JPS6181087A - 固体撮像装置 - Google Patents
固体撮像装置Info
- Publication number
- JPS6181087A JPS6181087A JP59203718A JP20371884A JPS6181087A JP S6181087 A JPS6181087 A JP S6181087A JP 59203718 A JP59203718 A JP 59203718A JP 20371884 A JP20371884 A JP 20371884A JP S6181087 A JPS6181087 A JP S6181087A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- pixel
- signal
- output
- solid
- imaging device
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10F—INORGANIC SEMICONDUCTOR DEVICES SENSITIVE TO INFRARED RADIATION, LIGHT, ELECTROMAGNETIC RADIATION OF SHORTER WAVELENGTH OR CORPUSCULAR RADIATION
- H10F39/00—Integrated devices, or assemblies of multiple devices, comprising at least one element covered by group H10F30/00, e.g. radiation detectors comprising photodiode arrays
- H10F39/10—Integrated devices
- H10F39/12—Image sensors
- H10F39/196—Junction field effect transistor [JFET] image sensors; Static induction transistor [SIT] image sensors
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
- H04N25/00—Circuitry of solid-state image sensors [SSIS]; Control thereof
- H04N25/60—Noise processing, e.g. detecting, correcting, reducing or removing noise
- H04N25/63—Noise processing, e.g. detecting, correcting, reducing or removing noise applied to dark current
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Multimedia (AREA)
- Signal Processing (AREA)
- Transforming Light Signals Into Electric Signals (AREA)
- Solid State Image Pick-Up Elements (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
(技術分野)
本発明は、光電変換作用、増幅作用およびスイッチング
作用を併せ持つ静電誘導トランジスタを撮像素子として
用いる固体撮像装置に関するものである。 (従来の技術) 従来、固体撮像装置としてはCOD等の電荷転送素子を
用いるものや、MoSトランジスタを用いるものなどが
広く用いられている。しかし、これらの固体撮像装置は
電荷転送時に電荷の洩れがあること、光検出感度が低い
こと、集積度が上がらないことなどの問題がある。この
ような問題を一挙に解決するものとして、静電誘導トラ
ンジスタ 。 (5tatic Induction Transis
torの頭文字をとってSITと呼ばれている)を用い
たものが新だに提案されているっ例えば特開昭55−1
5229号公報には、マトリックス状に配列したSIT
のソースを行ラインに接続し、ドレインを列ラインに接
続し、ゲートなり11アラインに接続した固体撮像装置
が示されている。また、SITとして零ゲートバイアス
下でオフ状態にあるノマリーオフ形のものを用いるもの
がある。このノーマリ−オフ形のSITを用いる固体撮
像装置においては、電荷注入域で信号を読出すため、振
幅の大きなスパイク状信号が得られるという特長を有す
るが、他方では読出し時のSITゲート電位の実行的使
用範囲が、SITがオン状態になり始める正のピンチオ
フ電圧から、ゲートからソースへの電荷注入が起こるゲ
ート電圧才でと狭いため、扱える入射光量範囲が狭く、
一 ) ′−66;”p”c@、H露光量”′]゛さ゛
8′5間1゛8る。 このような問題を解決するものとして、SITとして零
ゲートバイアス下でオン状態にあるノーマリ−オン形の
ものを用いる固体撮像装置が開発されている。第10図
(Alは本願人が、特願昭58−165237号におい
て既に提案したノーマリ−オン形のSETを用いる固体
撮像装置の一画素を構成するSITの断面図、第10図
filは、その全体の回路構成図、第10図(0は、固
体撮像装置を動作させるための信号波形図である。 第10回頭において、ノーマリ−オン形のSITとする
ため、ゲート領域間の間隔Wgは比較的大きく形成する
ことができる。なお、各画素を分離する領域9は、絶縁
物ではなく、例えば、n拡散層で形成することもできる
。 第10図の)に示すように、該固体撮像装置は、上記構
成のノーマリ−オン形のS I T 20−11.20
−12、・・・・・・・・・20−mnが、マトリック
ス状に配列;1 され、XYアドレス方式により信号を読出すよ lう
に構成されている。すなわち、各画素を構成 糞す
るSITのドレインは接地され、X方向に配列された各
行のSIT群のゲート端子は、行ライン21−1121
−2、−・・・・・・・・21−mにそれぞれ接続され
ている。またY方向に配列のSIT群のソースは、列ラ
イン22−1.22−2、・・・・・・・・・22−n
に接続され、これらの列ラインは、それぞれ列選択用ト
ランジスタ23−1.23−・2、・・・・・・・・・
23−nを介して、ビデオライン24に共通に接続され
ている。ビデオライン24には負荷抵抗25を介して、
ビデオ電圧Vsが加えられている。 そして、行ライン21−1.21−2、−・・・・・・
・・21−m&!垂直走査回路26に接続され、それぞ
れ信号φG+。 φG2、・・・・・・・・・φGmが加わるようになっ
ている。また、列選択用トランジスタ23−1123−
2q・・・・・・・・・・・・23−nのゲート端子は
、水平走査回路27に接続され、信号φS】、φS2、
・・・・・・・・・φSnが加わるように構成されてい
る。 次に、第10図(qに示した波形図に基づいて、垂直走
査信号φG及び水平走査信号φSについて説明する。行
ラインに加えられる信号φG+、 φQ2゜・・・・・
・・・・は、小さい振幅電圧VφGと、それより大きい
振幅電圧VφRより成るもので、一つの行ラインの走査
期間tHの間ハvφG1次の行ラインの水平走査に移る
までのブランキング期間tBLにはVφBの値になるよ
うに設定されている。列選択用トランジスタのゲート端
子に加えられる水平走査信号φ81、φS2<・・・・
・・・・は、列ラインを選択するための信号で、低レベ
ルは列選択用トランジスタをオフ、高レベルはオンする
電圧値になるように設定されている。 第11図は、各画素の動作を説明するための一画素に対
する回路図である。20は7−マリ−オン形のSITで
あり、接地されたドレイン1、ゲート4、ゲート4とゲ
ート端子8間に形成されたコンデンサ7、及びソース3
からなる。SITのゲート4とドレイン1とは点線で示
したようにpn接合ダイオードDGを形成している。ダ
イオードDGの電圧・電流特性、すなわちゲート電位V
cとゲート・ドレイン間電流Icとの関係は、第12回
頭に示すような特性であり、ダイオードDG間の電圧、
すなわちvGがpn接合のビルトイン障壁電圧φBを越
えると、順方向電流が流れる、SITのソース自ドレイ
ン間の電流ID+z、ケート電圧■Gにより定まる。美
形的なノーマリ−オン形SITでは、IDはVGの指数
関数に比例し、第12図(Blに示すような特性になる
。 次に、第11図に示したSITのゲート4に、コンデン
サ7を介して信号φGが加わった時のゲート電位変化を
、第13図を用いて説明する。時刻jlに信号φGがV
φRとなると、コンデンサ7を介してDGrjJK順方
向電流が流れ、コンデンサ7は急速に電圧(VφR−φ
B)!で充電される。このためゲート電圧Vcは、vG
;φBとなる。次に時刻t2で信号φGがOvとなると
、夕゛イオードDGは逆バイアスされるため電流IGは
流れない。このためコンデンサ7間には電圧(VφR−
φB)が保たれ、Vc=−VφR+φBとなる。この後
、信号φGの次のVφGが加わる時刻t2までに、光照
射のため、電荷QLが蓄積し、VGはΔvG=QL/C
Gだけ上昇して、Vc =−VφR+φB+へlVcと
なる。時刻t3において、■φGが加わると、ゲート電
位VGGX上昇し、VG=−VφR+φB+ΔVG +
VφGとなる。この時に列選択この電流IDIにより
負荷抵抗(抵抗値をR,Lとする)25間に′電圧降下
V=ID1−RLを生じ、ビデオライン24iC信号出
力Vout ==Vs −IDI −R,Lが生じる。 t a ID 1はΔVGにより変化するため、入射光
量に対応した信号を読出すことができる。 第13図において、時刻t4で再び信号φGがVφRと
なるゲート電位VcはφBとなり、それまでの蓄積電荷
QLはクリアされる。時刻t5において、信号φGがO
Vになると、ゲート電位VGは再び、VG=−VφR十
φBにリセットされ、次のフィールドの電荷蓄積が開始
される。 以上の説明かられかるように、信号φGの大きい振幅電
圧VφRの値は、ゲート電位Vc=−VφR+φBに対
応する8”ITのドレイン電流ID2が十分小さく、S
ITがオフするような値に選ばれ、小さい部幅電圧Vφ
Gの値は、行選択時にゲート電流が流れないように、時
刻t3Vcおけるゲートit位、スナワチ、■G=−v
φR+φB+ΔvG十■φGが、φBより小さいという
条件、−vφR+φB+Δ:VG + VφGくφBか
ら、VφG−ΔVGを満足するような値に選ばれる。 次に、上記一画素の動作原理に基づいて、第10図(B
lに示した固体撮像装置の動作を説明する。 垂直走査回路26の作動により、信号φGI IJ″−
VφGになると、行ライン21−1に接続されたSIT
群が選択され、水平走査回路27より出力される信号φ
Sl、φS2、・・・・・・・・・φSnにより、行選
択用トランジスタ23−1123−2、・・・・・・・
・・23−nが順次オンすると、順次S I T2O−
11120−リ、・・・・・・・・・2O−1nの信号
がビデオライン24より出力される。続いて、このSI
T群は信号φG]が高レベルVφRになった時にリセッ
トされる。次いで、信号φG2が■φGとなると、行ラ
イン20−2に接続されたSIT群が選択され、水平走
査信号φSl、φS2、・・・・・・φSnにより、S
I T 20−21 、20−22、−・−・−・−
2Q−znの光信号が順次読出され、続いてリセットさ
れる。 以下同様にしてII■次各画素の光信号が読出され、1
フイールドのビデオ信号が得られる。 以上の動作は、実験の結果、良好に行われることが確認
された。なお、第10回頭において、ゲート領域4とド
レイン1との距離IGDが大きいと、エピタキツヤル層
2の抵抗のため、ゲート・ドレイン間電流が小さくなり
、ケートノリセットが不完全になるため、IGDは1〜
3μmと小さめにした方が特性上好ましい。NTSO標
準テレビジョン方式の場合、tBL−i=12μsであ
るが、上記の条件下ではその期間内に十分に良好にリセ
ットすることができる。 以上述べた既出の提案例は、連続して画像を撮像するテ
レビジョンカメラに有効であるが、画像を一画面毎に撮
像する、いわゆる電子カメラに使用するのに好適な既出
の提案例を次に示す。 第14図(Atは、かかる既出の提案例の回路構成の提
案例と同一であるが、第14図(AIに示すように、た
だ画素を構成するS I T 20−11 、20−1
2、・・・・・・・・・20−mnの共通に接続された
ドレイン1が、リセット回路40に接続され、す“セッ
ト信号φBが加えられるように構成した点が異なってい
る。 第14図(I3)において、φRは各SITのドレイン
1に加えられるリセット信号であり、各SETのゲート
電位をリセットする期間のみ負電圧−VRとなり、他の
期間はOvである。垂直走査信号φG+ 、 φG2
、・・・・・・・・・は、対応する行ライン21−1
。 21−2、−・・・・・・・・を走査する期間のみ高レ
ベル■φG、他はOvとなる信号である。水平走査信号
φS1、φS2、・・・・・・・・・G1列選択を行う
信号であり、SHは電子カメラに設けられたツヤツター
の開閉動作を示すものであり、VC&!ゲート電位の変
化を示す図である。 第14図(Blに示した波形図により動作を説明する。 時刻t1において、リセット信号φRが−VRと・、
な6と・全一(f18IT(7)ゲー)−)’1z
−17間′+l 電aがaれ、ゲートを位+t、
VG= −VR+ 95BICI+上セツトれろ。その
後、時刻tzvCおいてシ゛ヤツターが開かれ、光が照
射されることにより、ゲート電位は、Vc = −VR
+φB+ΔvGまで上昇する。 その後、時刻t3において、垂直走査信号φQlが高レ
ベル■φGになることにより、行ライン21−1に接続
されたSIT群のゲート電位は、Vc : −VR+φ
B+ΔVc+VφGに上昇し、水平走査信号φS1゜φ
S2、・・・・・・・・・により、列選択トランジスタ
がオンすることにより、S I T 20−11.2Q
−tz、・・・・・・・・・20−1 rlの信号が読
出される。次いで時刻t4において、信号φG1が■φ
Gから0ViCなると共に、信号φG2が高しヘルvφ
Gトナリ、8 I T 20−21゜20−22、・・
・・・・の信号が読出される。以下同様にし℃、S I
T 20−31120−32、−−−20−mnの信
号が続出され、一画面のビデオ信号が得られる。 光入射により上昇したゲート電位は、時刻t5において
、リセット信号φRが、−VRになることにより、全て
のSITのゲート・ドレイン間に電流が流れ、ゲート電
位は全て、Vc =−’ht+φBに 1゜リセット
され、次の画面の露光が可能となる。 )第15回置
は、第10図B)に示した既出の提案例の一部を変更し
たものである。第10図(Blに示した各SITの動作
回路は、他の既出の提案例と同様に、ドレインを接地し
、ソースに正電圧をかけて読出す、いわゆるドレイン接
地方式を用いたものであるが、この提案例は、ドレイン
に正電圧をかけ、ソースを負荷抵抗を介して接地する、
いわゆるソースフォロアにする動作方式%式% この場合、ゲート電位のリセットを行うためには、ドレ
イン側に正電圧が印加されているため、SIT群のソー
スが接続されている列ライン22−1.22−ζ・・・
・・・・・・22−nを接地してやるための、リセット
トランジスタ50−1.50−2、・・・・・・・・・
50−nが、列ライン毎に必要となる。51は該リセッ
トトランジスタのゲートにリセットパルスを送るリセッ
ト制御回路である。また、各画素のドレインは基板上で
共通接続され、正のドレイン電圧VDが印加されている
。行ライン及び列ラインに印加される選択走査信号φG
+、φG+、・・・・・・・・・及びφ3+。 φS2、・・・・・・・・・は、第10図(0に示した
既出の提案例のものと同様でこれを第15図(Blに示
す。ただ界るのは、行選択信号φQ+ 、φG2、・・
・・・・中のりセット時刻t1で、振幅■φRの電圧が
印加されるのに先立ち、各列ライン22−+、22−2
、・・・・・・・・・に、そのドレインが接続されたリ
セットトランジスタ50−1.50−2、・・・・・・
・・・50−n力、リセットパルスφRに −よ
ってオンとなり、各列ラインが接地され、リセット時刻
tlにおいて、選択された行ラインにつながる全ての列
ラインのSITのソースは全て接地電位となり、ゲート
に電位VφRが印加されることにより、順方向電流が、
列ライン及びリセットトランジスタを介してアースに流
れ、ゲート電位がリセットされる。ゲート電位の変化を
第15図(0に示す。 第10図Hに示した既出の提案例において&工、ゲート
電位のリセットが、ゲートから接地されから、リセット
トランジスタ50−1.50−2、・・・・・・・・・
を介して接地された列ライン22−1.22−2、・・
・・・・・・・に接続されたソースに対する順方向電流
によりゲート電位のリセットが行われるようになってい
る点で相違しているが、他の点の動作は第1の既出の提
案例と全く同様である。 なお、この既出の提案例において、ゲート電位のリセッ
ト時に、リセットトランジスタ50す、50−ζ・・・
・・・・・・のドレイン・ソース間の電位降下分が大き
いと、ゲートリセットに要する時間が大となるので、該
トランジスタのオン抵抗を小さく仰える必要があり、そ
のため、リセットトランジスタの、(ゲート+[)/(
ゲート長)にある程度以上の大きさが必要である。 以上説明した様に本願人が既に提案した固体撮像装置は
数々の利点を有するものであるが、該固体撮像装置には
一般的なSETを用いた固体撮像装置と同様に画素出力
にオフセット成いは暗出力が含まれている。それ故、従
来の固体撮像装置は上記オフセット成いは暗出力をキャ
ンセルする必要がある。第16装置はS■Tを用いた従
来の固体撮像装置の全体の回路構成図、同図(′B)は
該固体撮像装置の信号波形図である。 @16図囚装置いて、61はSIT撮像素子群62を備
えた固体撮像装置であり、第1ビツトラインの遮光画素
63、垂直走査回路64、列選択用トランジスタ群65
、水平走査回路66、ビデオライン67、負荷抵抗68
及びビデオ電源69で構成されている。それぞれに回路
を構成する機能部材は上述の既出の提案例と同様である
のでその説明は省略する。 70はビデオライン67に接続した切換スイッチであり
、同図Q3+に示すビデオ出力Vlに含まれるオフセ゛
ノド或いは暗出力をサンプルホールド回路71に保持さ
せるために切換える。すなわち、第1ビツトラインの遮
光画素の遮光画素出力は、水平走査周期tHだけサング
ルホールド回路71で保持され、次の第2ビツト以降の
ビデオ出力は差動増幅回路72に送出される。同図(B
lのビデオ出力V2&!、この様にしてオフセット及び
暗出力をキャンセルされた画素出力を示すものである。 然し乍ら、上述の固体撮像装置においては、暗出力が大
きい場合、例えば周囲温度が高い状態或いはツヤツター
機能を持たせた時、周囲が暗がある。 (発明の目的) 力が得られる固体撮像装置を提供することを目的とする
。 (発明の概要) 本発明はノーマリ−オン形誘電誘導トランジスタを用い
た固体撮像装置に遮光画素を設け、その遮光画素出力に
応じて行選択信号の電圧女レベルを制御する回路を設け
、上記遮光画素出力を零にするように行選択信号の電圧
レベルを自動制御することによりダイナミックレンジを
減少させることなくオフセット及び暗出力を含まないビ
デオ出力を得る固体撮像装置である。 (実施例) 本発明による固体撮像装置の実施例を添付図。 を参照して説明する。 第1図は本発明による固体撮像装置の基本の回路構成図
である。同図において、80は例えば上述の本願人が既
に提案したノーマリ−オン形SIT、すなわち、一方の
主電極と共通に接続された他方の主電極と、該主電極間
に配設されたチャネル領域とゲート領域とから成る画素
を構成するノーマリ−オン形SITとゲート領域に設け
たコンデンサで構成した撮像素子群81を備える固体撮
像装置である。撮像素子群81の各画素は行ライン及び
列ライン(図示せず)に夫々にm X n個マトリック
ス状に配列されXYアドレス方式により信号を読出すよ
うになっている。 82は第1ビツトの行ライン群に設けられ各画素を遮光
して構成した遮光画素である。なお、遮光画素82は第
1の行ラインにn個配列することもできる。83は垂直
走査回路で、m個の行ライが接続され、それぞれ信号φ
Ql、 φG2、・・・・・・・・・φGmが各画素に
加わるようになっている。84は行選択用トランジスタ
群で、各行選択用トランジス夕はそれぞれに対応する列
ラインに接続されている。85は水平走査回路で各列選
択用トランジスタを介して、対応する各画素に信号φ3
1.φS2・・・・・・・・・φSnが加わるようにな
っている。86&エビデオラインで出力端子87、負荷
抵抗が接続されたビデオ電源88がそれぞれに接続され
ている。 89は固体撮像装置soの画素出力に含まれるオフセッ
ト及び暗出力をキャンセルするための検出部を構成し、
サンプルホールド回路または積分回路及び比較器(いず
れも図示せず)で構成されている。検出部89の比較器
を介して制御回路90が接続され、該制御回路90には
垂直走査回路83が接続されている。この様にして上記
遮光画素からの遮光画素出力をサンプルホールド回路で
サンプル・ホールドするか又は積分回路で積分した出力
を比較器において、予じめ設定された基準電圧と比較し
、この比較出力に基づいて糎 垂直走査回路83
11?:供給さゎ□源電圧を毒制御すち るように構成されている。 上記回路構成に基づいて基本動作を説明する。 垂直走査回路83の作動により、信号φGlがVφGに
なると第1の行ラインに接続されたSIT群が選択され
水平走査回路85より出力される信号φS1、φS2、
・・・・・・・・・φSnにより、列選択用トランジス
タ84が11@次にオンする。この時、遮光ii’ii
素82の遮光画素出力
作用を併せ持つ静電誘導トランジスタを撮像素子として
用いる固体撮像装置に関するものである。 (従来の技術) 従来、固体撮像装置としてはCOD等の電荷転送素子を
用いるものや、MoSトランジスタを用いるものなどが
広く用いられている。しかし、これらの固体撮像装置は
電荷転送時に電荷の洩れがあること、光検出感度が低い
こと、集積度が上がらないことなどの問題がある。この
ような問題を一挙に解決するものとして、静電誘導トラ
ンジスタ 。 (5tatic Induction Transis
torの頭文字をとってSITと呼ばれている)を用い
たものが新だに提案されているっ例えば特開昭55−1
5229号公報には、マトリックス状に配列したSIT
のソースを行ラインに接続し、ドレインを列ラインに接
続し、ゲートなり11アラインに接続した固体撮像装置
が示されている。また、SITとして零ゲートバイアス
下でオフ状態にあるノマリーオフ形のものを用いるもの
がある。このノーマリ−オフ形のSITを用いる固体撮
像装置においては、電荷注入域で信号を読出すため、振
幅の大きなスパイク状信号が得られるという特長を有す
るが、他方では読出し時のSITゲート電位の実行的使
用範囲が、SITがオン状態になり始める正のピンチオ
フ電圧から、ゲートからソースへの電荷注入が起こるゲ
ート電圧才でと狭いため、扱える入射光量範囲が狭く、
一 ) ′−66;”p”c@、H露光量”′]゛さ゛
8′5間1゛8る。 このような問題を解決するものとして、SITとして零
ゲートバイアス下でオン状態にあるノーマリ−オン形の
ものを用いる固体撮像装置が開発されている。第10図
(Alは本願人が、特願昭58−165237号におい
て既に提案したノーマリ−オン形のSETを用いる固体
撮像装置の一画素を構成するSITの断面図、第10図
filは、その全体の回路構成図、第10図(0は、固
体撮像装置を動作させるための信号波形図である。 第10回頭において、ノーマリ−オン形のSITとする
ため、ゲート領域間の間隔Wgは比較的大きく形成する
ことができる。なお、各画素を分離する領域9は、絶縁
物ではなく、例えば、n拡散層で形成することもできる
。 第10図の)に示すように、該固体撮像装置は、上記構
成のノーマリ−オン形のS I T 20−11.20
−12、・・・・・・・・・20−mnが、マトリック
ス状に配列;1 され、XYアドレス方式により信号を読出すよ lう
に構成されている。すなわち、各画素を構成 糞す
るSITのドレインは接地され、X方向に配列された各
行のSIT群のゲート端子は、行ライン21−1121
−2、−・・・・・・・・21−mにそれぞれ接続され
ている。またY方向に配列のSIT群のソースは、列ラ
イン22−1.22−2、・・・・・・・・・22−n
に接続され、これらの列ラインは、それぞれ列選択用ト
ランジスタ23−1.23−・2、・・・・・・・・・
23−nを介して、ビデオライン24に共通に接続され
ている。ビデオライン24には負荷抵抗25を介して、
ビデオ電圧Vsが加えられている。 そして、行ライン21−1.21−2、−・・・・・・
・・21−m&!垂直走査回路26に接続され、それぞ
れ信号φG+。 φG2、・・・・・・・・・φGmが加わるようになっ
ている。また、列選択用トランジスタ23−1123−
2q・・・・・・・・・・・・23−nのゲート端子は
、水平走査回路27に接続され、信号φS】、φS2、
・・・・・・・・・φSnが加わるように構成されてい
る。 次に、第10図(qに示した波形図に基づいて、垂直走
査信号φG及び水平走査信号φSについて説明する。行
ラインに加えられる信号φG+、 φQ2゜・・・・・
・・・・は、小さい振幅電圧VφGと、それより大きい
振幅電圧VφRより成るもので、一つの行ラインの走査
期間tHの間ハvφG1次の行ラインの水平走査に移る
までのブランキング期間tBLにはVφBの値になるよ
うに設定されている。列選択用トランジスタのゲート端
子に加えられる水平走査信号φ81、φS2<・・・・
・・・・は、列ラインを選択するための信号で、低レベ
ルは列選択用トランジスタをオフ、高レベルはオンする
電圧値になるように設定されている。 第11図は、各画素の動作を説明するための一画素に対
する回路図である。20は7−マリ−オン形のSITで
あり、接地されたドレイン1、ゲート4、ゲート4とゲ
ート端子8間に形成されたコンデンサ7、及びソース3
からなる。SITのゲート4とドレイン1とは点線で示
したようにpn接合ダイオードDGを形成している。ダ
イオードDGの電圧・電流特性、すなわちゲート電位V
cとゲート・ドレイン間電流Icとの関係は、第12回
頭に示すような特性であり、ダイオードDG間の電圧、
すなわちvGがpn接合のビルトイン障壁電圧φBを越
えると、順方向電流が流れる、SITのソース自ドレイ
ン間の電流ID+z、ケート電圧■Gにより定まる。美
形的なノーマリ−オン形SITでは、IDはVGの指数
関数に比例し、第12図(Blに示すような特性になる
。 次に、第11図に示したSITのゲート4に、コンデン
サ7を介して信号φGが加わった時のゲート電位変化を
、第13図を用いて説明する。時刻jlに信号φGがV
φRとなると、コンデンサ7を介してDGrjJK順方
向電流が流れ、コンデンサ7は急速に電圧(VφR−φ
B)!で充電される。このためゲート電圧Vcは、vG
;φBとなる。次に時刻t2で信号φGがOvとなると
、夕゛イオードDGは逆バイアスされるため電流IGは
流れない。このためコンデンサ7間には電圧(VφR−
φB)が保たれ、Vc=−VφR+φBとなる。この後
、信号φGの次のVφGが加わる時刻t2までに、光照
射のため、電荷QLが蓄積し、VGはΔvG=QL/C
Gだけ上昇して、Vc =−VφR+φB+へlVcと
なる。時刻t3において、■φGが加わると、ゲート電
位VGGX上昇し、VG=−VφR+φB+ΔVG +
VφGとなる。この時に列選択この電流IDIにより
負荷抵抗(抵抗値をR,Lとする)25間に′電圧降下
V=ID1−RLを生じ、ビデオライン24iC信号出
力Vout ==Vs −IDI −R,Lが生じる。 t a ID 1はΔVGにより変化するため、入射光
量に対応した信号を読出すことができる。 第13図において、時刻t4で再び信号φGがVφRと
なるゲート電位VcはφBとなり、それまでの蓄積電荷
QLはクリアされる。時刻t5において、信号φGがO
Vになると、ゲート電位VGは再び、VG=−VφR十
φBにリセットされ、次のフィールドの電荷蓄積が開始
される。 以上の説明かられかるように、信号φGの大きい振幅電
圧VφRの値は、ゲート電位Vc=−VφR+φBに対
応する8”ITのドレイン電流ID2が十分小さく、S
ITがオフするような値に選ばれ、小さい部幅電圧Vφ
Gの値は、行選択時にゲート電流が流れないように、時
刻t3Vcおけるゲートit位、スナワチ、■G=−v
φR+φB+ΔvG十■φGが、φBより小さいという
条件、−vφR+φB+Δ:VG + VφGくφBか
ら、VφG−ΔVGを満足するような値に選ばれる。 次に、上記一画素の動作原理に基づいて、第10図(B
lに示した固体撮像装置の動作を説明する。 垂直走査回路26の作動により、信号φGI IJ″−
VφGになると、行ライン21−1に接続されたSIT
群が選択され、水平走査回路27より出力される信号φ
Sl、φS2、・・・・・・・・・φSnにより、行選
択用トランジスタ23−1123−2、・・・・・・・
・・23−nが順次オンすると、順次S I T2O−
11120−リ、・・・・・・・・・2O−1nの信号
がビデオライン24より出力される。続いて、このSI
T群は信号φG]が高レベルVφRになった時にリセッ
トされる。次いで、信号φG2が■φGとなると、行ラ
イン20−2に接続されたSIT群が選択され、水平走
査信号φSl、φS2、・・・・・・φSnにより、S
I T 20−21 、20−22、−・−・−・−
2Q−znの光信号が順次読出され、続いてリセットさ
れる。 以下同様にしてII■次各画素の光信号が読出され、1
フイールドのビデオ信号が得られる。 以上の動作は、実験の結果、良好に行われることが確認
された。なお、第10回頭において、ゲート領域4とド
レイン1との距離IGDが大きいと、エピタキツヤル層
2の抵抗のため、ゲート・ドレイン間電流が小さくなり
、ケートノリセットが不完全になるため、IGDは1〜
3μmと小さめにした方が特性上好ましい。NTSO標
準テレビジョン方式の場合、tBL−i=12μsであ
るが、上記の条件下ではその期間内に十分に良好にリセ
ットすることができる。 以上述べた既出の提案例は、連続して画像を撮像するテ
レビジョンカメラに有効であるが、画像を一画面毎に撮
像する、いわゆる電子カメラに使用するのに好適な既出
の提案例を次に示す。 第14図(Atは、かかる既出の提案例の回路構成の提
案例と同一であるが、第14図(AIに示すように、た
だ画素を構成するS I T 20−11 、20−1
2、・・・・・・・・・20−mnの共通に接続された
ドレイン1が、リセット回路40に接続され、す“セッ
ト信号φBが加えられるように構成した点が異なってい
る。 第14図(I3)において、φRは各SITのドレイン
1に加えられるリセット信号であり、各SETのゲート
電位をリセットする期間のみ負電圧−VRとなり、他の
期間はOvである。垂直走査信号φG+ 、 φG2
、・・・・・・・・・は、対応する行ライン21−1
。 21−2、−・・・・・・・・を走査する期間のみ高レ
ベル■φG、他はOvとなる信号である。水平走査信号
φS1、φS2、・・・・・・・・・G1列選択を行う
信号であり、SHは電子カメラに設けられたツヤツター
の開閉動作を示すものであり、VC&!ゲート電位の変
化を示す図である。 第14図(Blに示した波形図により動作を説明する。 時刻t1において、リセット信号φRが−VRと・、
な6と・全一(f18IT(7)ゲー)−)’1z
−17間′+l 電aがaれ、ゲートを位+t、
VG= −VR+ 95BICI+上セツトれろ。その
後、時刻tzvCおいてシ゛ヤツターが開かれ、光が照
射されることにより、ゲート電位は、Vc = −VR
+φB+ΔvGまで上昇する。 その後、時刻t3において、垂直走査信号φQlが高レ
ベル■φGになることにより、行ライン21−1に接続
されたSIT群のゲート電位は、Vc : −VR+φ
B+ΔVc+VφGに上昇し、水平走査信号φS1゜φ
S2、・・・・・・・・・により、列選択トランジスタ
がオンすることにより、S I T 20−11.2Q
−tz、・・・・・・・・・20−1 rlの信号が読
出される。次いで時刻t4において、信号φG1が■φ
Gから0ViCなると共に、信号φG2が高しヘルvφ
Gトナリ、8 I T 20−21゜20−22、・・
・・・・の信号が読出される。以下同様にし℃、S I
T 20−31120−32、−−−20−mnの信
号が続出され、一画面のビデオ信号が得られる。 光入射により上昇したゲート電位は、時刻t5において
、リセット信号φRが、−VRになることにより、全て
のSITのゲート・ドレイン間に電流が流れ、ゲート電
位は全て、Vc =−’ht+φBに 1゜リセット
され、次の画面の露光が可能となる。 )第15回置
は、第10図B)に示した既出の提案例の一部を変更し
たものである。第10図(Blに示した各SITの動作
回路は、他の既出の提案例と同様に、ドレインを接地し
、ソースに正電圧をかけて読出す、いわゆるドレイン接
地方式を用いたものであるが、この提案例は、ドレイン
に正電圧をかけ、ソースを負荷抵抗を介して接地する、
いわゆるソースフォロアにする動作方式%式% この場合、ゲート電位のリセットを行うためには、ドレ
イン側に正電圧が印加されているため、SIT群のソー
スが接続されている列ライン22−1.22−ζ・・・
・・・・・・22−nを接地してやるための、リセット
トランジスタ50−1.50−2、・・・・・・・・・
50−nが、列ライン毎に必要となる。51は該リセッ
トトランジスタのゲートにリセットパルスを送るリセッ
ト制御回路である。また、各画素のドレインは基板上で
共通接続され、正のドレイン電圧VDが印加されている
。行ライン及び列ラインに印加される選択走査信号φG
+、φG+、・・・・・・・・・及びφ3+。 φS2、・・・・・・・・・は、第10図(0に示した
既出の提案例のものと同様でこれを第15図(Blに示
す。ただ界るのは、行選択信号φQ+ 、φG2、・・
・・・・中のりセット時刻t1で、振幅■φRの電圧が
印加されるのに先立ち、各列ライン22−+、22−2
、・・・・・・・・・に、そのドレインが接続されたリ
セットトランジスタ50−1.50−2、・・・・・・
・・・50−n力、リセットパルスφRに −よ
ってオンとなり、各列ラインが接地され、リセット時刻
tlにおいて、選択された行ラインにつながる全ての列
ラインのSITのソースは全て接地電位となり、ゲート
に電位VφRが印加されることにより、順方向電流が、
列ライン及びリセットトランジスタを介してアースに流
れ、ゲート電位がリセットされる。ゲート電位の変化を
第15図(0に示す。 第10図Hに示した既出の提案例において&工、ゲート
電位のリセットが、ゲートから接地されから、リセット
トランジスタ50−1.50−2、・・・・・・・・・
を介して接地された列ライン22−1.22−2、・・
・・・・・・・に接続されたソースに対する順方向電流
によりゲート電位のリセットが行われるようになってい
る点で相違しているが、他の点の動作は第1の既出の提
案例と全く同様である。 なお、この既出の提案例において、ゲート電位のリセッ
ト時に、リセットトランジスタ50す、50−ζ・・・
・・・・・・のドレイン・ソース間の電位降下分が大き
いと、ゲートリセットに要する時間が大となるので、該
トランジスタのオン抵抗を小さく仰える必要があり、そ
のため、リセットトランジスタの、(ゲート+[)/(
ゲート長)にある程度以上の大きさが必要である。 以上説明した様に本願人が既に提案した固体撮像装置は
数々の利点を有するものであるが、該固体撮像装置には
一般的なSETを用いた固体撮像装置と同様に画素出力
にオフセット成いは暗出力が含まれている。それ故、従
来の固体撮像装置は上記オフセット成いは暗出力をキャ
ンセルする必要がある。第16装置はS■Tを用いた従
来の固体撮像装置の全体の回路構成図、同図(′B)は
該固体撮像装置の信号波形図である。 @16図囚装置いて、61はSIT撮像素子群62を備
えた固体撮像装置であり、第1ビツトラインの遮光画素
63、垂直走査回路64、列選択用トランジスタ群65
、水平走査回路66、ビデオライン67、負荷抵抗68
及びビデオ電源69で構成されている。それぞれに回路
を構成する機能部材は上述の既出の提案例と同様である
のでその説明は省略する。 70はビデオライン67に接続した切換スイッチであり
、同図Q3+に示すビデオ出力Vlに含まれるオフセ゛
ノド或いは暗出力をサンプルホールド回路71に保持さ
せるために切換える。すなわち、第1ビツトラインの遮
光画素の遮光画素出力は、水平走査周期tHだけサング
ルホールド回路71で保持され、次の第2ビツト以降の
ビデオ出力は差動増幅回路72に送出される。同図(B
lのビデオ出力V2&!、この様にしてオフセット及び
暗出力をキャンセルされた画素出力を示すものである。 然し乍ら、上述の固体撮像装置においては、暗出力が大
きい場合、例えば周囲温度が高い状態或いはツヤツター
機能を持たせた時、周囲が暗がある。 (発明の目的) 力が得られる固体撮像装置を提供することを目的とする
。 (発明の概要) 本発明はノーマリ−オン形誘電誘導トランジスタを用い
た固体撮像装置に遮光画素を設け、その遮光画素出力に
応じて行選択信号の電圧女レベルを制御する回路を設け
、上記遮光画素出力を零にするように行選択信号の電圧
レベルを自動制御することによりダイナミックレンジを
減少させることなくオフセット及び暗出力を含まないビ
デオ出力を得る固体撮像装置である。 (実施例) 本発明による固体撮像装置の実施例を添付図。 を参照して説明する。 第1図は本発明による固体撮像装置の基本の回路構成図
である。同図において、80は例えば上述の本願人が既
に提案したノーマリ−オン形SIT、すなわち、一方の
主電極と共通に接続された他方の主電極と、該主電極間
に配設されたチャネル領域とゲート領域とから成る画素
を構成するノーマリ−オン形SITとゲート領域に設け
たコンデンサで構成した撮像素子群81を備える固体撮
像装置である。撮像素子群81の各画素は行ライン及び
列ライン(図示せず)に夫々にm X n個マトリック
ス状に配列されXYアドレス方式により信号を読出すよ
うになっている。 82は第1ビツトの行ライン群に設けられ各画素を遮光
して構成した遮光画素である。なお、遮光画素82は第
1の行ラインにn個配列することもできる。83は垂直
走査回路で、m個の行ライが接続され、それぞれ信号φ
Ql、 φG2、・・・・・・・・・φGmが各画素に
加わるようになっている。84は行選択用トランジスタ
群で、各行選択用トランジス夕はそれぞれに対応する列
ラインに接続されている。85は水平走査回路で各列選
択用トランジスタを介して、対応する各画素に信号φ3
1.φS2・・・・・・・・・φSnが加わるようにな
っている。86&エビデオラインで出力端子87、負荷
抵抗が接続されたビデオ電源88がそれぞれに接続され
ている。 89は固体撮像装置soの画素出力に含まれるオフセッ
ト及び暗出力をキャンセルするための検出部を構成し、
サンプルホールド回路または積分回路及び比較器(いず
れも図示せず)で構成されている。検出部89の比較器
を介して制御回路90が接続され、該制御回路90には
垂直走査回路83が接続されている。この様にして上記
遮光画素からの遮光画素出力をサンプルホールド回路で
サンプル・ホールドするか又は積分回路で積分した出力
を比較器において、予じめ設定された基準電圧と比較し
、この比較出力に基づいて糎 垂直走査回路83
11?:供給さゎ□源電圧を毒制御すち るように構成されている。 上記回路構成に基づいて基本動作を説明する。 垂直走査回路83の作動により、信号φGlがVφGに
なると第1の行ラインに接続されたSIT群が選択され
水平走査回路85より出力される信号φS1、φS2、
・・・・・・・・・φSnにより、列選択用トランジス
タ84が11@次にオンする。この時、遮光ii’ii
素82の遮光画素出力
【工制御部89のサンプルホール
ド回路またを工積分回路に供給され、この出力は比較器
で基準電圧と比較され、この出力信号は制御回路90に
送出され制御回路90からは垂直走査回路83に制御信
号が加えられ、該廉直走査回路83の電源電圧を制御し
て比較器の出力信号が零になるまで自41制御される。 以上、説明したように、遮光画素出力はサンプルホール
ド回路又は積分回路及び比較器、更に制御回路90を経
て垂直走査回路83に至る自動制御ループにより垂直走
査回路83の電源電圧を制御する制御信号に変換され、
比較器の出力信号が零になるまで 1制御することによ
り固体撮像装置80の画素出力 □)のオフセット及
び暗出力をキャンセルすることができる。 第2図は本発明の固体撮像装置の一実施例を示す全体の
回路構成図、第3図は該固体撮像装置の画素出力にオフ
セットが存在する場合の説明図、第4図は該固体撮像装
置の画素出力に暗闘に提案したノーマリ−オン形S L
’l’で構成した固体撮像装置で各画素101−口、
1o1−12、・・・・・・・・・1010l−ガマト
リックス状に配列されXYアドレス方式により信号を読
出すようになっている。 すなわち、各画素を搾成するSITのドレインは接地さ
れ、X方向に配列された各行のSIT群のゲート端子は
、行ライン102−1.102−2、・・・・・・・・
・102−mにそれぞれ接続されている。また、各画素
の内・麻1ビットライン、すなわち101− + 1.
101−21.・・・・・・・・・101−mlは遮光
され遮光画素を構成している。更に、Y方向に配列され
た各行のS■1゛群のソースに、列ライン103−11
103−2、・・・・・・・・・103−n K接続さ
れ、これらの列ラインは、それぞれ列選択用トランジス
タ104−1.104−2、・・・・・・・・・104
−nを介して、ビデオライン105に共通に接続されて
い・る。ビデオライン105には負荷抵抗106を介し
て、ビデオ霜;圧(Vs)107が加えられ、該ビデオ
ライン105には出力端子108が設けられている。そ
して行ライン102す、102−2、・・・・・・・・
・102−mは垂直走査回路109に接続され、それぞ
れ信号φGL、φG2、・・・・・・・・・φGmが加
わるようになっている。また、列選択用トランジスタ1
04−1.104−2 、・・・・・・・・・104−
nのゲート端子に、水平走査回路110に接続され、信
号φS1、φS2、・・・・・・・φ釦が加わるように
構成されている。 111はサンプルホールド回路でビデオライン105及
び、列選択用トランジスタ104−1と水平走査回路1
10に接続されているう上記サンプルホールド回路11
1ハビデオライン105からのビデオ出力信号をサンフ
゛ル及びホールドし、これを比較器112の一方の入力
側に送出する。比鮫器毘の他方の入力側には基準%を源
113より予じめ設定した基準電圧(Vref、)が人
力されている。 114レエ比較器1】2の出力信号を受け、咳出力乍号
に基づいて上記垂直走査回路109に供給される電源電
圧を制御する制御信号を送出するようになっている。な
お、電源電圧のレベル制御については後述する。 次に、上述の一画素の動作原理に基づいて、第2図に示
した固体撮像装置の動作を説明する。 上記回路構成において、垂直走査回路109の作動によ
り、信号φGlがVφGになると行ライン102−1に
接続されたSIT群が選択され、水平走査回路110よ
り出力される信号φS1、φS2、・・・・・・・・・
φSnにより、列選択用トランジスタ104−1.10
4−2、・・・・・・・・・104−nが順次オンする
。この時、画素101−1+、101−12、−−−1
01− Inの画素信号が1帆次ビデオライン105よ
り出力される訳であるが、先ず第1ビツトラインの遮光
画素101−11の遮光画素出力はサンプルホールド回
路111に取込まれる。すなわち、信号φS1により行
選択用トランジスタ104−1がオンされると同時に信
号φS1がサンプルホールド回路111に供給されるた
め、該サンプルホールド回路111内のゲートが信号φ
Slだけ開かれる。この時、遮光画素出力はサングルホ
ールド回路111でサンプル・ホルトされ、比較器11
2により基準電圧(Vref、)と比較される。比較器
112の出力信号レエ制御回路114iCフィードバッ
クされ、制御回路114からの制御信号は垂直走査回路
109の電源電圧を制御して、比較器112の出力信号
が零となる様にする。この様にして、比較器112の出
力信号が零になると、上記固体撮像装置100のオフセ
ット及び暗出力はキャンセルされることになり、その後
、順次各画素101−12.101−13、+−・++
+++−101−Inの画素信号がビデオライン105
に出力される。 続いて、この画素群は信号が高レベルVφRになった時
にリセットされる。この場合、制御回路114において
は、垂直走を回路109の電源電圧を遮光画素101−
1tの遮光画素出力に基づいて制御するものであるが、
この第1回目の制御を以下の行ライン102−2.10
2−3、・・・・・・・・・102−mに接続された各
遮光画素101−2+、 101−3+、−−101−
m+に対して継続して制御する。上記制御回路1】4は
各画素101−21.101−22、−101−mn毎
のSIT素子の特性バラツキが無視できる場合は、遮光
画素101−21.101−31、・・・・・・=40
1−rr++毎の制御動作を省略することがでる。次い
で、信号φG2がVφGになると、行ライン102−2
に接続された画素群が選択され、水平走査信号φSl、
φS2、・・・・・・・ φSnにより画素101−2
2.101−23、− ”・−10i−2nの光信号が
順次読出され、続いてリセットされる。 以下同様にして順次各画素の光信号が読出され、1フイ
ールドのビデオ信号が得られる。なお、だが、各遮光画
素101−++、101−21、・・−・−−−−10
1−m1毎の遮光i7素出力を用いて、対応する行ライ
ン1o2−2.1o2−3、・・m1・1o2−nI毎
ノ制御回路114カらの制御信号を垂直走査回路109
に送出して制御することもできる。 次に、該固体撮像装置】00の画素出力にオフセ゛/ト
がある場合、このオフ七′/トのキャンセルについて駿
明する。第3図において、上述の第10図(0)に示す
ような垂直走査信号φGを印加した場合、遮光画素のド
レイン電流IDが図示のID’とすると、これが画素出
力のオフセットに対応する。該オフセットが生じる原因
は、振幅電圧VφR,VφGの設定が不適当であるから
である。 すなわち、SITのゲート4とドレイン1とはpn接合
ダイオードDGを形成しており、ダイオードDCの電圧
・電流特性は、ダイオードDG間の電圧すなわちVcが
pn接合のビルトイン障壁電圧φBを越えると順方向電
流が流れることになる(第4図参照)。SITのソース
・ドレイン間の電流ID&エゲート電圧Vcによって定
まる。美形的なノーマリ−オン形SITでは、■Dはv
Gの指数関数になることは既に説明した通りである。第
11図に示したSITのゲート4にコンデンサ7を介し
て信号φGが加わった時のゲート電位変化は、第13図
で示した通りである。時刻1.に信号φGがVφRとな
ると、コンデンサ7を介してDc間に1!頁方向電流が
流れ、コンデンサ7は急速に電圧(VφR−φB)まで
充電される。このためゲート電圧vGは、vG=φBと
なる。次に時刻t2で信号φGがOvとなると、ダイオ
ードDGは逆バイアスされるため電流IGは流れない。 このためコンデンサ7間には電圧(VφR−φB)が保
たれ、vG=−VφR+φBとなる。この後、信号φG
の次の■φGが加わる時刻t3までに、光照射のため、
電荷QLが蓄積シ、VGハΔvG=QL/CGタケ上上
昇シュVc=−VφR+φB+ΔvGとなる。時刻t3
において、VφGが加わると、ゲート電位Vcは上昇し
、Va = −VφR+φB+ΔVc + VφGとな
る。この時に列選択トランジスタ23がφBによりオン
すると、SETに第12図FB+に示されるような電流
IDIが流れる。この電流ID+により負荷抵抗(抵抗
値をR,Lとする)25間に電圧降下V = IDI
−R,Lを生じ、ビデオライン24に信号出力Vout
=Vs −Io+ −RLが生じる。 電流ID+はΔVGにより変化するため、入射光量−′
対応(−“6号を読6す02°゛1き6・第”°11・
において、時刻t4で再び信号φGが■φRと
なるとケート”1位VGはφBとなり、それまでの蓄積
電荷帆はクリアされる。時刻t5において、信号φGが
0vになると、ゲート電位VGは再び、Vc = −V
φRφBKIIセットされ、次のフィールドの電荷蓄積
が開始される。 以上の説明かられかるように、信号φGの大きい振幅電
圧VφRの値は、ゲート電位VG =−VφR+φBに
対応するSITのドレイン電流ID2が十分小さく、S
ITがオフするような値に選ばれ、小さい振幅電圧Vφ
Gの値は、行選択時にゲート電流が流れないように、時
刻t3におけるゲート電位、スナワチ、VG = −V
<6R+ +1 + Δva + Vφcが、φBより
小さいという条件、−vφR+φB+ΔlVc+Wc〈
φBから、VφG<vφR−△vGを満足するような値
に選ばれる。 従って、振幅電圧VφR,VφGを調整してゲート電圧
Vc =−VφR−148+VφRにおけるドレイン電
流IDが零になるように設定すれば第3図のa点のオフ
セットは生じることはない。 r次の、該
固体撮像装置100の画素出力iCC出出 ;カが含ま
れる場合、この暗出力のキャンセルについて説明する。 第4図において、上記のようにして振幅電圧■φR,V
φGが適切に設定され画素出力にオフセットがないもの
とする。遮光画素のゲート電圧VGが熱的に励起された
正孔により−VφR十φB十VφR+△Vc ; DA
RKとなると、この暗出力をキャンセルするためには振
幅電圧■φR1■φGを調整して上記ゲート電圧VGを
−VφR+φB+■φG+Δ:Vc ; DARKに対
するドレイン電流IDが零になるようにすればよい。(
第4図a、a参照)以上の説明から明らかなようにオフ
セ゛ノド或いは暗出力をキャンセルするには、振幅電圧
■VφR1VφGを遮光画素出力に応じて自動制御を行
なえば良いことになる。 第5図は本実施例における振幅電圧VφRを制御する場
合の信号波形図である。同図において、上記固体撮像装
fR100のすき光画素の廼光画素出力に応じて振幅電
圧VφR’= VφR+△VφRに制御すればよい事に
なる。 同様に、第6図を工水実施例におけろ振幅電圧VφGを
制御する場合の信号波形図である。同図において、上記
固体操像装rj/flooの遮光画素の遮光画素出力に
応じて振幅電圧■φc’=VφG+Δ■φGに同様に制
御すればよい事になる。 第7図は本発明の他の用体撮像装置の一実絢例を示す全
体の回路構成図、第8図は該固体撮像装置でオフセ゛ノ
ドをキャンセルする場合の説明図、第9図は該固体撮像
装置で暗出力を同様にキャンセルする場合の説明図であ
る。 第7図において、200は例えば上述の木頭人が既に提
案したノーマリ−オン形SITで構成した固体撮像装置
で各画素201−11.201−12、・・・・・・2
01−mn カマトリックス状に配列されXYアドレス
方式により信号を読出すようになっている。 すなわち、各画素を構成するSETのドレイン(工接地
され、X方向に配列された各行のS I T群のゲート
端子は、行ライン202− I N 202−2、・・
・・・・202−mにそれぞれ接続されている。また、
各画素の内第1水平ライン、すなわち201−11.2
01−12、、、 、、、 、、、201− Inは遮
光され遮光画素を構成している。更に、Y方向に配列さ
れた各行のSET群のソースは、列ライン203−1.
203−ζ・・・・・・・・・203−nに接続され、
これらの列ラインは、それぞれ列選択用トランジスタ2
04−1 % 204−2、・・・・・・・・・204
−nを介して、ビデオライン205に共通に接続されて
いる。ビデオライン205には負荷抵抗206を介して
、ビデオ電圧(Vs)207が加えられ、該ビデオライ
ン205には出力端子208が設けられている。そして
、行ライン202−1.202−2、・・・・・・・・
・202−mは垂直走査回路209に接続され、それぞ
れ信号φQ+、φG2、・・・・・・・・・φGmが加
わるようになっている。また、列選択用トランジスタ2
04−1 、204−2、・・−・+−++ 204−
nのゲート端子は、水平走査回路110に接続され、信
号φS1、φS2、・・・・・・・・・φSnが加わる
ように構成されている。211積分回路でビデオライン
205及び行ライン202−1に接続されている。上記
積分回路211はビデオライン205からのビデオ出力
信号を積分し、こ帆を比較器212の一方の入力側に送
出する。比較器21′2f′)他方の入力側には基準電
源213より予じめ設定した基準電圧(Vref、)が
入力されている。214ハ比較器112の出力信号を受
け、振出力信号に基づいて上記垂直走査回路209に供
給される電源電圧を制御する制御信号を送出するように
なっている。 次に、上述の一画素の動作原理に基づいて、第7図に示
した固体撮像装置の動作を説明する。 上記回路構成において、垂直走査回路209の作動によ
り、信号φGlが■φGになると行ライン202−1に
接続されたSIT群が選択されと共に積分回路211が
作動される。水平走査回路210より出力される信号φ
81.φS2、・・・・・・・・・φSnにより、列選
択用トランジスタ204−1.204−2、・・・・・
・204−nが順次オンする。この時画素201−tt
、201−12、・・・・・・・・・201−1lの画
素信号が順次ビデオライン205より出力される訳であ
るが、先ず第1水平ラインの遮光画素201−1tの遮
光画素出力は積分回路211 K取込まれる。 この時、遮光画素出力は積分回路211で積分され比較
器212により基準電圧(Vref、)と比較される。 比較器212の出力信号は制御回路214にフィードバ
ックされ、制御回路214からの制御信号は垂直走査回
路209の電源電圧を制御して、比較器212の出力信
号が零となる様にする。 この様にして、比較器212の出力信号が零になると、
上記固体撮像装置100のオフセット及び暗出力はキャ
ンセルされることになり、その後、順次各画素201−
21.2Ql−22、−=−・曲4Ql−Znの画素信
号がビデオライン205に出力される。続いて、この画
素群は信号が高レベルVφRになった時にリセ゛ノドさ
れる。この場合、制御回路214においては、垂直走査
回路209の電源電圧を遮光画素101−+1の遮光画
素出力に基づいて制御するものであるが、この第1回目
の制御を以下の列ライン203−2.203−3、・・
・・・・・・・203−n 、に接続された各遮光画素
201−12.201−13、・・・・・・・・・画素
201−22.201−23、・・・・・・・・・20
1−InVC対して継続して制御する。 上記制御回路214は、各画素201−21.201−
22、−・・・・・・・・201−mn毎のSIT素子
の特性バラツキが無視できる場合は、遮光画素201−
11.201−12、・・・・・・201−+r+毎の
制御動作を省略することがでる。次いで、信号φG2が
VφGになると、行ライン202−2に接続された画素
群が選択され、水平走査信号φ81. φS2、・・
・・・・・・・φSnにより画素201−22.201
−23・・・・・・・・・201−znの光信号が順次
続出され、続いてリセットされる。以下同様にして順次
各画素の光信号が読出され、1フイールドのビデオ信号
が得られる。なお、本実施例では第1回目の遮光画素出
力で固体撮像装#100の暗出力をキャンセルしたが、
各遮光画素201−11.201−12、−・・・・・
201−1n毎の遮光画素出力を用いて、対応する列ラ
イン203−1 % 203−2、−・−・−・−2
03−1毎に制御回路214からの制御信号を垂直走査
回路209 K送出して制御することもできる。 次台、本実施例による固体撮像装置200にオフセット
及び暗出力が含まれる場合のキャンセルの方法であるが
、これは上述の本発明の一実施例と同様にオフセットの
場合は振幅電圧■φR(第5図参照)を、また暗出力の
場合は振幅電圧■φG(第6図参照)を同様に制御する
事で達成できるのでその説明は省略する。 次に、本発明の固体撮像装置におけるオフセット及び暗
出力のキャンセルの方法の利点について、第8図及び第
9図のドレイン電流IDとゲート電圧Vcの特性図を用
いて説明する。SITを用いた固体撮像装置の飽和レヘ
ルは上述の第11図よりゲート電圧Vcがゲート4(p
+)とドレイン1(n+)のビルトイン障壁電圧φBで
決まる。 (第8図す点参照) 本発明によるオフセット及び暗出力をキャンセルする方
法においては、入射光量に対するゲート電圧変化分は第
8図のa点からb点まで広範回置とることができる。こ
れに対して上述の従来の固体撮像装置61(第1鍜参照
)では第9図に示すa点からb点の狭い範囲である。 以上の説明で明らかな様に、従来の固体撮像、装置の如
くダイナミックレンジを減少させることなくオフセット
及び暗出力のキャンセルを行l← なうことがで
きる。また、シャッター機能を付1′ 加した
固体撮像装置、例えば上述の本願人が醍に提案した固体
撮像装置(第14図及び第15図参照)に本発明を応用
すれば撮影する周囲が暗く積分時間が長くなる場合に対
しても良好な画像が得られる。この様な固体撮像装置に
対する有効な機能及び動作は、COD、BBD等の電荷
転送素子、MOSトランジスタ等を用いる従来の固体撮
像装置では実現することができない。 本発明は上述の種々の実施例に限定さ法るものではなく
幾多の変形及び変更ができるものである。実施例におい
ては、オフセット或いに暗出力のキャンセルを自動制御
ループにより振幅電圧VφR,VφGをそれぞれに個々
に制御する事で説明を行なったが、上記自動制御ループ
による制御は、振幅電圧■φa、 VφGを共に制御で
きるものである。また実施例においてはノーマリ−オン
形SITの一方の主電極であるソースを行ラインに、ド
レインを共通に接地したが、これらを反対に接続して用
いることもできる。更に、本発明において説明した固体
撮像装置の主 1要な機能部材、機能回路、例えば、S
I T撮像 )素子群、行選択用スイッチ、垂直・
水平走査回路、ビデオ電源と負荷抵抗、サンプルホール
ド回路または積分回路、比較器及び制御回路等は、必要
に応じて適宜に選択し1チツプ半導体に実装できるもの
である。更に、本発明ではマドIIツクス状に配列した
ノーマリ−オン形SITを用いた固体撮像装置について
説明したが、これに限定されるものではない。すなわち
、ノーマリ−オン形SITをライン状に単数列或いに複
数列に配列させた、所謂、ラインイメージセンサ−にも
適用できる。この場合、第1ビツトの1画素を遮光画素
としてこの遮光画素出力を本発明の自動制御ループによ
って、信号処理して比較器の出力信号を零となるように
制御すればよい。 (発明の効果) 本発明による固体撮像装置はSIT撮像素子が本来備え
ているダイナミックレンジを減少させることなく、オフ
セット及び暗出力を含まない画素出力を得ることができ
る。
ド回路またを工積分回路に供給され、この出力は比較器
で基準電圧と比較され、この出力信号は制御回路90に
送出され制御回路90からは垂直走査回路83に制御信
号が加えられ、該廉直走査回路83の電源電圧を制御し
て比較器の出力信号が零になるまで自41制御される。 以上、説明したように、遮光画素出力はサンプルホール
ド回路又は積分回路及び比較器、更に制御回路90を経
て垂直走査回路83に至る自動制御ループにより垂直走
査回路83の電源電圧を制御する制御信号に変換され、
比較器の出力信号が零になるまで 1制御することによ
り固体撮像装置80の画素出力 □)のオフセット及
び暗出力をキャンセルすることができる。 第2図は本発明の固体撮像装置の一実施例を示す全体の
回路構成図、第3図は該固体撮像装置の画素出力にオフ
セットが存在する場合の説明図、第4図は該固体撮像装
置の画素出力に暗闘に提案したノーマリ−オン形S L
’l’で構成した固体撮像装置で各画素101−口、
1o1−12、・・・・・・・・・1010l−ガマト
リックス状に配列されXYアドレス方式により信号を読
出すようになっている。 すなわち、各画素を搾成するSITのドレインは接地さ
れ、X方向に配列された各行のSIT群のゲート端子は
、行ライン102−1.102−2、・・・・・・・・
・102−mにそれぞれ接続されている。また、各画素
の内・麻1ビットライン、すなわち101− + 1.
101−21.・・・・・・・・・101−mlは遮光
され遮光画素を構成している。更に、Y方向に配列され
た各行のS■1゛群のソースに、列ライン103−11
103−2、・・・・・・・・・103−n K接続さ
れ、これらの列ラインは、それぞれ列選択用トランジス
タ104−1.104−2、・・・・・・・・・104
−nを介して、ビデオライン105に共通に接続されて
い・る。ビデオライン105には負荷抵抗106を介し
て、ビデオ霜;圧(Vs)107が加えられ、該ビデオ
ライン105には出力端子108が設けられている。そ
して行ライン102す、102−2、・・・・・・・・
・102−mは垂直走査回路109に接続され、それぞ
れ信号φGL、φG2、・・・・・・・・・φGmが加
わるようになっている。また、列選択用トランジスタ1
04−1.104−2 、・・・・・・・・・104−
nのゲート端子に、水平走査回路110に接続され、信
号φS1、φS2、・・・・・・・φ釦が加わるように
構成されている。 111はサンプルホールド回路でビデオライン105及
び、列選択用トランジスタ104−1と水平走査回路1
10に接続されているう上記サンプルホールド回路11
1ハビデオライン105からのビデオ出力信号をサンフ
゛ル及びホールドし、これを比較器112の一方の入力
側に送出する。比鮫器毘の他方の入力側には基準%を源
113より予じめ設定した基準電圧(Vref、)が人
力されている。 114レエ比較器1】2の出力信号を受け、咳出力乍号
に基づいて上記垂直走査回路109に供給される電源電
圧を制御する制御信号を送出するようになっている。な
お、電源電圧のレベル制御については後述する。 次に、上述の一画素の動作原理に基づいて、第2図に示
した固体撮像装置の動作を説明する。 上記回路構成において、垂直走査回路109の作動によ
り、信号φGlがVφGになると行ライン102−1に
接続されたSIT群が選択され、水平走査回路110よ
り出力される信号φS1、φS2、・・・・・・・・・
φSnにより、列選択用トランジスタ104−1.10
4−2、・・・・・・・・・104−nが順次オンする
。この時、画素101−1+、101−12、−−−1
01− Inの画素信号が1帆次ビデオライン105よ
り出力される訳であるが、先ず第1ビツトラインの遮光
画素101−11の遮光画素出力はサンプルホールド回
路111に取込まれる。すなわち、信号φS1により行
選択用トランジスタ104−1がオンされると同時に信
号φS1がサンプルホールド回路111に供給されるた
め、該サンプルホールド回路111内のゲートが信号φ
Slだけ開かれる。この時、遮光画素出力はサングルホ
ールド回路111でサンプル・ホルトされ、比較器11
2により基準電圧(Vref、)と比較される。比較器
112の出力信号レエ制御回路114iCフィードバッ
クされ、制御回路114からの制御信号は垂直走査回路
109の電源電圧を制御して、比較器112の出力信号
が零となる様にする。この様にして、比較器112の出
力信号が零になると、上記固体撮像装置100のオフセ
ット及び暗出力はキャンセルされることになり、その後
、順次各画素101−12.101−13、+−・++
+++−101−Inの画素信号がビデオライン105
に出力される。 続いて、この画素群は信号が高レベルVφRになった時
にリセットされる。この場合、制御回路114において
は、垂直走を回路109の電源電圧を遮光画素101−
1tの遮光画素出力に基づいて制御するものであるが、
この第1回目の制御を以下の行ライン102−2.10
2−3、・・・・・・・・・102−mに接続された各
遮光画素101−2+、 101−3+、−−101−
m+に対して継続して制御する。上記制御回路1】4は
各画素101−21.101−22、−101−mn毎
のSIT素子の特性バラツキが無視できる場合は、遮光
画素101−21.101−31、・・・・・・=40
1−rr++毎の制御動作を省略することがでる。次い
で、信号φG2がVφGになると、行ライン102−2
に接続された画素群が選択され、水平走査信号φSl、
φS2、・・・・・・・ φSnにより画素101−2
2.101−23、− ”・−10i−2nの光信号が
順次読出され、続いてリセットされる。 以下同様にして順次各画素の光信号が読出され、1フイ
ールドのビデオ信号が得られる。なお、だが、各遮光画
素101−++、101−21、・・−・−−−−10
1−m1毎の遮光i7素出力を用いて、対応する行ライ
ン1o2−2.1o2−3、・・m1・1o2−nI毎
ノ制御回路114カらの制御信号を垂直走査回路109
に送出して制御することもできる。 次に、該固体撮像装置】00の画素出力にオフセ゛/ト
がある場合、このオフ七′/トのキャンセルについて駿
明する。第3図において、上述の第10図(0)に示す
ような垂直走査信号φGを印加した場合、遮光画素のド
レイン電流IDが図示のID’とすると、これが画素出
力のオフセットに対応する。該オフセットが生じる原因
は、振幅電圧VφR,VφGの設定が不適当であるから
である。 すなわち、SITのゲート4とドレイン1とはpn接合
ダイオードDGを形成しており、ダイオードDCの電圧
・電流特性は、ダイオードDG間の電圧すなわちVcが
pn接合のビルトイン障壁電圧φBを越えると順方向電
流が流れることになる(第4図参照)。SITのソース
・ドレイン間の電流ID&エゲート電圧Vcによって定
まる。美形的なノーマリ−オン形SITでは、■Dはv
Gの指数関数になることは既に説明した通りである。第
11図に示したSITのゲート4にコンデンサ7を介し
て信号φGが加わった時のゲート電位変化は、第13図
で示した通りである。時刻1.に信号φGがVφRとな
ると、コンデンサ7を介してDc間に1!頁方向電流が
流れ、コンデンサ7は急速に電圧(VφR−φB)まで
充電される。このためゲート電圧vGは、vG=φBと
なる。次に時刻t2で信号φGがOvとなると、ダイオ
ードDGは逆バイアスされるため電流IGは流れない。 このためコンデンサ7間には電圧(VφR−φB)が保
たれ、vG=−VφR+φBとなる。この後、信号φG
の次の■φGが加わる時刻t3までに、光照射のため、
電荷QLが蓄積シ、VGハΔvG=QL/CGタケ上上
昇シュVc=−VφR+φB+ΔvGとなる。時刻t3
において、VφGが加わると、ゲート電位Vcは上昇し
、Va = −VφR+φB+ΔVc + VφGとな
る。この時に列選択トランジスタ23がφBによりオン
すると、SETに第12図FB+に示されるような電流
IDIが流れる。この電流ID+により負荷抵抗(抵抗
値をR,Lとする)25間に電圧降下V = IDI
−R,Lを生じ、ビデオライン24に信号出力Vout
=Vs −Io+ −RLが生じる。 電流ID+はΔVGにより変化するため、入射光量−′
対応(−“6号を読6す02°゛1き6・第”°11・
において、時刻t4で再び信号φGが■φRと
なるとケート”1位VGはφBとなり、それまでの蓄積
電荷帆はクリアされる。時刻t5において、信号φGが
0vになると、ゲート電位VGは再び、Vc = −V
φRφBKIIセットされ、次のフィールドの電荷蓄積
が開始される。 以上の説明かられかるように、信号φGの大きい振幅電
圧VφRの値は、ゲート電位VG =−VφR+φBに
対応するSITのドレイン電流ID2が十分小さく、S
ITがオフするような値に選ばれ、小さい振幅電圧Vφ
Gの値は、行選択時にゲート電流が流れないように、時
刻t3におけるゲート電位、スナワチ、VG = −V
<6R+ +1 + Δva + Vφcが、φBより
小さいという条件、−vφR+φB+ΔlVc+Wc〈
φBから、VφG<vφR−△vGを満足するような値
に選ばれる。 従って、振幅電圧VφR,VφGを調整してゲート電圧
Vc =−VφR−148+VφRにおけるドレイン電
流IDが零になるように設定すれば第3図のa点のオフ
セットは生じることはない。 r次の、該
固体撮像装置100の画素出力iCC出出 ;カが含ま
れる場合、この暗出力のキャンセルについて説明する。 第4図において、上記のようにして振幅電圧■φR,V
φGが適切に設定され画素出力にオフセットがないもの
とする。遮光画素のゲート電圧VGが熱的に励起された
正孔により−VφR十φB十VφR+△Vc ; DA
RKとなると、この暗出力をキャンセルするためには振
幅電圧■φR1■φGを調整して上記ゲート電圧VGを
−VφR+φB+■φG+Δ:Vc ; DARKに対
するドレイン電流IDが零になるようにすればよい。(
第4図a、a参照)以上の説明から明らかなようにオフ
セ゛ノド或いは暗出力をキャンセルするには、振幅電圧
■VφR1VφGを遮光画素出力に応じて自動制御を行
なえば良いことになる。 第5図は本実施例における振幅電圧VφRを制御する場
合の信号波形図である。同図において、上記固体撮像装
fR100のすき光画素の廼光画素出力に応じて振幅電
圧VφR’= VφR+△VφRに制御すればよい事に
なる。 同様に、第6図を工水実施例におけろ振幅電圧VφGを
制御する場合の信号波形図である。同図において、上記
固体操像装rj/flooの遮光画素の遮光画素出力に
応じて振幅電圧■φc’=VφG+Δ■φGに同様に制
御すればよい事になる。 第7図は本発明の他の用体撮像装置の一実絢例を示す全
体の回路構成図、第8図は該固体撮像装置でオフセ゛ノ
ドをキャンセルする場合の説明図、第9図は該固体撮像
装置で暗出力を同様にキャンセルする場合の説明図であ
る。 第7図において、200は例えば上述の木頭人が既に提
案したノーマリ−オン形SITで構成した固体撮像装置
で各画素201−11.201−12、・・・・・・2
01−mn カマトリックス状に配列されXYアドレス
方式により信号を読出すようになっている。 すなわち、各画素を構成するSETのドレイン(工接地
され、X方向に配列された各行のS I T群のゲート
端子は、行ライン202− I N 202−2、・・
・・・・202−mにそれぞれ接続されている。また、
各画素の内第1水平ライン、すなわち201−11.2
01−12、、、 、、、 、、、201− Inは遮
光され遮光画素を構成している。更に、Y方向に配列さ
れた各行のSET群のソースは、列ライン203−1.
203−ζ・・・・・・・・・203−nに接続され、
これらの列ラインは、それぞれ列選択用トランジスタ2
04−1 % 204−2、・・・・・・・・・204
−nを介して、ビデオライン205に共通に接続されて
いる。ビデオライン205には負荷抵抗206を介して
、ビデオ電圧(Vs)207が加えられ、該ビデオライ
ン205には出力端子208が設けられている。そして
、行ライン202−1.202−2、・・・・・・・・
・202−mは垂直走査回路209に接続され、それぞ
れ信号φQ+、φG2、・・・・・・・・・φGmが加
わるようになっている。また、列選択用トランジスタ2
04−1 、204−2、・・−・+−++ 204−
nのゲート端子は、水平走査回路110に接続され、信
号φS1、φS2、・・・・・・・・・φSnが加わる
ように構成されている。211積分回路でビデオライン
205及び行ライン202−1に接続されている。上記
積分回路211はビデオライン205からのビデオ出力
信号を積分し、こ帆を比較器212の一方の入力側に送
出する。比較器21′2f′)他方の入力側には基準電
源213より予じめ設定した基準電圧(Vref、)が
入力されている。214ハ比較器112の出力信号を受
け、振出力信号に基づいて上記垂直走査回路209に供
給される電源電圧を制御する制御信号を送出するように
なっている。 次に、上述の一画素の動作原理に基づいて、第7図に示
した固体撮像装置の動作を説明する。 上記回路構成において、垂直走査回路209の作動によ
り、信号φGlが■φGになると行ライン202−1に
接続されたSIT群が選択されと共に積分回路211が
作動される。水平走査回路210より出力される信号φ
81.φS2、・・・・・・・・・φSnにより、列選
択用トランジスタ204−1.204−2、・・・・・
・204−nが順次オンする。この時画素201−tt
、201−12、・・・・・・・・・201−1lの画
素信号が順次ビデオライン205より出力される訳であ
るが、先ず第1水平ラインの遮光画素201−1tの遮
光画素出力は積分回路211 K取込まれる。 この時、遮光画素出力は積分回路211で積分され比較
器212により基準電圧(Vref、)と比較される。 比較器212の出力信号は制御回路214にフィードバ
ックされ、制御回路214からの制御信号は垂直走査回
路209の電源電圧を制御して、比較器212の出力信
号が零となる様にする。 この様にして、比較器212の出力信号が零になると、
上記固体撮像装置100のオフセット及び暗出力はキャ
ンセルされることになり、その後、順次各画素201−
21.2Ql−22、−=−・曲4Ql−Znの画素信
号がビデオライン205に出力される。続いて、この画
素群は信号が高レベルVφRになった時にリセ゛ノドさ
れる。この場合、制御回路214においては、垂直走査
回路209の電源電圧を遮光画素101−+1の遮光画
素出力に基づいて制御するものであるが、この第1回目
の制御を以下の列ライン203−2.203−3、・・
・・・・・・・203−n 、に接続された各遮光画素
201−12.201−13、・・・・・・・・・画素
201−22.201−23、・・・・・・・・・20
1−InVC対して継続して制御する。 上記制御回路214は、各画素201−21.201−
22、−・・・・・・・・201−mn毎のSIT素子
の特性バラツキが無視できる場合は、遮光画素201−
11.201−12、・・・・・・201−+r+毎の
制御動作を省略することがでる。次いで、信号φG2が
VφGになると、行ライン202−2に接続された画素
群が選択され、水平走査信号φ81. φS2、・・
・・・・・・・φSnにより画素201−22.201
−23・・・・・・・・・201−znの光信号が順次
続出され、続いてリセットされる。以下同様にして順次
各画素の光信号が読出され、1フイールドのビデオ信号
が得られる。なお、本実施例では第1回目の遮光画素出
力で固体撮像装#100の暗出力をキャンセルしたが、
各遮光画素201−11.201−12、−・・・・・
201−1n毎の遮光画素出力を用いて、対応する列ラ
イン203−1 % 203−2、−・−・−・−2
03−1毎に制御回路214からの制御信号を垂直走査
回路209 K送出して制御することもできる。 次台、本実施例による固体撮像装置200にオフセット
及び暗出力が含まれる場合のキャンセルの方法であるが
、これは上述の本発明の一実施例と同様にオフセットの
場合は振幅電圧■φR(第5図参照)を、また暗出力の
場合は振幅電圧■φG(第6図参照)を同様に制御する
事で達成できるのでその説明は省略する。 次に、本発明の固体撮像装置におけるオフセット及び暗
出力のキャンセルの方法の利点について、第8図及び第
9図のドレイン電流IDとゲート電圧Vcの特性図を用
いて説明する。SITを用いた固体撮像装置の飽和レヘ
ルは上述の第11図よりゲート電圧Vcがゲート4(p
+)とドレイン1(n+)のビルトイン障壁電圧φBで
決まる。 (第8図す点参照) 本発明によるオフセット及び暗出力をキャンセルする方
法においては、入射光量に対するゲート電圧変化分は第
8図のa点からb点まで広範回置とることができる。こ
れに対して上述の従来の固体撮像装置61(第1鍜参照
)では第9図に示すa点からb点の狭い範囲である。 以上の説明で明らかな様に、従来の固体撮像、装置の如
くダイナミックレンジを減少させることなくオフセット
及び暗出力のキャンセルを行l← なうことがで
きる。また、シャッター機能を付1′ 加した
固体撮像装置、例えば上述の本願人が醍に提案した固体
撮像装置(第14図及び第15図参照)に本発明を応用
すれば撮影する周囲が暗く積分時間が長くなる場合に対
しても良好な画像が得られる。この様な固体撮像装置に
対する有効な機能及び動作は、COD、BBD等の電荷
転送素子、MOSトランジスタ等を用いる従来の固体撮
像装置では実現することができない。 本発明は上述の種々の実施例に限定さ法るものではなく
幾多の変形及び変更ができるものである。実施例におい
ては、オフセット或いに暗出力のキャンセルを自動制御
ループにより振幅電圧VφR,VφGをそれぞれに個々
に制御する事で説明を行なったが、上記自動制御ループ
による制御は、振幅電圧■φa、 VφGを共に制御で
きるものである。また実施例においてはノーマリ−オン
形SITの一方の主電極であるソースを行ラインに、ド
レインを共通に接地したが、これらを反対に接続して用
いることもできる。更に、本発明において説明した固体
撮像装置の主 1要な機能部材、機能回路、例えば、S
I T撮像 )素子群、行選択用スイッチ、垂直・
水平走査回路、ビデオ電源と負荷抵抗、サンプルホール
ド回路または積分回路、比較器及び制御回路等は、必要
に応じて適宜に選択し1チツプ半導体に実装できるもの
である。更に、本発明ではマドIIツクス状に配列した
ノーマリ−オン形SITを用いた固体撮像装置について
説明したが、これに限定されるものではない。すなわち
、ノーマリ−オン形SITをライン状に単数列或いに複
数列に配列させた、所謂、ラインイメージセンサ−にも
適用できる。この場合、第1ビツトの1画素を遮光画素
としてこの遮光画素出力を本発明の自動制御ループによ
って、信号処理して比較器の出力信号を零となるように
制御すればよい。 (発明の効果) 本発明による固体撮像装置はSIT撮像素子が本来備え
ているダイナミックレンジを減少させることなく、オフ
セット及び暗出力を含まない画素出力を得ることができ
る。
第1図〜第8図は、本発明による固体撮像装置に関する
説明図であり、− 第1図は、本発明による固体撮像装置の基本の回路構成
図、 第2図は、該装置の一実施例を示す全体の回路構成図、 第3図は、該装置にオフセットがある場合の印。 明図、 第4図は、該装置に暗出力がある場合の説明図、第5図
は、該装置のオフセットをキャンセルする場合の信号波
形図、 第6図は、該装置の暗出力をキャンセルする果合の信号
波形図、 第7図は、該装置の他の実施例を示す全体の回路構成図
、 紀8図は、本発明による固体撮像装置のVa−ID特性
図、 第9図は従来の固体撮像装置のVc−Io特性図、第1
0図〜第15図は、既に本願人が扶案した固体撮像装置
に関する説明図であり、 第10図(A)、(B)及び(C1は、夫々に該装置の
一画素を構成するS I ’l’の断面図、その全体の
回路構成図及びその動作の信号波形図、 第11図は、該装置の一画素に対応−4−る回路図、第
12回置及び(Blは、夫々に該装gtのVG−Ic特
性図及びVc−ID特性図、 第13図は、該装置の信号波形図、 第14図(8)及びfBlは、夫々に該装置の他の提案
例の全体の回路構成図及びその動作の信号波形図、第1
5図(A)、(B)及び(0は、天々に該装置の更に他
の堤案例の全体の回路構成図、その動作の信号波形図及
びゲート電位変化図、 第16回置及びff31は、従来のS I T固体場像
44置の全体の回路構成図及びその信号波形図を夫々に
示す図である。 第1図 t−VφR+Φe+VφG) 第5図 り φS2 第10図 (Al OQ 〉 〉第13図 第14図 第14図 (B) 第15図 fA) ’T>8 ) 第16図 端) !!!j+ 暗仏力十オフtヅト 手続補正四(自発〉 昭和6o年5月27日 9年特許願第203718号 像装置 者 す、補正の対象 「発明の詳細な説明」の欄 別紙の通り (別紙) (1)明細書第3頁第14行の「実行的」を「実効的」
に訂正する。 (2)同第6頁第3行f7) rV(t)8J e r
V(+)RJに訂正する。 ′ (3)同第19頁第19行の「るように構成され
ている。」の後に、次の通り加入し訂正する。 「なお、検出器8つの比較器は、遮光画素出力と基準電
圧との差に比例した出力を送出する差!l1lilfi
器であってもよい。このような差動増幅器を用いること
によって所望の自動制御が容易にできるものである。比
較器または差動増幅器等を用いることは、後述する種々
の実施例においても同様とするものである。」 (4)同第21頁第9行のrlol−mnがマトリック
ス」をrlol−mnがマトリックス」に訂正する。 〈5)同第24頁第2行〜周頁第3行の「サンプル・ホ
ルト」を「サンプルホールド」に訂正する。 (6〉同第34頁第13行〜同頁第19行の[次に、・
・・・・・説明は省略する。」を削除し、次のように訂
正する。 「次に、本実施例による固定Wi像装置200にオフセ
ット及び暗出力が含まれる場合のキャンセルの方法は、
上述の振動電圧VΦRまたは■ΦGのいずれかを同様に
制御することで達成できる。」
説明図であり、− 第1図は、本発明による固体撮像装置の基本の回路構成
図、 第2図は、該装置の一実施例を示す全体の回路構成図、 第3図は、該装置にオフセットがある場合の印。 明図、 第4図は、該装置に暗出力がある場合の説明図、第5図
は、該装置のオフセットをキャンセルする場合の信号波
形図、 第6図は、該装置の暗出力をキャンセルする果合の信号
波形図、 第7図は、該装置の他の実施例を示す全体の回路構成図
、 紀8図は、本発明による固体撮像装置のVa−ID特性
図、 第9図は従来の固体撮像装置のVc−Io特性図、第1
0図〜第15図は、既に本願人が扶案した固体撮像装置
に関する説明図であり、 第10図(A)、(B)及び(C1は、夫々に該装置の
一画素を構成するS I ’l’の断面図、その全体の
回路構成図及びその動作の信号波形図、 第11図は、該装置の一画素に対応−4−る回路図、第
12回置及び(Blは、夫々に該装gtのVG−Ic特
性図及びVc−ID特性図、 第13図は、該装置の信号波形図、 第14図(8)及びfBlは、夫々に該装置の他の提案
例の全体の回路構成図及びその動作の信号波形図、第1
5図(A)、(B)及び(0は、天々に該装置の更に他
の堤案例の全体の回路構成図、その動作の信号波形図及
びゲート電位変化図、 第16回置及びff31は、従来のS I T固体場像
44置の全体の回路構成図及びその信号波形図を夫々に
示す図である。 第1図 t−VφR+Φe+VφG) 第5図 り φS2 第10図 (Al OQ 〉 〉第13図 第14図 第14図 (B) 第15図 fA) ’T>8 ) 第16図 端) !!!j+ 暗仏力十オフtヅト 手続補正四(自発〉 昭和6o年5月27日 9年特許願第203718号 像装置 者 す、補正の対象 「発明の詳細な説明」の欄 別紙の通り (別紙) (1)明細書第3頁第14行の「実行的」を「実効的」
に訂正する。 (2)同第6頁第3行f7) rV(t)8J e r
V(+)RJに訂正する。 ′ (3)同第19頁第19行の「るように構成され
ている。」の後に、次の通り加入し訂正する。 「なお、検出器8つの比較器は、遮光画素出力と基準電
圧との差に比例した出力を送出する差!l1lilfi
器であってもよい。このような差動増幅器を用いること
によって所望の自動制御が容易にできるものである。比
較器または差動増幅器等を用いることは、後述する種々
の実施例においても同様とするものである。」 (4)同第21頁第9行のrlol−mnがマトリック
ス」をrlol−mnがマトリックス」に訂正する。 〈5)同第24頁第2行〜周頁第3行の「サンプル・ホ
ルト」を「サンプルホールド」に訂正する。 (6〉同第34頁第13行〜同頁第19行の[次に、・
・・・・・説明は省略する。」を削除し、次のように訂
正する。 「次に、本実施例による固定Wi像装置200にオフセ
ット及び暗出力が含まれる場合のキャンセルの方法は、
上述の振動電圧VΦRまたは■ΦGのいずれかを同様に
制御することで達成できる。」
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、行選択制御信号を印加する行ライン と列選択制御信号を印加する列ラインと、上記、列ライ
ンに接続された一方の主電極に共通に接続された他方の
主電極と、上記主電極間に配設されたチヤネル領域とゲ
ート領域とから成る画素を構成するノーマリーオン形静
電誘導トランジスタと、該静電誘導トランジスタのゲー
ト領域と行ラインとの間に接続されたコンデンサと上記
画素の信号読出し時にゲート領域を逆バイアスさせる手
段と、遮光画素とを備え、該遮光画素の遮光画素出力を
零とするように自動制御ループを形成したことを特徴と
する固体撮像装置。 2、上記自動制御ループは、遮光画素出力に応じて行選
択制御信号の電圧レベルを自動制御することを特徴とす
る特許請求の範囲第1項記載の固体撮像装置。 3、上記自動制御ループは、遮光画素出力と基準電圧を
比較する比較器を含むことを特徴とする特許請求の範囲
第1項または第2項記載の固体撮像装置。
Priority Applications (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59203718A JPS6181087A (ja) | 1984-09-28 | 1984-09-28 | 固体撮像装置 |
| US06/772,787 US4678938A (en) | 1984-09-28 | 1985-09-05 | Solid-state image sensing apparatus having an automatic control loop |
| DE3533922A DE3533922C2 (de) | 1984-09-28 | 1985-09-24 | Festkörper-Bildabtastvorrichtung |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59203718A JPS6181087A (ja) | 1984-09-28 | 1984-09-28 | 固体撮像装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6181087A true JPS6181087A (ja) | 1986-04-24 |
Family
ID=16478694
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP59203718A Pending JPS6181087A (ja) | 1984-09-28 | 1984-09-28 | 固体撮像装置 |
Country Status (3)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4678938A (ja) |
| JP (1) | JPS6181087A (ja) |
| DE (1) | DE3533922C2 (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS61163776A (ja) * | 1985-01-12 | 1986-07-24 | Olympus Optical Co Ltd | 固体撮像装置 |
| JPH0316475A (ja) * | 1989-06-14 | 1991-01-24 | Canon Inc | 光電変換装置 |
| US5278658A (en) * | 1990-05-15 | 1994-01-11 | Ricoh Company, Ltd. | Image reading apparatus having a function for correcting dark signals generated in a photoelectric conversion element |
| JP2012093365A (ja) * | 1999-07-29 | 2012-05-17 | Toshiba Medical System Co Ltd | 放射線検出器および放射線診断装置 |
Families Citing this family (41)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5771070A (en) * | 1985-11-15 | 1998-06-23 | Canon Kabushiki Kaisha | Solid state image pickup apparatus removing noise from the photoelectric converted signal |
| US4914519A (en) * | 1986-09-19 | 1990-04-03 | Canon Kabushiki Kaisha | Apparatus for eliminating noise in a solid-state image pickup device |
| US5737016A (en) * | 1985-11-15 | 1998-04-07 | Canon Kabushiki Kaisha | Solid state image pickup apparatus for reducing noise |
| DE3689707T2 (de) * | 1985-11-15 | 1994-07-14 | Canon Kk | Photoelektrische Wandlervorrichtung. |
| JPH084127B2 (ja) * | 1986-09-30 | 1996-01-17 | キヤノン株式会社 | 光電変換装置 |
| JPH0714042B2 (ja) * | 1986-02-26 | 1995-02-15 | 三菱電機株式会社 | 固体撮像素子 |
| EP0239808B1 (en) * | 1986-03-03 | 1991-02-27 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Radiation detecting device |
| JPS63100879A (ja) * | 1986-10-17 | 1988-05-02 | Hitachi Ltd | 固体撮像装置 |
| JPH084129B2 (ja) * | 1986-11-19 | 1996-01-17 | キヤノン株式会社 | 光電変換装置 |
| JPH0671324B2 (ja) * | 1987-04-03 | 1994-09-07 | オリンパス光学工業株式会社 | 撮像装置 |
| JP2564133B2 (ja) * | 1987-04-17 | 1996-12-18 | オリンパス光学工業株式会社 | 固体撮像装置 |
| JPS6442992A (en) * | 1987-08-08 | 1989-02-15 | Olympus Optical Co | Solid-state image pickup device |
| US6008687A (en) * | 1988-08-29 | 1999-12-28 | Hitachi, Ltd. | Switching circuit and display device using the same |
| US4989067A (en) * | 1989-07-03 | 1991-01-29 | General Electric Company | Hybrid interconnection structure |
| US5028788A (en) * | 1990-04-03 | 1991-07-02 | Electromed International Ltd. | X-ray sensor array |
| JP2850039B2 (ja) * | 1990-05-16 | 1999-01-27 | オリンパス光学工業株式会社 | 光電変換装置 |
| JP3031756B2 (ja) * | 1990-08-02 | 2000-04-10 | キヤノン株式会社 | 光電変換装置 |
| US5291044A (en) * | 1990-12-12 | 1994-03-01 | Eastman Kodak Company | Image sensor with continuous time photodiode |
| FR2686472A1 (fr) * | 1992-01-17 | 1993-07-23 | Thomson Tubes Electroniques | Procede d'elaboration d'une image matricielle avec comparaison globale de lignes de piscels et reduction du bruit correle en ligne. |
| EP0616464B1 (en) * | 1993-03-15 | 1999-06-02 | Canon Kabushiki Kaisha | Signal processor |
| JPH06334920A (ja) * | 1993-03-23 | 1994-12-02 | Nippon Hoso Kyokai <Nhk> | 固体撮像素子とその駆動方法 |
| JP3431995B2 (ja) * | 1993-06-03 | 2003-07-28 | キヤノン株式会社 | 撮像装置 |
| JP3774499B2 (ja) | 1996-01-24 | 2006-05-17 | キヤノン株式会社 | 光電変換装置 |
| GB2318473B (en) * | 1996-10-17 | 2000-11-29 | Sony Corp | Solid state imaging device,signal processing method and camera |
| US6402328B1 (en) | 1999-01-25 | 2002-06-11 | Gentex Corporation | Automatic dimming mirror using semiconductor light sensor with integral charge collection |
| EP1147031B1 (en) * | 1999-01-25 | 2011-12-28 | Gentex Corporation | Vehicle equipment control with semiconductor light sensors |
| US6359274B1 (en) | 1999-01-25 | 2002-03-19 | Gentex Corporation | Photodiode light sensor |
| US6313457B1 (en) | 1999-01-25 | 2001-11-06 | Gentex Corporation | Moisture detecting system using semiconductor light sensor with integral charge collection |
| US6873363B1 (en) * | 1999-02-16 | 2005-03-29 | Micron Technology Inc. | Technique for flagging oversaturated pixels |
| DE19945023C2 (de) | 1999-09-20 | 2003-04-24 | Siemens Ag | Flächenhafter Bilddetektor für elektromagnetische Strahlen, insbesondere Röntgenstrahlen |
| US7543946B2 (en) * | 2002-01-10 | 2009-06-09 | Gentex Corporation | Dimmable rearview assembly having a glare sensor |
| JP2003209665A (ja) * | 2002-01-16 | 2003-07-25 | Fuji Photo Film Co Ltd | 画像読取方法および画像記録読取装置 |
| US7755679B2 (en) * | 2007-03-07 | 2010-07-13 | Altasens, Inc. | Apparatus and method for reducing edge effect in an image sensor |
| US7999340B2 (en) * | 2007-03-07 | 2011-08-16 | Altasens, Inc. | Apparatus and method for forming optical black pixels with uniformly low dark current |
| US8665350B2 (en) * | 2008-05-08 | 2014-03-04 | Altasens, Inc. | Method for fixed pattern noise (FPN) correction |
| US20090278963A1 (en) * | 2008-05-08 | 2009-11-12 | Altasens, Inc. | Apparatus and method for column fixed pattern noise (FPN) correction |
| US8164588B2 (en) * | 2008-05-23 | 2012-04-24 | Teledyne Scientific & Imaging, Llc | System and method for MEMS array actuation including a charge integration circuit to modulate the charge on a variable gap capacitor during an actuation cycle |
| US8620523B2 (en) | 2011-06-24 | 2013-12-31 | Gentex Corporation | Rearview assembly with multiple ambient light sensors |
| EP2740003B1 (en) | 2011-08-05 | 2017-06-14 | Gentex Corporation | Optical assembly for a light sensor |
| US9870753B2 (en) | 2013-02-12 | 2018-01-16 | Gentex Corporation | Light sensor having partially opaque optic |
| US9207116B2 (en) | 2013-02-12 | 2015-12-08 | Gentex Corporation | Light sensor |
Family Cites Families (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4010319A (en) * | 1975-11-20 | 1977-03-01 | Rca Corporation | Smear reduction in ccd imagers |
| US4387402A (en) * | 1980-10-28 | 1983-06-07 | Texas Instruments Incorporated | Charge injection imaging device for faithful (dynamic) scene representation |
| JPS58105672A (ja) * | 1981-12-17 | 1983-06-23 | Fuji Photo Film Co Ltd | 半導体撮像装置 |
| JPS59108365A (ja) * | 1982-12-14 | 1984-06-22 | Olympus Optical Co Ltd | 半導体装置及びその製造方法 |
| JPS59148473A (ja) * | 1983-02-14 | 1984-08-25 | Junichi Nishizawa | 2次元固体撮像装置の読出し方法 |
| JPS59153381A (ja) * | 1983-02-22 | 1984-09-01 | Junichi Nishizawa | 2次元固体撮像装置 |
| JPS6058781A (ja) * | 1983-09-09 | 1985-04-04 | Olympus Optical Co Ltd | 固体撮像装置 |
| JPH0831991B2 (ja) * | 1984-04-17 | 1996-03-27 | オリンパス光学工業株式会社 | 固体撮像装置 |
-
1984
- 1984-09-28 JP JP59203718A patent/JPS6181087A/ja active Pending
-
1985
- 1985-09-05 US US06/772,787 patent/US4678938A/en not_active Expired - Lifetime
- 1985-09-24 DE DE3533922A patent/DE3533922C2/de not_active Expired
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS61163776A (ja) * | 1985-01-12 | 1986-07-24 | Olympus Optical Co Ltd | 固体撮像装置 |
| JPH0316475A (ja) * | 1989-06-14 | 1991-01-24 | Canon Inc | 光電変換装置 |
| US5278658A (en) * | 1990-05-15 | 1994-01-11 | Ricoh Company, Ltd. | Image reading apparatus having a function for correcting dark signals generated in a photoelectric conversion element |
| JP2012093365A (ja) * | 1999-07-29 | 2012-05-17 | Toshiba Medical System Co Ltd | 放射線検出器および放射線診断装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| DE3533922C2 (de) | 1987-01-15 |
| US4678938A (en) | 1987-07-07 |
| DE3533922A1 (de) | 1986-04-10 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JPS6181087A (ja) | 固体撮像装置 | |
| US5898168A (en) | Image sensor pixel circuit | |
| US6046444A (en) | High sensitivity active pixel with electronic shutter | |
| US6917027B2 (en) | Method and apparatus for reducing kTC noise in an active pixel sensor (APS) device | |
| EP0957630B1 (en) | Column amplifier architecture in an active pixel sensor | |
| EP1139658B1 (en) | Amplification type solid-state imaging device and high-speed readout method | |
| US5793423A (en) | Solid state image sensing device | |
| US5771070A (en) | Solid state image pickup apparatus removing noise from the photoelectric converted signal | |
| US6175383B1 (en) | Method and apparatus of high dynamic range image sensor with individual pixel reset | |
| US10559614B2 (en) | Dual conversion gain circuitry with buried channels | |
| US20030137594A1 (en) | Image sensing apparatus, signal detection apparatus, and signal accumulation apparatus | |
| US6704050B1 (en) | Active-pixel image sensing device with linear mode voltage to current conversion | |
| US6697114B1 (en) | Triple slope pixel sensor and arry | |
| JPH04281683A (ja) | 固体撮像装置 | |
| GB2100952A (en) | Image pickup apparatus | |
| CA2180389A1 (en) | Combined photogate and photodiode active pixel image sensor | |
| US20240098386A1 (en) | Image sensor with stacked pixels having high dynamic range and low noise | |
| US6809768B1 (en) | Double slope pixel sensor and array | |
| JPH0453149B2 (ja) | ||
| US20090115878A1 (en) | Method, system and apparatus to boost pixel floating diffusion node voltage | |
| US10652486B2 (en) | Image sensor with electron and hole collection electrodes | |
| JPH01135274A (ja) | 固体撮像装置 | |
| US7189951B2 (en) | Solid-state image sensing apparatus and image sensing system | |
| US4939579A (en) | Solid-state image pick-up device including static induction transistors with photometric function | |
| US6914230B2 (en) | System and method for reducing trapped charge effects in a CMOS photodetector |