JPS618980A - 光導電素子 - Google Patents
光導電素子Info
- Publication number
- JPS618980A JPS618980A JP59129860A JP12986084A JPS618980A JP S618980 A JPS618980 A JP S618980A JP 59129860 A JP59129860 A JP 59129860A JP 12986084 A JP12986084 A JP 12986084A JP S618980 A JPS618980 A JP S618980A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- film
- photoconductive element
- image pickup
- pickup tube
- photoconductive
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10F—INORGANIC SEMICONDUCTOR DEVICES SENSITIVE TO INFRARED RADIATION, LIGHT, ELECTROMAGNETIC RADIATION OF SHORTER WAVELENGTH OR CORPUSCULAR RADIATION
- H10F71/00—Manufacture or treatment of devices covered by this subclass
Landscapes
- Image-Pickup Tubes, Image-Amplification Tubes, And Storage Tubes (AREA)
- Light Receiving Elements (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は光導電素子に関するもので2特にテレビカメラ
用撮像管ターゲットの改良に関するものである。
用撮像管ターゲットの改良に関するものである。
従来例の構成とその問題点
′従来、撮像管ターゲットの光導電材料として(Zn
(1−x) Cdx’l’e ) (丁n2 Te
3 )’J y、 用イ−Y た光導室形撮像管には、例えば白黒用のパニュービコン
”(商品名)と、カラー用として光学ストライプフィル
タを内蔵した1′ニユーコスビコン゛(商品名)等があ
る。この撮像管ターゲットは透明電極からの正孔の注入
を防ぐ目的で。
(1−x) Cdx’l’e ) (丁n2 Te
3 )’J y、 用イ−Y た光導室形撮像管には、例えば白黒用のパニュービコン
”(商品名)と、カラー用として光学ストライプフィル
タを内蔵した1′ニユーコスビコン゛(商品名)等があ
る。この撮像管ターゲットは透明電極からの正孔の注入
を防ぐ目的で。
Zn5eやZn Q−a) Cda S o膜2透明電
極ト、 光導電材料(Zn(1−X) CdxTe )
(I+n2 Te5)Y1″″y との間に形成している。しかし正孔のブロッキング材料
としてZn5e f用いたものは、光学的バンドギャッ
プが2.67 (30oK)evであるため460朋よ
シ短波長の光は吸収してしまい、(Zn (1−X)
CdxTe)1−y(In2 Te5)’Iに光が入射
しなくなって青色感度が低下してしまうという欠点があ
る。またZn (1−a) CdaS f用いたもの
は+ ZnとCd の係数aの値を変化させることに
よシ分光特性全350 mtsから490順まで自由に
設定できる。この場合、a=0にすると、すなわちZn
(1−a) CdaS = ZnS になシ、青色
光はよく透過するが、抵抗が高いためVC、(Zn (
1−x) CdxTe ) 1−Y (In zTe、
:s) y 膜に電圧がかからなくなる。このような光
導電素子を撮像管ターゲットとして使用したときは、焼
付けの消える電圧が高くなシ、ターゲット電圧を高く設
定しなければならない。これは、テレビ画面に白点キズ
を多数発生させる原因となる。
極ト、 光導電材料(Zn(1−X) CdxTe )
(I+n2 Te5)Y1″″y との間に形成している。しかし正孔のブロッキング材料
としてZn5e f用いたものは、光学的バンドギャッ
プが2.67 (30oK)evであるため460朋よ
シ短波長の光は吸収してしまい、(Zn (1−X)
CdxTe)1−y(In2 Te5)’Iに光が入射
しなくなって青色感度が低下してしまうという欠点があ
る。またZn (1−a) CdaS f用いたもの
は+ ZnとCd の係数aの値を変化させることに
よシ分光特性全350 mtsから490順まで自由に
設定できる。この場合、a=0にすると、すなわちZn
(1−a) CdaS = ZnS になシ、青色
光はよく透過するが、抵抗が高いためVC、(Zn (
1−x) CdxTe ) 1−Y (In zTe、
:s) y 膜に電圧がかからなくなる。このような光
導電素子を撮像管ターゲットとして使用したときは、焼
付けの消える電圧が高くなシ、ターゲット電圧を高く設
定しなければならない。これは、テレビ画面に白点キズ
を多数発生させる原因となる。
また、a−1にしてZn、(1−a) CdaS =
CaSにすると抵抗は低くなるが青色光が透過しなくな
シ、青色感度が低下してしまう。したがってaの値は透
過率と抵抗とのかねあいから最適値がJ ある
。しかしながら、この中間膜材料の三元素には、当然な
がら蒸気圧に差があるため組成の制御が困難であり、し
たがって青感度のバラツキが多く生産の歩留シが低下し
てしまうという欠点があった。
CaSにすると抵抗は低くなるが青色光が透過しなくな
シ、青色感度が低下してしまう。したがってaの値は透
過率と抵抗とのかねあいから最適値がJ ある
。しかしながら、この中間膜材料の三元素には、当然な
がら蒸気圧に差があるため組成の制御が困難であり、し
たがって青感度のバラツキが多く生産の歩留シが低下し
てしまうという欠点があった。
発明の目的
本発明の目的は、青感度を向上させたことによシ可視光
全域にわたシ高感度な光導電素子盆再現性よく提供する
ことで塾る。
全域にわたシ高感度な光導電素子盆再現性よく提供する
ことで塾る。
発明の構成
本発明は上記の目的を達するため、透明電極を有する透
光性基板上にG s N x膜を形成し、さうK ソノ
上K (Zn(1−x) CdxTe ) 1− y
(I n 2 ′ll′e3)y、(o≦X≦1.0
≦y≦0.1)の光導電膜全形成してなる光導電素子を
構成したものである。
光性基板上にG s N x膜を形成し、さうK ソノ
上K (Zn(1−x) CdxTe ) 1− y
(I n 2 ′ll′e3)y、(o≦X≦1.0
≦y≦0.1)の光導電膜全形成してなる光導電素子を
構成したものである。
実施例の説明
第1図は1本発明の光導電素子の断面図を示すものであ
る。すなわち1本発明の光導電素子は第1図に示すよう
に透明電極(2)付きの透光性基板(1)上にG a
N x膜(3)ヲもうけ5次に光導電材 F料で
ある(Zn(1−x) cdx’re)1−y(In、
2 Te3 )yの膜(4)t−形成したものである。
る。すなわち1本発明の光導電素子は第1図に示すよう
に透明電極(2)付きの透光性基板(1)上にG a
N x膜(3)ヲもうけ5次に光導電材 F料で
ある(Zn(1−x) cdx’re)1−y(In、
2 Te3 )yの膜(4)t−形成したものである。
第2図は第1図の構造におけるエネルギーバンド図を示
すもので、第2図(a)は平衡状態、同図(b)は撮像
動作させた場合のものである。光は透明電極からG a
N x膜?透過し、(Zn(1−x) CdXTe )
1−y(I nz Te 3 ) y膜で吸収されて正
孔・電子対全発生する。発生した電子はトンネル効果に
よシGaNx中全通過して透明電極へ流扛、正孔は(z
、−X)CdxTe)1−y ’(In2 Te3 ’
Y模膜中表面に向かって移動し、その部分の電子と中和
して表面電位を低下させ、信号電流として流れる。
すもので、第2図(a)は平衡状態、同図(b)は撮像
動作させた場合のものである。光は透明電極からG a
N x膜?透過し、(Zn(1−x) CdXTe )
1−y(I nz Te 3 ) y膜で吸収されて正
孔・電子対全発生する。発生した電子はトンネル効果に
よシGaNx中全通過して透明電極へ流扛、正孔は(z
、−X)CdxTe)1−y ’(In2 Te3 ’
Y模膜中表面に向かって移動し、その部分の電子と中和
して表面電位を低下させ、信号電流として流れる。
Ga N xは光学的バンドギャップが3.39 eV
で(Zn (1−X) CdxTe ) 1−y (
In’2 Te3 )yよシ大きく、したがって、36
00よシ長波長の光を透過するととも゛に、電極からの
正孔の注入をブロッキングする。一方、電子は、G a
N x膜中金トンネル効果によシ通過しなければなら
ず、そのためG a N xの膜厚は無制限に厚くでき
ず一定め最適値がある。
で(Zn (1−X) CdxTe ) 1−y (
In’2 Te3 )yよシ大きく、したがって、36
00よシ長波長の光を透過するととも゛に、電極からの
正孔の注入をブロッキングする。一方、電子は、G a
N x膜中金トンネル効果によシ通過しなければなら
ず、そのためG a N xの膜厚は無制限に厚くでき
ず一定め最適値がある。
以下、具体的な実施例を示す。
実施例 l
第3図に実施例1の光導電素子の断面図を示す。
光学研摩したガラス基板ID上に透明電極としてI n
203112を基板温度250℃、酸素分圧4X 1
0 torr で100OA真空蒸着法によシ形成
する。次にこの基板上にQaNx(131’e形成する
。GaNxは、RFスパッタリング法を用いて形成する
。ターゲットに純度6NのG a f用い、Ar :N
2−3 : 7の混合ガスで圧力ヲ3〜5X I O
torr 基板部5度300°C1放電電力30Wによ
シ%500Aの膜厚に形成する。次にこの基板全真空蒸
着装置に設定する。基板温度200°Cにて(Zn0.
7 cctO,3Te)0.95 (In2Te3 )
0.05 (141k B p m (D厚すニ形成L
−ソノffl真空中550”Cで15〜60分熱処理ケ
おこなう。このようにして得られた光導電素子を撮像管
ターゲットとして撮像管に組みこんで分光特性を測定し
た。その結果を第4図の線Bに示す。
203112を基板温度250℃、酸素分圧4X 1
0 torr で100OA真空蒸着法によシ形成
する。次にこの基板上にQaNx(131’e形成する
。GaNxは、RFスパッタリング法を用いて形成する
。ターゲットに純度6NのG a f用い、Ar :N
2−3 : 7の混合ガスで圧力ヲ3〜5X I O
torr 基板部5度300°C1放電電力30Wによ
シ%500Aの膜厚に形成する。次にこの基板全真空蒸
着装置に設定する。基板温度200°Cにて(Zn0.
7 cctO,3Te)0.95 (In2Te3 )
0.05 (141k B p m (D厚すニ形成L
−ソノffl真空中550”Cで15〜60分熱処理ケ
おこなう。このようにして得られた光導電素子を撮像管
ターゲットとして撮像管に組みこんで分光特性を測定し
た。その結果を第4図の線Bに示す。
比較の為、従来〕Z n S e (Z n (1−
n)Cd X T e) 1 ++ y(In2 Te
5)y 構造の撮像管ターゲッドニュ−ビコン”の分光
感度時tl線Aに示す。このように本発明の構成で用い
た撮像管ターゲットは、従来の撮像管ターゲットよシ青
感度が高くなり、可視光から近赤外光の領域にわたシ高
感度な撮像管ターゲットを得ることができる。
n)Cd X T e) 1 ++ y(In2 Te
5)y 構造の撮像管ターゲッドニュ−ビコン”の分光
感度時tl線Aに示す。このように本発明の構成で用い
た撮像管ターゲットは、従来の撮像管ターゲットよシ青
感度が高くなり、可視光から近赤外光の領域にわたシ高
感度な撮像管ターゲットを得ることができる。
実施例 2
第5図に実施例2の光導電素子の断面図ケ示す。光学研
摩したガラス基板oD上に透明電極として5no2(2
1スプレー法を用いて形成する。
摩したガラス基板oD上に透明電極として5no2(2
1スプレー法を用いて形成する。
次にこの基板上にGa N x(ハ)を形成する。Ga
Nxは1反応性クラスタビーム法を用いて形成する。
Nxは1反応性クラスタビーム法を用いて形成する。
GaNx (純度5N)の粉末’Th0.1s+iψ
の噴出孔をもつるつぼに入れて1000°Cで加熱する
。
の噴出孔をもつるつぼに入れて1000°Cで加熱する
。
基板温度は450″Cでコントロールし、N2ガスk
5 X l O−’torr 導入してG a N
xとN2ガスをイオン化させて800Aの膜厚に形成さ
せる。次にこの基板を真空蒸着装置に設定する。
5 X l O−’torr 導入してG a N
xとN2ガスをイオン化させて800Aの膜厚に形成さ
せる。次にこの基板を真空蒸着装置に設定する。
t 基板温度200’Cにて−(Zna 、 7
Cd□ 、 3 Te )0.95’ (”2 T
e5)o、o5cl!4)t 8 p m tv厚す[
形成し、その後真空中550°Cで15〜60分熱処理
?おこなう。このようにして得られた光導電素子を撮像
管ターゲットとして撮像管に組みこんで分光特性を測定
した。ところ実施例1と同等の分光感度特性が得られた
。また() a N xO形成方法はRFイオンプレー
ディング法でも形成可能であシ、GaNx形成方法の違
いによる分光感度特性の違いはみられなかった。
Cd□ 、 3 Te )0.95’ (”2 T
e5)o、o5cl!4)t 8 p m tv厚す[
形成し、その後真空中550°Cで15〜60分熱処理
?おこなう。このようにして得られた光導電素子を撮像
管ターゲットとして撮像管に組みこんで分光特性を測定
した。ところ実施例1と同等の分光感度特性が得られた
。また() a N xO形成方法はRFイオンプレー
ディング法でも形成可能であシ、GaNx形成方法の違
いによる分光感度特性の違いはみられなかった。
本発明の光導電素子は、透明電極を有する透光性基板上
にGaNx f形成し、さらにその上に(Zn1−x
Cdx Te)1−y (In2 Te3 >yの光導
電膜を形成しているが、この光導電膜を前半にCdTe
を主成分とする膜?形成し、後半に(ZnTe)
(In2Te3 )y とする膜?形成した構1″′
y 造にしても艮い。
にGaNx f形成し、さらにその上に(Zn1−x
Cdx Te)1−y (In2 Te3 >yの光導
電膜を形成しているが、この光導電膜を前半にCdTe
を主成分とする膜?形成し、後半に(ZnTe)
(In2Te3 )y とする膜?形成した構1″′
y 造にしても艮い。
発明の効果
本発明は好適な正孔防止膜?形成して、青色感度を向上
させる0と′よシ可視光力゛ら近赤外 2光の領
域にわたり高感度な光導電素子全得るも □−一
のでアシ、撮像管ターゲットとして用いた場合には他の
特性を劣化させることなく青色感度?向上させる。特に
青感度が高いのでカラー用撮像管ターゲットに適してい
る。またGaNx fもちいているため青感度のバラツ
キがなく再現性のよい撮像管ターゲットを得ることがで
きる。
させる0と′よシ可視光力゛ら近赤外 2光の領
域にわたり高感度な光導電素子全得るも □−一
のでアシ、撮像管ターゲットとして用いた場合には他の
特性を劣化させることなく青色感度?向上させる。特に
青感度が高いのでカラー用撮像管ターゲットに適してい
る。またGaNx fもちいているため青感度のバラツ
キがなく再現性のよい撮像管ターゲットを得ることがで
きる。
第1図は本発明の光導電素子の基本的構成を示す断面図
、 第2図は第1図の断面図に対応した本発明の詳細な説明
するバンド図、 第3図は実施例1の断面図、 第4図は実施例■の光導電素子を撮像管ターゲットとし
て用いた場合の分光感度特性を従来のものと比較して示
すグラフ、 第5図は実施例2の断面図である。 rn−−−−一透光性基板 +21−−−−一透明電極 [3) −−−−−GaNx 膜 曲線A−−−実捲例1の分光感度特性 的@B −−一従来のZn5eを用いたニュービコンの
分光感度特性 σn−−−−−ガラス基板 圓−−−−−In203 (131−−−−−GaNx (14−−−−−(Z no、7Cdo、:y、 T
e > 0,95 (I n 2 T e 3) 0.
05膜 (2]) −−−−−ガラス基板 (22+−−−−−5n02 C!31−−−−− GaNx (241−−−−−(Zn0.7Cd0.3Te)0.
95 (In2 Tez)0.05膜 特許出願人 松下電器産業株式会社 代 理 人 新 実 健 部(外1
名) 11all 第2図
、 第2図は第1図の断面図に対応した本発明の詳細な説明
するバンド図、 第3図は実施例1の断面図、 第4図は実施例■の光導電素子を撮像管ターゲットとし
て用いた場合の分光感度特性を従来のものと比較して示
すグラフ、 第5図は実施例2の断面図である。 rn−−−−一透光性基板 +21−−−−一透明電極 [3) −−−−−GaNx 膜 曲線A−−−実捲例1の分光感度特性 的@B −−一従来のZn5eを用いたニュービコンの
分光感度特性 σn−−−−−ガラス基板 圓−−−−−In203 (131−−−−−GaNx (14−−−−−(Z no、7Cdo、:y、 T
e > 0,95 (I n 2 T e 3) 0.
05膜 (2]) −−−−−ガラス基板 (22+−−−−−5n02 C!31−−−−− GaNx (241−−−−−(Zn0.7Cd0.3Te)0.
95 (In2 Tez)0.05膜 特許出願人 松下電器産業株式会社 代 理 人 新 実 健 部(外1
名) 11all 第2図
Claims (1)
- 透明電極を有する透光性基板上にGaNx膜を形成し、
さらにその上に(Zn_(_1_−_x)CdxTe)
_1_−_y(Im_2Te_3)_y・(0≦x≦1
、0≦y≦0.1)の光導電膜を形成した光導電素子。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59129860A JPS618980A (ja) | 1984-06-23 | 1984-06-23 | 光導電素子 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59129860A JPS618980A (ja) | 1984-06-23 | 1984-06-23 | 光導電素子 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS618980A true JPS618980A (ja) | 1986-01-16 |
Family
ID=15020057
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP59129860A Pending JPS618980A (ja) | 1984-06-23 | 1984-06-23 | 光導電素子 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS618980A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5278435A (en) * | 1992-06-08 | 1994-01-11 | Apa Optics, Inc. | High responsivity ultraviolet gallium nitride detector |
| WO2000017941A1 (en) * | 1998-09-18 | 2000-03-30 | Mitsubishi Cable Industries, Ltd. | Semiconductor photodetector |
-
1984
- 1984-06-23 JP JP59129860A patent/JPS618980A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5278435A (en) * | 1992-06-08 | 1994-01-11 | Apa Optics, Inc. | High responsivity ultraviolet gallium nitride detector |
| WO2000017941A1 (en) * | 1998-09-18 | 2000-03-30 | Mitsubishi Cable Industries, Ltd. | Semiconductor photodetector |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US3344300A (en) | Field sustained conductivity devices with cds barrier layer | |
| US4540914A (en) | Absorbing graded nitride film for high contrast display devices | |
| JPS618980A (ja) | 光導電素子 | |
| US4759951A (en) | Heat-treating Cd-containing photoelectric conversion film in the presence of a cadmium halide | |
| JP3102995B2 (ja) | 液晶ライトバルブ | |
| EP0146967B1 (en) | Photoconductive target of image pickup tube and manufacturing method thereof | |
| US4883562A (en) | Method of making a photosensor | |
| US3985918A (en) | Method for manufacturing a target for an image pickup tube | |
| JPH061672B2 (ja) | 光導電素子 | |
| JP3006749B2 (ja) | 空間光変調素子 | |
| Fujiwara et al. | The heterojunction ZnSe-(Zn1− xCdxTe) 1− y (In2Te3) y having high sensitivity in the visible light range and its applications | |
| JPH0419650B2 (ja) | ||
| US3517241A (en) | Photoconductive target comprising aluminum,selenium and arsenic triselenide layers | |
| JPH10288793A (ja) | 空間光変調素子 | |
| JP2744616B2 (ja) | 赤外線ビジコンのターゲット及びその製造方法 | |
| JPS59143384A (ja) | 配向性金属薄膜の製造法 | |
| JPS58197607A (ja) | 透明導電膜の製造方法 | |
| JPH02250242A (ja) | 陰極線管 | |
| JPH0370327B2 (ja) | ||
| JPS5832449B2 (ja) | 撮像管タ−ゲットの製造方法 | |
| JPS58225667A (ja) | 光電変換装置 | |
| JPS6142840A (ja) | 撮像管の光導電タ−ゲット | |
| JPH0431832A (ja) | 液晶表示装置 | |
| JPS58184240A (ja) | 撮像管タ−ゲツト | |
| JPS60250543A (ja) | ビジコンタ−ゲツト |