JPS6184951A - トラヒツク測定装置 - Google Patents
トラヒツク測定装置Info
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- JPS6184951A JPS6184951A JP20780684A JP20780684A JPS6184951A JP S6184951 A JPS6184951 A JP S6184951A JP 20780684 A JP20780684 A JP 20780684A JP 20780684 A JP20780684 A JP 20780684A JP S6184951 A JPS6184951 A JP S6184951A
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- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims abstract description 21
- 235000014676 Phragmites communis Nutrition 0.000 abstract description 11
- 230000010365 information processing Effects 0.000 abstract description 2
- 230000002776 aggregation Effects 0.000 description 6
- 238000004220 aggregation Methods 0.000 description 5
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 238000000605 extraction Methods 0.000 description 4
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 3
- 230000004913 activation Effects 0.000 description 2
- 230000005284 excitation Effects 0.000 description 2
- 238000000034 method Methods 0.000 description 2
- 238000004080 punching Methods 0.000 description 2
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 1
- 239000000284 extract Substances 0.000 description 1
- 238000002360 preparation method Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04M—TELEPHONIC COMMUNICATION
- H04M3/00—Automatic or semi-automatic exchanges
- H04M3/22—Arrangements for supervision, monitoring or testing
- H04M3/36—Statistical metering, e.g. recording occasions when traffic exceeds capacity of trunks
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Signal Processing (AREA)
- Monitoring And Testing Of Exchanges (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、多数の電磁式トラヒック測定装置からの電磁
レベルによるトラヒック情報を電子レベルによるトラヒ
ック情報に変換して集計処理を行い、その結果を表示お
よび蓄積するトラヒック測定装置に関する。
レベルによるトラヒック情報を電子レベルによるトラヒ
ック情報に変換して集計処理を行い、その結果を表示お
よび蓄積するトラヒック測定装置に関する。
自動電話にかかわるトラヒック管理は、電子計算機で処
理可能な符号にさん孔された、さん孔テープを電磁式ト
ラヒック測定装置で作成し、このテープを電子計算機セ
ンタに輸送し、この情報テープを電子計算機でデータ処
理して実施されていた。
理可能な符号にさん孔された、さん孔テープを電磁式ト
ラヒック測定装置で作成し、このテープを電子計算機セ
ンタに輸送し、この情報テープを電子計算機でデータ処
理して実施されていた。
このような従来例トラヒック管理形態では、その測定結
果を得るのに手間と時間を必要とした。
果を得るのに手間と時間を必要とした。
また、被測定装置からの情報をテープさん孔機に出力す
るために、被測定装置が多数の場合に被測定装置からの
情報を同時に一つのテープさん孔装置で受付けることは
、テープさん孔装置の動作速度が適応しないので不可能
であった。
るために、被測定装置が多数の場合に被測定装置からの
情報を同時に一つのテープさん孔装置で受付けることは
、テープさん孔装置の動作速度が適応しないので不可能
であった。
本発明は従来の電磁式トラヒック測定装置からの電磁レ
ベルによるトラヒック情報をオフライン的な処理形態を
とらずにオンライン的な処理形態を可能にし、また、複
数の被測定装置からのトラヒック測定情報を高速かつほ
ぼ同時に記録することが可能で、なお多数のトラヒック
測定装置を収容することを可能にするトラヒック測定情
報収集装置を提供することを目的とする。
ベルによるトラヒック情報をオフライン的な処理形態を
とらずにオンライン的な処理形態を可能にし、また、複
数の被測定装置からのトラヒック測定情報を高速かつほ
ぼ同時に記録することが可能で、なお多数のトラヒック
測定装置を収容することを可能にするトラヒック測定情
報収集装置を提供することを目的とする。
本発明は、電磁継電器の開閉数に基づいて自動電話にか
かわるトラヒック量を測定するトラヒック測定装置で、
前述の問題点を解決するための手段として、上記電ｍｍ
電器の開閉により生成される電気信号のレベルを電子回
路を動作させる電気信号のレベルに変換する手段と、こ
の変換されたレベル信号に基づいて上記トラヒック量の
測定を行うマイクロコンピュータを含む手段と、この手
段に接続されたＣＲＴ表示部と、上記マイクロコンビエ
ータに接続されデータを磁気ディスクに記録する手段と
を含むことを特徴とする。
かわるトラヒック量を測定するトラヒック測定装置で、
前述の問題点を解決するための手段として、上記電ｍｍ
電器の開閉により生成される電気信号のレベルを電子回
路を動作させる電気信号のレベルに変換する手段と、こ
の変換されたレベル信号に基づいて上記トラヒック量の
測定を行うマイクロコンピュータを含む手段と、この手
段に接続されたＣＲＴ表示部と、上記マイクロコンビエ
ータに接続されデータを磁気ディスクに記録する手段と
を含むことを特徴とする。
上記レベルを変換する手段の出力を電子計算機に入力し
て、ここで電磁継電器の開閉数に対応するトラヒック量
の集計が行われる。また、この集計が表示および記録さ
れる。
て、ここで電磁継電器の開閉数に対応するトラヒック量
の集計が行われる。また、この集計が表示および記録さ
れる。
以下、本発明実施例装置を図面に基づいて説明する。
第１図はこの実施例装置全体の構成を示すブロック構成
図であり、第２図は第１図に示す情報収集部の構成を示
す接続図である。
図であり、第２図は第１図に示す情報収集部の構成を示
す接続図である。
まず、この実施例装置の構成を第１図および第２図に基
づき説明する。この実施例装置はり一ドリレー１１を含
む情報抽出部１０と、リードリレー２１を含む情報中継
部２０と、情報収集部３０と、情報集計部４０とを備え
る。ここで、情報収集部３０はホトカプラ３１を含むレ
ベルコンバータ１１１と、入力ホート１１０ａ、 １１
０ｂおよび１１０ｃとオアゲート１００ａ、 １００ｂ
および１００Ｃとノアゲート１０１とフリップフロップ
１０２と、ナントゲート１０３ と、デコード１０４
とを備え、情報集計部４０はマイクロコンピュータ（以
下、ＭＰＵという、）４Ｉと、操作部４２と、ＣＲＴ表
示部４３と、情報記録装置４４とを備える。
づき説明する。この実施例装置はり一ドリレー１１を含
む情報抽出部１０と、リードリレー２１を含む情報中継
部２０と、情報収集部３０と、情報集計部４０とを備え
る。ここで、情報収集部３０はホトカプラ３１を含むレ
ベルコンバータ１１１と、入力ホート１１０ａ、 １１
０ｂおよび１１０ｃとオアゲート１００ａ、 １００ｂ
および１００Ｃとノアゲート１０１とフリップフロップ
１０２と、ナントゲート１０３ と、デコード１０４
とを備え、情報集計部４０はマイクロコンピュータ（以
下、ＭＰＵという、）４Ｉと、操作部４２と、ＣＲＴ表
示部４３と、情報記録装置４４とを備える。
この実施例装置は被測定装置である電磁式トラヒック測
定装置「３」台を「１」群とし、この群の「３」群がこ
の実施例装置に収容される。第一群の第一の被測定装置
ＯＯの接点は情報抽出部１０のリードリレー１１の電磁
コイルに接続され、この接点の開閉によりこの電磁コイ
ルの励磁の断続が行われ、このリードリレー２１の接点
は情報中継部２０のリードリレー２１の電磁コイルに接
続され、この接点の開閉によりこの電磁コイルの励磁の
断続が行われ、このリードリレー２１の接点は情報収集
部３０のホトカプラ３１のホトダイオード部に接続され
、この接点の開閉によりこのホトカプラ３１の発光の断
続が行われる。第一群の第二ないし第三の被測定装置０
０および第二群および第三群の第一ないし第三の被測定
装置００は上記第一群の第一の被測定装置ＯＯの接続と
同様に接続される。第一群の第一ないし第三の被測定装
置００にかかわるホトカプラ３１のダイオード部の出力
のそれぞれは入力ポート１１０ａの第一ないし第三の入
力およびオアゲート１００ａの第一ないし第三の入力の
それぞれに接続される。
定装置「３」台を「１」群とし、この群の「３」群がこ
の実施例装置に収容される。第一群の第一の被測定装置
ＯＯの接点は情報抽出部１０のリードリレー１１の電磁
コイルに接続され、この接点の開閉によりこの電磁コイ
ルの励磁の断続が行われ、このリードリレー２１の接点
は情報中継部２０のリードリレー２１の電磁コイルに接
続され、この接点の開閉によりこの電磁コイルの励磁の
断続が行われ、このリードリレー２１の接点は情報収集
部３０のホトカプラ３１のホトダイオード部に接続され
、この接点の開閉によりこのホトカプラ３１の発光の断
続が行われる。第一群の第二ないし第三の被測定装置０
０および第二群および第三群の第一ないし第三の被測定
装置００は上記第一群の第一の被測定装置ＯＯの接続と
同様に接続される。第一群の第一ないし第三の被測定装
置００にかかわるホトカプラ３１のダイオード部の出力
のそれぞれは入力ポート１１０ａの第一ないし第三の入
力およびオアゲート１００ａの第一ないし第三の入力の
それぞれに接続される。
第二群の第一ないし第三の被測定装置ＯＯにかかわるホ
トカプラ３１のダイオード部の出力のそれぞれは入力ポ
ート１１０ｂの第一ないし第三の入力およびオアゲート
１ｏｏｂの第一ないし第三の入力のそれぞれに接続され
、第三群の第一ないし第三の被測定装置００にかかわる
ホトカプラ３１のダイオード部の出力のそれぞれは人力
ボート１１０ｃの第一ないし第三の入力およびオアゲー
ＨＯＯｃの第一ないし第三の入力のそれぞれに接続され
る。入力ポート１ｌｏａ、１１０ｂおよび１１０ｃの出
力はＭＰＵ４１の第一の入力に接続され、ＭＰＵの第一
の出力はデコーダ１０４の入力に接続され、デコーダ１
０４の出力はナントゲート１０３の一方の入力に接続さ
れる。Ｍ Ｐ Ｕ４１の出力はナントゲート１０３の他
方の入力に接続される。オアゲート１００ａ、１００ｂ
および１００ｃの出力はそれぞれノアゲー） １０１の
第一ないし第三の入力のそれぞれに接続される。ノアゲ
ート１０１の出力はフリップフロップ１０２のＤ入力に
接続され、ナントゲート１０３の出力はフリップフロッ
プ１０２のりセント入力に接続される。フリップフロッ
プ１０２の出力はＭＰＵ４１の第二の入力に接続される
。
トカプラ３１のダイオード部の出力のそれぞれは入力ポ
ート１１０ｂの第一ないし第三の入力およびオアゲート
１ｏｏｂの第一ないし第三の入力のそれぞれに接続され
、第三群の第一ないし第三の被測定装置００にかかわる
ホトカプラ３１のダイオード部の出力のそれぞれは人力
ボート１１０ｃの第一ないし第三の入力およびオアゲー
ＨＯＯｃの第一ないし第三の入力のそれぞれに接続され
る。入力ポート１ｌｏａ、１１０ｂおよび１１０ｃの出
力はＭＰＵ４１の第一の入力に接続され、ＭＰＵの第一
の出力はデコーダ１０４の入力に接続され、デコーダ１
０４の出力はナントゲート１０３の一方の入力に接続さ
れる。Ｍ Ｐ Ｕ４１の出力はナントゲート１０３の他
方の入力に接続される。オアゲート１００ａ、１００ｂ
および１００ｃの出力はそれぞれノアゲー） １０１の
第一ないし第三の入力のそれぞれに接続される。ノアゲ
ート１０１の出力はフリップフロップ１０２のＤ入力に
接続され、ナントゲート１０３の出力はフリップフロッ
プ１０２のりセント入力に接続される。フリップフロッ
プ１０２の出力はＭＰＵ４１の第二の入力に接続される
。
次に、この実施例装置の動作を第１図および第２図に基
づき説明する。
づき説明する。
被測定装置００の１台につき「８」ビットの電磁レベル
のトラヒック測定情報５０が情報抽出部１０のリードリ
レー１１で受信され、このリードリレー１１の開閉動作
による接点情報１２は情報中継部２０のリードリレー２
１で受信される。このリードリレー２１の開閉動作によ
る接点情報２２は情報収集部３０内のホトカプラ３１で
受信され、ここでこのトラヒック測定情報は電子レベル
に変換される。次に、電子レベルに変換されたトラヒッ
ク測定情報は情報集計部４０内のＭＰＵ４１に送出され
、ＭＰＵ４１内の情報集計プログラムに従い各々の被測
定装置からのトラヒック情報毎に集計される。ここで、
操作部４２からの操作によりＣＲＴ表示部４３でこのト
ラヒック情報が表示され、また情報記録装置４４に記録
ゝされる。
のトラヒック測定情報５０が情報抽出部１０のリードリ
レー１１で受信され、このリードリレー１１の開閉動作
による接点情報１２は情報中継部２０のリードリレー２
１で受信される。このリードリレー２１の開閉動作によ
る接点情報２２は情報収集部３０内のホトカプラ３１で
受信され、ここでこのトラヒック測定情報は電子レベル
に変換される。次に、電子レベルに変換されたトラヒッ
ク測定情報は情報集計部４０内のＭＰＵ４１に送出され
、ＭＰＵ４１内の情報集計プログラムに従い各々の被測
定装置からのトラヒック情報毎に集計される。ここで、
操作部４２からの操作によりＣＲＴ表示部４３でこのト
ラヒック情報が表示され、また情報記録装置４４に記録
ゝされる。
次に、情報収集部３０の動作を第２図に基づきさらに詳
細に説明する。ホトカプラ３１を有する電子レベル変換
回路１１１により被測定装置ＯＯからのトラヒック情報
は電磁レベルから電子レベルに変換されて、それぞれ入
力ポート１１０の各入力端子に入力される。次に、各々
の被測定装置００からの割込起動ビットに割当てられた
トラヒック測定情報の「１」ビットである割込起動ビッ
トがオアゲート１００に入力し、そのゲート出力信号は
さらにノアゲート１０１に入力する。このゲート出力信
号はフリップフロップ１０２を介して情報集計部内のＭ
ＰＵ４１の割込入力信号２００になる。これにより被測
定装置ＯＯのいずれかが起動された場合に、割込入力信
号２００によりＭ Ｐ Ｕ４１に割込ががけられ、被測
定装置００からのトラヒック測定情報を読取るプログラ
ムが起動される。ここで、このプログラムによりＭＰＵ
４１で最初のボート情報が読取られると、１０アドレス
バス２０２をデコーダ１０４で展開したＣＳ信号２０３
と、ＭＰＵ４１からのＩ Ｏ／Ｒ信号２０１との論理積
演算がナントゲート１０３で実行され、このゲート出力
信号によりフリップフロップ１０２がリセツトされ、割
込入力信号２００が停止されて次の読取りプログラムの
起動準備が行われる。
細に説明する。ホトカプラ３１を有する電子レベル変換
回路１１１により被測定装置ＯＯからのトラヒック情報
は電磁レベルから電子レベルに変換されて、それぞれ入
力ポート１１０の各入力端子に入力される。次に、各々
の被測定装置００からの割込起動ビットに割当てられた
トラヒック測定情報の「１」ビットである割込起動ビッ
トがオアゲート１００に入力し、そのゲート出力信号は
さらにノアゲート１０１に入力する。このゲート出力信
号はフリップフロップ１０２を介して情報集計部内のＭ
ＰＵ４１の割込入力信号２００になる。これにより被測
定装置ＯＯのいずれかが起動された場合に、割込入力信
号２００によりＭ Ｐ Ｕ４１に割込ががけられ、被測
定装置００からのトラヒック測定情報を読取るプログラ
ムが起動される。ここで、このプログラムによりＭＰＵ
４１で最初のボート情報が読取られると、１０アドレス
バス２０２をデコーダ１０４で展開したＣＳ信号２０３
と、ＭＰＵ４１からのＩ Ｏ／Ｒ信号２０１との論理積
演算がナントゲート１０３で実行され、このゲート出力
信号によりフリップフロップ１０２がリセツトされ、割
込入力信号２００が停止されて次の読取りプログラムの
起動準備が行われる。
本発明は以上説明したように、電磁形トラヒック測定装
置から電磁レベルによるトラヒック測定情報を抽出後に
、電子レベルに変換し、測定情報をオンラインでマイク
ロコンピュータに入力し、情報処理が行われるので、ト
ラヒック測定情報を一旦さん孔テープに出力し、このテ
ープを計算センタで処理する必要がな（なり、また、複
数の被測定装置からの情報を同時に受付ることが可能に
なり、したがって情報処理に伴う手間と時間の削減に顕
著な効果がある。
置から電磁レベルによるトラヒック測定情報を抽出後に
、電子レベルに変換し、測定情報をオンラインでマイク
ロコンピュータに入力し、情報処理が行われるので、ト
ラヒック測定情報を一旦さん孔テープに出力し、このテ
ープを計算センタで処理する必要がな（なり、また、複
数の被測定装置からの情報を同時に受付ることが可能に
なり、したがって情報処理に伴う手間と時間の削減に顕
著な効果がある。
第１図は実施例装置全体の構成を示すブロック構成図。
第２図は第１図の情報収集部の構成を示す接続図。
００・・・被測定装置、１−０・・・情報抽出部、１１
．２１・・・リードリレー、１２．２２・・・接点情報
、２０・・・情報中継部、３０・・・情報収集部、３１
・・・ホトカプラ、４０・・・情報集計部、４１・・・
マイクロコンピユー’） （Ｍ Ｐ Ｕ） 、４２・・
・操作部、４３・・・ＣＲＴ表示部、４４・・・情報記
録装置、５０・・・トラヒ・ツク測定情報、１００・・
・オアゲート、１０１・・・ノアゲート、１０２・・・
フリップフロップ、１０３・・・ナントゲート、１０４
・・・デコーダ、１１０・・・入力ポート、１１１・・
・レベルコンバータ、２００・・・割込入力信号、２０
１・・・ＩＯ／Ｒ信号、２０２・・・１０アドレスバス
、２０３・・・ＣＳ信号。
．２１・・・リードリレー、１２．２２・・・接点情報
、２０・・・情報中継部、３０・・・情報収集部、３１
・・・ホトカプラ、４０・・・情報集計部、４１・・・
マイクロコンピユー’） （Ｍ Ｐ Ｕ） 、４２・・
・操作部、４３・・・ＣＲＴ表示部、４４・・・情報記
録装置、５０・・・トラヒ・ツク測定情報、１００・・
・オアゲート、１０１・・・ノアゲート、１０２・・・
フリップフロップ、１０３・・・ナントゲート、１０４
・・・デコーダ、１１０・・・入力ポート、１１１・・
・レベルコンバータ、２００・・・割込入力信号、２０
１・・・ＩＯ／Ｒ信号、２０２・・・１０アドレスバス
、２０３・・・ＣＳ信号。
Claims (1)
- （１）電磁継電器の開閉数に基づいて自動電話にかかわ
るトラヒック量を測定するトラヒック測定装置において
、 上記電磁継電器の開閉により生成される電気信号のレベ
ルを電子回路を動作させる電気信号のレベルに変換する
手段と、 この変換されたレベル信号に基づいて上記トラヒック量
の測定を行うマイクロコンピュータを含む手段と、 この手段に接続されたＣＲＴ表示部と、 上記マイクロコンピュータに接続されデータを磁気ディ
スクに記録する手段と を含むことを特徴とするトラヒック測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP20780684A JPS6184951A (ja) | 1984-10-03 | 1984-10-03 | トラヒツク測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP20780684A JPS6184951A (ja) | 1984-10-03 | 1984-10-03 | トラヒツク測定装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6184951A true JPS6184951A (ja) | 1986-04-30 |
Family
ID=16545804
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP20780684A Pending JPS6184951A (ja) | 1984-10-03 | 1984-10-03 | トラヒツク測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6184951A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH02275371A (ja) * | 1989-04-17 | 1990-11-09 | Hitachi Ltd | 基板の検査方法と検査装置 |
-
1984
- 1984-10-03 JP JP20780684A patent/JPS6184951A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH02275371A (ja) * | 1989-04-17 | 1990-11-09 | Hitachi Ltd | 基板の検査方法と検査装置 |
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