JPS61134652A - 壁面等の結露に関する情報の表示方法 - Google Patents
壁面等の結露に関する情報の表示方法Info
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- JPS61134652A JPS61134652A JP59256789A JP25678984A JPS61134652A JP S61134652 A JPS61134652 A JP S61134652A JP 59256789 A JP59256789 A JP 59256789A JP 25678984 A JP25678984 A JP 25678984A JP S61134652 A JPS61134652 A JP S61134652A
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- JP
- Japan
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- wall surface
- temperature
- measured
- dew condensation
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- Pending
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N25/00—Investigating or analyzing materials by the use of thermal means
- G01N25/56—Investigating or analyzing materials by the use of thermal means by investigating moisture content
- G01N25/66—Investigating or analyzing materials by the use of thermal means by investigating moisture content by investigating dew-point
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- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Investigating Or Analyzing Materials Using Thermal Means (AREA)
- Radiation Pyrometers (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
［産業上の利用分野］
本発明は壁面に非接触で、壁面の結露に関する情報を得
、表示装置上にその情報を表示することができる測定方
法に関する。
、表示装置上にその情報を表示することができる測定方
法に関する。
［従来の技術］
建物の壁部分は、結露すると腐敗し易くなり、又、結露
した部分は汚れが付き易くなり、美観上芳しくない。こ
のため、建物壁部の結露の情報を知り、結露のし易い部
分に対しては、何等かの処置をしたり、今後の建物設計
の参考にする必要が生ずる。従来、この結露については
、単に目視により結露した水滴を見ること、あるいは、
壁に取付けられた水分計により測定している。
した部分は汚れが付き易くなり、美観上芳しくない。こ
のため、建物壁部の結露の情報を知り、結露のし易い部
分に対しては、何等かの処置をしたり、今後の建物設計
の参考にする必要が生ずる。従来、この結露については
、単に目視により結露した水滴を見ること、あるいは、
壁に取付けられた水分計により測定している。
［発明が解決しようとする問題点］
しかしながら、目視による測定方法では、壁に結露の状
態に応じてマークを付したりしなければならず、又、水
分計による測定では、場所によりてこの計器を設けるこ
とができない部分がある等、従来の測定方法には問題が
多かった。
態に応じてマークを付したりしなければならず、又、水
分計による測定では、場所によりてこの計器を設けるこ
とができない部分がある等、従来の測定方法には問題が
多かった。
本発明は、上述した点に鑑みてなされたもので、結露の
情報を測定すべき壁面に非接触で測定することができる
方法を提供することを目的としている。
情報を測定すべき壁面に非接触で測定することができる
方法を提供することを目的としている。
Ｅ問題点を解決するためのステップ］
本発明に基づく壁面等の結露に関する情報の測定方法は
、次の各ステップによって行われることを特徴としてい
る。
、次の各ステップによって行われることを特徴としてい
る。
Ａ、壁面からの赤外線を検出し、壁面各点の温度を測定
するステップ、 Ｂ、該壁面近傍の環境温度を測定するステップ、 ｃｏ該壁面各点の温度に対応した飽和蒸気圧Ｐ１を得る
ステップ、 Ｄ、該環境温度に対応した飽和蒸気圧Ｐ２を得るステッ
プ、 Ｅ。該２種の飽和蒸気圧Ｐ１ 、Ｐ２の比Ｒを該壁面各
点毎に求めるステップ、 Ｆ、該壁面各点の比Ｒに応じた信号を表示装置上に表示
するステップ。
するステップ、 Ｂ、該壁面近傍の環境温度を測定するステップ、 ｃｏ該壁面各点の温度に対応した飽和蒸気圧Ｐ１を得る
ステップ、 Ｄ、該環境温度に対応した飽和蒸気圧Ｐ２を得るステッ
プ、 Ｅ。該２種の飽和蒸気圧Ｐ１ 、Ｐ２の比Ｒを該壁面各
点毎に求めるステップ、 Ｆ、該壁面各点の比Ｒに応じた信号を表示装置上に表示
するステップ。
［作用］
被測定壁面の各部分の温度は、サーモグラフィ装置によ
って非接触で測定され、又、該壁面の近傍の環境温度は
別途測定される。その後、該測定された壁面各部の温度
および環境温度夫々に対応した飽和蒸気圧が求められ、
更に、壁面各部毎に、壁面温度に対応した飽和蒸気圧と
環境温度に対応した飽和蒸気圧との比が求められる。該
比は壁面が結露する環境の相対湿度を示しており、核化
を壁面各部の位置に対応して陰極線管に表示することに
より、該壁面のどの部分が結露し易いのかの情報を得る
ことができる。 １［実
施例］ 以下本発明の一実施例を添附図面に基づいて詳述する。
って非接触で測定され、又、該壁面の近傍の環境温度は
別途測定される。その後、該測定された壁面各部の温度
および環境温度夫々に対応した飽和蒸気圧が求められ、
更に、壁面各部毎に、壁面温度に対応した飽和蒸気圧と
環境温度に対応した飽和蒸気圧との比が求められる。該
比は壁面が結露する環境の相対湿度を示しており、核化
を壁面各部の位置に対応して陰極線管に表示することに
より、該壁面のどの部分が結露し易いのかの情報を得る
ことができる。 １［実
施例］ 以下本発明の一実施例を添附図面に基づいて詳述する。
第１図は、本発明に基づく測定方法を実施するための装
置の一例を示しており、１は赤外線検出器、２は該検出
器１の像を被測定壁面（図示せず）上に結像すると共に
ラスク走査するための光スキャナ、３は該光スキャナ２
による水平走査毎に基準赤外線を検出器に入射させるた
めの基準黒体である。該光スキャナ２によるラスク走査
に基づいて、検出器１には壁面からの赤外線が順次入射
し、得られた検出信号は絶対温度再生回路、リニアライ
ザ等を有する処理回路４に送られ、壁面各部の絶対温度
に対応した温度信号に変換される。該温度信号は、Ａ−
Ｄ変換器５によりディジタル信号に変換された後、書込
み制御回路６を介して第１の画像メモリ７に供給されて
記憶される。８は該光スキヤナ２．Ａ−Ｄ変換器５．書
込み制御回路６等を制御しているコンピュータであり、
９は温度とその温度の飽和蒸気圧とをテーブルの形で記
憶しているメモリ、１０は第２の画像メモリである。１
１は必要な情報をコンピュータ８に入力するためのコン
ソールボックス、１２はコンピュータ８によって読み出
された画像メモリ７．１０に記憶されているデータをＤ
−Ａ変換し、陰極線管１３に供給するＤ−Ａ変換器であ
る。
置の一例を示しており、１は赤外線検出器、２は該検出
器１の像を被測定壁面（図示せず）上に結像すると共に
ラスク走査するための光スキャナ、３は該光スキャナ２
による水平走査毎に基準赤外線を検出器に入射させるた
めの基準黒体である。該光スキャナ２によるラスク走査
に基づいて、検出器１には壁面からの赤外線が順次入射
し、得られた検出信号は絶対温度再生回路、リニアライ
ザ等を有する処理回路４に送られ、壁面各部の絶対温度
に対応した温度信号に変換される。該温度信号は、Ａ−
Ｄ変換器５によりディジタル信号に変換された後、書込
み制御回路６を介して第１の画像メモリ７に供給されて
記憶される。８は該光スキヤナ２．Ａ−Ｄ変換器５．書
込み制御回路６等を制御しているコンピュータであり、
９は温度とその温度の飽和蒸気圧とをテーブルの形で記
憶しているメモリ、１０は第２の画像メモリである。１
１は必要な情報をコンピュータ８に入力するためのコン
ソールボックス、１２はコンピュータ８によって読み出
された画像メモリ７．１０に記憶されているデータをＤ
−Ａ変換し、陰極線管１３に供給するＤ−Ａ変換器であ
る。
上述した如き構成によって本発明に基づく方法を実施す
る場合につき、第２図に示す流れ図を用い説明する。ま
ず、光スキャナ２によって壁面の必要部分をラスク走査
し、該壁面各部の温度を測定して第１の画像メモリ７内
に該走査に同期して記憶させる。又、任意の方法により
、該被測定壁面近傍の環境温度を測定し、その値をコン
ソールボックス１１からコンピュータ８に入力し、コン
ピュータ８内のメモリに記憶させる。次に該コンピュー
タは、予め各温度と飽和蒸気圧がテーブルの形で記憶さ
れているメモリ９を利用し、第１の画像メモリ７に記憶
されている壁面各部の温度に対応した飽和蒸気圧Ｐ１を
求め、この蒸気圧信号を第２の画像メモリ１０に壁面各
部の位置に応じて記憶させる。該コンピュータ８は更に
、測定した環境温度に対応した飽和蒸気圧Ｐ２を求め、
該コンピュータ内のメモリに記憶する。次に、該コンピ
ュータ８は第２の画像メモリ１０内に記憶されてるい壁
面各部の飽和蒸気圧信号Ｐ１を順々に読み出し、各信号
毎に以下に示す２種の飽和蒸気圧の比Ｒ（％）を計算す
る。
る場合につき、第２図に示す流れ図を用い説明する。ま
ず、光スキャナ２によって壁面の必要部分をラスク走査
し、該壁面各部の温度を測定して第１の画像メモリ７内
に該走査に同期して記憶させる。又、任意の方法により
、該被測定壁面近傍の環境温度を測定し、その値をコン
ソールボックス１１からコンピュータ８に入力し、コン
ピュータ８内のメモリに記憶させる。次に該コンピュー
タは、予め各温度と飽和蒸気圧がテーブルの形で記憶さ
れているメモリ９を利用し、第１の画像メモリ７に記憶
されている壁面各部の温度に対応した飽和蒸気圧Ｐ１を
求め、この蒸気圧信号を第２の画像メモリ１０に壁面各
部の位置に応じて記憶させる。該コンピュータ８は更に
、測定した環境温度に対応した飽和蒸気圧Ｐ２を求め、
該コンピュータ内のメモリに記憶する。次に、該コンピ
ュータ８は第２の画像メモリ１０内に記憶されてるい壁
面各部の飽和蒸気圧信号Ｐ１を順々に読み出し、各信号
毎に以下に示す２種の飽和蒸気圧の比Ｒ（％）を計算す
る。
Ｒ＝ （（Ｐ１／Ｐ２ ） Ｘ １００）該壁面各部
毎に計算された比Ｒは第２の画像メモリ１０に飽和蒸気
圧信号と置換えて記憶される。
毎に計算された比Ｒは第２の画像メモリ１０に飽和蒸気
圧信号と置換えて記憶される。
この比Ｒは壁面が結露状態となる環境の相対湿度であり
、該第２の画像メモリ１０に記憶されている比Ｒのデー
タを順々に読み出し、一定の湿度範囲毎に異なったカラ
ー信号とし、Ｄ−Ａ変換器１２を介してカラー陰極線管
１３に供給すれば、該陰極線管１３上には、測定時の環
境温度で結露が生じる湿度分布がカラーマツプの形で表
示されることになり、壁面の結露情報を的確に知ること
ができる。尚、該陰極線管にカラーマツプと同時に各湿
度範囲毎の色を帯状に表示し、対応する湿度Ｒの値を表
示することは好ましい。
、該第２の画像メモリ１０に記憶されている比Ｒのデー
タを順々に読み出し、一定の湿度範囲毎に異なったカラ
ー信号とし、Ｄ−Ａ変換器１２を介してカラー陰極線管
１３に供給すれば、該陰極線管１３上には、測定時の環
境温度で結露が生じる湿度分布がカラーマツプの形で表
示されることになり、壁面の結露情報を的確に知ること
ができる。尚、該陰極線管にカラーマツプと同時に各湿
度範囲毎の色を帯状に表示し、対応する湿度Ｒの値を表
示することは好ましい。
以上本発明の一実施例を詳述したが、本発明はこの実施
例に限定されず幾多の変形が可能である。
例に限定されず幾多の変形が可能である。
例えば、陰極線管にカラーマツプの形で表示するように
したが、９０％、８０％、７０％等のレベルの等高線を
表示するようにしても良い。又、比Ｒに応じた信号のみ
を陰極線管上に表示するのではなく、該比Ｒに対応した
信号と共に、例えば、第１の画像メモリ７に記憶されて
いる被測定壁面の温度分布像と重ねて陰極線管に表示し
たり、測定視野の可視像と重ねて表示すれば、オペレー
タは結露し易い部分等の壁面位置をより良く認識するこ
とができる。更に、陰極線管画面上の特定の点をカーソ
ルやライトベン等で指定できるように構成し、該指定さ
れた部分の相対湿度を画面に表示するようにしても良い
。更に又、壁面の温度はその壁面の外側の温度と内側の
温度の差に関係することから、上記実施例で、その関係
式を事前にコンピュータに記憶させておけば、壁面外側
の温度が変ねった時の壁面各部分の温度をシミュレーシ
ョンす することができ、その温度における結露
の状態を表示することもできる。
したが、９０％、８０％、７０％等のレベルの等高線を
表示するようにしても良い。又、比Ｒに応じた信号のみ
を陰極線管上に表示するのではなく、該比Ｒに対応した
信号と共に、例えば、第１の画像メモリ７に記憶されて
いる被測定壁面の温度分布像と重ねて陰極線管に表示し
たり、測定視野の可視像と重ねて表示すれば、オペレー
タは結露し易い部分等の壁面位置をより良く認識するこ
とができる。更に、陰極線管画面上の特定の点をカーソ
ルやライトベン等で指定できるように構成し、該指定さ
れた部分の相対湿度を画面に表示するようにしても良い
。更に又、壁面の温度はその壁面の外側の温度と内側の
温度の差に関係することから、上記実施例で、その関係
式を事前にコンピュータに記憶させておけば、壁面外側
の温度が変ねった時の壁面各部分の温度をシミュレーシ
ョンす することができ、その温度における結露
の状態を表示することもできる。
［効果］
以上詳述した如く、本発明においては、被測定壁面から
の赤外線を検出し、該壁面各部の温度を測定し、この温
度に基づいて壁面各部の結露に関する情報を表示するよ
うにしており、非接触で正確に壁面各部の結露に関する
情報を得ることができる。
の赤外線を検出し、該壁面各部の温度を測定し、この温
度に基づいて壁面各部の結露に関する情報を表示するよ
うにしており、非接触で正確に壁面各部の結露に関する
情報を得ることができる。
第１図は本発明に基づく方法を実施するための装置の一
例を示す図、第２図は本発明の一実施例を説明するため
に用いた流れ図である。 １・・・検出器 ２・・・光スキャナ３・・・
基準黒体 ４・・・処理回路５・・・Ａ−Ｄ変換
器 ６・・・書込み回路７・・・画像メモリ ８
・・・コンピュータ９・・・メモリ １０・・
・画像メモリ１１・・・コンソール １２・・・Ｄ−
Ａ変換器１３・・・陰極線管
例を示す図、第２図は本発明の一実施例を説明するため
に用いた流れ図である。 １・・・検出器 ２・・・光スキャナ３・・・
基準黒体 ４・・・処理回路５・・・Ａ−Ｄ変換
器 ６・・・書込み回路７・・・画像メモリ ８
・・・コンピュータ９・・・メモリ １０・・
・画像メモリ１１・・・コンソール １２・・・Ｄ−
Ａ変換器１３・・・陰極線管
Claims (2)
- （１）次のＡ〜Ｅの各ステップより成る壁面等の結露に
関する情報の表示方法、 Ａ、壁面からの赤外線を検出し、壁面各点の温度を測定
するステップ、 Ｂ、該壁面近傍の環境温度を測定するステップ、 Ｃ、該壁面各点の濃度に対応した飽和蒸気圧Ｐ１を得る
ステップ、 Ｄ、該環境湿度に対応した飽和蒸気圧Ｐ２を得るステッ
プ、 Ｅ、該２種の飽和蒸気圧Ｐ１、Ｐ２の比Ｒを該壁面各点
毎に求めるステップ、 Ｆ、該壁面各点の比Ｒに応じた信号を表示装置上に表示
するステップ。 - （２）該比Ｒに応じた信号を該壁面の温度分布像あるい
は可視像と共に、該表示装置上に表示するようにした特
許請求の範囲第１項記載の壁面等の結露に関する情報の
表示方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59256789A JPS61134652A (ja) | 1984-12-05 | 1984-12-05 | 壁面等の結露に関する情報の表示方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59256789A JPS61134652A (ja) | 1984-12-05 | 1984-12-05 | 壁面等の結露に関する情報の表示方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61134652A true JPS61134652A (ja) | 1986-06-21 |
Family
ID=17297464
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP59256789A Pending JPS61134652A (ja) | 1984-12-05 | 1984-12-05 | 壁面等の結露に関する情報の表示方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS61134652A (ja) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2005040779A1 (en) * | 2003-10-28 | 2005-05-06 | Flir Systems Ab | Method, use and system of an ir-camera for determining the risk of condensation |
| DE202005015397U1 (de) * | 2005-09-29 | 2007-02-08 | Testo Ag | Vorrichtung zur Bestimmung der Oberflächenfeuchte eines Messobjekts |
| JP2007322340A (ja) * | 2006-06-02 | 2007-12-13 | Ohbayashi Corp | 建具、結露発生の判定方法及び結露発生の判定システム |
| DE102010052327A1 (de) | 2010-11-25 | 2012-05-31 | Testo Ag | Verfahren zur Bestimmung eines Kondensationsrisikos mit einer Wärmebildkamera und korrespondierende Wärmebildkamera |
| WO2025041325A1 (ja) * | 2023-08-24 | 2025-02-27 | 三菱電機株式会社 | 換気システム、換気方法及び換気装置 |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS53149091A (en) * | 1977-05-31 | 1978-12-26 | Nec Corp | Surface dew meter |
-
1984
- 1984-12-05 JP JP59256789A patent/JPS61134652A/ja active Pending
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS53149091A (en) * | 1977-05-31 | 1978-12-26 | Nec Corp | Surface dew meter |
Cited By (9)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2005040779A1 (en) * | 2003-10-28 | 2005-05-06 | Flir Systems Ab | Method, use and system of an ir-camera for determining the risk of condensation |
| US7237946B2 (en) | 2003-10-28 | 2007-07-03 | Flir Systems Ab | Use of IR camera |
| DE602004011681T3 (de) | 2003-10-28 | 2019-10-17 | Flir Systems Ab | Verfahren und ir-kamera zur bestimmung der kondensationsgefahr |
| DE202005015397U1 (de) * | 2005-09-29 | 2007-02-08 | Testo Ag | Vorrichtung zur Bestimmung der Oberflächenfeuchte eines Messobjekts |
| WO2007036353A3 (de) * | 2005-09-29 | 2007-07-26 | Testo Ag | Vorrichtung zur bestimmung der oberflächenfeuchte eines messobjekts |
| JP2007322340A (ja) * | 2006-06-02 | 2007-12-13 | Ohbayashi Corp | 建具、結露発生の判定方法及び結露発生の判定システム |
| DE102010052327A1 (de) | 2010-11-25 | 2012-05-31 | Testo Ag | Verfahren zur Bestimmung eines Kondensationsrisikos mit einer Wärmebildkamera und korrespondierende Wärmebildkamera |
| DE102010052327B4 (de) * | 2010-11-25 | 2012-12-06 | Testo Ag | Verfahren zur Bestimmung eines Kondensationsrisikos mit einer Wärmebildkamera und korrespondierende Wärmebildkamera |
| WO2025041325A1 (ja) * | 2023-08-24 | 2025-02-27 | 三菱電機株式会社 | 換気システム、換気方法及び換気装置 |
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