JPS62123401A - 遠紫外用光学薄膜 - Google Patents
遠紫外用光学薄膜Info
- Publication number
- JPS62123401A JPS62123401A JP60263396A JP26339685A JPS62123401A JP S62123401 A JPS62123401 A JP S62123401A JP 60263396 A JP60263396 A JP 60263396A JP 26339685 A JP26339685 A JP 26339685A JP S62123401 A JPS62123401 A JP S62123401A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- thin film
- deep ultraviolet
- refractive index
- film
- optical thin
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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- Surface Treatment Of Optical Elements (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(発明の技術分野)
本発明は、遠紫外用の光学薄膜例えば反射防止膜に関す
るものであり、特に高出力のレーザ光に対し耐久性を有
する光学薄膜に関するものである。
るものであり、特に高出力のレーザ光に対し耐久性を有
する光学薄膜に関するものである。
(発明の背景)
光学薄膜例えば反射防止膜、干渉フィルタ、干渉ミラー
は、光学理論に基づき、4分のλ(λ−基準波長)程度
の光学的膜厚を有する薄膜を単層又は多層に積層したも
ので、多層膜の場合には高屈折率薄膜と低屈折率Fj[
膜とを交互に積層したものである。そして、高屈折率薄
膜の構成物質としては、例えばAlt03. Zr0t
、 1lfotなど、低屈折率薄膜の構成物質としては
、例えば5jOz+MgFz、 ThFz、 5rFt
などが使用されている。
は、光学理論に基づき、4分のλ(λ−基準波長)程度
の光学的膜厚を有する薄膜を単層又は多層に積層したも
ので、多層膜の場合には高屈折率薄膜と低屈折率Fj[
膜とを交互に積層したものである。そして、高屈折率薄
膜の構成物質としては、例えばAlt03. Zr0t
、 1lfotなど、低屈折率薄膜の構成物質としては
、例えば5jOz+MgFz、 ThFz、 5rFt
などが使用されている。
このような光学薄膜は種々の光学系に使用されているが
、その場合、使用する光の波長に応じて構成物質を変え
なければならないことが多い。例えば遠紫外用の光学薄
膜においては、遠紫外線(λ=195〜325 nm)
を透過させる必要があり、これまで多層構造のものでは
、高屈折率の構成物質としてAutos 、低屈折率の
構成物質としてSingを使用したものが報告されてい
る。
、その場合、使用する光の波長に応じて構成物質を変え
なければならないことが多い。例えば遠紫外用の光学薄
膜においては、遠紫外線(λ=195〜325 nm)
を透過させる必要があり、これまで多層構造のものでは
、高屈折率の構成物質としてAutos 、低屈折率の
構成物質としてSingを使用したものが報告されてい
る。
一方、光学系に使用する光は益々高強度のものが要求さ
れ、そのような高強度の遠紫外用光源として例えばエキ
シマレーザ−が実用化されつつある。そして、エキシマ
レーザ−光源には、レーザー光を出力させる窓(窓材料
には遠紫外線を透過させる石英や螢石が使用される)に
反射防止膜が必要となってくる。
れ、そのような高強度の遠紫外用光源として例えばエキ
シマレーザ−が実用化されつつある。そして、エキシマ
レーザ−光源には、レーザー光を出力させる窓(窓材料
には遠紫外線を透過させる石英や螢石が使用される)に
反射防止膜が必要となってくる。
しかしながら、使用するレーザー光の強度を高めると、
光学i1Mが破損するという新たな問題がでて来た。そ
こで、どのくらいの強度まで破損しないかの尺度として
「レーザー耐力」が提唱されており、その計測方法は次
のとおりである。
光学i1Mが破損するという新たな問題がでて来た。そ
こで、どのくらいの強度まで破損しないかの尺度として
「レーザー耐力」が提唱されており、その計測方法は次
のとおりである。
光源としてλ−248n−のエキシマレーザーヲ使用し
、レーザー光を20r+secだけ光学薄膜に照射する
。照射はレーザー出力及び薄膜の照射位置を変えて数回
行なう、その後、光学vR膜の表面を微分干渉型Jff
i鏡で観察し、孔のような破損があればr Damag
e Jと判定し、破損がなければr Non−dama
geJと判定する。そして、同種の光学薄膜に対して何
回か繰り返し、r DamageJと判定されたときの
レーザー出力(11! (ジュール/Cシ)の最小値と
、「Non−damageJと判定されたときのレーザ
ー出力値の最大値とを選出し、両者の中間値を日/−ザ
ー耐力の闇値」どする。
、レーザー光を20r+secだけ光学薄膜に照射する
。照射はレーザー出力及び薄膜の照射位置を変えて数回
行なう、その後、光学vR膜の表面を微分干渉型Jff
i鏡で観察し、孔のような破損があればr Damag
e Jと判定し、破損がなければr Non−dama
geJと判定する。そして、同種の光学薄膜に対して何
回か繰り返し、r DamageJと判定されたときの
レーザー出力(11! (ジュール/Cシ)の最小値と
、「Non−damageJと判定されたときのレーザ
ー出力値の最大値とを選出し、両者の中間値を日/−ザ
ー耐力の闇値」どする。
従来、遠紫外用の多層反射防止膜として提案されている
上述の「^1ids /SiO□交互膜」は、このレー
ザー耐力の闇値が1.2〜1.3ジュール/−で十分に
満足されるというものではなかった。
上述の「^1ids /SiO□交互膜」は、このレー
ザー耐力の闇値が1.2〜1.3ジュール/−で十分に
満足されるというものではなかった。
(発明の目的)
本発明の目的は、レーザー耐力のより高い遠紫外用光学
薄膜を提供することにある。
薄膜を提供することにある。
(発明の概要)
本発明者らは、wL意研究の結果、驚くべきことに、高
屈折率薄膜の構成物質としてAltosに代えてフン化
ネオジムを使用することにより、光学薄膜のレーザー耐
力が向上し、また分光特性も同等もしくは改善されるこ
とを見い出し、本発明を成すに至った。
屈折率薄膜の構成物質としてAltosに代えてフン化
ネオジムを使用することにより、光学薄膜のレーザー耐
力が向上し、また分光特性も同等もしくは改善されるこ
とを見い出し、本発明を成すに至った。
従って、本発明は、 「高屈折率薄膜と低屈折率薄膜
との交互多層膜からなる遠紫外用光学薄膜に於いて、 前記高屈折率薄膜の構成@質としてフッ化ネオジムを使
用したこと1特徴とする遠紫外用光学薄膜」を提供する
。
との交互多層膜からなる遠紫外用光学薄膜に於いて、 前記高屈折率薄膜の構成@質としてフッ化ネオジムを使
用したこと1特徴とする遠紫外用光学薄膜」を提供する
。
本発明で使用するフッ化ネオジム(NdF、)それ自身
は、遠紫外領域で吸収がほとんどなく、薄膜状態で1.
66〜1.70の高屈折率を示す。
は、遠紫外領域で吸収がほとんどなく、薄膜状態で1.
66〜1.70の高屈折率を示す。
一方、低屈折率Fil膜の構成物質としては、例えば
510t+ Map、、 ThFt、5rPtなどが使
用される。
510t+ Map、、 ThFt、5rPtなどが使
用される。
本発明の光学薄膜は、遠紫外用の基板例えば石英(n4
”1.48) 、螢石(na−1,46)の上に直接形
成してもよいし、基板との界面付近での破損を防止する
ためにアンダーコートを基板上に形成し、その上に形成
してもよい。このようなアンダーコート自身は公知であ
り、光学的に無害な2分のλ程度の光学的膜厚を有する
低屈折率薄膜例えば3i0x+ Mghその他の薄膜が
使用される。
”1.48) 、螢石(na−1,46)の上に直接形
成してもよいし、基板との界面付近での破損を防止する
ためにアンダーコートを基板上に形成し、その上に形成
してもよい。このようなアンダーコート自身は公知であ
り、光学的に無害な2分のλ程度の光学的膜厚を有する
低屈折率薄膜例えば3i0x+ Mghその他の薄膜が
使用される。
以下、実施例により本発明を具体的に説明するが、本発
明はこれに限定されるものではない。
明はこれに限定されるものではない。
(実施例)
石英基板(n−=1.48)の上に、高屈折率薄膜とし
てλ/4の光学的膜厚を有するNdFs薄膜(n4 =
1.66)を真空蒸着し、続いて低屈折率薄膜としてλ
/4の光学的膜厚を有するMghm膜(n4=1.40
5)を真空蒸着することにより、2層反射防止膜(設計
基準波長λ−248nm)を作製した。
てλ/4の光学的膜厚を有するNdFs薄膜(n4 =
1.66)を真空蒸着し、続いて低屈折率薄膜としてλ
/4の光学的膜厚を有するMghm膜(n4=1.40
5)を真空蒸着することにより、2層反射防止膜(設計
基準波長λ−248nm)を作製した。
この反射防止膜を基板の片面に設けた場合の分光反射率
特性と、両面に設けた場合の分光i3過率特性を測定し
たので、この結果を第3図及び第4図に示す、第3図及
び第4図では中心波長が設計波長より多少ずれているが
、これは製作誤差である。
特性と、両面に設けた場合の分光i3過率特性を測定し
たので、この結果を第3図及び第4図に示す、第3図及
び第4図では中心波長が設計波長より多少ずれているが
、これは製作誤差である。
(比較例)
実施例と同種の基板上に高屈折率薄膜とじてλ/4の光
学的膜厚を有するAl3O3F’j膜(nt =1.7
2 )を真空蒸着し、続いて低屈折率薄膜としてλ/4
の光学的膜厚を有するSiO□薄膜(na −1,44
を真空蒸着することにより、2層反射防止II! (設
計基準波長λ−248nm)を作製した。
学的膜厚を有するAl3O3F’j膜(nt =1.7
2 )を真空蒸着し、続いて低屈折率薄膜としてλ/4
の光学的膜厚を有するSiO□薄膜(na −1,44
を真空蒸着することにより、2層反射防止II! (設
計基準波長λ−248nm)を作製した。
前記実施例及び比較例の反射防止膜についてレーザー耐
力の闇値を測定したところ、前者は1.6〜1.9ジュ
ール/clIと高く、後者は1.2〜1.3ジエール/
c!1と低かった。
力の闇値を測定したところ、前者は1.6〜1.9ジュ
ール/clIと高く、後者は1.2〜1.3ジエール/
c!1と低かった。
(発明の効果)
以上のとおり、本発明によれば、高出力のレーザ光に対
しても耐久性を有する遠紫外用光学薄膜が得られる。特
に本発明は、反射防止膜に於いて著効があり、エキシマ
レーザ−の光学系や光源の窓の反射防止膜として極めて
有用である。
しても耐久性を有する遠紫外用光学薄膜が得られる。特
に本発明は、反射防止膜に於いて著効があり、エキシマ
レーザ−の光学系や光源の窓の反射防止膜として極めて
有用である。
第1図は、実施例の反射防止膜の層構成を示す説明図で
あり、 第2図は、比較例の反射防止膜の層構成を示す説明図で
ある。 第3図は、実施例の反射防止膜(片面コート)の分光反
射率特性を測定したグラフである。 第4図は、実施例の反射防止SC両面コート)の分光透
過率特性を測定したグラフである。
あり、 第2図は、比較例の反射防止膜の層構成を示す説明図で
ある。 第3図は、実施例の反射防止膜(片面コート)の分光反
射率特性を測定したグラフである。 第4図は、実施例の反射防止SC両面コート)の分光透
過率特性を測定したグラフである。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 高屈折率薄膜と低屈折率薄膜との交互多層膜からなる遠
紫外用光学薄膜に於いて、 前記高屈折率薄膜の構成物質としてフッ化ネオジムを使
用したことを特徴とする遠紫外用光学薄膜。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60263396A JPS62123401A (ja) | 1985-11-22 | 1985-11-22 | 遠紫外用光学薄膜 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60263396A JPS62123401A (ja) | 1985-11-22 | 1985-11-22 | 遠紫外用光学薄膜 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS62123401A true JPS62123401A (ja) | 1987-06-04 |
Family
ID=17388914
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP60263396A Pending JPS62123401A (ja) | 1985-11-22 | 1985-11-22 | 遠紫外用光学薄膜 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS62123401A (ja) |
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS63113502A (ja) * | 1986-10-31 | 1988-05-18 | Canon Inc | 反射防止膜 |
| JPH04109151A (ja) * | 1990-08-29 | 1992-04-10 | Susumu Sato | センサー |
| JPH09265003A (ja) * | 1996-03-29 | 1997-10-07 | Shin Etsu Chem Co Ltd | ファラデー回転子用反射防止膜および光アイソレーター |
| JP2002014202A (ja) * | 2000-06-30 | 2002-01-18 | Nikon Corp | 光学薄膜、光学素子及び露光装置 |
| JP2002055207A (ja) * | 2000-05-29 | 2002-02-20 | Konica Corp | 光学部品および光学装置 |
| WO2017057233A1 (ja) * | 2015-09-30 | 2017-04-06 | 株式会社ニコン | 光学部材、チャンバ、及び光源装置 |
-
1985
- 1985-11-22 JP JP60263396A patent/JPS62123401A/ja active Pending
Cited By (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS63113502A (ja) * | 1986-10-31 | 1988-05-18 | Canon Inc | 反射防止膜 |
| JPH04109151A (ja) * | 1990-08-29 | 1992-04-10 | Susumu Sato | センサー |
| JPH09265003A (ja) * | 1996-03-29 | 1997-10-07 | Shin Etsu Chem Co Ltd | ファラデー回転子用反射防止膜および光アイソレーター |
| JP2002055207A (ja) * | 2000-05-29 | 2002-02-20 | Konica Corp | 光学部品および光学装置 |
| JP2002014202A (ja) * | 2000-06-30 | 2002-01-18 | Nikon Corp | 光学薄膜、光学素子及び露光装置 |
| WO2017057233A1 (ja) * | 2015-09-30 | 2017-04-06 | 株式会社ニコン | 光学部材、チャンバ、及び光源装置 |
| JPWO2017057233A1 (ja) * | 2015-09-30 | 2018-07-19 | 株式会社ニコン | 光学部材、チャンバ、及び光源装置 |
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