JPS6213076B2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPS6213076B2 JPS6213076B2 JP57154637A JP15463782A JPS6213076B2 JP S6213076 B2 JPS6213076 B2 JP S6213076B2 JP 57154637 A JP57154637 A JP 57154637A JP 15463782 A JP15463782 A JP 15463782A JP S6213076 B2 JPS6213076 B2 JP S6213076B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- light
- rice
- grain
- split
- amount
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
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- Sorting Of Articles (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は米の胴割粒判別方法および装置に関
し、特に、米を透過拡散する光源の光量を電気的
に検知して胴割粒を判別するようになつた胴割粒
判別方法および装置に係る。米には、加工形態に
より、籾米、玄米、精米等があり、以下本明にお
いては玄米を一例として説明する。
し、特に、米を透過拡散する光源の光量を電気的
に検知して胴割粒を判別するようになつた胴割粒
判別方法および装置に係る。米には、加工形態に
より、籾米、玄米、精米等があり、以下本明にお
いては玄米を一例として説明する。
玄米の胴割れは、そのほとんどが横方向に一ケ
所〜数ケ所発生するので、玄米に斜方光線を照射
すると透過光は胴割れを境にして明暗が発生す
る。これは斜めから入つた光がクラツク面で反射
し光源の反対側の部分が暗くなるためである。
所〜数ケ所発生するので、玄米に斜方光線を照射
すると透過光は胴割れを境にして明暗が発生す
る。これは斜めから入つた光がクラツク面で反射
し光源の反対側の部分が暗くなるためである。
よつてその全体の透過光量は、胴割れがある場
合と無い場合とでは相違することが実験で確認さ
れている。しかしながら玄米の大小、玄米の色、
形質など、粒質によつて種々異なるから、斜方光
線による透過光線の光量のみを検知するだけで
は、胴割の有無を確実に検出することはできな
い。
合と無い場合とでは相違することが実験で確認さ
れている。しかしながら玄米の大小、玄米の色、
形質など、粒質によつて種々異なるから、斜方光
線による透過光線の光量のみを検知するだけで
は、胴割の有無を確実に検出することはできな
い。
斜めから穀粒に光をあてて胴割粒を検出する手
段が、実開昭56−156148号に詳しく説明されてい
る。しかしながら、この手段は、胴割粒を目視で
検出するものであり、検出自体は自動化されたも
のでない。
段が、実開昭56−156148号に詳しく説明されてい
る。しかしながら、この手段は、胴割粒を目視で
検出するものであり、検出自体は自動化されたも
のでない。
玄米粒は、産地や銘柄により大きさ、色、形質
などに相異があり、また胴割粒の外に、乳白粒、
茶米、青未熟粒などの被害米が多数混入してお
り、さらに乳白粒、茶米などの中にも胴割粒が含
まれている。これらの中から胴割米を検出する場
合に、上記の実開昭56−156148号に開示のごとく
斜めから光をあてると、胴割粒は、その割れ部分
で光りの媒質伝播を遮つてしまうため、これを光
りをあてた側と反対側から観察すると、一つの玄
米粒でその割れ部分を境にして明暗する部分が観
察できる。これにより目視で容易に胴割粒の検出
が可能である。しかしながらこれを電気光学的に
検出して、胴割米の検出を自動化する場合には、
単に斜めに光をあてて、玄米粒の媒質透過光の量
を検出するだけでは、以上のように種々の玄米粒
が存在するため、一義的に胴割粒を正確に検出す
ることはできない。
などに相異があり、また胴割粒の外に、乳白粒、
茶米、青未熟粒などの被害米が多数混入してお
り、さらに乳白粒、茶米などの中にも胴割粒が含
まれている。これらの中から胴割米を検出する場
合に、上記の実開昭56−156148号に開示のごとく
斜めから光をあてると、胴割粒は、その割れ部分
で光りの媒質伝播を遮つてしまうため、これを光
りをあてた側と反対側から観察すると、一つの玄
米粒でその割れ部分を境にして明暗する部分が観
察できる。これにより目視で容易に胴割粒の検出
が可能である。しかしながらこれを電気光学的に
検出して、胴割米の検出を自動化する場合には、
単に斜めに光をあてて、玄米粒の媒質透過光の量
を検出するだけでは、以上のように種々の玄米粒
が存在するため、一義的に胴割粒を正確に検出す
ることはできない。
本発明は、玄米粒の大きさ、色、形質が相違し
ても確実に胴割粒の判別を行いうる胴割粒判別方
法および装置を提供することを目的とするもので
ある。
ても確実に胴割粒の判別を行いうる胴割粒判別方
法および装置を提供することを目的とするもので
ある。
本発明によれば、玄米一粒づつに光線を照射
し、その拡散透過光線を測定して胴割粒か否かを
判別する方法にして、玄米一粒に垂直光線を照射
し、その拡散透過光の光量を測定し、次いで同玄
米一粒に斜方光線を照射し、その拡散透過光量を
測定し、これら両測定透過光量を電気的に比較
し、この比較結果を判定基準値と比較して、整流
か、胴割粒かを判別する方法が提供される。
し、その拡散透過光線を測定して胴割粒か否かを
判別する方法にして、玄米一粒に垂直光線を照射
し、その拡散透過光の光量を測定し、次いで同玄
米一粒に斜方光線を照射し、その拡散透過光量を
測定し、これら両測定透過光量を電気的に比較
し、この比較結果を判定基準値と比較して、整流
か、胴割粒かを判別する方法が提供される。
以上のごとく本発明の胴割粒判別方法では、玄
米一粒に対して、垂直光線と斜方光線とを照射し
て、それらの拡散透過光線の光量差で胴割粒の判
別を行うものであるから粒質に影響されず判別が
できる。
米一粒に対して、垂直光線と斜方光線とを照射し
て、それらの拡散透過光線の光量差で胴割粒の判
別を行うものであるから粒質に影響されず判別が
できる。
さらに本発明によれば、玄米一粒づつを保留す
る移送板と、この移送板上の玄米の一般に垂直光
線を照射する第１光源と、この玄米の一粒を拡散
透過する垂直光線の光量を測定する第１光量測定
装置と、移送板上の玄米の一粒に斜方光線を照射
する第２光源と、この玄米の一粒を拡散透過する
この斜方光線の光量を測定する第２光量測定装置
と、玄米一粒についてこの第１光量測定装置と第
２光量測定装置で得られた測定値を比較演算し、
この比較結果を判定基準値と比較し、胴割粒か整
流かを判定する演算回路とを有してなる胴割米判
別装置が提供される。
る移送板と、この移送板上の玄米の一般に垂直光
線を照射する第１光源と、この玄米の一粒を拡散
透過する垂直光線の光量を測定する第１光量測定
装置と、移送板上の玄米の一粒に斜方光線を照射
する第２光源と、この玄米の一粒を拡散透過する
この斜方光線の光量を測定する第２光量測定装置
と、玄米一粒についてこの第１光量測定装置と第
２光量測定装置で得られた測定値を比較演算し、
この比較結果を判定基準値と比較し、胴割粒か整
流かを判定する演算回路とを有してなる胴割米判
別装置が提供される。
本発明を以下に実施例の形で添付図とともに詳
細に説明する。
細に説明する。
第１図は、本発明の一実施例である胴割粒判別
装置を示し、例えばターンテーブル１などの移送
板に設けられた複数の受孔３に玄米２が一粒づつ
配置される。ターンテーブル１の回転により例え
ば矢印方向に玄米２は移送される。移送中の玄米
２は、光源L1，L2により、それぞれ垂直光線
と、斜方光線が照射される。例えば、垂直光線照
射位置（第一光源）では、胴割米２１，２２は、
何んら影響を示さないが斜方光線照射位置（第二
光源）では、胴割米２１，２２は、クラツク後方
部分が暗部となる。これら光線は玄米２中を拡散
透過し、透過光量が光電変換素子S1，S2により検
出される。光電変換素子S1，S2は、受光した透過
光量に応じたそれぞれの信号を信号処理回路Ａに
送る。信号処理回路Ａは、これら信号を演算して
胴割米の判別を行う。
装置を示し、例えばターンテーブル１などの移送
板に設けられた複数の受孔３に玄米２が一粒づつ
配置される。ターンテーブル１の回転により例え
ば矢印方向に玄米２は移送される。移送中の玄米
２は、光源L1，L2により、それぞれ垂直光線
と、斜方光線が照射される。例えば、垂直光線照
射位置（第一光源）では、胴割米２１，２２は、
何んら影響を示さないが斜方光線照射位置（第二
光源）では、胴割米２１，２２は、クラツク後方
部分が暗部となる。これら光線は玄米２中を拡散
透過し、透過光量が光電変換素子S1，S2により検
出される。光電変換素子S1，S2は、受光した透過
光量に応じたそれぞれの信号を信号処理回路Ａに
送る。信号処理回路Ａは、これら信号を演算して
胴割米の判別を行う。
第２図を参照して、玄米一粒の垂直照射光線に
よる透過光量を示す信号l1が第１光電変換素子S1
より遅延回路Ｄに送られる。遅延回路Ｄは、同玄
米一粒の斜方照射光線による透過光量を示す信号
l2が第２光電変換素子S2より送られてくるまでの
時間だけ遅らせた信号l′1を得る。両信号l′1，l2を
同時に減算用演算回路O1に入力させる。減算用
演算回路O1で、両信号l′1，l2の差Δｌ、例えば Δｌ＝l′1−l2 の演算が行われる。
よる透過光量を示す信号l1が第１光電変換素子S1
より遅延回路Ｄに送られる。遅延回路Ｄは、同玄
米一粒の斜方照射光線による透過光量を示す信号
l2が第２光電変換素子S2より送られてくるまでの
時間だけ遅らせた信号l′1を得る。両信号l′1，l2を
同時に減算用演算回路O1に入力させる。減算用
演算回路O1で、両信号l′1，l2の差Δｌ、例えば Δｌ＝l′1−l2 の演算が行われる。
以上のごとく斜方光線と垂直光線を玄米一粒に
照射するのは、これら光線の透過光線量を電気的
に比較することにより、粒径および粒色と多少の
相違があつても確実に胴割粒を自動的に検出する
ことができるからである。前述したように、玄米
粒の一つ一つには、光の透過特性に相違があるの
で、以上の比較演算による検出方法は、高い信頼
性を有するものとされる。
照射するのは、これら光線の透過光線量を電気的
に比較することにより、粒径および粒色と多少の
相違があつても確実に胴割粒を自動的に検出する
ことができるからである。前述したように、玄米
粒の一つ一つには、光の透過特性に相違があるの
で、以上の比較演算による検出方法は、高い信頼
性を有するものとされる。
この演算結果が、比較演算回路O2に入力さ
れ、ここで判別基準値設定器L0からの判別基準
信号Δl0と比較され、 Δｌ＞Δl0 であれば胴割粒と判定し、 Δｌ＜Δl0 であれば整粒と判定して、判別信号ｄが出力され
る。
れ、ここで判別基準値設定器L0からの判別基準
信号Δl0と比較され、 Δｌ＞Δl0 であれば胴割粒と判定し、 Δｌ＜Δl0 であれば整粒と判定して、判別信号ｄが出力され
る。
本発明を玄米に関する実施例の形で説明した
が、本発明は、上記実施例の形に限定されず、特
許請求の範囲以内で様々に変更可能である。
が、本発明は、上記実施例の形に限定されず、特
許請求の範囲以内で様々に変更可能である。
例えば、籾米、精米にも応用出来、上記実施例
では、垂直光線の照射を行つてから、斜方光線の
照射をする構成がとられているが、この逆にする
ことも可能である。又上記実施例では移送板はタ
ーンテーブル１を用いて説明したが、この移送板
は、例えばベルトコンベヤのごとく直線状に送ら
れるものを用いても良い。
では、垂直光線の照射を行つてから、斜方光線の
照射をする構成がとられているが、この逆にする
ことも可能である。又上記実施例では移送板はタ
ーンテーブル１を用いて説明したが、この移送板
は、例えばベルトコンベヤのごとく直線状に送ら
れるものを用いても良い。
第１図は、本発明の一実施例である胴割米判別
装置の概略説明図を図示する図。第２図は、第１
図の胴割米判別装置の信号処理回路のブロツクダ
イヤグラム図を図示する図。 １……移送板、２……玄米粒、３……受孔、Ａ
……信号処理回路、S1……第１光量測定装置、S2
……第２光量測定装置、L1……第１光源、L2…
…第２光源、Ｄ……遅延回路、O1，O2……演算
回路、L0……判別基準値設定器。
装置の概略説明図を図示する図。第２図は、第１
図の胴割米判別装置の信号処理回路のブロツクダ
イヤグラム図を図示する図。 １……移送板、２……玄米粒、３……受孔、Ａ
……信号処理回路、S1……第１光量測定装置、S2
……第２光量測定装置、L1……第１光源、L2…
…第２光源、Ｄ……遅延回路、O1，O2……演算
回路、L0……判別基準値設定器。
Claims (1)
- １ 米一粒づつに光線を照射して、その拡散光線
を測定して胴割米か否かを判別するようにした胴
割米判別装置において、米一粒づつを線上に並べ
て送る移送板と、該移送板上の一粒に垂直光線を
照射する第１光源と、該１粒を拡散透過した該第
１光源の垂直光線の透過量を測定し、垂直透過光
量信号を出力する第１光量測定装置と、該移送板
上の米の一粒に斜方光線を照射する第２光源と、
該一粒を拡散透過した第２光源からの斜方光線の
透過光量を測定し、斜方光透過光量信号を出力す
る第２の光量測定装置と、同じ米一粒の該垂直光
透過光量信号と該斜方光透過光量信号とを同期さ
せる装置と、これら同期した透過光量信号を比較
し、この比較結果をさらに判定基準値と比較し、
胴割米が整米かを判定する比較回路とを有してな
る胴割米判別装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15463782A JPS5946180A (ja) | 1982-09-07 | 1982-09-07 | 胴割米判別装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15463782A JPS5946180A (ja) | 1982-09-07 | 1982-09-07 | 胴割米判別装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5946180A JPS5946180A (ja) | 1984-03-15 |
| JPS6213076B2 true JPS6213076B2 (ja) | 1987-03-24 |
Family
ID=15588554
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP15463782A Granted JPS5946180A (ja) | 1982-09-07 | 1982-09-07 | 胴割米判別装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5946180A (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP5007933B2 (ja) * | 2006-06-15 | 2012-08-22 | 株式会社サタケ | 光学式胴割選別機 |
| US7851722B2 (en) * | 2006-06-15 | 2010-12-14 | Satake Corporation | Optical cracked-grain selector |
Family Cites Families (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6058813B2 (ja) * | 1977-12-02 | 1985-12-21 | オムロン株式会社 | 米粒の不良検出方法 |
| JPS56156148U (ja) * | 1980-04-16 | 1981-11-21 |
-
1982
- 1982-09-07 JP JP15463782A patent/JPS5946180A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5946180A (ja) | 1984-03-15 |
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