JPS6188436A - 液体金属イオン源 - Google Patents
液体金属イオン源Info
- Publication number
- JPS6188436A JPS6188436A JP59209715A JP20971584A JPS6188436A JP S6188436 A JPS6188436 A JP S6188436A JP 59209715 A JP59209715 A JP 59209715A JP 20971584 A JP20971584 A JP 20971584A JP S6188436 A JPS6188436 A JP S6188436A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- substance
- ionized
- reservoir
- ion source
- liquid metal
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J27/00—Ion beam tubes
- H01J27/02—Ion sources; Ion guns
- H01J27/26—Ion sources; Ion guns using surface ionisation, e.g. field effect ion sources, thermionic ion sources
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Combustion & Propulsion (AREA)
- Electron Sources, Ion Sources (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の利用分野〕
本発明は、イオン化物質の予備加熱部を設けた液体全屈
イオン源の溝造に関するものであり、特に、イオン微細
打込みの長時間連続運転に好適な液体金属イオン源に関
する。
イオン源の溝造に関するものであり、特に、イオン微細
打込みの長時間連続運転に好適な液体金属イオン源に関
する。
液体金属イオン源から放出したイオンビームをサブミク
ロンにまで集束し、これを用いたサブミクロン・ドライ
プロセス(マスクレス・ドーピング、イオンビーム露光
、イオンビーム加工等)、サブミクロン表面分析等の分
野への応用が最近注目されている。特にエレクトロデバ
イスの分野においては、半導体基板面上の狭い領域に不
純物(たとえば、ホウ素、リン、ヒ素など)をマスクな
しで直接打込む(注入、ドーピングとも言う)ことがで
き、従来のマスクを用いたイオン打込みでは得られなか
った微細領域への打込みが可能となるとともに、半導体
プロセスの大幅な簡略化が望めることなどから大いに注
目されている。
ロンにまで集束し、これを用いたサブミクロン・ドライ
プロセス(マスクレス・ドーピング、イオンビーム露光
、イオンビーム加工等)、サブミクロン表面分析等の分
野への応用が最近注目されている。特にエレクトロデバ
イスの分野においては、半導体基板面上の狭い領域に不
純物(たとえば、ホウ素、リン、ヒ素など)をマスクな
しで直接打込む(注入、ドーピングとも言う)ことがで
き、従来のマスクを用いたイオン打込みでは得られなか
った微細領域への打込みが可能となるとともに、半導体
プロセスの大幅な簡略化が望めることなどから大いに注
目されている。
この液体全屈イオン源の動作原理と代表的基本構成につ
いては、特開昭52−125998号に詳述されている
が、ここで、その動作原理について簡単に述べる。
いては、特開昭52−125998号に詳述されている
が、ここで、その動作原理について簡単に述べる。
まず先端が鋭く尖がらされたエミッターに、通重加熱あ
るいは、電子線衝撃、レーザー光などにより溶融させた
イオン化すべき物質(液体金属)を供給する。エミッタ
ーと引出し電極の間に高電圧を印加していくと、エミッ
ター先端部に電界が集中する。これによりエミッター先
端部の液体金属はテーラ−コーン(TayLor Co
r+a)と呼ばれる円錐突起を形成し、その先端からイ
オンビームが引出される。
るいは、電子線衝撃、レーザー光などにより溶融させた
イオン化すべき物質(液体金属)を供給する。エミッタ
ーと引出し電極の間に高電圧を印加していくと、エミッ
ター先端部に電界が集中する。これによりエミッター先
端部の液体金属はテーラ−コーン(TayLor Co
r+a)と呼ばれる円錐突起を形成し、その先端からイ
オンビームが引出される。
このようなイオン源を種々の分野で利用する場合、イオ
ン源としては、長時間、安定して目的とするイオンビー
ムが引出せることが重要となる。
ン源としては、長時間、安定して目的とするイオンビー
ムが引出せることが重要となる。
これらの従来のイオン源には、以下のような問題がある
。すなわち、 (1)イオン源に搭載されたイオン化物質の全量を常に
溶融状態に保つ必要があるために、イオン化物質が固体
または粉末状であったり高融点物質である場合、加熱す
るための消費電力は大きい。
。すなわち、 (1)イオン源に搭載されたイオン化物質の全量を常に
溶融状態に保つ必要があるために、イオン化物質が固体
または粉末状であったり高融点物質である場合、加熱す
るための消費電力は大きい。
(2)ヒーター電流が一定の場合、イオン化物質の減少
に伴いイオン化物質の温度は上昇し、全イオン電流値が
増加するなどのイオン放出特性が変化してくる。
に伴いイオン化物質の温度は上昇し、全イオン電流値が
増加するなどのイオン放出特性が変化してくる。
(3)イオン化物質が蒸気圧の大きく異なる金属同士の
合金である場合、長時間加熱による選択蒸発によって合
金組成の割合が変化する。
合金である場合、長時間加熱による選択蒸発によって合
金組成の割合が変化する。
(4)イオン化物質の搭載量は溜め部またはルツボの大
きさや加熱電気容量によって制限されるために、イオン
源寿命を決める一因となっている。
きさや加熱電気容量によって制限されるために、イオン
源寿命を決める一因となっている。
(5)イオン化物質の消費によりイオン放出が望めなく
なった場合には、一度真空を破り、イオン化物質を外部
から補給しなければならない。イオン放出を一度中断し
、イオン化物質の補給を行ない、イオン放出を再開する
と、放出再開直後、イオンが安定に放出されるようにな
るまでに長時間を要し、引出し電圧の放出イオン電流特
性が中断前に比べて異なる。また、補給の作業にも時間
を要する。
なった場合には、一度真空を破り、イオン化物質を外部
から補給しなければならない。イオン放出を一度中断し
、イオン化物質の補給を行ない、イオン放出を再開する
と、放出再開直後、イオンが安定に放出されるようにな
るまでに長時間を要し、引出し電圧の放出イオン電流特
性が中断前に比べて異なる。また、補給の作業にも時間
を要する。
本発明の目的は、イオン放出を安定して長時間連続動作
させることができる液体金属イオン源を提供することに
ある。
させることができる液体金属イオン源を提供することに
ある。
本発明のイオン源は、イオン化すべき物質を溶融状態で
保持するための溜め部と、該溜め部から供給される上記
溶融状態のイオン化すべき物質のイオンをその先端から
放出するように配置されたエミッターと、該エミッター
の先端に高電界を集中させることにより上記エミッター
の先端からイオンを引出すための引出し電極と、イオン
化すべき物質の貯蔵部と、該貯蔵部から前記溜め部へイ
オン化すべき物質を移すための移送手段と、イオン化す
べき物質を溶融させる予備加熱部とを備えたことを特徴
とするものである。
保持するための溜め部と、該溜め部から供給される上記
溶融状態のイオン化すべき物質のイオンをその先端から
放出するように配置されたエミッターと、該エミッター
の先端に高電界を集中させることにより上記エミッター
の先端からイオンを引出すための引出し電極と、イオン
化すべき物質の貯蔵部と、該貯蔵部から前記溜め部へイ
オン化すべき物質を移すための移送手段と、イオン化す
べき物質を溶融させる予備加熱部とを備えたことを特徴
とするものである。
以下1本発明の一実施例を第1図により説明する。第1
図は、本発明によるイオン化物質の予備加熱部を備えた
液体金属イオン源の基本構成を示したものである。同図
において、2.2’はイオン化物質24はイオン化物質
の溜め部またはルツボ、4は加熱部(ヒーター)、12
は針状エミッターチップ、22はイオンビーム、32は
イオン化物質の貯蔵部、34はイオン化物質の移送手段
、33は本発明によるイオン化物質の予備加熱部。
図は、本発明によるイオン化物質の予備加熱部を備えた
液体金属イオン源の基本構成を示したものである。同図
において、2.2’はイオン化物質24はイオン化物質
の溜め部またはルツボ、4は加熱部(ヒーター)、12
は針状エミッターチップ、22はイオンビーム、32は
イオン化物質の貯蔵部、34はイオン化物質の移送手段
、33は本発明によるイオン化物質の予備加熱部。
37a、37bはイオン化物質の移動通路、20はイオ
ン引出し電極14,16.18.35は電源、8.8’
は電流導入端子、10は円孔である。
ン引出し電極14,16.18.35は電源、8.8’
は電流導入端子、10は円孔である。
また、電源14,16.18および35を除いてすべて
真空容器36内に入っている。
真空容器36内に入っている。
この液体金属イオン源はイオン化物質を通電加熱によっ
て溶融させる方式を用いたものであり、イオン化物質2
の溜め部24は加熱部4を兼ねており、金属や炭素など
からなる加熱部4に通電することにより抵抗加熱させ、
その熱でイオン化物 ゛質2を溶融させる。針状エミッ
ターチップ12の先端まで溶融したイオン化物質2で十
分濡らせる。
て溶融させる方式を用いたものであり、イオン化物質2
の溜め部24は加熱部4を兼ねており、金属や炭素など
からなる加熱部4に通電することにより抵抗加熱させ、
その熱でイオン化物 ゛質2を溶融させる。針状エミッ
ターチップ12の先端まで溶融したイオン化物質2で十
分濡らせる。
そこで、イオン引出し電極20に負の高電圧を印加する
ことによって針状エミッターチップ12の先端に付着し
ているイオン化物質2はイオン化され、イオンビーム2
2が引出される。
ことによって針状エミッターチップ12の先端に付着し
ているイオン化物質2はイオン化され、イオンビーム2
2が引出される。
本実施例では、イオン化物質2′としてN iBにッケ
ル・ボロン合金、融点、約1000℃)を用いた。また
、ヒーターはカーボン製で、その形状は、イオン化物質
2の移動通路37からのイオン化物質2のヒーター4上
での散乱を避けるために、ヒーター4の中央部に凹部2
4を設け、イオン化物質2の溜め部と兼ねた形状になっ
ている。また、ヒーター4の発熱効率を高めるために、
溜め部24と電流導入端子8,8′の間のヒーター4の
幅を1mm程度にまで細くしである。なお、このヒータ
ー4の板厚は0.2 a+mである。この凹部24に溜
められるN i Bの搭載容量は約5mm”で、安定な
イオン放出が望めなくなるまでの時間(寿命)は約10
0時間であった。もちろん、この寿命はイオン放出量(
全放出イオン電流値)やイオン化物質の加熱による蒸発
量などに依存するため定まった値ではない。
ル・ボロン合金、融点、約1000℃)を用いた。また
、ヒーターはカーボン製で、その形状は、イオン化物質
2の移動通路37からのイオン化物質2のヒーター4上
での散乱を避けるために、ヒーター4の中央部に凹部2
4を設け、イオン化物質2の溜め部と兼ねた形状になっ
ている。また、ヒーター4の発熱効率を高めるために、
溜め部24と電流導入端子8,8′の間のヒーター4の
幅を1mm程度にまで細くしである。なお、このヒータ
ー4の板厚は0.2 a+mである。この凹部24に溜
められるN i Bの搭載容量は約5mm”で、安定な
イオン放出が望めなくなるまでの時間(寿命)は約10
0時間であった。もちろん、この寿命はイオン放出量(
全放出イオン電流値)やイオン化物質の加熱による蒸発
量などに依存するため定まった値ではない。
イオン化物質の貯蔵部32はヒーター4の溜め部24に
比べその容量は大きく、本実施例では、その内部に直径
が最大でも0.5 ml11程度にまで砕かれた粒状ま
たは粉末状のNiB約2cm3搭載されている。
比べその容量は大きく、本実施例では、その内部に直径
が最大でも0.5 ml11程度にまで砕かれた粒状ま
たは粉末状のNiB約2cm3搭載されている。
イオン化物質の移送手段の具体例として本実施例では、
第2図に示したようならせん状回転軸34aを用いた。
第2図に示したようならせん状回転軸34aを用いた。
イオン化物質2の溜め部24への供給量と供給時期、ら
せん状回転軸34aの回転量とイオン化物質の予備加熱
部33への供給量は予め測定を行なっておき、らせん状
回転量34aを回転させることにより、イオン化物質2
′を予励熱部33へ約2 mm3ずつ約50時間おきに
供給し、予備加熱部33で加熱溶融させた。この場合、
予備加熱部33は常に加熱状態である必要はなく、予励
熱部33ヘイオン化物質2が供給された時のみ、ff1
fi35を作動させればよい。また、予備加熱部33の
温度は溜め部24とほぼ同じであることが望ましい。
せん状回転軸34aの回転量とイオン化物質の予備加熱
部33への供給量は予め測定を行なっておき、らせん状
回転量34aを回転させることにより、イオン化物質2
′を予励熱部33へ約2 mm3ずつ約50時間おきに
供給し、予備加熱部33で加熱溶融させた。この場合、
予備加熱部33は常に加熱状態である必要はなく、予励
熱部33ヘイオン化物質2が供給された時のみ、ff1
fi35を作動させればよい。また、予備加熱部33の
温度は溜め部24とほぼ同じであることが望ましい。
ここで、イオン化物質2を溶融するための溜め部24も
しくはヒーター4とは独立してイオン化物質2の貯蔵部
32を有した液体金属イオン源において予備加熱部33
が必要な意義について説明する6 従来の液体金属イオン源にイオン化物質2′の貯蔵部3
3を設け、イオン化物質2′が溶融状態にある溜め部2
4又はヒーター上に補給すべき未溶融のイオン化物質2
′を移送手段34を用いて投入する場合、未溶融のイオ
ン化物質2′を一挙に加える。当然、溶融状態にあるイ
オン化物質2の温度は急激に低下する。この温度降下の
ために放出イオン電流値などイオン放出特性が変わった
り、極端な場合は、イオン放出が停止することもある。
しくはヒーター4とは独立してイオン化物質2の貯蔵部
32を有した液体金属イオン源において予備加熱部33
が必要な意義について説明する6 従来の液体金属イオン源にイオン化物質2′の貯蔵部3
3を設け、イオン化物質2′が溶融状態にある溜め部2
4又はヒーター上に補給すべき未溶融のイオン化物質2
′を移送手段34を用いて投入する場合、未溶融のイオ
ン化物質2′を一挙に加える。当然、溶融状態にあるイ
オン化物質2の温度は急激に低下する。この温度降下の
ために放出イオン電流値などイオン放出特性が変わった
り、極端な場合は、イオン放出が停止することもある。
イオン放出特性の変動は、イオン微細打込みなどを行な
う場合、イオンが打込まれた半導体の特性も変化してし
まうという問題があった。この温度降下を小さくする方
法として、イオン化物質を微量ずつ供給するイオン化物
質2′の移送手段34が考えら九る。この時の溶融イオ
ン化物質2の温度と時間の関係は、第2図(a)に示し
たイオン化物質2′を一挙に投入した場合の温度変化は
ど激しくはないが、第3図(b)に示した如く、”l
+ tz+ ti + taなどの短時間ごとにイ
オン化物質2をvtt量ずつ供給していくと温度降下の
変動は小さくなる。(ただし1両図においてT1は溶融
イオン化物質2の温度である。)しかし、この温度降下
の問題は解決したわけではなく、温度変動を全く生じさ
せないイオン化物質2′の補給手段が必要となっていた
。
う場合、イオンが打込まれた半導体の特性も変化してし
まうという問題があった。この温度降下を小さくする方
法として、イオン化物質を微量ずつ供給するイオン化物
質2′の移送手段34が考えら九る。この時の溶融イオ
ン化物質2の温度と時間の関係は、第2図(a)に示し
たイオン化物質2′を一挙に投入した場合の温度変化は
ど激しくはないが、第3図(b)に示した如く、”l
+ tz+ ti + taなどの短時間ごとにイ
オン化物質2をvtt量ずつ供給していくと温度降下の
変動は小さくなる。(ただし1両図においてT1は溶融
イオン化物質2の温度である。)しかし、この温度降下
の問題は解決したわけではなく、温度変動を全く生じさ
せないイオン化物質2′の補給手段が必要となっていた
。
予励熱部33でのイオン化物質2の加熱方法としては様
々な形式を考えることができる。例えば第4図(a)に
示したよ、うに、移送手段34によって移送されたイオ
ン化物質2を受けとることができるように加工された薄
い金属板40を通電加熱する方法や、(b)に示したよ
うに、未溶融のイオン化物質2′を受けとめるように加
工された受は部41を取り巻(ように加工されたヒータ
ー42の輻射熱によって加熱する方法などがある。
々な形式を考えることができる。例えば第4図(a)に
示したよ、うに、移送手段34によって移送されたイオ
ン化物質2を受けとることができるように加工された薄
い金属板40を通電加熱する方法や、(b)に示したよ
うに、未溶融のイオン化物質2′を受けとめるように加
工された受は部41を取り巻(ように加工されたヒータ
ー42の輻射熱によって加熱する方法などがある。
以下本実施例の予備加熱部について第5図を用いて説明
する。本実施例の予備加熱部33は、移送手段34によ
って移送されてきた未溶融のイオン化物質2を受は取り
、保持する受は部51と、電流導入端子52.52’
より成り、受は部51は通電により加熱されるヒーター
を兼ねており、受は部51に保持された未溶融のイオン
化物質2′を溶融させることができる。この受は部51
は高融点金属の1種であるモリブデン(MO)で、板厚
0.1mmの板より成る。さらに、上部開口部が3〜4
mmの7字もしくはU字断面をして、長手方向は、約2
0o+mでやや傾斜をもった構造である。この傾斜によ
って受は部51上で溶融したイオン化物質2が、溶融イ
オン化物質2の溜め部24に流れ込むことができる。
する。本実施例の予備加熱部33は、移送手段34によ
って移送されてきた未溶融のイオン化物質2を受は取り
、保持する受は部51と、電流導入端子52.52’
より成り、受は部51は通電により加熱されるヒーター
を兼ねており、受は部51に保持された未溶融のイオン
化物質2′を溶融させることができる。この受は部51
は高融点金属の1種であるモリブデン(MO)で、板厚
0.1mmの板より成る。さらに、上部開口部が3〜4
mmの7字もしくはU字断面をして、長手方向は、約2
0o+mでやや傾斜をもった構造である。この傾斜によ
って受は部51上で溶融したイオン化物質2が、溶融イ
オン化物質2の溜め部24に流れ込むことができる。
このような構造によって、貯蔵部32より移送されてき
た未溶融イオン化物質2′は、予備加熱部33上で1〜
2分で溶解され、溜め部24へ供給することができ、こ
の結果溜め部24にある溶融イオン化物質2の温度は、
第3図(c)に示したように、はとんど変わらなかった
。
た未溶融イオン化物質2′は、予備加熱部33上で1〜
2分で溶解され、溜め部24へ供給することができ、こ
の結果溜め部24にある溶融イオン化物質2の温度は、
第3図(c)に示したように、はとんど変わらなかった
。
本発明によれば、固体粉末状または液体状のイオン化物
質の貯蔵部の容量を大きくすることによりイオン化物質
を多く貯蔵することができ、連続補給によって長時間連
続して安定したイオン放出をすることができる。しかも
、貯蔵部は加熱部および溜め部と独立しているので、イ
オン源に搭載されたイオン化物質の全量を常に溶融状態
に保つ必要はなく、消費電力は従来と同程度で済む。ま
た、イオン化物質の補給が真空容器内で行なえるので、
真空外からのイオンビームの補給のためのイオン放出中
断によって生じる補給前後でのイオン放出特性の変化が
避けられる。しかも、蒸気圧の大きく異なった金属同士
の合金がイオン化物質である場合、長時間加熱による選
択蒸発が、貯蔵部からのイオン化物質の連続補給により
避けることができる。さらに、イオン化物質の予備加熱
部を設けることによって、溜め部にある溶融状態のイオ
ン化物質とはぼ同じ温度で溜め部に補給することができ
るので、イオン放出特性を変化させることはなく、一定
時間おきに溜め部に供給することによって安定したイオ
ン放出を長時間連続して行なうことができる。
質の貯蔵部の容量を大きくすることによりイオン化物質
を多く貯蔵することができ、連続補給によって長時間連
続して安定したイオン放出をすることができる。しかも
、貯蔵部は加熱部および溜め部と独立しているので、イ
オン源に搭載されたイオン化物質の全量を常に溶融状態
に保つ必要はなく、消費電力は従来と同程度で済む。ま
た、イオン化物質の補給が真空容器内で行なえるので、
真空外からのイオンビームの補給のためのイオン放出中
断によって生じる補給前後でのイオン放出特性の変化が
避けられる。しかも、蒸気圧の大きく異なった金属同士
の合金がイオン化物質である場合、長時間加熱による選
択蒸発が、貯蔵部からのイオン化物質の連続補給により
避けることができる。さらに、イオン化物質の予備加熱
部を設けることによって、溜め部にある溶融状態のイオ
ン化物質とはぼ同じ温度で溜め部に補給することができ
るので、イオン放出特性を変化させることはなく、一定
時間おきに溜め部に供給することによって安定したイオ
ン放出を長時間連続して行なうことができる。
第1図は本発明による液体金属イオン源の縦断面図、第
2図はイオン化物質の移送手段の一実施例を示す図、第
3図(a)、(b)および(c)はイオン化物質の供給
量による溶融イオン化物質の温度と時間の関係を説明す
るための図、第4図(a)および(b)は本発明による
予備加熱部を説明するための概略植成図、第5図は本発
明の予励熱部の一実施例を示す構成図である。 2.2′・・・イオン化物質、4・・・加熱部、1o・
・・円孔、12・・・針状エミッターチップ、20・・
・引出し電極、22・・・イオンビーム、24・・・溜
め部、32・・・貯蔵部、33・・・予備加熱部、34
・・・移送手段、34a・・・らせん状回転軸、35・
・・電源、36・・・真空容器、40・・・金属板、4
1・・・受は部、42・・・ヒ第3図 (ユ9 遠 席1 z 5 ロ
2図はイオン化物質の移送手段の一実施例を示す図、第
3図(a)、(b)および(c)はイオン化物質の供給
量による溶融イオン化物質の温度と時間の関係を説明す
るための図、第4図(a)および(b)は本発明による
予備加熱部を説明するための概略植成図、第5図は本発
明の予励熱部の一実施例を示す構成図である。 2.2′・・・イオン化物質、4・・・加熱部、1o・
・・円孔、12・・・針状エミッターチップ、20・・
・引出し電極、22・・・イオンビーム、24・・・溜
め部、32・・・貯蔵部、33・・・予備加熱部、34
・・・移送手段、34a・・・らせん状回転軸、35・
・・電源、36・・・真空容器、40・・・金属板、4
1・・・受は部、42・・・ヒ第3図 (ユ9 遠 席1 z 5 ロ
Claims (1)
- 1、イオン化すべき物質を溶融状態で保持するための溜
め部と、該溜め部から供給される上記溶融状態のイオン
化すべき物質のイオンをその先端から放出するように配
置されたエミッターと、該エミッター間に高電界を集中
させることによって上記エミッターの先端からイオンを
引出すための引出し電極とからなる液体金属イオン源に
おいて、イオン化すべき物質の貯蔵部と、該貯蔵部から
イオン化すべき物質を移すための移送手段と、イオン化
すべき物質を溶融させるための予備加熱部を備えたこと
を特徴とする液体金属イオン源。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59209715A JPS6188436A (ja) | 1984-10-08 | 1984-10-08 | 液体金属イオン源 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59209715A JPS6188436A (ja) | 1984-10-08 | 1984-10-08 | 液体金属イオン源 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6188436A true JPS6188436A (ja) | 1986-05-06 |
Family
ID=16577443
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP59209715A Pending JPS6188436A (ja) | 1984-10-08 | 1984-10-08 | 液体金属イオン源 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6188436A (ja) |
-
1984
- 1984-10-08 JP JP59209715A patent/JPS6188436A/ja active Pending
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