JPS6215719A - 温度ヒユ−ズ - Google Patents
温度ヒユ−ズInfo
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- JPS6215719A JPS6215719A JP15351185A JP15351185A JPS6215719A JP S6215719 A JPS6215719 A JP S6215719A JP 15351185 A JP15351185 A JP 15351185A JP 15351185 A JP15351185 A JP 15351185A JP S6215719 A JPS6215719 A JP S6215719A
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- Japan
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- temperature
- phase transition
- ferroelectric material
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- pbtio3
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Landscapes
- Fuses (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、半導体製造装置に用いられるヒータ一部の過
熱防止機構に関する。
熱防止機構に関する。
従来、温度・ヒユーズは所望の温度で融解する金属を使
用し、これをヒータ一部等、周囲温度が高い部分の電気
配線に使用していた。
用し、これをヒータ一部等、周囲温度が高い部分の電気
配線に使用していた。
すなわち温度調節器、熱電対の故障によシ、ヒータ一部
の温度が上昇し、温度ヒ=−ズの融点に達すると、ヒユ
ーズが溶けて電気配線が断線が断線状態となる為、ヒー
ターへの電力供給が止まシ過熱がくい止められる。
の温度が上昇し、温度ヒ=−ズの融点に達すると、ヒユ
ーズが溶けて電気配線が断線が断線状態となる為、ヒー
ターへの電力供給が止まシ過熱がくい止められる。
上述した従来の温度ヒユーズは、金属の融点を利用した
ものである為、過熱スピードの度合によって、溶は始め
てから断線状態に至る迄の時間が変化してしまうという
欠点があった。
ものである為、過熱スピードの度合によって、溶は始め
てから断線状態に至る迄の時間が変化してしまうという
欠点があった。
さらに大電力用のヒーターではヒユーズ自身の寸法も大
きくなる為、ヒユーズが切れるのに時間がかかつてしま
うので、オーバーシュートによる温度上昇がさけられな
かりた。
きくなる為、ヒユーズが切れるのに時間がかかつてしま
うので、オーバーシュートによる温度上昇がさけられな
かりた。
また、金属の溶解に伴い金属の蒸発も考えられるので、
人体にも有害である。温度ヒユーズの設置場所に制限が
ある。当該装置によっては蒸発金属が装置自体に悪影響
を及ばず等の問題があった。
人体にも有害である。温度ヒユーズの設置場所に制限が
ある。当該装置によっては蒸発金属が装置自体に悪影響
を及ばず等の問題があった。
本発明の温度ヒユーズは、強誘電体の表面に導体膜を付
け、さらに強誘電体自身に適度の応力を加える構造を有
している。
け、さらに強誘電体自身に適度の応力を加える構造を有
している。
強誘電体は温度による相転位点(キーリ一点)を有し、
相転位点よシ高い温度では対称中心を持つ結晶構造をと
シ、逆に相転位点よシ低い温度では対称中心をもたない
結晶構造をとる。過熱によシ温度ヒ、ユーズ周囲の温度
が相転位点に達すると、強誘電体自身の結晶構造は不安
定となる。あらかじめ、この強誘電体に適度の応力を刃
口えておけば、相転位点にて強誘電体は砕けてしまう。
相転位点よシ高い温度では対称中心を持つ結晶構造をと
シ、逆に相転位点よシ低い温度では対称中心をもたない
結晶構造をとる。過熱によシ温度ヒ、ユーズ周囲の温度
が相転位点に達すると、強誘電体自身の結晶構造は不安
定となる。あらかじめ、この強誘電体に適度の応力を刃
口えておけば、相転位点にて強誘電体は砕けてしまう。
それに伴い、強誘電体表面の導体膜もこわれるので、電
気配線は相転位点に達するとすぐに断線する。
気配線は相転位点に達するとすぐに断線する。
現在知られている強誘電体は数百棟頌あ)、その相転位
点は最高1200℃はどである。また強誘電体の陽イオ
ンを他の陽イオ/で置換したシ、ストイキオメトリ−か
ら組取をズラすことにより、任意の相転位点をもつ強誘
電体が得られるので、任意の温度ヒユーズをつくる事が
可能である。
点は最高1200℃はどである。また強誘電体の陽イオ
ンを他の陽イオ/で置換したシ、ストイキオメトリ−か
ら組取をズラすことにより、任意の相転位点をもつ強誘
電体が得られるので、任意の温度ヒユーズをつくる事が
可能である。
また、強誘電体の融点は、低いものでも1300℃以上
であシ、相転位温度よシも通常約800℃以上高い為、
温度ヒーーズとして用いた際、ヒユーズの断線する温度
において(相転位温度)、強誘電体からの物質の蒸発は
皆無であシ、人体にも安全であるので温度ヒーーズの設
置場所の制限も少なく、金属の蒸発によって装置に与え
る影響も皆無となる。
であシ、相転位温度よシも通常約800℃以上高い為、
温度ヒーーズとして用いた際、ヒユーズの断線する温度
において(相転位温度)、強誘電体からの物質の蒸発は
皆無であシ、人体にも安全であるので温度ヒーーズの設
置場所の制限も少なく、金属の蒸発によって装置に与え
る影響も皆無となる。
本発明の実施例を図を用いて説明する。
図1は実施例の斜視図である。1は強誘電体の一つであ
るPbTiO3系セラミックスである。PbTiO3は
ペロプスカイト形強誘電体の中で最も結晶異方性が大き
く、相転位点近傍では特に結晶結合力が弱く、ちょっと
した振動などによっても分解してしまう。その為実用上
は扁等の不純物を添加して、適度に結合力を持たせる。
るPbTiO3系セラミックスである。PbTiO3は
ペロプスカイト形強誘電体の中で最も結晶異方性が大き
く、相転位点近傍では特に結晶結合力が弱く、ちょっと
した振動などによっても分解してしまう。その為実用上
は扁等の不純物を添加して、適度に結合力を持たせる。
PbTiO3の焼成温度は、1300℃程度である。−
万、PbTiO3の相転位点は495℃であシ、この温
度以上では立方晶、以下で正方晶の結晶構造をとる。
万、PbTiO3の相転位点は495℃であシ、この温
度以上では立方晶、以下で正方晶の結晶構造をとる。
PbTiO3系セラミックス強誘電体の表面には2の導
体膜が付けである。導体膜は、銀パラジウム等の焼き付
は導電膜や、スパッタリングによる膜付は等いづれの方
法によりても可能であるが、相転位点よシも融点が高い
金属を選ぶ必要がある。
体膜が付けである。導体膜は、銀パラジウム等の焼き付
は導電膜や、スパッタリングによる膜付は等いづれの方
法によりても可能であるが、相転位点よシも融点が高い
金属を選ぶ必要がある。
1のPbTiO3系セラミックス強誘電体と3の絶縁物
は、4のコロをはさんで対向しておシ、両端面を5のカ
スガイではさみ込まれている。
は、4のコロをはさんで対向しておシ、両端面を5のカ
スガイではさみ込まれている。
3の絶縁物はPbTiO3の相転位点以下で溶解しない
物質を選ぶ必要があシ、実用上はアルミナ等を用いれば
よいが、PbTiO3系セラミックを用いてもさしつか
えない。4のコロは応力を与える目的で使用しているの
で、相転位温度付近で剛性を有している材料ならば、何
でもよい。
物質を選ぶ必要があシ、実用上はアルミナ等を用いれば
よいが、PbTiO3系セラミックを用いてもさしつか
えない。4のコロは応力を与える目的で使用しているの
で、相転位温度付近で剛性を有している材料ならば、何
でもよい。
5のカスガイには6の端子がとシつけられておシ、端子
と端子の間は、5のカスガイ、2の導体膜を通して導通
がとられている。1のPbT iO,系セラミックス強
誘電体は、4のコロ及び5のカスガイによって適度な応
力が加えられている。
と端子の間は、5のカスガイ、2の導体膜を通して導通
がとられている。1のPbT iO,系セラミックス強
誘電体は、4のコロ及び5のカスガイによって適度な応
力が加えられている。
相転位点に達すると、1のPbT i 03系セラミッ
クス強誘電体は、4のコロ、5のカスガイによる応力に
よシ砕け、同時に2の導体膜もこわれ、6 。
クス強誘電体は、4のコロ、5のカスガイによる応力に
よシ砕け、同時に2の導体膜もこわれ、6 。
の端子間の導通が切れて断線することを利用して、例え
ばヒータ一部等への電力供給を瞬時に遮断することがで
きる。
ばヒータ一部等への電力供給を瞬時に遮断することがで
きる。
PbTiO3O焼成温度は1300’C程度であ、9.
Pb等の蒸発も1000℃以上にならないと起こらない
ので、相転位温度でヒーーズとして使用する場合人体に
は悪影響は及ぼさない。
Pb等の蒸発も1000℃以上にならないと起こらない
ので、相転位温度でヒーーズとして使用する場合人体に
は悪影響は及ぼさない。
尚ここで記述したのはあくまで実施例の一つであシ、こ
れによシ、本発明に制限を加えるものではない。
れによシ、本発明に制限を加えるものではない。
以上説明したように、本発明の温度ヒユーズでは、強誘
電体の相転位と物理的応力とを組み合わせる事によシ、
相転位点温度ですぐに断線し、これによシミ力供給を瞬
時に遮断でき、かつ人体や装置に悪影響を与える有害物
質の蒸発がなく、設置場所の制約を受けることが少ない
という効果がある。
電体の相転位と物理的応力とを組み合わせる事によシ、
相転位点温度ですぐに断線し、これによシミ力供給を瞬
時に遮断でき、かつ人体や装置に悪影響を与える有害物
質の蒸発がなく、設置場所の制約を受けることが少ない
という効果がある。
第1図は本発明の実施例の斜視図である。
1、・・PbTiO3系セラミックス強誘電体、2・・
・導体膜、3・・・絶縁物、4・・・コロ、5・・・カ
スガイ、6・・・端子 代理人 弁理士 同 原 音 6 奏 / 図
・導体膜、3・・・絶縁物、4・・・コロ、5・・・カ
スガイ、6・・・端子 代理人 弁理士 同 原 音 6 奏 / 図
Claims (1)
- 導体の薄膜を表面に有する強誘電体の、導体部分を介し
て電気配線同士を接続し、さらに強誘電体に適度の応力
を加える構造を有することを特徴とする温度ヒューズ。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15351185A JPS6215719A (ja) | 1985-07-11 | 1985-07-11 | 温度ヒユ−ズ |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15351185A JPS6215719A (ja) | 1985-07-11 | 1985-07-11 | 温度ヒユ−ズ |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6215719A true JPS6215719A (ja) | 1987-01-24 |
Family
ID=15564139
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP15351185A Pending JPS6215719A (ja) | 1985-07-11 | 1985-07-11 | 温度ヒユ−ズ |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6215719A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH02149827U (ja) * | 1989-05-22 | 1990-12-21 |
-
1985
- 1985-07-11 JP JP15351185A patent/JPS6215719A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH02149827U (ja) * | 1989-05-22 | 1990-12-21 |
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