JPS62136744A - 電子顕微鏡等の試料傾斜装置 - Google Patents
電子顕微鏡等の試料傾斜装置Info
- Publication number
- JPS62136744A JPS62136744A JP60277686A JP27768685A JPS62136744A JP S62136744 A JPS62136744 A JP S62136744A JP 60277686 A JP60277686 A JP 60277686A JP 27768685 A JP27768685 A JP 27768685A JP S62136744 A JPS62136744 A JP S62136744A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- sample
- sample holder
- axis
- drive arm
- contact
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、電子顕微鏡、X線マイクロアナライザ、オー
ジェマイクロプローブ等において、試料を光軸と直角な
方向から挿入するいわゆるサイドエントリータイプの試
料傾斜装置に関する。
ジェマイクロプローブ等において、試料を光軸と直角な
方向から挿入するいわゆるサイドエントリータイプの試
料傾斜装置に関する。
一般に、電子顕微鏡等の試料平面移動機構に試料傾斜機
構を設けた装置では、試料を傾斜させた際に、高さのず
れや試料面上の横への変化即ち光軸に対しての位置の変
化が生じる。前者は焦点、倍率、電子解析長の変化とし
て、後者は視野のずれとして現れ操作上の大きな障害と
なる。このため、従来においては試料を傾けても視野が
ずれず、また試料移動をしても焦点がずれないような試
料傾斜装置としていわゆるユーセントリックゴニオメー
タが使用されている。
構を設けた装置では、試料を傾斜させた際に、高さのず
れや試料面上の横への変化即ち光軸に対しての位置の変
化が生じる。前者は焦点、倍率、電子解析長の変化とし
て、後者は視野のずれとして現れ操作上の大きな障害と
なる。このため、従来においては試料を傾けても視野が
ずれず、また試料移動をしても焦点がずれないような試
料傾斜装置としていわゆるユーセントリックゴニオメー
タが使用されている。
このユーセントリックゴニオメータを採用した電子顕微
鏡は、第10図及び第11図に示すように、電子顕微鏡
の鏡体内にヨーク1、励磁コイル2及び上磁極片5、下
磁極片6から構成される対物レンズが配設され、上磁極
片5、下磁極片6との間のギャップはスペーサ7によっ
て高精度に保たれている。一方、前記対物レンズのヨー
ク1内の上方にはステージ3が設置してあり、このステ
ージにベアリング9を介して筒状の傾斜体10が回転可
能に取付けられており、該傾斜体10の回転軸は電子線
光軸Zと直交するX軸となっている。
鏡は、第10図及び第11図に示すように、電子顕微鏡
の鏡体内にヨーク1、励磁コイル2及び上磁極片5、下
磁極片6から構成される対物レンズが配設され、上磁極
片5、下磁極片6との間のギャップはスペーサ7によっ
て高精度に保たれている。一方、前記対物レンズのヨー
ク1内の上方にはステージ3が設置してあり、このステ
ージにベアリング9を介して筒状の傾斜体10が回転可
能に取付けられており、該傾斜体10の回転軸は電子線
光軸Zと直交するX軸となっている。
また、傾斜体10の内側には球体軸受11を介して試料
ホルダ12が摺動可能に挿入されると共に、Z紬調節ネ
ジ13及びYM調節ネジ15によりZ方向及びY方向に
回動可能に嵌合されている。そして、試料ホルダ12の
試料保持部には試料Sが載置され、該試料Sが上磁極片
5、下磁極片6との間隙内でかつ光軸Zに望むように配
設される。
ホルダ12が摺動可能に挿入されると共に、Z紬調節ネ
ジ13及びYM調節ネジ15によりZ方向及びY方向に
回動可能に嵌合されている。そして、試料ホルダ12の
試料保持部には試料Sが載置され、該試料Sが上磁極片
5、下磁極片6との間隙内でかつ光軸Zに望むように配
設される。
さらに、前記傾斜体10と対向してヨーク1の側壁に保
持体16が取付けられると共に、該保持体16の内側に
は移動杆17が摺動自在に嵌合され、該移動杆17の一
端にはX紬調節ネジ19が当接し、他端には遊動体20
が当接している。この遊動体20は、その一端が移動杆
17に設けられている窪みを中心にして三次元的に回転
可能になるようにスプリング(図示せず)にて支持され
ると共に、遊動体20の他端には窪みが設けられ該窪み
に試料ホルダ12の一端が当接されている。21はヨー
ク1の側壁から試料ホルダ12と交差するように、試料
の直下に配設される絞り装置である。
持体16が取付けられると共に、該保持体16の内側に
は移動杆17が摺動自在に嵌合され、該移動杆17の一
端にはX紬調節ネジ19が当接し、他端には遊動体20
が当接している。この遊動体20は、その一端が移動杆
17に設けられている窪みを中心にして三次元的に回転
可能になるようにスプリング(図示せず)にて支持され
ると共に、遊動体20の他端には窪みが設けられ該窪み
に試料ホルダ12の一端が当接されている。21はヨー
ク1の側壁から試料ホルダ12と交差するように、試料
の直下に配設される絞り装置である。
上記構成による試料移動について説明すると、先ずX軸
方向の試料移動は、xa+b調節ネジ19を回転させる
ことにより移動杆17が移動し、試料ホルダ12は遊動
体20により押圧されてX軸方向に移動する。このとき
ヨークl内は真空のため試料ホルダ12に大気圧が作用
し、試料ホルダ12の先端部は常に遊動体20に押付け
られながら移動する。
方向の試料移動は、xa+b調節ネジ19を回転させる
ことにより移動杆17が移動し、試料ホルダ12は遊動
体20により押圧されてX軸方向に移動する。このとき
ヨークl内は真空のため試料ホルダ12に大気圧が作用
し、試料ホルダ12の先端部は常に遊動体20に押付け
られながら移動する。
次にY軸又はZ軸方向の試料移動について説明すると、
z!+11調節ネジ13又はY軸調節ネジ15を回転さ
せると、試料ホルダ12は球体軸受11の回動に伴って
回動するが、試料ホルダ12の先端部は大気圧により常
に遊動体20に押付けられており、かつ、遊動体20は
移動杆17に設けられている窪みを中心にして三次元的
に回転可能に支持されているので、試料ホルダ12は球
体軸受11内を滑りながら回動し、試料ホルダ12の先
端部の描く軌跡は移動杆17に設けられている窪みを中
心にした円弧状となって、試料SがY軸又はZ軸方向へ
移動する。
z!+11調節ネジ13又はY軸調節ネジ15を回転さ
せると、試料ホルダ12は球体軸受11の回動に伴って
回動するが、試料ホルダ12の先端部は大気圧により常
に遊動体20に押付けられており、かつ、遊動体20は
移動杆17に設けられている窪みを中心にして三次元的
に回転可能に支持されているので、試料ホルダ12は球
体軸受11内を滑りながら回動し、試料ホルダ12の先
端部の描く軌跡は移動杆17に設けられている窪みを中
心にした円弧状となって、試料SがY軸又はZ軸方向へ
移動する。
次に試料の傾斜動作について説明すると、傾斜体10を
回転させると球体軸受11の回転に伴って試料ホルダ1
2が回転し試料Sを傾斜させることができ、かつ、傾斜
させたときに螢光板上で見ている試料の位置は動かない
というニーセントリンクの条件を満足させる運動を行う
。すなわち、第12図に示すように、Y軸、Z軸方向に
試料移動したのち傾斜体10を回転させるとき、傾斜体
lOの回転軸と試料ホルダ12の軸とが相違しているが
、大気圧により試料ホルダ12の先端部は常に遊動体2
0に押付けられ、かつ遊動体20は三次元的に回転可能
であるため、試料ホルダ12は傾斜体10の回転軸(X
軸)を中心にして回転する。このとき遊動体20が回転
してつくる平面はゴニオメータの軸(X軸)と直角とな
り、従って、試料移動したときのビームのある点が常に
傾斜のための回転の中心にあり、螢光板上で見ている試
料の位置は動かないことになる。
回転させると球体軸受11の回転に伴って試料ホルダ1
2が回転し試料Sを傾斜させることができ、かつ、傾斜
させたときに螢光板上で見ている試料の位置は動かない
というニーセントリンクの条件を満足させる運動を行う
。すなわち、第12図に示すように、Y軸、Z軸方向に
試料移動したのち傾斜体10を回転させるとき、傾斜体
lOの回転軸と試料ホルダ12の軸とが相違しているが
、大気圧により試料ホルダ12の先端部は常に遊動体2
0に押付けられ、かつ遊動体20は三次元的に回転可能
であるため、試料ホルダ12は傾斜体10の回転軸(X
軸)を中心にして回転する。このとき遊動体20が回転
してつくる平面はゴニオメータの軸(X軸)と直角とな
り、従って、試料移動したときのビームのある点が常に
傾斜のための回転の中心にあり、螢光板上で見ている試
料の位置は動かないことになる。
上記従来のサイドエントリータイプの電子顕微鏡におい
ては、分解能を向上させることと試料を大きく傾斜でき
ることが大きな課題とされている。
ては、分解能を向上させることと試料を大きく傾斜でき
ることが大きな課題とされている。
この分解能を向上させるためには対物レンズを構成する
上磁極片5、下磁極片6間のギャップを狭くする必要が
ある。しかし、上磁極片5、下磁極片6間には試料ホル
ダ12と絞り装置21が挿入されており、ギャップを狭
くする大きな障害となっている。すなわち、ギャップを
狭くするためには試料ホルダ12の試料保持部の厚みを
薄くする必要があるが、試料ホルダ12の先端は遊動体
20に当接されて大気圧の力が作用し、またX軸方向へ
移動するときに移動杆17により押圧力を受け、さらに
遊動体20の自重によるモーメントが作用している。従
って、試料保持部の厚みを薄くすると、試料保持部の剛
性、強度が弱くなり、試料を保持する部分及び遊動体2
0が不安定となってしまい、像がぼけて分解能を保障す
ることができなくなるという問題が生じる。
上磁極片5、下磁極片6間のギャップを狭くする必要が
ある。しかし、上磁極片5、下磁極片6間には試料ホル
ダ12と絞り装置21が挿入されており、ギャップを狭
くする大きな障害となっている。すなわち、ギャップを
狭くするためには試料ホルダ12の試料保持部の厚みを
薄くする必要があるが、試料ホルダ12の先端は遊動体
20に当接されて大気圧の力が作用し、またX軸方向へ
移動するときに移動杆17により押圧力を受け、さらに
遊動体20の自重によるモーメントが作用している。従
って、試料保持部の厚みを薄くすると、試料保持部の剛
性、強度が弱くなり、試料を保持する部分及び遊動体2
0が不安定となってしまい、像がぼけて分解能を保障す
ることができなくなるという問題が生じる。
また、上記従来の装置では、ニーセントリンクの条件を
満たすために、試料ホルダ12、遊動体20及移動杆1
7が同一軸上に配設されており、その結果、絞り装置2
1は該同一軸と交差する方向から挿入しなければならず
、第14図に示すように試料ホルダ12を傾斜させたと
きに、絞り装置21に当たってしまい傾斜角を大きくと
れないという問題を生じていた。この場合、傾斜角を大
きくするには、上磁極片5、下磁極片6間のギャップを
広くすればよいが、前記した分解能の向上の障害となっ
てしまうという互いに相反する問題も生じていた。
満たすために、試料ホルダ12、遊動体20及移動杆1
7が同一軸上に配設されており、その結果、絞り装置2
1は該同一軸と交差する方向から挿入しなければならず
、第14図に示すように試料ホルダ12を傾斜させたと
きに、絞り装置21に当たってしまい傾斜角を大きくと
れないという問題を生じていた。この場合、傾斜角を大
きくするには、上磁極片5、下磁極片6間のギャップを
広くすればよいが、前記した分解能の向上の障害となっ
てしまうという互いに相反する問題も生じていた。
本発明は上記問題点を解決するもので、試料保持部に大
気圧やユーセントリック機構による力が作用しなくなる
ようにすることにより、分解能を向上させると共に、試
料の傾斜角を大きくとれるようにすることを目的とする
。
気圧やユーセントリック機構による力が作用しなくなる
ようにすることにより、分解能を向上させると共に、試
料の傾斜角を大きくとれるようにすることを目的とする
。
そのために本発明の電子顕微鏡等の試料傾斜装置は、鏡
体の側壁に取付けられた光軸と直交するX軸を回転軸と
する傾斜体と、該傾斜体内にX軸と直交するY軸方向及
びZ軸方向に回動可能な球体軸受と、該球体軸受を貫通
して摺動自在に挿入される試料ホルダと、前記球体軸受
と光軸との間でかつ光軸と直角にY軸方向から挿入され
前記試料ホルダが貫通される駆動アームと、該駆動アー
ムと前記試料ホルダとを当接した状態で相対的に移動可
能にする当接手段とを備えたことを特徴とするもので、
さらには、試料ホルダと対向し、かつX軸と平行に絞り
装置を挿入配設することを特徴とするものである。
体の側壁に取付けられた光軸と直交するX軸を回転軸と
する傾斜体と、該傾斜体内にX軸と直交するY軸方向及
びZ軸方向に回動可能な球体軸受と、該球体軸受を貫通
して摺動自在に挿入される試料ホルダと、前記球体軸受
と光軸との間でかつ光軸と直角にY軸方向から挿入され
前記試料ホルダが貫通される駆動アームと、該駆動アー
ムと前記試料ホルダとを当接した状態で相対的に移動可
能にする当接手段とを備えたことを特徴とするもので、
さらには、試料ホルダと対向し、かつX軸と平行に絞り
装置を挿入配設することを特徴とするものである。
本発明の試料傾斜装置においては、試料ホルダの試料保
持部に大気圧やニーセントリンク機構による力が作用し
ない。
持部に大気圧やニーセントリンク機構による力が作用し
ない。
以下、図面を参照しつつ実施例を説明する。
第1図は本発明による試料傾斜装置の1実施例を示す縦
断面図、第2図は第1図のX軸断面図、第3図は要部斜
視図、第4図及び第5図は試料移動装置の作動状態を示
す図、第13図は試料傾斜時の傾斜角を説明するための
図である。
断面図、第2図は第1図のX軸断面図、第3図は要部斜
視図、第4図及び第5図は試料移動装置の作動状態を示
す図、第13図は試料傾斜時の傾斜角を説明するための
図である。
図中1はヨーク、2は励磁コイル、3はステージ、5は
上磁極片、6は下磁極片、7はスペーサ、9はベアリン
グ、10は傾斜体、11は球体軸受、12は試料ホルダ
、13はZ紬調節ネジ、15はY紬調節ネジ、21は絞
り装置、22は絶縁体、23は球面体、24はアーム支
持体、25は駆動アーム、26はピン、27はX!II
!調節ネジ、29はブツシュを示す。
上磁極片、6は下磁極片、7はスペーサ、9はベアリン
グ、10は傾斜体、11は球体軸受、12は試料ホルダ
、13はZ紬調節ネジ、15はY紬調節ネジ、21は絞
り装置、22は絶縁体、23は球面体、24はアーム支
持体、25は駆動アーム、26はピン、27はX!II
!調節ネジ、29はブツシュを示す。
第1図ないし第3図において、電子顕微鏡の鏡体内にヨ
ーク1、励磁コイル2及び上磁極片5、下磁極片6から
構成される対物レンズが配設され、上磁極片5、下磁極
片6との間のギャップはスペーサ7によって高精度に保
たれている。一方、前記対物レンズのヨーク1内の上方
にはステージ3が設置してあり、このステージにベアリ
ング9を介して筒状の傾斜体10が回転可能に取付けら
れており、該傾斜体10の回転中心は電子線光軸Zと直
交するようにおかれている。また、傾斜体IOの内側に
は球体軸受11を介して試料ホルダ12が摺動可能に挿
入されると共に、Z紬調節ネジ13及びY紬調節ネジ1
5によりZ方向及びY方向に回動可能に嵌合されている
。そして、試料ホルダ12の真空側端部には試料Sが載
置され、該試料Sが上磁極片5、下磁極片6との間隙内
でかつ光軸Zに望むように配設されると共に、試料ホル
ダ12の下部には、試料ホルダ12と対向しかつY軸と
平行に絞り装置21が挿入されている。
ーク1、励磁コイル2及び上磁極片5、下磁極片6から
構成される対物レンズが配設され、上磁極片5、下磁極
片6との間のギャップはスペーサ7によって高精度に保
たれている。一方、前記対物レンズのヨーク1内の上方
にはステージ3が設置してあり、このステージにベアリ
ング9を介して筒状の傾斜体10が回転可能に取付けら
れており、該傾斜体10の回転中心は電子線光軸Zと直
交するようにおかれている。また、傾斜体IOの内側に
は球体軸受11を介して試料ホルダ12が摺動可能に挿
入されると共に、Z紬調節ネジ13及びY紬調節ネジ1
5によりZ方向及びY方向に回動可能に嵌合されている
。そして、試料ホルダ12の真空側端部には試料Sが載
置され、該試料Sが上磁極片5、下磁極片6との間隙内
でかつ光軸Zに望むように配設されると共に、試料ホル
ダ12の下部には、試料ホルダ12と対向しかつY軸と
平行に絞り装置21が挿入されている。
このため、第13図に示すように試料ホルダ12を傾斜
させたとき、試料ホルダ12が絞り装置21に当たるま
での角度が大きくなり、傾斜角を大きくとることが可能
となっている。
させたとき、試料ホルダ12が絞り装置21に当たるま
での角度が大きくなり、傾斜角を大きくとることが可能
となっている。
さらに、球体軸受11の先端で試料ホルダ12の外周に
テーパー状の絶縁体22を固定し、傾斜体10より突出
させると共に、その外周に球面体23を固定し一体化さ
せている。一方、ヨーク1の側壁からY軸と直角にアー
ム支持体24が取付けられ、該アーム支持体24内に駆
動アニム25がピン26を中心にしてx 5III調節
ネジ27により回動可能に配設されている。駆動アーム
25の先端には円孔が設けられ、試料ホルダ12を円孔
に貫通させると同時に、該円孔の周囲で上下に2個のブ
ツシュ29.29が、Y軸と光軸とで形成される平面上
にあるようにかつその軸が球面体23の中心に向かうよ
うに固定され、そしてブツシュ29と球面体23とが当
接した状態で相対的に移動可能になるように配設されて
いる。
テーパー状の絶縁体22を固定し、傾斜体10より突出
させると共に、その外周に球面体23を固定し一体化さ
せている。一方、ヨーク1の側壁からY軸と直角にアー
ム支持体24が取付けられ、該アーム支持体24内に駆
動アニム25がピン26を中心にしてx 5III調節
ネジ27により回動可能に配設されている。駆動アーム
25の先端には円孔が設けられ、試料ホルダ12を円孔
に貫通させると同時に、該円孔の周囲で上下に2個のブ
ツシュ29.29が、Y軸と光軸とで形成される平面上
にあるようにかつその軸が球面体23の中心に向かうよ
うに固定され、そしてブツシュ29と球面体23とが当
接した状態で相対的に移動可能になるように配設されて
いる。
上記構成による試料移動について説明すると、先ず、X
軸方向の試料移動は、X紬調節ネジ27を1回転させる
ことにより駆動アーム25が回動すると、ブツシュ29
はピン26を中心にした円運動を行うが、このときブツ
シュ29と球面体23は相対的に滑りながら摺動するた
め、試料ホルダ12は球面体23を介してX軸方向に移
動する。
軸方向の試料移動は、X紬調節ネジ27を1回転させる
ことにより駆動アーム25が回動すると、ブツシュ29
はピン26を中心にした円運動を行うが、このときブツ
シュ29と球面体23は相対的に滑りながら摺動するた
め、試料ホルダ12は球面体23を介してX軸方向に移
動する。
このときヨーク1内は真空のため試料ホルダ12に大気
圧が作用しているが、この力は球面体23を介してブツ
シュ29で受けている。
圧が作用しているが、この力は球面体23を介してブツ
シュ29で受けている。
次に、Y軸又はX軸方向の試料移動について説明すると
、第4図はX軸移動はせずY軸移動のみをした場合、第
5図はX軸移動とY軸移動を共にした場合を示している
。Z紬調節ネジ13又はY紬調節ネジ15を回転させる
と、試料ホルダ12は球体軸受11の回動に伴って回動
するが、試料ホルダ12は大気圧により常に球面体23
を介してブツシュ29に押付けられているので、試料ホ
ルダ12は球体軸受ll内を滑りながら回動し、ブツシ
ュ29面上を球面体23がすべりながら回動し、試料S
がY軸又はX軸方向へ移動する。
、第4図はX軸移動はせずY軸移動のみをした場合、第
5図はX軸移動とY軸移動を共にした場合を示している
。Z紬調節ネジ13又はY紬調節ネジ15を回転させる
と、試料ホルダ12は球体軸受11の回動に伴って回動
するが、試料ホルダ12は大気圧により常に球面体23
を介してブツシュ29に押付けられているので、試料ホ
ルダ12は球体軸受ll内を滑りながら回動し、ブツシ
ュ29面上を球面体23がすべりながら回動し、試料S
がY軸又はX軸方向へ移動する。
次に、試料の傾斜動作について説明すると、傾斜体10
を回転させると球体軸受11の回転に伴って試料ホルダ
12が回転し試料Sを傾斜させることができ、かつ、傾
斜させたときに螢光板上で見ている試料の位置は動かな
いというニーセントリンクの条件を満足させる運動を行
う。すなわち、Y軸、X軸方向に試料移動したのち傾斜
体10を回転させるとき、傾斜体10の回転軸と試料ホ
ルダ12の軸とが相違しているが、ブツシュ29はX軸
方向に固定されているため、球面体23がブツシュ29
面上をすべりながら試料ホルダ12が回転する。このと
き、球面体23がすべりながら作る平面は、第12図に
示した場合と同様にゴニオメータの軸(Y軸)に直角と
なり、試料ホルダ12は傾斜体10の回転軸(Y軸)を
中心にして回転する。従って、試料移動したときのビー
ムのある点が常に傾斜のための回転の中心にあり、螢光
板上で見ている試料の位置は動かないことになる。
を回転させると球体軸受11の回転に伴って試料ホルダ
12が回転し試料Sを傾斜させることができ、かつ、傾
斜させたときに螢光板上で見ている試料の位置は動かな
いというニーセントリンクの条件を満足させる運動を行
う。すなわち、Y軸、X軸方向に試料移動したのち傾斜
体10を回転させるとき、傾斜体10の回転軸と試料ホ
ルダ12の軸とが相違しているが、ブツシュ29はX軸
方向に固定されているため、球面体23がブツシュ29
面上をすべりながら試料ホルダ12が回転する。このと
き、球面体23がすべりながら作る平面は、第12図に
示した場合と同様にゴニオメータの軸(Y軸)に直角と
なり、試料ホルダ12は傾斜体10の回転軸(Y軸)を
中心にして回転する。従って、試料移動したときのビー
ムのある点が常に傾斜のための回転の中心にあり、螢光
板上で見ている試料の位置は動かないことになる。
なお、上記実施例では駆動アーム25の上下に2個のブ
ツシュ29を固定したが1個だけでも前述したニーセン
トリンクの条件を満たすことは可能である。ただ、2個
のブツシュ29があれば、駆動アーム25が回動した時
に軸との誤差を少なくすることができるものである。ま
たブツシュに代えてボールを駆動アーム25に回転可能
に取付けても良い。この場合、ボールと球面体23との
相対的な移動は滑りではなくころがりとなる。
ツシュ29を固定したが1個だけでも前述したニーセン
トリンクの条件を満たすことは可能である。ただ、2個
のブツシュ29があれば、駆動アーム25が回動した時
に軸との誤差を少なくすることができるものである。ま
たブツシュに代えてボールを駆動アーム25に回転可能
に取付けても良い。この場合、ボールと球面体23との
相対的な移動は滑りではなくころがりとなる。
以上の説明ではニーセントリンクを前提として説明した
が、ユーセントリックの条件を満たさない下記の実施例
もとり得る。
が、ユーセントリックの条件を満たさない下記の実施例
もとり得る。
第6図は本発明の他の実施例を示す縦断面図で、駆動ア
ーム25上にベアリング30を介して回転可能な滑り体
31を配設し、該滑り体31に設けたテーパ一部32を
試料ホルダ12の外周に取付けた球面体23に当接させ
ている。このようになせば、試料ホルダ12が首振りを
したときに球面体23が滑り体31上をすべり、かつ、
滑り体31はベアリング30により回転しながら逃げる
ので、X、Y方向の移動及び傾斜をスムーズに行わせる
ことができる。
ーム25上にベアリング30を介して回転可能な滑り体
31を配設し、該滑り体31に設けたテーパ一部32を
試料ホルダ12の外周に取付けた球面体23に当接させ
ている。このようになせば、試料ホルダ12が首振りを
したときに球面体23が滑り体31上をすべり、かつ、
滑り体31はベアリング30により回転しながら逃げる
ので、X、Y方向の移動及び傾斜をスムーズに行わせる
ことができる。
第7図は本発明の更に他の実施例を示す斜視図で、駆動
アーム25の試料ホルダ12の貫通部分に2つの傾斜軸
33.34を介して揺動体35を回動可能に取付け、こ
の揺動体に試料ホルダ12を貫通させる円孔を形成する
と共に、この円孔の周囲の上下に2個のブツシュ29を
固定するか、あるいはボールを回転可能に取付けたもの
である。
アーム25の試料ホルダ12の貫通部分に2つの傾斜軸
33.34を介して揺動体35を回動可能に取付け、こ
の揺動体に試料ホルダ12を貫通させる円孔を形成する
と共に、この円孔の周囲の上下に2個のブツシュ29を
固定するか、あるいはボールを回転可能に取付けたもの
である。
前記傾斜軸33.34はその軸心がY軸と平行になるよ
うに置かれている。このようになせば揺動体35が傾斜
軸33.34を中心にして回動するので、常に2個のブ
ツシュ29が球面体23と当接するため、安定した試料
の動きを得ることができる。
うに置かれている。このようになせば揺動体35が傾斜
軸33.34を中心にして回動するので、常に2個のブ
ツシュ29が球面体23と当接するため、安定した試料
の動きを得ることができる。
第8図及び第9図は本発明の更に他の実施例を示す側面
図及び縦断面図で、第6図で示す駆動アーム25にベア
リング30を介して回転可能に配設した滑り体31の中
心部に、ジンバル機構36を介して支持台37をY軸と
光軸Zとで形成される平面内で傾動可能に支持し、この
支持台37にテーパー状の試料ホルダ12の受け部38
を形成する。また、試料ホルダ12にはこの受け部38
のテーパーに対応するテーパーを有する段部39が形成
しである。
図及び縦断面図で、第6図で示す駆動アーム25にベア
リング30を介して回転可能に配設した滑り体31の中
心部に、ジンバル機構36を介して支持台37をY軸と
光軸Zとで形成される平面内で傾動可能に支持し、この
支持台37にテーパー状の試料ホルダ12の受け部38
を形成する。また、試料ホルダ12にはこの受け部38
のテーパーに対応するテーパーを有する段部39が形成
しである。
このようになせば、ジンバル機構36を介して支持台3
6が試料ホルダ12のX、 Y、 Z方向の移動に応
じて傾動し、また、滑り体31がベアリング30により
回転しながら逃げるため、第1図で示す球面体23及び
ブツシュ29を用いることなく試料をx、y、z方向に
移動させることができると共に、傾斜を行わせることが
できる。
6が試料ホルダ12のX、 Y、 Z方向の移動に応
じて傾動し、また、滑り体31がベアリング30により
回転しながら逃げるため、第1図で示す球面体23及び
ブツシュ29を用いることなく試料をx、y、z方向に
移動させることができると共に、傾斜を行わせることが
できる。
以上の説明から明らかなように、本発明によれば、従来
のように試料ホルダ12の試料保持部にないので、試料
ホルダ12の形状、厚さを自由にすることが可能となり
、上下の磁極片間のギャップを狭くすることができ、分
解能を向上させることができる。
のように試料ホルダ12の試料保持部にないので、試料
ホルダ12の形状、厚さを自由にすることが可能となり
、上下の磁極片間のギャップを狭くすることができ、分
解能を向上させることができる。
また、試料ホルダ12の先端は従来のようにニーセント
リンク機構が無く、自由な空間となっているので、ヨー
ク1の側壁から試料ホルダ12に対向するように、絞り
装置を挿入配設することが可能となり、試料の傾斜角を
大きくすることができる。
リンク機構が無く、自由な空間となっているので、ヨー
ク1の側壁から試料ホルダ12に対向するように、絞り
装置を挿入配設することが可能となり、試料の傾斜角を
大きくすることができる。
第1図は本発明による試料傾斜装置の1実施例を示す縦
断面図、第2図は第1図のX軸断面図、第3図は第1図
及び第2図の要部斜視図、第4図及び第5図は試料移動
装置の作動状態を示す図、第6図は本発明の他の実施例
を示す断面図、第7図は本発明の他の実施例を示す斜視
図、第812Iは本発明の更に他の実施例を示す斜視図
、第9図は第8図のAA断面図、第1O図は従来の試料
傾斜’471 ;C−5÷t Vitltli而rff
l 面 74 1 + F If M I
n Pの’I a市断面図、第12図はニーセントリ
ンクの条件を説明するための図、第13図及び第14図
は試料傾斜時の傾斜角を説明するための図である。。 l・・・ヨーク、2・・・励磁コイル、3・・・ステー
ジ、5・・・上磁極片、6・・・下磁極片、7・・・ス
ペーサ、9・・・ベアリング、10・・・傾斜体、11
・・・球体軸受、12・・・試料ホルダ、13・・・Z
紬調節ネジ、15・・・Y紬調節ネジ、16・・・保持
体、17・・・移動杆、19・・・X@調節ネジ、20
・・・遊動体、21・・・絞り装置、22・・・絶縁体
、23・・・球面体、24・・・アーム支持体、25・
・・駆動アーム、26・・・ピン、27・・・X紬調節
ネジ、29・・・ブツシュ、30・・・ベアリング、3
1・・・滑り体、32・・・テーパ一部、33.34・
・・傾斜軸、35・・・揺動体、36・・・ジンバル機
構、37・・・支持台、38・・・受け部、39・・・
段部。 出 願 人 日本電子株式会社 代理人弁理士 白 井 博 樹(外2名)第5図 第G図 第8図 ―A 第7図 第11図 第13図 第11f−図
断面図、第2図は第1図のX軸断面図、第3図は第1図
及び第2図の要部斜視図、第4図及び第5図は試料移動
装置の作動状態を示す図、第6図は本発明の他の実施例
を示す断面図、第7図は本発明の他の実施例を示す斜視
図、第812Iは本発明の更に他の実施例を示す斜視図
、第9図は第8図のAA断面図、第1O図は従来の試料
傾斜’471 ;C−5÷t Vitltli而rff
l 面 74 1 + F If M I
n Pの’I a市断面図、第12図はニーセントリ
ンクの条件を説明するための図、第13図及び第14図
は試料傾斜時の傾斜角を説明するための図である。。 l・・・ヨーク、2・・・励磁コイル、3・・・ステー
ジ、5・・・上磁極片、6・・・下磁極片、7・・・ス
ペーサ、9・・・ベアリング、10・・・傾斜体、11
・・・球体軸受、12・・・試料ホルダ、13・・・Z
紬調節ネジ、15・・・Y紬調節ネジ、16・・・保持
体、17・・・移動杆、19・・・X@調節ネジ、20
・・・遊動体、21・・・絞り装置、22・・・絶縁体
、23・・・球面体、24・・・アーム支持体、25・
・・駆動アーム、26・・・ピン、27・・・X紬調節
ネジ、29・・・ブツシュ、30・・・ベアリング、3
1・・・滑り体、32・・・テーパ一部、33.34・
・・傾斜軸、35・・・揺動体、36・・・ジンバル機
構、37・・・支持台、38・・・受け部、39・・・
段部。 出 願 人 日本電子株式会社 代理人弁理士 白 井 博 樹(外2名)第5図 第G図 第8図 ―A 第7図 第11図 第13図 第11f−図
Claims (5)
- (1)鏡体の側壁に取付けられた光軸と直交するX軸を
回転軸とする傾斜体と、該傾斜体内にX軸と直交するY
軸方向及びZ軸方向に回動可能な球体軸受と、該球体軸
受を貫通して摺動自在に挿入される試料ホルダと、前記
球体軸受と光軸との間でかつ光軸と直角にY軸方向から
挿入され前記試料ホルダが貫通される駆動アームと、該
駆動アームと前記試料ホルダとを当接した状態で相対的
に移動可能にする当接手段とを備えたことを特徴とする
電子顕微鏡等の試料傾斜装置。 - (2)前記駆動アームと前記試料ホルダとを当接した状
態で相対的に移動可能にする当接手段は、前記試料ホル
ダの外周に一体に取付けられ前記球体軸受の先端に嵌合
される球面体と、該球面体に当接し駆動アームに設けら
れた少なくとも1個のブッシュあるいはボールとからな
ることを特徴とする特許請求の範囲第1項記載の電子顕
微鏡等の試料傾斜装置。 - (3)前記駆動アームと前記試料ホルダとを当接した状
態で相対的に移動可能にする当接手段は、前記試料ホル
ダの外周に取付けられた球面体と、該球面体と回動可能
に当接し、かつ駆動アームにベアリングを介して回転可
能に取付けられた滑り体とからなることを特徴とする特
許請求の範囲第1項記載の電子顕微鏡等の試料傾斜装置
。 - (4)前記駆動アームと前記試料ホルダとを当接した状
態で相対的に移動可能にする当接手段は、駆動アームに
ベアリングを介して回転可能に取付けられた滑り体と、
該滑り体にジンバル機構を介して傾動可能に支持され、
かつ前記試料ホルダの受け部を有した支持台とからなる
ことを特徴とする特許請求の範囲第1項記載の電子顕微
鏡等の試料傾斜装置。 - (5)鏡体の側壁に取付けられた光軸と直交するX軸を
回転軸とする傾斜体と、該傾斜体内にX軸と直交するY
軸方向及びZ軸方向に回動可能な球体軸受と、該球体軸
受を貫通して摺動自在に挿入される試料ホルダと、前記
球体軸受と光軸との間でかつ光軸と直角にY軸方向から
挿入され前記試料ホルダが貫通される駆動アームと、該
駆動アームと前記試料ホルダとを当接した状態で相対的
に移動可能にする当接手段とを備えた試料傾斜装置にお
いて、前記試料ホルダと対向し、かつX軸と平行に絞り
装置を挿入配設することを特徴とする電子顕微鏡等の試
料傾斜装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60277686A JPS62136744A (ja) | 1985-12-10 | 1985-12-10 | 電子顕微鏡等の試料傾斜装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60277686A JPS62136744A (ja) | 1985-12-10 | 1985-12-10 | 電子顕微鏡等の試料傾斜装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS62136744A true JPS62136744A (ja) | 1987-06-19 |
| JPH0317345B2 JPH0317345B2 (ja) | 1991-03-07 |
Family
ID=17586889
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP60277686A Granted JPS62136744A (ja) | 1985-12-10 | 1985-12-10 | 電子顕微鏡等の試料傾斜装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS62136744A (ja) |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS515952A (ja) * | 1974-07-03 | 1976-01-19 | Hitachi Ltd | |
| JPS5158062A (en) * | 1974-11-15 | 1976-05-21 | Hitachi Ltd | Denshikenbikyo niokeru shiryokeishasochi |
-
1985
- 1985-12-10 JP JP60277686A patent/JPS62136744A/ja active Granted
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS515952A (ja) * | 1974-07-03 | 1976-01-19 | Hitachi Ltd | |
| JPS5158062A (en) * | 1974-11-15 | 1976-05-21 | Hitachi Ltd | Denshikenbikyo niokeru shiryokeishasochi |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0317345B2 (ja) | 1991-03-07 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US4587431A (en) | Specimen manipulating mechanism for charged-particle beam instrument | |
| US4771178A (en) | Goniometer stage | |
| JP3133307B2 (ja) | 電子顕微鏡 | |
| JP2004506529A (ja) | 構成部材を多軸的に精密調整可能に支承するための装置 | |
| US20100170015A1 (en) | Scanning probe microscope capable of measuring samples having overhang structure | |
| JPS62136744A (ja) | 電子顕微鏡等の試料傾斜装置 | |
| JP2001338599A (ja) | 荷電粒子線装置 | |
| US4405865A (en) | Device for adjusting the position and the orientation around an axis of a sample holder for an electron microscope | |
| US20030058993A1 (en) | Positioning mechanism providing precision 2-axis rotation, 1-axis translation adjustment | |
| JPH0234147B2 (ja) | ||
| JPH063718B2 (ja) | 電子顕微鏡等の絞り装置 | |
| JP2001312989A (ja) | 電子顕微鏡用試料ステージ | |
| JPH04308638A (ja) | 電子顕微鏡用試料駆動装置 | |
| JP5927235B2 (ja) | 試料ホルダー | |
| JP2539541B2 (ja) | 電子顕微鏡試料傾斜装置 | |
| JP3702685B2 (ja) | 荷電粒子線装置 | |
| JPS62136743A (ja) | 電子顕微鏡等の絞り装置 | |
| JP2009081080A (ja) | 荷電粒子線装置におけるユーセントリック試料ホールダ | |
| CN116018664B (zh) | 操控台的倾斜元件 | |
| JPH0326478Y2 (ja) | ||
| JPS6244452Y2 (ja) | ||
| JPS6244454Y2 (ja) | ||
| JP2001256912A (ja) | 試料ホルダおよびそれが使用された試料移動装置並びに電子顕微鏡 | |
| JPS6244451Y2 (ja) | ||
| JPS6244453Y2 (ja) |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| EXPY | Cancellation because of completion of term |