JPS6197844A - Integrated circuit - Google Patents
Integrated circuitInfo
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- JPS6197844A JPS6197844A JP59219012A JP21901284A JPS6197844A JP S6197844 A JPS6197844 A JP S6197844A JP 59219012 A JP59219012 A JP 59219012A JP 21901284 A JP21901284 A JP 21901284A JP S6197844 A JPS6197844 A JP S6197844A
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- JP
- Japan
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- leads
- lead
- package
- suspension
- frame
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- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10W99/00—Subject matter not provided for in other groups of this subclass
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10W72/00—Interconnections or connectors in packages
- H10W72/50—Bond wires
- H10W72/541—Dispositions of bond wires
- H10W72/5449—Dispositions of bond wires not being orthogonal to a side surface of the chip, e.g. fan-out arrangements
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10W90/00—Package configurations
- H10W90/701—Package configurations characterised by the relative positions of pads or connectors relative to package parts
- H10W90/751—Package configurations characterised by the relative positions of pads or connectors relative to package parts of bond wires
- H10W90/756—Package configurations characterised by the relative positions of pads or connectors relative to package parts of bond wires between a chip and a stacked lead frame, conducting package substrate or heat sink
Landscapes
- Non-Volatile Memory (AREA)
- Wire Bonding (AREA)
Abstract
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、再書き込み可能な読み出し専用メモリ(以下
EFROMと記す)に関し、特にリード・フレーム上に
BFROMのチップをマウントし、プラスチック樹脂で
固めたいわゆるプラスチック・パッケージに封入された
EPROMの書き込み電源端子に関する。[Detailed Description of the Invention] [Industrial Application Field] The present invention relates to a rewritable read-only memory (hereinafter referred to as EFROM), and particularly relates to a BFROM chip mounted on a lead frame and hardened with plastic resin. The present invention also relates to a write power supply terminal for an EPROM sealed in a so-called plastic package.
EFROMには、紫外線消去形のEPROMと、電気的
に消去可能なWEFROMなどがあるが、両者とも書き
込み時には読み出し用の電源の他に書き込み用電源が必
要であり、しかも書き込み用電源は読み出し時には通常
不必要である。There are two types of EFROM: ultraviolet-erasable EPROM and electrically erasable WEFROM, but both require a power source for writing in addition to a power source for reading when writing, and the writing power is usually not used when reading. It's unnecessary.
一方、集積回路のパッケージには大別して、セラミック
形とプラスチック形の2種類があるが、価格的にはプラ
スチック形の方が安価であるため、民生用集積回路など
のパッケージには主としてプラスチック形が広く使用さ
れている。また、プラスチック形パッケージも、外形に
より、DIP形(Dual−1n−1ine 、Pac
kage)、フラット形等に区分されるが、最近の傾向
としてビン数の多い集積回路には、リードをパッケージ
の四方向に取り出すことが可能なフラット形が主流にな
りつ\あるので、以下にはプラスチック形のフラットe
パッケージについて、その組立工程を簡単に説明する。On the other hand, integrated circuit packages can be roughly divided into two types: ceramic type and plastic type, but since plastic type is cheaper, plastic type is mainly used for consumer integrated circuit packages. Widely used. Plastic packages also vary depending on the external shape, such as DIP type (Dual-1n-1ine, Pac
(kage), flat type, etc., but as a recent trend, flat types, which allow leads to be taken out in all four directions of the package, are becoming mainstream for integrated circuits with a large number of bins. is a plastic shaped flat e
The assembly process for the package will be briefly explained.
第2図は、リードフレームにチップ7をツウントシ、ボ
ンディング・ワイヤー6でボンディングしたところを示
す略図である。この図においては簡単のため、パッケー
ジにおけるピンの数が9個の場合を想定している。リー
ド・フレームは、フレーム枠1とアイランド2によりそ
の大きな部分が構成され、それらはサブストレート・リ
ード4および5で結合されている。サブストレート・リ
ード4および5以外のたとえば8のようなリードは、フ
レーム枠側に配置されている。FIG. 2 is a schematic diagram showing a state in which a chip 7 is bonded to a lead frame using bonding wires 6. In this figure, for simplicity, it is assumed that the number of pins in the package is nine. A large portion of the lead frame is composed of a frame frame 1 and an island 2, which are connected by substrate leads 4 and 5. Leads other than substrate leads 4 and 5, such as 8, are arranged on the frame side.
第3図は前記第2図に示した工程の次の工程を示す図で
、プラスチック樹脂による封入およびリード切断を示す
図である。この図において、リード・フレームはプラス
チック樹脂により封入され、図中の点線で示した部分が
切断される。ここで注意すべきは、この場合リード切断
は、サブストレート・リード4および5と、つり・リー
ド10以外のリードに対してのみ行われるという点であ
る。FIG. 3 is a diagram showing the next step after the step shown in FIG. 2, and is a diagram showing encapsulation with plastic resin and lead cutting. In this figure, the lead frame is encapsulated with plastic resin, and the portion indicated by the dotted line in the figure is cut. It should be noted here that in this case, lead cutting is performed only on leads other than substrate leads 4 and 5 and suspension lead 10.
これらの3つのリードを切断せずに残す理由は、この工
程以後の工程で行なわれる集積回路の試験等での本パッ
ケージの取り扱い時におけるリードの変形を防止するた
め、フレーム枠lをパッケージ本体11から全く切り離
さずに、これら3つのリードで結合させておくのである
。このようにすることにより作業者は、パッケージを取
り扱う時には、フレーム枠1を掴んで作業目的を果すこ
とができる。The reason why these three leads are left uncut is to prevent deformation of the leads when handling this package during integrated circuit testing, etc. performed in subsequent steps. Rather than separating it from the wire at all, it is connected with these three leads. By doing so, when handling the package, the worker can grasp the frame 1 and accomplish the purpose of the work.
第1図は第8図の点線の部分を切断した後のパッケージ
の外形図である。この図より明らかなようにパッケージ
本体11より取り出されたリードのうち、サブストレー
ト自す−ド委および5とつりリード10以外は他のリー
ドとは全く分離されているので、この状態のま\で集積
回路の試験を行うことができる。FIG. 1 is an external view of the package after the dotted line portion in FIG. 8 is cut. As is clear from this figure, among the leads taken out from the package body 11, all of the leads except for the substrate, the board, and the suspension lead 10 are completely separated from the other leads. can test integrated circuits.
以上のような状況において、つり・リードはサブストレ
ート・リードとフレーム枠を介して結合されているので
、常にサブストレート電圧が掛けられている。このため
つり曇り−ドは、サブストレート・リードと同じサブス
トレート電源端子として使用するか、または全く使用さ
れない一般にN C(Non−Connection)
端子として使用されるかのどちらかである。一般にはサ
ブストレート電源端子は21固あれば十分であり、8個
も必要としないことが多い。またNC端子は、かえって
パッケージの実効端子数を低下させるのでむしろ無い方
が好ましいことはいうまでもない。In the above situation, the suspension/lead is connected to the substrate/lead via the frame, so the substrate voltage is always applied. For this reason, the suspension lead is either used as the same substrate power supply terminal as the substrate lead, or is not used at all.
Either it is used as a terminal. Generally, it is sufficient to have 21 substrate power supply terminals, and 8 are often not required. Furthermore, it goes without saying that it is preferable not to have an NC terminal since it actually reduces the number of effective terminals of the package.
本発明は、このような状況において、従来NC端子とし
て使用゛されて来たつり・リードを有効に利用する方法
を提供することを目的とする。SUMMARY OF THE INVENTION Under such circumstances, it is an object of the present invention to provide a method for effectively utilizing the suspension leads that have conventionally been used as NC terminals.
C問題点を解決するための手段〕
本発明は、リードフレームを使用して、フラット・パッ
ケージなどに組み込まれたEFROM内蔵集積回路のつ
り・リードに対応するNC端子を、E P ROM書き
込み電源端子として使用することにより、従来NC端子
として使用されないままかえってパッケージの実効端子
数を低下させていたつり・リードを有効に活用しようと
するものである。Means for Solving Problem C] The present invention uses a lead frame to connect the NC terminal corresponding to the suspension/lead of an integrated circuit with a built-in EFROM built into a flat package etc. to an EP ROM write power supply terminal. By using it as an NC terminal, it is intended to make effective use of the hanger leads, which have conventionally been unused as NC terminals and have instead reduced the effective number of terminals of the package.
第1図は前述のように第8図の点線の部分を切断した後
のパッケージの外形図で、フレーム枠1とプラスチック
樹脂により封入されたパッケージ本体とを結合している
リードは、サブストレート・リード4および5と、つり
・リード10のみであることを示している。FIG. 1 is an external view of the package after cutting the dotted line portion in FIG. 8 as described above. It shows that only the leads 4 and 5 and the hanging lead 10 are included.
この状態で、集積回路の試験を行うのであるが、 1こ
の試験をどのようにして行うかということが問題として
残っている。すでに述べたように、つり・リードにはサ
ブストレート・リードと同電位の電圧が掛かるが、一般
にBFROMの書き込み電圧はサブストレー)−を圧よ
りも高い。このため第1図の状態のままではEPROM
の書き込み直圧試験を行うことはできない。In this state, the integrated circuit is tested, but the question remains: 1. How to conduct this test remains. As already mentioned, a voltage of the same potential as that of the substrate lead is applied to the suspension lead, but generally the write voltage of a BFROM is higher than the voltage of the substrate. Therefore, if the state shown in Figure 1 remains, the EPROM
It is not possible to perform a writing direct pressure test.
しかしながら、近年EPROM内蔵集積回路のコストの
低下に伴ない、たとえば紫外線消去形のEFROMであ
っても、消去窓のないFP−EPROM(Factor
y −Programmad、 E P ROM )の
需要が増加して来た。このFP−BPROMは従来のE
PFLOMがユーザ側でデータやプログラムの消去ある
いは書き込みを行うものであるのに対して、工場側で消
去/書き込みの作業を行なうのが特徴であって、本発明
は、この性質を利用して前記の問題点を解決しようとす
るものである。However, in recent years, as the cost of integrated circuits with built-in EPROMs has decreased, even EFROMs with UV-erasable type have been replaced with FP-EPROMs (Factor) without erasing windows.
The demand for y-Programmad, EPROM) has been increasing. This FP-BPROM is a conventional E
While PFLOM erases or writes data and programs on the user side, it is characterized in that the erase/write work is done on the factory side, and the present invention utilizes this property to erase or write data and programs. This is an attempt to solve the problems of
ここで、EPROMとして前記FP−EPROMを採用
した場合、ユーザーのデータまたはプログラムを書き込
むのは、集積回路の組立以前の、一般に[プローブテス
ト(Provθtest ) Jと呼ばれている試験の
段階であり、この段階では「つりピン」に対応するチッ
プの上のボンディング・バッド8は、サブストレート・
リード4、および5とはi合されていない。したがって
、この段階においては、つり・リードに対して読み出し
用のサブストレート電圧よりも高い電圧の書き込み試験
電圧金かけることが可能である。またFP−EFROM
は、ユーザー側で内容を書き換えることはな込ので、組
立工程以後は、BFROMの内容を読み出す試験のみで
よく、従って、つり・リードに対応する端子即ち書き込
み電源端子は、サブストレート端子と連結されていても
何等問題はない。Here, when the above-mentioned FP-EPROM is adopted as the EPROM, the user's data or program is written at a test stage generally called [probe test (Provθtest) J] before the integrated circuit is assembled. At this stage, the bonding pad 8 on the chip corresponding to the "hanging pin" is attached to the substrate.
Leads 4 and 5 are not matched. Therefore, at this stage, it is possible to apply a write test voltage higher than the reading substrate voltage to the suspension/lead. Also, FP-EFROM
Since there is no need to rewrite the contents on the user side, after the assembly process, only the test to read the contents of the BFROM is required. Therefore, the terminal corresponding to the suspension/lead, that is, the write power supply terminal, is connected to the substrate terminal. There is no problem even if you do.
また、FP−EPROM以外の、従来のEFROMに本
発明を適用した場合においても、プローブテストで十分
薔き込み試験が実施されておれば、組立工程以後は読み
出し試験のみで十分な場合が多いので、場合によっては
、従来のEFROMを使用して集積回路を組立てること
も可能である。Furthermore, even when the present invention is applied to conventional EFROMs other than FP-EPROMs, as long as the probe test has been sufficiently conducted, it is often sufficient to perform only a read test after the assembly process. In some cases, it is also possible to assemble integrated circuits using conventional EFROMs.
以上説明したように本発明によれば、従来NC端子とし
て無駄になっていたFP−EFROMを内蔵するフラッ
トパッケージ形集積回路のつり一リードを有効に利用で
きるため、端子数が限られている集積回路においては、
極めて有効である。As explained above, according to the present invention, it is possible to effectively utilize the lead of a flat package integrated circuit containing a built-in FP-EFROM, which was previously wasted as an NC terminal. In the circuit,
Extremely effective.
第1図は、本発明によるプラスチック封入のEPROM
内蔵のフラットパッケージ型集積回路の平面図−第2図
は、第1図の集積回路において、リードフレームにチッ
プをマウントしボンデングした工程を示す平面図、第3
図はプラスチック樹脂を封入し、リードの切断個所を示
した図である。
1・・・フレーム枠、
2・・・アイランド、
8・・・サブストレート・リード以外のリード、4.5
・・・サブストレート・リード、6・・・ボンディング
・ワイヤ、
7・・・チップ、
8・・・ボンディング・バット、
】0・・・つり・リード、
11・・・パッケージ本体。FIG. 1 shows a plastic-encapsulated EPROM according to the present invention.
A plan view of a built-in flat package type integrated circuit - Figure 2 is a plan view showing the process of mounting and bonding a chip on a lead frame in the integrated circuit of Figure 1;
The figure shows the parts where the leads are cut after sealing with plastic resin. 1...Frame frame, 2...Island, 8...Leads other than substrate leads, 4.5
...substrate lead, 6...bonding wire, 7...chip, 8...bonding butt, ]0...suspension lead, 11...package body.
Claims (1)
れる書き込み可能読み出し専用メモリを内蔵する集積回
路であつて、前記パッケージの組み立て工程中に前記リ
ード・フレームの外枠とパッケージ本体とを結合する「
つり・リード」を有する前記集積回路において、 前記「つり・リード」に対応する端子を、前記書き込み
可能読み出し専用メモリを内蔵する集積回路の書き込み
電源端子として使用することを特徴とする集積回路。[Scope of Claim] An integrated circuit incorporating a writable read-only memory that is assembled into a package using a lead frame, wherein the outer frame of the lead frame and the package body are separated during the assembly process of the package. Join"
The integrated circuit has a "hanging/lead", wherein a terminal corresponding to the "hanging/lead" is used as a write power supply terminal of the integrated circuit incorporating the writable read-only memory.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59219012A JPS6197844A (en) | 1984-10-18 | 1984-10-18 | Integrated circuit |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59219012A JPS6197844A (en) | 1984-10-18 | 1984-10-18 | Integrated circuit |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6197844A true JPS6197844A (en) | 1986-05-16 |
Family
ID=16728874
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP59219012A Pending JPS6197844A (en) | 1984-10-18 | 1984-10-18 | Integrated circuit |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6197844A (en) |
-
1984
- 1984-10-18 JP JP59219012A patent/JPS6197844A/en active Pending
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