JPS621203B2 - - Google Patents

Info

Publication number
JPS621203B2
JPS621203B2 JP55154506A JP15450680A JPS621203B2 JP S621203 B2 JPS621203 B2 JP S621203B2 JP 55154506 A JP55154506 A JP 55154506A JP 15450680 A JP15450680 A JP 15450680A JP S621203 B2 JPS621203 B2 JP S621203B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
imaging
temperature
imaging device
calculation
image
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired
Application number
JP55154506A
Other languages
English (en)
Other versions
JPS5777924A (en
Inventor
Masao Tatsuwaki
Arata Nemoto
Yutaka Katayama
Michio Okada
Kazuyuki Hotsuta
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Nippon Steel Corp
Original Assignee
Sumitomo Metal Industries Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Sumitomo Metal Industries Ltd filed Critical Sumitomo Metal Industries Ltd
Priority to JP15450680A priority Critical patent/JPS5777924A/ja
Publication of JPS5777924A publication Critical patent/JPS5777924A/ja
Publication of JPS621203B2 publication Critical patent/JPS621203B2/ja
Granted legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J5/00Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry
    • G01J5/60Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry using determination of colour temperature

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • Radiation Pyrometers (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は物体の表面温度分布を求める温度パタ
ーン計測装置に関する。
温度パターンを計測する手段としては計測対象
の物体が発する赤外線の光エネルギを赤外線検出
素子にて2次元的に捉え、その2次元画像を走査
することによつてその画像に対応する物体の表面
領域の温度パターンを、例えばCRTにグラフイ
カルに表示する赤外線式のものが多用されてい
る。しかしながら赤外線式のものは1画面分の走
査に2秒以上を要し、温度変化が激しい物体の計
測には不適当である。また温度情報として捉える
赤外線は伝播光路の雰囲気の影響を受け易く、水
蒸気、塵埃の存在により感度、精度が低下する。
そしてイメージガイドを用いて周囲雰囲気の影響
を回避することもイメージガイド中での赤外域で
の光量減衰が大きく事実上不可能である。更に最
小測定視野が10〜20cm角と比較的大きく、微小な
領域の温度パターンを計測することができない。
従つて製鋼所の連鋳工程における鋼片、あるいは
溶接域にある電縫鋼管等、水蒸気、塵埃の多い劣
悪な雰囲気下にあり、温度変化の激しい物体の温
度パターンの計測には適用し得ず、特に電縫鋼管
のエツジの加熱部の如く微小な領域の温度パター
ンを計測することは全く不可能であつた。
一方、本発明の基礎技術となつている二色温度
計は物体から発せられる特定の2波長成分を捉え
て物体表面温度を非接触的に測定するものである
が、この二色温度計にて測定できるのはその視野
内の代表温度であり、温度パターンの計測は不可
能である。このような次第であるから製鉄、製鋼
プロセスでは温度パターン計測のニーズが多いに
も拘らずこれに対応し得ないのが実情であつた。
本発明は斯かる事情に鑑みてなされたものであ
つて、2色温度計の技術と画像情報処理技術とを
利用することによつて周囲雰囲気に影響されるこ
となく高精度、高分解能で温度パターンを計測し
得、しかもイメージガイドの接続が可能であつ
て、微小な領域、内奥部にあり外方からは直接視
認し得ない領域についての計測も可能な温度パタ
ーン計測装置を提供することを目的とする。
以下本発明をその実施例を示す図面に基いて説
明する。
第1図は本発明装置要部の構成を示すブロツク
図であつて、Wは計測対象物、11,12は計測
対象物の表面に対し、その光軸を垂直に配置した
2次元撮像装置である。撮像装置11の光軸上に
はこれと45゜の角度をなすように、計測対象物W
側からハーフミラ20及び光学フイルタ21が配
置されており、ハーフミラ20と計測対象物Wと
の間には撮像装置11と光軸を一致させたレンズ
7を設けている。計測対象物Wから発せられた光
の一部はハーフミラ20にて反射され、その反射
面と平行的に配された平面鏡23にて更に反射さ
れ、その光軸を撮像装置11,12のそれと平行
にした撮像装置13に至るようにしてある。
ハーフミラ20を透過した光は光学フイルタ2
1に至るが、このフイルタは透過波長成分のピー
ク波長がλである干渉フイルタであつて、これ
を透過した光は撮像装置11に至る。そして光学
フイルタ21を透過しなかつた光はその入射面で
反射されるが、反射光路中には光学フイルタ21
と平行に光学フイルタ22が配されている。該光
学フイルタ22は反射波長成分のピーク波長がλ
(λ<λ)である干渉フイルタであつて、
これに反射された光は撮像装置12に至る。
撮像装置13は計測対象物Wの形状を捉えるた
めに設けたものであつてビジコン等を撮像管とし
て用いた通常のカラー用又は白黒用のテレビカメ
ラが用いられる。これに対して撮像装置11,1
2は後述の如き2色温度演算を行わせるための情
報を得るために設けたものであつて、イメージデ
イセクタ等のランダムな走査が可能な光電変換素
子を用いている。
以上のように各撮像装置11,12,13は
夫々異る光路を経て入射される、異る波長成分の
光を捉えることになるが、レンズ7により同一視
野の像を結像させるよう予め調整しておく。
さて撮像装置11,12はいずれもカメラヘツ
ド部110,120とそのコントロールユニツト
111,121とからなり、例えば浜松テレビ(株)
製ランダムアクセスカメラC1181が使用される。
そしてコントロールユニツト111,121は共
通の演算装置3に接続されている。
演算装置3はX方向(水平方向)の走査のため
のX偏向信号及びY方向(垂直方向)の走査のた
めのY偏向信号を発し、これをカメラコントロー
ルユニツトに与える走査信号発生部31と、コン
トロールユニツト111,121が夫々発するビ
デオ信号VD1,VD2を取込む信号処理部32と
からなる。
ビデオ信号VD1,VD2は、両撮像装置が同一
視野を有するように調節され、且つ共通のX偏向
信号及びY偏向信号を与えられているので、計測
対象物の同じ位置から発せられた光のうちの波長
λ,λを夫々主成分とする光のエネルギーに
対応した電気変換信号となつている。斯かるビデ
オ信号VD1及びVD2はX偏向信号、Y偏向信号
に関連づけられたタイミング周期でサンプリング
する、信号処理回路32中のA/D(アナログ/
デイジタル)変換回路321、及び322夫々へ
与えられ、ここでデイジタルデータに変換され、
変換されたデータは演算部323へ取込まれる。
演算部323はA/D変換回路321,322か
ら取込んだデータに基いて次のような2色温度演
算を行う。即ちあるサンプリング時点におけるビ
デオ信号VD1,VD2のレベルはその時点での撮
像装置11,12における走査位置に対応する計
測対象物Wの位置(X,Y)の波長λ,λ
各対応する放射エネルギの値に相当し、これを
A/D変換して得たデータε(X,Y)及びε
(X,Y)は上記放射エネルギに対応する値と
なつている。従つてこのデータを用いて2色温度
演算を行うことにより位置(X,Y)の温度T
(X,Y)〔〓〕が求められることになる。即ち両
者のエネルギー比ε(X,Y)/ε(X,
Y)と温度T(X,Y)との関係は実用上直線近
似できるから演算部323に下記2色温度演算式
(1)を逐次実行させていく。
T(X,Y)=αε(X,Y)/ε(X,Y)+
β……(1) 但し、α,βはλ,λにて定まる定数 なおλ,λの値としては撮像装置の分光感
度特性と計測対象物Wの温度と周囲雰囲気とに応
じて適当に選択される。
4は画像合成装置、5はCRTよりなる映像表
示装置である。画像合成装置4は第2図に示す如
き形態で映像表示装置5に映像を表示させるべく
撮像装置13(同じくカメラヘツド部130とコ
ントロールユニツト131とからなる)から得ら
れるビデオ信号と前記演算装置3の演算部323
の演算結果とを合成するものである。まず映像表
示装置5での表示形態を計測対象物Wが製造中の
電縫鋼管である場合を例にとつて説明する。
映像表示装置5のラスタは3領域に分割されて
おりまずその1はラスタの右側、下側約1/4を除
く左上側の画像表示部51であつて、電縫鋼管P
の所謂V点近傍の画像を、撮像装置13からビデ
オ信号に依り表示する。なお電縫鋼管Pはスケル
プを曲成して画像表示部の右側部分に示すように
両縁を対向させたオープンパイプOPを矢符方向
に移動させて第3図に示す如くスクイズロール
SRに導き、スクイズロールSRの上流側に設けた
コンタクトチツプCT又は誘導コイル(図示せ
ず)を通じて供給される電流により加熱されたオ
ープンパイプOPの両縁をスクイズロールSRの側
圧にて溶着せしめることにより製造される。また
本発明装置を電縫鋼管の温度パターン計測に適用
する場合はV点近傍が発煙その他により光学的に
劣悪な雰囲気にあるので撮像視野となるべき部分
とレンズ7との間にイメージガイド6及び該イメ
ージガイド6とレンズ7とを結合するための光学
系(図示せず)を介在せしめて周囲雰囲気の影響
を排除する。
次に右側の領域は電縫鋼管P又はオープンパイ
プOPの撮像視野内における特定部分の周方向温
度分布をドツト表示すると共に、そのレベルを示
す目盛となる縦線を表すY方向分布表示部52で
ある。
前記映像表示部51中に示された2本の縦線X
=X1及びX=X2はY方向分布表示部52に示さ
れる温度分布のサンプリング対象となつた領域の
左右限(上下限は映像表示部51の上下限)を示
すカーソル線であつて、表示部52中に示される
ドツトは、そのドツト位置のY座標でのX=X1
〜X2の間の複数のサンプリング位置の温度平均
値を示す。次に下側の領域は電縫鋼管P又はオー
プンパイプOPの撮像視野内における特定部分の
軸長方向(管進行方向)温度分布をドツト表示す
ると共に、そのレベルを示す目盛となる横線を表
すX方向分布表示部53である。
前記映像表示部51中に示された2本の横線Y
=Y1及びY=Y2はX方向分布表示部53に示さ
れる温度分布のサンプリング対象となつた領域の
上下限(左右限は映像表示部51の左右限)を示
すカーソル線であつて、表示部53中に示される
ドツトは、そのドツト位置のX座標でのY=Y1
〜Y2の間の複数のサンプリング位置の温度平均
値を示す。
而して画像合成装置4は叙上の如き形態での表
示を可能とするものであつて例えば次のような構
成が採られる。いま走査信号発生部31が、第4
図に示す如くX=X1及びX=X2の間の領域を、
主走査方向をX方向、副走査方向をY方向とする
偏向信号と、Y=Y1及びY=Y2の間の領域を、
主走査方向をY方向、副走査方向をX方向とする
偏向信号とを交互的に発するように設定したもの
とする。演算部323は走査信号発生部31が発
する偏向信号を基に主走査方向への走査1回につ
き複数回のサンプリングを行い、各サンプリング
時のデータにつき前記(1)式の演算を行い、該走査
1回毎にその平均値を求める。41は表示部52
及び53に割付けたデイジタルの画像メモリであ
るが、演算部323は主走査方向がX(又はY)
方向である間にはその走査線のY(又はX)座標
値を書込垂直(又は水平)アドレスとして、また
その走査についての演算平均値を書込水平(又は
垂直)アドレスとして画像メモリ41へ与え、該
当アドレスにドツト表示のためのデータを書込ま
せるように構成してある。なお表示部52,53
において温度目盛となる縦線又は横線は別途演算
部323に与えられるデータによつて画像メモリ
41における、縦線又は横線の表示すべき画素に
相当するアドレスにその表示のために要するデー
タを書込ませる。従つて温度目盛のレンジ変更を
行わせるような場合は前記演算平均値による書込
水平(垂直)アドレスは目盛表示のためのデータ
に応じて所要のシフトを行わせる演算を付加する
必要がある。更にカラー表示を行わせる場合は目
盛のライン表示のために画像メモリ41に書込む
べきデータと、演算結果のドツト表示のために画
像メモリ41に書込むべきデータとを相異せしめ
ればよい。なおビデオ信号VD1,VD2を積分回
路に入力し走査線1ライン毎の積分値を2色温度
演算に用いるべく、A/D変換回路321,32
2の前段に積分回路を設ける構成としてもよい。
一方撮像装置13が出力するビデオ信号は画像
合成装置4のマルチプレクサ42及び信号分離回
路43へ入力される。信号分離回路43は入力さ
れたビデオ信号から垂直同期信号及び水平同期信
号を取り出し、これを読出しアドレス発生回路4
4へ出力する。読出しアドレス発生回路44は垂
直同期信号及び水平同期信号と図示しない発振回
路から入力されるクロツクパルス(水平方向画素
数又は画像メモリの水平アドレスによつてその周
期が定まる)にて画像メモリ41からの読出しの
ためのアドレスを作成し、これを画像メモリ41
へ与える一方、マルチプレクサ42へ選択制御信
号を発する。読出しアドレスにて画像メモリ41
から読出されたデータはD/A(デイジタル/ア
ナログ)変換器45を経てマルチプレクサ42へ
入力される。
46はカーソル表示信号発生回路であつて、前
記走査信号発生部31が発する偏向信号と、信号
分離回路43が出力する垂直、水平同期信号とに
基き、前述のX=X1,X=X2,Y=Y1,Y=Y2
の4本の直線を表示させるための信号を発生する
回路であり、発生信号はマルチプレクサ42へ入
力される。
アドレス発生回路44がマルチプレクタ42へ
与える選択制御信号は映像表示装置5における表
示部51の走査に相当する期間には撮像装置13
から出力されるビデオ信号及びカーソル表示信号
発生回路46の出力を選択し、表示部52,53
の走査に相当する期間(この間画像メモリ41が
読出しイネーブル状態になる)は画像メモリ41
からの読出しデータを選択し、選択した信号が映
像表示装置5へ送出されるように構成してある。
なお演算部323の演算結果、例えば画像メモ
リ41へ書込アドレスとして与えられるデータは
印字、磁気記録等のために外部へ取出し可能とし
てある。
叙上の如く構成された本発明装置による場合は
2色温度演算により温度を測定するので、赤外線
方式のものに比して周囲雰囲気に影響されること
が少く測定精度が高い。更にイメージガイドの使
用が可能であり、周囲雰囲気に全く影響されない
測定、更には微小な領域、内奥部にあり、外部か
ら直接には視認できない領域についての温度パタ
ーン計測も可能になる。更に分解能については撮
像装置11,12にて規制される処まで高められ
る。
更にまた本発明装置では撮像装置11,12は
イメージデイセクタ等を用いてランダムな走査を
行わせ得るものとしているから任意の領域につい
ての温度パターンを容易に求めることができる。
即ちビジコンカメラ等を使用する場合は順次走査
が行われるので撮像画面と垂直又は水平の温度パ
ターンはともかく、それ以外の方向に関するもの
を求めるのは複雑なソフトウエアを要し、実用化
に困難を伴うが、本発明装置では任意方向の温度
パターンのみを求めるのは容易に行え、しかも演
算に無関係な部分の走査を行わないので応答性が
高く、更に蓄積効果を有しない撮像管を用いるの
で残像の影撮もなく高速度で温度変化する物の計
測にも適している。更にこの撮像管はビジコンに
比してダイナミツクレンジが広いので測温範囲を
広くとれる利点もあり、前述の如き電縫鋼管製造
ライン等、溶接進行状況の監視等に極めて有効で
ある。
第5図は本発明装置の他の実施例を示してお
り、ランダム走査式の撮像装置11を1台用い
て、その使用数の節減を図つて安価に製作し得る
ようにしたものである。
イメージガイド(図示せず)を介して又は介す
ることなくレンズ7に達した光はハーフミラ20
を介して撮像装置11に至らしめ、またハーフミ
ラ20及び平面鏡23を介して撮像装置13に至
らしめ夫々に結像させるべく配してある。而して
ハーフミラ20と撮像装置11との間には第6図
又は第7図に示す如く円盤状をなし、周方向に2
分割又は4分割して、透過波長の主成分が夫々λ
及びλである光学フイルタ21′及び22′を
交互的に配してなるフイルタ板24を配してあ
り、このフイルタ板24はモータ25にて高速回
転される構成にしてある。撮像装置11は光学フ
イルタ21′及び22′夫々を介して撮像すること
になるが、演算装置3はモータ25に連結した回
転エンコーダ(図示せず)等の出力により波長λ
及びλの何れによつて得られたデータかを識
別して取込み、前述の実施例同様の演算を行うよ
うにしたものである。その他4は画像合成装置、
5は映像表示装置である。
以上詳述したように本発明による場合は使用雰
囲気、温度変化速度、或は計測対象物の位置等に
殆んど制約されることなく、高分解能の温度パタ
ーン計測が可能となり、特に第2図に示す如き表
示を行わせる場合は測定対象物の形状と温度パタ
ーン計測部分とその計測結果とを一目瞭然に監視
でき、極めて便宜性が高い。
【図面の簡単な説明】
図面は本発明の実施例を示すものであつて、第
1図は本発明装置要部の構成を示すブロツク図、
第2図は映像表示装置における表示形態図、第3
図は電縫鋼管製造ラインにおいて使用する場合の
本発明装置の光学系を示す模式図、第4図は走査
方式の1例を示す説明図、第5図は本発明装置の
他の実施例を示すブロツク図、第6,7図はその
フイルタ板のパターン図である。 11,12,13…撮像装置、21,22,2
1′,22′…光学フイルタ、3…演算装置、4…
画像合成装置、5…映像表示装置。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 測定対象の物体を撮像装置にて捉え、撮像情
    報に基き前記物体の撮像部分の温度分布を求める
    温度パターン計測装置において、ランダム走査方
    式の撮像装置と、前記物体から撮像装置に至る光
    路中に設けられ、相異る2つの波長成分夫々を選
    択させる第1及び第2の光学フイルタと、第1、
    第2の光学フイルタ夫々を介して得た撮像情報を
    物体の位置に関連づけて読出し、2色温度演算を
    行う演算装置とを具備し、該演算装置にて予め指
    定した領域の温度パターンを求める構成としたこ
    とを特徴とする温度パターン計測装置。 2 前記撮像装置を2台備え、第1の撮像装置は
    第1の光学フイルタを、また第2の撮像装置は第
    2の光学フイルタを介して撮像する構成とした特
    許請求の範囲第1項記載の温度パターン計測装
    置。 3 前記第1及び第2のフイルタは物体から撮像
    装置に至る光路中に交番介在する構成とした特許
    請求の範囲第1項記載の温度パターン計測装置。 4 測定対象の物体を撮像装置にて捉え、撮像情
    報に基き前記物体の撮像部分の温度分布を求める
    温度パターン計測装置において、ランダム走査方
    式の撮像装置と、前記物体から撮像装置に至る光
    路中に設けられ、相異る2つの波長成分夫々を選
    択させる第1及び第2の光学フイルタと、第1及
    び第2の光学フイルタ夫々を介して得た撮像情報
    を物体の位置に関連づけて読出し、2色温度演算
    を行う演算装置と、前記物体の形状を捉えるため
    の撮像装置と、映像表示装置と、形状を捉えるた
    めの撮像装置のビデオ信号及び前記演算装置の演
    算結果を所定形態で前記映像表示装置に表示させ
    るべく合成する画像合成装置とを具備することを
    特徴とする温度パターン計測装置。
JP15450680A 1980-10-31 1980-10-31 Temperature pattern measuring apparatus Granted JPS5777924A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP15450680A JPS5777924A (en) 1980-10-31 1980-10-31 Temperature pattern measuring apparatus

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP15450680A JPS5777924A (en) 1980-10-31 1980-10-31 Temperature pattern measuring apparatus

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS5777924A JPS5777924A (en) 1982-05-15
JPS621203B2 true JPS621203B2 (ja) 1987-01-12

Family

ID=15585726

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP15450680A Granted JPS5777924A (en) 1980-10-31 1980-10-31 Temperature pattern measuring apparatus

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS5777924A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2004037163A (ja) * 2002-07-01 2004-02-05 Nippon Steel Corp 溶融金属の測温装置

Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002214047A (ja) * 2001-01-17 2002-07-31 Noritake Co Ltd 温度分布測定方法および装置
FR2970331A1 (fr) * 2011-01-07 2012-07-13 Peugeot Citroen Automobiles Sa Procede et dispositif de determination de temperature d'un disque de frein par thermographie infrarouge
JP6675259B2 (ja) 2016-04-20 2020-04-01 株式会社マキタ 電動作業機

Family Cites Families (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5639433A (en) * 1979-09-05 1981-04-15 Sumitomo Metal Ind Ltd Method for measuring temperature pattern and its apparatus

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2004037163A (ja) * 2002-07-01 2004-02-05 Nippon Steel Corp 溶融金属の測温装置

Also Published As

Publication number Publication date
JPS5777924A (en) 1982-05-15

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US4365307A (en) Temperature pattern measuring device
US4862894A (en) Apparatus for monitoring bloodstream
JP3634845B2 (ja) 温度表示装置及び温度監視システム
US8138475B2 (en) System for producing enhanced thermal images
US4979818A (en) Apparatus for measuring movement of light scattering bodies in an object
US4413324A (en) Temperature pattern measuring method and a device therefor
JPH03289293A (ja) 撮像装置
JPH09178566A (ja) 熱画像表示方法および表示装置
JPS6142807B2 (ja)
CN114089373B (zh) 基于图像融合激光的雷达系统扫描方法及装置
JPS621203B2 (ja)
TW200902964A (en) System and method for height measurement
JP2681745B2 (ja) レーザ光を利用したスペックルパターンによる被計測物の上下および横移動量の測定方法。
KR860000607B1 (ko) 온도패턴 계측장치
JP4266286B2 (ja) 距離情報取得装置、および距離情報取得方法
JP3376237B2 (ja) 計測装置および計測方法
JPS61134652A (ja) 壁面等の結露に関する情報の表示方法
CA1165444A (en) Temperature pattern measuring method and device therefor
JPH0599623A (ja) 変位計測装置
JPH0373803B2 (ja)
JPS6028590B2 (ja) 電縫管溶接部の監視装置
JP2025130628A (ja) 温度測定装置及び温度測定方法並びにプログラム
JPH0241399B2 (ja)
JPH0483132A (ja) 三次元スキャナ
JPS63240831A (ja) 計測内視鏡装置