JPS6184847A - Gate array master slice ic device - Google Patents

Gate array master slice ic device

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JPS6184847A
JPS6184847A JP59206144A JP20614484A JPS6184847A JP S6184847 A JPS6184847 A JP S6184847A JP 59206144 A JP59206144 A JP 59206144A JP 20614484 A JP20614484 A JP 20614484A JP S6184847 A JPS6184847 A JP S6184847A
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wiring
cell array
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array
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高山 良久
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    • H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
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    • H10D84/00—Integrated devices formed in or on semiconductor substrates that comprise only semiconducting layers, e.g. on Si wafers or on GaAs-on-Si wafers
    • H10D84/90—Masterslice integrated circuits
    • H10D84/903—Masterslice integrated circuits comprising field effect technology
    • H10D84/907—CMOS gate arrays

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  • Semiconductor Integrated Circuits (AREA)
  • Design And Manufacture Of Integrated Circuits (AREA)

Abstract

PURPOSE:To improve the characteristic of signal transmission speed, etc. and increase the integration degree while keeping the wiring redundancy of wiring channel regions by mixing one-column type basic cell arrays capable of unit cell wiring on any side and two-column type basic cell arrays restricted in unit cell wiring. CONSTITUTION:A two-column type basic cell array BC2 is provided between one-column type basic cell arrays BC1. A wiring channel region CH is provided on the outside of the two-column type basic cell array BC2, but no wiring channel region exists between each of one-column type basic cell arrays BC1-1 and BC1-2 in that array BC2; besides, these arrays BC1-1 and BC1-2 are arranged in right-left symmetry. Therefore, the restriction in use of wiring channel regions of the arrays BC2 can be sufficiently compensated because the arrays BC1 can select any of wiring channel regions.

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明はケ゛−ドアレイマスタスライス集積回路装置に
関する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION Field of the Invention The present invention relates to a quad array master slice integrated circuit device.

一般に、複雑な集積論理回路のような大規模集積回路(
以下、論理LSI )は顧客の要求に応じて製造される
ために、多品種少量生産されている。
Generally, large scale integrated circuits (such as complex integrated logic circuits)
Logic LSIs (hereinafter referred to as "logic LSIs") are produced in small quantities in a wide variety of products in order to be manufactured according to customer requirements.

このような多品種少量生産の論理LSIを迅速且つ低コ
ストで製造する方法としてマスタスライス方式が提案さ
れている。
A master slicing method has been proposed as a method for manufacturing such high-mix, low-volume logic LSIs quickly and at low cost.

マスクスライス方式とは、多数の基本セルを規則的に予
め製造しておき、顧客の要求あるいは開発品種に応じた
ユニットセル用の配線・母ターンマスクを製造してこれ
らの基本セル内の配線および基本セル間の配線のみを個
別的に後に製造するものである。従って、製造もしくは
開発期間は短縮され、また、基本セル構造は各論理LS
Iに共通であるので製造もしくは開発コストも低減され
る。
The mask slicing method involves manufacturing a large number of basic cells regularly in advance, manufacturing wiring/mother-turn masks for unit cells according to customer requirements or developed products, and cutting the wiring and wiring within these basic cells. Only the wiring between basic cells is manufactured separately later. Therefore, the manufacturing or development period is shortened, and the basic cell structure is
Since it is common to I, manufacturing or development costs are also reduced.

なお、基本セル構造は半導体基板内の不純物拡散領域と
必要最小限の基本セル内の配線とによって決定されるの
で、バルク構造とも呼ばれる。
Note that the basic cell structure is determined by the impurity diffusion region in the semiconductor substrate and the minimum necessary wiring in the basic cell, so it is also called the bulk structure.

本発明は上述の基本セルをアレイ状に配置したf−)ア
レイマスタスライス論理LSIにおゆるバルク構造の改
良を行うものである。
The present invention improves the bulk structure of the f-) array master slice logic LSI in which the basic cells described above are arranged in an array.

従来の技術 第2図は相補形MIS(αIS)ケ9−ドアレイに用い
られる基本セルの一例を示す等価回路を示し、第3図に
その平面図、第4図、第5図に第3図のIV−IV線断
面図、v−v5断面図をそれぞれ示す。
Prior Art FIG. 2 shows an equivalent circuit showing an example of a basic cell used in a complementary MIS (αIS) quadrature array, FIG. 3 is a plan view thereof, and FIGS. A sectional view taken along the IV-IV line and a sectional view taken along the v-v5 line are shown, respectively.

第2図に示すように、この基本セルは、ソース(もしく
はドレイン)を共有した1対のPチャネルトランジスタ
Q、、 、 Q、2と、ソース(もしくはドレイン)を
共有した1対のNチャネルトランジスタQn+ ’ Q
n2とからな)、これらの異なる導電形のトランジスタ
対Q、1.Qn4、およびQp2゜Qn2のf−ト同志
が共通接続されて因る。第3図〜ムχ5図を参照して!
B造方法について説明すると、上記基本セルはN−シリ
コン基板1にNチャネルトランノスタQn4.Qn2形
成領域としてのP−ウェル2を形成し、次いで、アイソ
レーションとしてのフィールド酸化膜3を形成する。次
に、各トランジスタ用のデート酸化膜4を形成し、さら
に、N−シリコン基板1内にPチャネルトランジスタQ
、4 + Q、2用のP 不純物拡散層5を形成し、他
方、P−ウェル内にNチャネルトランジスタ用の鹸不純
物拡散層6を形成し、最後に、各トランジスタQP” 
’ Qnlのダートおよび各トランジスタQ、2 * 
Qn2のケートを共通接続したポリシリコン層7を形成
してバルク構造形成としての前工程を終了する。つまシ
、この後の工程は顧客の要求あるいは開発品種に応じた
ユニットセル用マスクによって行われる。
As shown in Figure 2, this basic cell consists of a pair of P-channel transistors Q, , , Q,2 that share a source (or drain) and a pair of N-channel transistors that share a source (or drain). Qn+'Q
n2), these transistor pairs of different conductivity types Q, 1. This is due to the fact that Qn4, Qp2 and Qn2 are commonly connected. Please refer to Figure 3 ~ Figure χ5!
To explain the manufacturing method of B, the above-mentioned basic cell has an N-channel transistor Qn4. A P-well 2 is formed as a Qn2 formation region, and then a field oxide film 3 is formed as an isolation layer. Next, a date oxide film 4 for each transistor is formed, and a P channel transistor Q is further formed in the N-silicon substrate 1.
, 4 + Q, 2, a P impurity diffusion layer 5 for the N-channel transistor is formed in the P-well, and finally, a P impurity diffusion layer 5 for each transistor QP'' is formed in the P-well.
' Dart of Qnl and each transistor Q, 2 *
A polysilicon layer 7 in which the gates of Qn2 are commonly connected is formed to complete the pre-process for forming the bulk structure. The subsequent steps are performed using unit cell masks according to customer requirements or developed product types.

従来の基本セルは、第6図に示すごとく、チップの中央
部にプレイ状に配列されている。つま9、各アレイBC
Iは1列の基本セルからなっておシ、その間には配線チ
ャネル領域CHが設けられてbる。なお、第6図におい
て、Iloは外部との接続のだめの入出力回路、Pはパ
ッドである。
Conventional basic cells are arranged in a play shape in the center of a chip, as shown in FIG. Toe 9, each array BC
I consists of one column of basic cells, and a wiring channel region CH is provided between them. In FIG. 6, Ilo is an input/output circuit for external connection, and P is a pad.

上述の1列型基本セルアレイBCIにユニットセルを構
成した一例を第7図に示すと、基本セルアレイBCIに
平行な実線で示す配線LAは第1層のアルミニウム層で
形成され、基本セルアレイBCに垂直な点線で示す配線
LBは第2層のアルミニウム層で形成する。このような
配線LA 、 LBによってユニットセルおよびユニッ
トセル間の配線がなされる。
FIG. 7 shows an example in which unit cells are configured in the above-mentioned one-column basic cell array BCI. The wiring LA shown by the solid line parallel to the basic cell array BCI is formed of the first aluminum layer, and is perpendicular to the basic cell array BC. The wiring LB shown by the dotted line is formed from the second aluminum layer. Such wiring LA and LB provide wiring between unit cells and unit cells.

発明が解決しようとする問題点 しかしながら、上述の1列型基本セルアレイBCIにユ
ニットセルを構成すると、1ユニツトセルの縦長が犬き
くな」、従って、上述の配線LA、LBも長くなり、信
号伝達速度等の特性を招き、!iた、配線LA 、LB
が長くなる結果、基本セルアレイ間の配線チャネル領域
CHを大きくしなければならず、集積度の点で不利であ
るという問題点があった。
Problems to be Solved by the Invention However, when unit cells are configured in the above-mentioned one-column basic cell array BCI, the vertical length of one unit cell becomes too long.Therefore, the above-mentioned wirings LA and LB also become long, and the signal transmission speed is reduced. Inviting characteristics such as! i, wiring LA, LB
As a result, the wiring channel region CH between the basic cell arrays has to be enlarged, which is disadvantageous in terms of the degree of integration.

なお、上述の問題点を解決するために基本セルアレイを
2列の基本セルによシ構成することも一案であり、これ
によシ、同一のユニットセルを構成する場合はその縦長
を小さくし、従って、上述の配線LA 、LBを短かく
して信号伝達速度等の特性を向上でき、しかも基本セル
アレイ間の配線チャネル領域も小さくして集積度を向上
できる。
In order to solve the above-mentioned problem, one idea is to configure the basic cell array with two rows of basic cells. Therefore, the above-mentioned wirings LA and LB can be shortened to improve characteristics such as signal transmission speed, and the wiring channel area between basic cell arrays can also be made smaller to improve the degree of integration.

しかしながら、第8図に示すように、単純に基本セルア
レイをすべてこのような2列型基本セルアレイによシ構
成すると、2列型基本セルアレイにおいては、ユニット
セルのための配線はいずれか一方側しかできないことが
あり、このため、2列型基本セルアレイたとえばBC2
−2の一方側たとえば配線チャネル領域CH,に配線余
裕がなく、たとえ反対側の配線チャネル領域CH,に配
線余裕があっても、2列型基本セルアレイBC2−2の
ユニットセル用配線が不可能なことがあり、この結果、
未配線が発生する。
However, as shown in FIG. 8, if all the basic cell arrays are simply configured with such two-row basic cell arrays, in the two-row basic cell array, the wiring for unit cells will only be on one side. For this reason, a two-column basic cell array such as BC2
-2, for example, there is no wiring allowance in the wiring channel area CH, and even if there is wiring allowance in the wiring channel area CH on the opposite side, it is impossible to wire the unit cells of the two-column basic cell array BC2-2. As a result,
Unwiring occurs.

問題点を解決するための手段 本発明の目的は、上述の従来形の問題点に9み、ユニッ
トセル用配線がいずれ側でも可能な1列型基本セルアレ
イとユニットセル用配線に制約のある2列型基本セルア
レイとを混在させることによシ、配線チャネル領域の配
線冗長度を保持しつつ、信号伝達速度等の特性を向上さ
せ、しかも基本セルアレイ間の配線チャネル領域も小さ
くして集積度を向上せしめることにある。
Means for Solving the Problems The purpose of the present invention is to address the above-mentioned problems of the conventional method, and to solve the problems of the conventional type described above. By mixing column-type basic cell arrays, it is possible to improve characteristics such as signal transmission speed while maintaining wiring redundancy in the wiring channel area, and also reduce the wiring channel area between basic cell arrays to increase the degree of integration. The purpose is to improve.

実施例 第1図は本発明に係るf−)アレイマスタスライス集積
回路装置の一実施例を示す平面図である。
Embodiment FIG. 1 is a plan view showing an embodiment of an f-) array master slice integrated circuit device according to the present invention.

第1図においては、1列型基本セルアレイBCIの間に
第9図に示す2列型基本セルアレイBC2を設けである
。第9図に示すように、2列型基本セルアレイBC2の
外側には配線チャネル領域CHが設けられているが、2
列型基本セルアレイBCZ内の各1列型基本セルアレイ
BCI−1,BCI−2間には配線チャネル領域は存在
せず、しかも、1列型基本セルアレイBCI−1、BC
I−2は左右対称に配列されている。
In FIG. 1, a two-column basic cell array BC2 shown in FIG. 9 is provided between the one-column basic cell array BCI. As shown in FIG. 9, a wiring channel region CH is provided outside the two-column basic cell array BC2.
There is no wiring channel region between each one-column basic cell array BCI-1, BCI-2 in the one-column basic cell array BCZ.
I-2 are arranged symmetrically.

第10図は第1図の2列型基本セルアレイにあるユニッ
トセル用の配線を施した一例を示す平面図であシ、第1
1図は第1図の1列型基本セルアレイBCIに同一のユ
ニットセル用の配線を施した平面図である。第10図と
第11図と比較して分るように、第10図においては、
使用された基本セル段数は4であるのに対し、第11図
においては、使用された基本セル段数は2倍の8であシ
、従って、基本セルアレイ内部の第1層アルミニウム(
点線で示し、そのコンタクトを一重丸で示す)の配線は
第11図に比較して第10図の場合の方が総じて短かい
。また、他のユニットセルとの接続のための第2層アル
ミニウム(点線で示し、そのコンタクトを二重光で示す
)の配線LBl〜LB5の間隔も短かい。この結果、他
のユニットセルとの接続のための配線チャネル領域CH
を通過する配線数が少なくでき、しかも配線長も短かく
できる。
FIG. 10 is a plan view showing an example of wiring for unit cells in the two-row basic cell array shown in FIG.
FIG. 1 is a plan view of the single-column basic cell array BCI shown in FIG. 1 with wiring for the same unit cells. As can be seen by comparing Figures 10 and 11, in Figure 10,
The number of basic cell stages used is 4, whereas in FIG.
The wiring (shown by a dotted line and its contact shown by a single circle) is generally shorter in FIG. 10 than in FIG. 11. Further, the intervals between the wirings LB1 to LB5 of the second layer aluminum (shown by dotted lines and their contacts shown by double lights) for connection with other unit cells are also short. As a result, the wiring channel region CH for connection with other unit cells
The number of wires passing through can be reduced, and the length of the wires can also be shortened.

第10図において、ユニットセル用配線LB1〜LB、
のうち、LBl 、LB2  # LBsは基本セルア
レイBC2の一方側のみに位置しているのに対し、LB
4.LBsは両側に位置している。
In FIG. 10, unit cell wiring LB1 to LB,
Among them, LBl and LB2 #LBs are located only on one side of the basic cell array BC2, whereas LB
4. LBs are located on both sides.

つま、9、LB、%LB、は一方側での配線チャネル領
域の配線と接続されなければならない。他方、第11図
においては、ユニットセル用配線LB1〜LB、はいず
れも基本セルアレイBC’lの両側に位置しておシ、従
って、どちら側の配線チャネル領域も利用できることを
意味している。
Finally, 9, LB, %LB, must be connected to the wiring in the wiring channel region on one side. On the other hand, in FIG. 11, the unit cell wirings LB1 to LB are all located on both sides of the basic cell array BC'l, which means that the wiring channel regions on either side can be used.

本発明においては、2列型基本セルアレイBC2の少な
くとも一方側には1列型基本セルアレイBCIを平行に
対向せしめである。従って、2列型基本セルアレイBC
2の配線チャネル領域の使用制約は1列型基本1ルアレ
イBCIがいずれの配線チャネル領域も選択可能である
ので十分カバーできる。つ−4I)、2列型基本セルア
レイBC2に対するユニットセル用配線を1列型基本セ
ルアレイBCIにユニットセル配線よシ先に決定するよ
うにすれば、未配線の可能性は少なくなる。
In the present invention, a single-column basic cell array BCI is arranged in parallel and opposed to at least one side of the two-column basic cell array BC2. Therefore, the two-column basic cell array BC
The restriction on the use of the wiring channel area of No. 2 can be sufficiently covered by the single-column basic single-array BCI because any wiring channel area can be selected. -4I) If the unit cell wiring for the two-column basic cell array BC2 is determined before the unit cell wiring for the one-column basic cell array BCI, the possibility of unwired wiring is reduced.

なお、上述の実施例においては、1列型、2列型、1列
型を繰返して配列しであるが、1列型と2列型とが互い
に隣接していれば他の形態にもなし得る。たとえば、1
列型、2列型を繰返したものであってもよい。また、基
本セルとして2つのPチャネルトランノヌタおよび同数
のNチャネルトランジスタによυ構成し6対のPチャネ
ル/Nチャネルトランジスタのケ゛−トを共通接続した
ものを用1のだが、3以−ヒのPチャネルトランノスタ
およヒ同数のNチャネルトランジスタによ多構成したも
の、あるいは6対のPチャネル/Nチャネルのトランジ
スタのダートを共通接続したものでちってもよい。
In addition, in the above-mentioned embodiment, the 1-row type, 2-row type, and 1-row type are arranged repeatedly, but this can also be done in other forms as long as the 1-row type and the 2-row type are adjacent to each other. obtain. For example, 1
It may be a repeating row type or two row type. In addition, although 1 used a basic cell consisting of two P-channel transistors and the same number of N-channel transistors, with the gates of six pairs of P-channel/N-channel transistors connected in common, 3 and more It is also possible to use a configuration consisting of a plurality of P-channel transistors and the same number of N-channel transistors, or a configuration in which six pairs of P-channel/N-channel transistors are commonly connected.

発明の詳細 な説明したように本発明によれば、1列型基本セルアレ
イと2列型基本セルアレイとを混在せしめたので、2列
型基本セルアレイの配線長、配線数の減少による配線チ
ャネル減少という集精度向上と共に、2列型基本セルア
レイの使用配録チャネル領域の制約による未配線も防止
できる。
As described in detail, according to the present invention, since the one-column basic cell array and the two-column basic cell array are mixed, the wiring channel is reduced due to the reduction in the wiring length and the number of wirings in the two-column basic cell array. In addition to improving the collection accuracy, it is also possible to prevent unwired lines due to restrictions on the used distribution channel area of the two-row basic cell array.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は本発明に係るケ9−ドアレイマスタスライス集
積回路装置の一実施例を示す平面図、第2図は相補形M
ISf−ドアレイに用いられる基本セルの一例を示す等
価回路、第3図は第2図の平面図、第4図および第5図
はそれぞれ第3図のIV−■線断面図および■−■線断
面図、第6図は従来のデートアレイマスタスライス集積
回路装Uの平面図、第7図は第6図の1列型基本セルア
レイにユニットセル用配線を施した図、第8図は2列型
基本セルアレイにユニットセル用配線を施した図、第9
図は第1図の2列型基本セルアレイの拡大平面図、第1
0図は第1図の2列型基本セルアレイBO2にユニ、ト
セル用配線の一例を施こした図、第11図は第1図の1
列型基本セルアレイBCIに第10図のユニットセルと
同一の配線を施した図である。 BCI:1列型基本セルアレイ、BO2:2列型基本セ
ルアレイ、CH:配線チャネル領域。
FIG. 1 is a plan view showing an embodiment of a card array master slice integrated circuit device according to the present invention, and FIG.
An equivalent circuit showing an example of a basic cell used in an ISf-door array, FIG. 3 is a plan view of FIG. 2, and FIGS. 4 and 5 are cross-sectional views taken along lines IV-■ and ■-■ in FIG. 3, respectively. 6 is a plan view of a conventional date array master slice integrated circuit device U, FIG. 7 is a diagram showing unit cell wiring in the one-row type basic cell array shown in FIG. 6, and FIG. 8 is a two-row type basic cell array shown in FIG. Diagram showing wiring for unit cells in a type basic cell array, No. 9
The figure is an enlarged plan view of the two-row basic cell array in Figure 1.
Figure 0 is a diagram showing an example of wiring for uni and tocells in the two-row basic cell array BO2 in Figure 1, and Figure 11 is a diagram showing 1 in Figure 1.
10 is a diagram in which a column-type basic cell array BCI is provided with the same wiring as the unit cell in FIG. 10. FIG. BCI: 1-column basic cell array, BO2: 2-column basic cell array, CH: wiring channel region.

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 1、少なくとも一対のPチャネルMISトランジスタと
NチャネルMISトランジスタとが並置された第1の基
本セルと、トランジスタの配置が該第1の基本セルと鏡
像関係にある第2の基本セルとをそれぞれ複数有し、前
記第1の基本セルの列と前記第2の基本セルとの列とが
近接して配置されてなる2列型基本セル列と、該第1ま
たは第2の基本セルの列とが配線領域を挾んで配置され
ていることを特徴とするゲートアレイマスタスライス集
積回路装置。
1. A plurality of first basic cells in which at least one pair of P-channel MIS transistors and an N-channel MIS transistor are arranged in parallel, and a plurality of second basic cells in which the arrangement of transistors is a mirror image of the first basic cell. a two-row type basic cell column in which the first basic cell column and the second basic cell column are arranged closely; and the first or second basic cell column. 1. A gate array master slice integrated circuit device, characterized in that gate array master slice integrated circuit devices are arranged to sandwich a wiring area.
JP59206144A 1984-10-03 1984-10-03 Gate array master slice integrated circuit device Expired - Lifetime JPH0828481B2 (en)

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DE8585307023T DE3586385T2 (en) 1984-10-03 1985-10-01 INTEGRATED GATE MATRIX STRUCTURE.
EP85307023A EP0177336B1 (en) 1984-10-03 1985-10-01 Gate array integrated device
US06/782,923 US4661815A (en) 1984-10-03 1985-10-02 Gate array integrated device having mixed single column type and matrix type arrays
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS62264641A (en) * 1986-05-13 1987-11-17 株式会社東芝 Method of designing gate-array device
JPS63275140A (en) * 1987-04-30 1988-11-11 インターナシヨナル・ビジネス・マシーンズ・コーポレーシヨン Integrated circuit device and manufacture of the same

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS59127849A (en) * 1983-01-12 1984-07-23 インタ−ナショナル ビジネス マシ−ンズ コ−ポレ−ション Master slice semiconductor chip

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS59127849A (en) * 1983-01-12 1984-07-23 インタ−ナショナル ビジネス マシ−ンズ コ−ポレ−ション Master slice semiconductor chip

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS62264641A (en) * 1986-05-13 1987-11-17 株式会社東芝 Method of designing gate-array device
JPS63275140A (en) * 1987-04-30 1988-11-11 インターナシヨナル・ビジネス・マシーンズ・コーポレーシヨン Integrated circuit device and manufacture of the same

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