JPS62111332A - プログラムデバツグ装置 - Google Patents
プログラムデバツグ装置Info
- Publication number
- JPS62111332A JPS62111332A JP60251062A JP25106285A JPS62111332A JP S62111332 A JPS62111332 A JP S62111332A JP 60251062 A JP60251062 A JP 60251062A JP 25106285 A JP25106285 A JP 25106285A JP S62111332 A JPS62111332 A JP S62111332A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- program
- temperature
- tested
- debugging
- under test
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING OR CALCULATING; COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F11/00—Error detection; Error correction; Monitoring
- G06F11/36—Prevention of errors by analysis, debugging or testing of software
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Theoretical Computer Science (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Quality & Reliability (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Debugging And Monitoring (AREA)
- Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
この発明はプログラムの誤りを訂正し確［１！！！を行
なうプログラムデバッグ装置に、特に制御用プログラム
のデバッグに関するものである。
なうプログラムデバッグ装置に、特に制御用プログラム
のデバッグに関するものである。
従来のこの桶の装置としては第２図に示すものがあった
。第２図は従来のプログラムデバッグ装置ｉ（、の構成
金示すブロック図で、図においてｆｉ＋はデバッグ装置
本体、（２）はこのプログラムにより制御される対象と
なる被試験装置、（３）はデバッグの内容を表示する表
示部、（４１はブラウン管表示装置、（５）は被試験装
置（２）とデバッグ装（１本体（１）を接続するフラッ
トケーブル、（６）は（気信号を本体（１１に接続する
プローブ付コード、（７）はデバッグ機能を指定実行さ
せるための信号を人力するキ一部である。
。第２図は従来のプログラムデバッグ装置ｉ（、の構成
金示すブロック図で、図においてｆｉ＋はデバッグ装置
本体、（２）はこのプログラムにより制御される対象と
なる被試験装置、（３）はデバッグの内容を表示する表
示部、（４１はブラウン管表示装置、（５）は被試験装
置（２）とデバッグ装（１本体（１）を接続するフラッ
トケーブル、（６）は（気信号を本体（１１に接続する
プローブ付コード、（７）はデバッグ機能を指定実行さ
せるための信号を人力するキ一部である。
従来のプログラムデバッグ装置ｌは以上のように構成さ
れ、たとえばキー人力部（７）からプログラムアドレス
番地を指定しその番地の内容を読み出して実行させ、被
試験装置（２）の動作を雑誌する。又、あるプログラム
全実行させながらプローブ付コード＋６１ ’ｅ使って
被試験装置（２）からの心気信号を抗み取り、プログラ
ム実行中のイス信号がプログラム通りになっているか否
かを確認する。その他に一命令ごとに命令を実行させ、
その時のアドレス値、データ値と毎回表示部（３）に表
示させプログラムの流れと、データの内容とを確認する
ことによりプログラムデバッグを実行する。
れ、たとえばキー人力部（７）からプログラムアドレス
番地を指定しその番地の内容を読み出して実行させ、被
試験装置（２）の動作を雑誌する。又、あるプログラム
全実行させながらプローブ付コード＋６１ ’ｅ使って
被試験装置（２）からの心気信号を抗み取り、プログラ
ム実行中のイス信号がプログラム通りになっているか否
かを確認する。その他に一命令ごとに命令を実行させ、
その時のアドレス値、データ値と毎回表示部（３）に表
示させプログラムの流れと、データの内容とを確認する
ことによりプログラムデバッグを実行する。
従来のプログラムデバッグ装置は、以上のように構成さ
れているので、被試験装置に使用されているＩＣ等が発
熱により暴走するなど、被試験装置自体の故障でプログ
ラム通シの動作を行なえない場合にも、これによる動作
異常か、又はプログラムそのものの誤りかを判別できな
いという問題点があった。
れているので、被試験装置に使用されているＩＣ等が発
熱により暴走するなど、被試験装置自体の故障でプログ
ラム通シの動作を行なえない場合にも、これによる動作
異常か、又はプログラムそのものの誤りかを判別できな
いという問題点があった。
この発明はかかる問題点を解決するためになされたもの
で、被試験装置のプログラム実行の異常動作をプログラ
ムの誤りによるものか又は発熱によるＩＣ＊の暴走など
被試験装置自体の異常によるものか全判別でき、又、温
度の上昇が被試験装置度に与える影響を参照しながらデ
バッグ処理ができるプログラムデバッグ装＋ｄｔｔ−得
ることを目的としている。
で、被試験装置のプログラム実行の異常動作をプログラ
ムの誤りによるものか又は発熱によるＩＣ＊の暴走など
被試験装置自体の異常によるものか全判別でき、又、温
度の上昇が被試験装置度に与える影響を参照しながらデ
バッグ処理ができるプログラムデバッグ装＋ｄｔｔ−得
ることを目的としている。
この発明に係るプログラムデバッグ族（ａは通常のプロ
グラムデバッグ情報の他に敞測定部と温度表示部とを備
えて被試験装置ｄの温度に関する情報を得ることとした
。
グラムデバッグ情報の他に敞測定部と温度表示部とを備
えて被試験装置ｄの温度に関する情報を得ることとした
。
この発明におけるプログラムデバッグ装置は、温度測定
部と温度表示部とで被試験装置の通常のプログラムデバ
ッグ情報の他に温度に関する情報を得られる。
部と温度表示部とで被試験装置の通常のプログラムデバ
ッグ情報の他に温度に関する情報を得られる。
以下、この発明の実施例を図について説明する。
第１図はこの発明の一実施例を示すブロック図で、第２
図と同一符号は同−又は相当部分を示し、（８）は被試
験装置（２）の温度を計るための温度測定部、＋９１は
温度測定（８）ラブバッグ装置本体（１）へ接続するた
めのコード部、（１０）は温度測定部から送られてきた
１気信号により被試験′Ｊｉｃｕｆｆｉ ＋２１の温度
全表示する温度表示部、（１１）は温度測定の対象とな
る集積回路である。
図と同一符号は同−又は相当部分を示し、（８）は被試
験装置（２）の温度を計るための温度測定部、＋９１は
温度測定（８）ラブバッグ装置本体（１）へ接続するた
めのコード部、（１０）は温度測定部から送られてきた
１気信号により被試験′Ｊｉｃｕｆｆｉ ＋２１の温度
全表示する温度表示部、（１１）は温度測定の対象とな
る集積回路である。
次にこの発明の動作について説明する。第１図のように
構成されたプログラムデパック装置において１ハ、温度
測定部（８）で検出した温度を温度表示部（１０）に表
示することができるため被測定装置（２）全動作させる
前、集積口ｖ６（１１）等の周囲温度を知ることができ
、又、温度の表示に並行してプログラムのアドレス値や
データ値の表示を行ないながらプログラムの確認が可能
なため、集積口Ｗｒ（１１）の温度とプログラムの関係
情報を得ることができる。又、以上のことからプログラ
ム作成者がデバッグ処理中にプログラム実行に関し、間
接的に影響を与える温度情報を得られるので、プログラ
ム実行の誤動作が、プログラム自体によるものか又は集
積回路（１１）等の発熱によるものかを判断する↑＃報
が得られるので、適切なデバッグ処理を効率よく行なう
ことができる。
構成されたプログラムデパック装置において１ハ、温度
測定部（８）で検出した温度を温度表示部（１０）に表
示することができるため被測定装置（２）全動作させる
前、集積口ｖ６（１１）等の周囲温度を知ることができ
、又、温度の表示に並行してプログラムのアドレス値や
データ値の表示を行ないながらプログラムの確認が可能
なため、集積口Ｗｒ（１１）の温度とプログラムの関係
情報を得ることができる。又、以上のことからプログラ
ム作成者がデバッグ処理中にプログラム実行に関し、間
接的に影響を与える温度情報を得られるので、プログラ
ム実行の誤動作が、プログラム自体によるものか又は集
積回路（１１）等の発熱によるものかを判断する↑＃報
が得られるので、適切なデバッグ処理を効率よく行なう
ことができる。
なお外部の温度によってプログラム処理が変化するよう
なプログラムのデバッグにおいては、プログラム中の温
度情報とこの発明によるプログラムデバッグＶ ＋ｔの
温度情報とが比較できるので効率的なデバッグ処理と行
なうことができる。
なプログラムのデバッグにおいては、プログラム中の温
度情報とこの発明によるプログラムデバッグＶ ＋ｔの
温度情報とが比較できるので効率的なデバッグ処理と行
なうことができる。
父、デバッグ情報としての温度悄ｉ＃金、他のアドレス
値やデータ値とともに表示するだけでなく、プリンタ装
置等によって記録することでも実施することができる。
値やデータ値とともに表示するだけでなく、プリンタ装
置等によって記録することでも実施することができる。
以上のようにこの発明によればＣＰＵ等の被試験装置４
によるプログラム動作の情報以外に被試］倹装置ｉｌの
温度情報を表示、記録できることにより、より効果的な
プログラムデバッグを行なえる利点がある。
によるプログラム動作の情報以外に被試］倹装置ｉｌの
温度情報を表示、記録できることにより、より効果的な
プログラムデバッグを行なえる利点がある。
【図面の簡単な説明】
第１図はこの発明の一実施例を示すブロック図、第２図
は従来のプログラムデパック装置の一例を示すブロック
図である。 図ＶＣＳ−いて（１）はデバッグ装置本体、（２）は被
試験装置、（３）は表示部、（４）はブラウン官表７廖
装置、（５）はフラットケーブル、（６）はプローブ付
コード、（７）Ｑまキー人力部、（８）は温度測定部、
（９）はコード部、（１０）は温度表示部である。 なお、各１図中同一符号は同−又は相当部分を示す。
は従来のプログラムデパック装置の一例を示すブロック
図である。 図ＶＣＳ−いて（１）はデバッグ装置本体、（２）は被
試験装置、（３）は表示部、（４）はブラウン官表７廖
装置、（５）はフラットケーブル、（６）はプローブ付
コード、（７）Ｑまキー人力部、（８）は温度測定部、
（９）はコード部、（１０）は温度表示部である。 なお、各１図中同一符号は同−又は相当部分を示す。
Claims (2)
- （１）デバッグすべきプログラムにより被試験装置を制
御し、その動作を表示して上記プログラムのデバッグを
行なうプログラムデバッグ装置において、 上記動作を表示するための第１の表示部と、上記被試験
装置の温度を測定する温度測定部と、この温度測定部で
測定された温度を表示する第２の表示部とを備えたこと
を特徴とするプログラムデバッグ装置。 - （２）第１の表示部の表示内容と第２の表示部の表示内
容とを相互に関連させて表示することを特徴とする特許
請求の範囲第１項記載のプログラムデバッグ装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60251062A JPS62111332A (ja) | 1985-11-09 | 1985-11-09 | プログラムデバツグ装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60251062A JPS62111332A (ja) | 1985-11-09 | 1985-11-09 | プログラムデバツグ装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS62111332A true JPS62111332A (ja) | 1987-05-22 |
Family
ID=17217057
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP60251062A Pending JPS62111332A (ja) | 1985-11-09 | 1985-11-09 | プログラムデバツグ装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS62111332A (ja) |
-
1985
- 1985-11-09 JP JP60251062A patent/JPS62111332A/ja active Pending
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