒸着、イオンブレーティング、スパッタリング
、メッキ等の手段によって基体上に被着するなどの方法
で形成される。
また、磁気記録媒体としては、ポリエステルフィルj、
、fJ:どの合成虜脂フィルムを基体とする磁気テープ
、円盤やドラムを基体とする磁気ディスクや磁気ドラム
など、磁気ヘッドと摺接する構造の種々の形3を包含オ
ろ6 〔実施例〕 次に本発明の実権例について説明する。。
、fJ:どの合成虜脂フィルムを基体とする磁気テープ
、円盤やドラムを基体とする磁気ディスクや磁気ドラム
など、磁気ヘッドと摺接する構造の種々の形3を包含オ
ろ6 〔実施例〕 次に本発明の実権例について説明する。。
実施例1
厚さ10 yt rnのポリエステルフィル11を真空
蒸着装置I′!に1々填1、々XIQ−’ トールの
真空下でコバtし1−を加熱蒸発させて、ポリエステル
フィルム上にQさ+ 000人のコバルト・からなる強
磁性金属薄n層を形成した1次いで、哨1図に示すプラ
ズマ処!!!I情はを使用し、 この強磁性金属薄明層
を形成したポリエステルフィル?、1を処理槽2内(こ
西己U’2 t’た些仮3 F、にセットし、ガスi減
人管4からテトラメチルシランCハモノフーガスを70
scrmの流猷で導入し、ガス圧を0.01トーlし
で[w35により13.56Mド2の高周波を3W/d
で1分間印加し、プラズマ重合保1III層を形成した
。
蒸着装置I′!に1々填1、々XIQ−’ トールの
真空下でコバtし1−を加熱蒸発させて、ポリエステル
フィルム上にQさ+ 000人のコバルト・からなる強
磁性金属薄n層を形成した1次いで、哨1図に示すプラ
ズマ処!!!I情はを使用し、 この強磁性金属薄明層
を形成したポリエステルフィル?、1を処理槽2内(こ
西己U’2 t’た些仮3 F、にセットし、ガスi減
人管4からテトラメチルシランCハモノフーガスを70
scrmの流猷で導入し、ガス圧を0.01トーlし
で[w35により13.56Mド2の高周波を3W/d
で1分間印加し、プラズマ重合保1III層を形成した
。
しかる後、所定の巾に裁断して、第2図に示すようなポ
リエステルフィルムl上に強磁性金属薄膜層6およびプ
ラズマ重合保護薄膜7を順次に積層形成した磁気テープ
Aをつくった。このときのプラズマ重合保護膜層の厚み
は300人であった。
リエステルフィルムl上に強磁性金属薄膜層6およびプ
ラズマ重合保護薄膜7を順次に積層形成した磁気テープ
Aをつくった。このときのプラズマ重合保護膜層の厚み
は300人であった。
なお1図中8は処理槽2内を減圧するための排気系であ
り、9は電極5に高周波を印加するための高周波電源で
ある。
り、9は電極5に高周波を印加するための高周波電源で
ある。
実施例2
実施例1のプラズマ重合保護膜層の形成において、高周
波電力密度と1.5W/CAどした以外は実施例1と同
様にして磁気テープAをつ(つた。
波電力密度と1.5W/CAどした以外は実施例1と同
様にして磁気テープAをつ(つた。
このときのプラズマ重合保ff!膜層の厚みは250人
であった。
であった。
実施例3
実施例りのプラズマ重合保護膜層の形成において、ガス
圧を0.05トールとした以外は実施例1と同様にして
磁気テープAをつくった。このときのプラズマ重合保護
膜層の厚みは320人であった。
圧を0.05トールとした以外は実施例1と同様にして
磁気テープAをつくった。このときのプラズマ重合保護
膜層の厚みは320人であった。
実施例4
実m例2のプラズマ重合保護膜層の形成にむいて、ガス
圧を0.05)−−ルとした以外は実施例2と同棲にし
て磁気テープAをつくった。二のときのプラズマ重合保
護[1!a層のJダみは280大、であった。
圧を0.05)−−ルとした以外は実施例2と同棲にし
て磁気テープAをつくった。二のときのプラズマ重合保
護[1!a層のJダみは280大、であった。
実76五例;う
実施(′、114のプラズマ重合保護膜層の形成におい
て、テトラメチルソランの千ツマーガスに代えてヘキサ
メチルジンラザンのモノマーガスを1005 CCmの
流量で導入し、た以外は実施例4と同様にして磁気テー
プAをつくった。このときのプラズマ重合保護膜層の厚
みは250人であった。
て、テトラメチルソランの千ツマーガスに代えてヘキサ
メチルジンラザンのモノマーガスを1005 CCmの
流量で導入し、た以外は実施例4と同様にして磁気テー
プAをつくった。このときのプラズマ重合保護膜層の厚
みは250人であった。
比較例!
実施例1のプラズマ重合保護膜層の形成において、高周
波電力密度を3 、5 W/c+Jとした以外は実施例
1と同様にして磁気テープをつくった。二のときのプラ
ズマ重合保護膜層厚みは320人であった。
波電力密度を3 、5 W/c+Jとした以外は実施例
1と同様にして磁気テープをつくった。二のときのプラ
ズマ重合保護膜層厚みは320人であった。
比較例2
実施例1のプラズマ重合保護膜層の形成において、ガス
圧を0.2トールとした以外は実施例!と同様にして磁
気テープをつくった。このときのプラズマ重合保護膜層
の厚みは350人であった。
圧を0.2トールとした以外は実施例!と同様にして磁
気テープをつくった。このときのプラズマ重合保護膜層
の厚みは350人であった。
比較例3
実施例1のプラズマ重合保げ膜Pの形成において、テト
ラメチルソランのモノマーガスに代えてエチレンの千ツ
マーガス”r−80secmの流量で6人した以外は実
施例1ど同様にして磁気テープをつくった。このときの
プラズマ重合保護膜層の厚みは350人であった。
ラメチルソランのモノマーガスに代えてエチレンの千ツ
マーガス”r−80secmの流量で6人した以外は実
施例1ど同様にして磁気テープをつくった。このときの
プラズマ重合保護膜層の厚みは350人であった。
比較例4
実施例1において、プラズマ重合保護膜層の形成を省い
た以外は実施例1と同棲にし、て磁気テープをつくった
。
た以外は実施例1と同棲にし、て磁気テープをつくった
。
各実施例および各比較例で得られた磁気テープについて
、オージェ電子分光計を用いて、プラズマ重合保護膜層
中のケ・(素原子と炭素原子の原子数比を測定した。ま
た、耐食性試験として得られた磁気テープを60℃、9
0%R1(の条件下に7口開放置しC最大シλ東南度を
測定し、放置前の磁気テープの最大磁束密度を11)0
%とし、これと比較した値でその劣化率を調へた。
、オージェ電子分光計を用いて、プラズマ重合保護膜層
中のケ・(素原子と炭素原子の原子数比を測定した。ま
た、耐食性試験として得られた磁気テープを60℃、9
0%R1(の条件下に7口開放置しC最大シλ東南度を
測定し、放置前の磁気テープの最大磁束密度を11)0
%とし、これと比較した値でその劣化率を調へた。
上表力1ら明らかなように、この発明で得られた磁気テ
ープ(実施例!、2,3.4および5)は、いずれも比
軸例1.2.3および4で得られた磁気テープに比し、
最大磁束密度の劣化率が小さく、この二とから二の発明
によって得られる磁気記録媒体は、耐食性が一段と向上
さ4れでいることがわかる。
ープ(実施例!、2,3.4および5)は、いずれも比
軸例1.2.3および4で得られた磁気テープに比し、
最大磁束密度の劣化率が小さく、この二とから二の発明
によって得られる磁気記録媒体は、耐食性が一段と向上
さ4れでいることがわかる。
第1図はプラズマ重合保、7f嗅層を形成する際に使用
するプラズマ処理袋はの一例を示す概略断面図、第2図
は二の発明によって得られた磁気テープの部分拡大断面
図である。 ■・・・・・ポリエステルフ・rルム(苓体)、6・・
・・・・強磁性金属薄膜層(磁性だ)、7・・・・・プ
ラズマ剪合保護嘆層、A・・・・磁気テープ(磁気記録
媒体)。
するプラズマ処理袋はの一例を示す概略断面図、第2図
は二の発明によって得られた磁気テープの部分拡大断面
図である。 ■・・・・・ポリエステルフ・rルム(苓体)、6・・
・・・・強磁性金属薄膜層(磁性だ)、7・・・・・プ
ラズマ剪合保護嘆層、A・・・・磁気テープ(磁気記録
媒体)。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、基体上に磁性層を形成し、この磁性層上に少なくと
もケイ素原子と炭素原子とを含むケイ素系有機化合物の
プラズマ重合保護層を設け、その保護層中のケイ素原子
に対する炭素原子の原子数比が約0.5倍以上であるこ
とを特徴とする磁気記録媒体。 2、特許請求の範囲第1項記載において、前記プラズマ
重合保護層中のケイ素原子に対する炭素原子の原子数比
が約1.5〜2.0倍の範囲に規制されていることを特
徴とする磁気記録媒体。 3、特許請求の範囲第1項において、前記プラズマ重合
保護層がケイ素原子、炭素原子、酸素原子、水素原子な
らびに窒素原子を含有していることを特徴とする磁気記
録媒体。 4、特許請求の範囲第1項において、前記磁性層が金属
強磁性体からなることを特徴とする磁気記録媒体。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP19846884A JPS6177132A (ja) | 1984-09-25 | 1984-09-25 | 磁気記録媒体 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP19846884A JPS6177132A (ja) | 1984-09-25 | 1984-09-25 | 磁気記録媒体 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6177132A true JPS6177132A (ja) | 1986-04-19 |
Family
ID=16391606
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP19846884A Pending JPS6177132A (ja) | 1984-09-25 | 1984-09-25 | 磁気記録媒体 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6177132A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5093152A (en) * | 1987-04-22 | 1992-03-03 | L'air Liquide, Societe Anonyme Pour L'etude Et L'exploitation Des Procedes Georges Claude | Process for protecting an optical substrate by plasma deposition |
-
1984
- 1984-09-25 JP JP19846884A patent/JPS6177132A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5093152A (en) * | 1987-04-22 | 1992-03-03 | L'air Liquide, Societe Anonyme Pour L'etude Et L'exploitation Des Procedes Georges Claude | Process for protecting an optical substrate by plasma deposition |
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