JPS6216221A - 薄膜磁気ヘツドの製造方法 - Google Patents
薄膜磁気ヘツドの製造方法Info
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- JPS6216221A JPS6216221A JP15624685A JP15624685A JPS6216221A JP S6216221 A JPS6216221 A JP S6216221A JP 15624685 A JP15624685 A JP 15624685A JP 15624685 A JP15624685 A JP 15624685A JP S6216221 A JPS6216221 A JP S6216221A
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- insulating layer
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- etching
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- Pending
Links
- 239000010409 thin film Substances 0.000 title claims description 11
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 title claims description 8
- 238000005530 etching Methods 0.000 claims abstract description 21
- 229920002120 photoresistant polymer Polymers 0.000 claims abstract description 21
- 239000010408 film Substances 0.000 claims description 18
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 4
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 4
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 claims 3
- 238000010884 ion-beam technique Methods 0.000 abstract description 4
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 abstract description 3
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 description 2
- 238000000576 coating method Methods 0.000 description 2
- 229910010272 inorganic material Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000011147 inorganic material Substances 0.000 description 2
- 238000009413 insulation Methods 0.000 description 2
- 239000011368 organic material Substances 0.000 description 2
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 2
- 229910018499 Ni—F Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000008878 coupling Effects 0.000 description 1
- 238000010168 coupling process Methods 0.000 description 1
- 238000005859 coupling reaction Methods 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 1
- 238000000206 photolithography Methods 0.000 description 1
- 229920001721 polyimide Polymers 0.000 description 1
- 239000009719 polyimide resin Substances 0.000 description 1
- 239000002904 solvent Substances 0.000 description 1
- 238000004544 sputter deposition Methods 0.000 description 1
- 238000007740 vapor deposition Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Magnetic Heads (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(産業上の利用分野)
本発明は薄膜磁気ヘッドの製造方法に関する。
(従来の技術)
従来用いられている薄膜磁気ヘッドの製造工程を第2図
(a)〜(j)に示す。
(a)〜(j)に示す。
第一に非磁性基板l上に例えば頌−公からなる下部磁性
層2を成膜し、必要ならばこれをフォトリソグラフィー
技術などによりエツチングを行なう(第2図(a))。
層2を成膜し、必要ならばこれをフォトリソグラフィー
技術などによりエツチングを行なう(第2図(a))。
第二に磁気ギヤツブ長相当厚の例えばSiO,からなる
第1の絶縁層3を成膜する(第2図(b))。
第1の絶縁層3を成膜する(第2図(b))。
第三に例えばhlからなるコイルとなる導電層4を成膜
する(第21図(C))。
する(第21図(C))。
第四に該導電層4を所定パターンにエツチングして形成
する(第2図(d))。
する(第2図(d))。
第五に導電層4と後述する例えばN1−pbからなる上
部磁17!f7.との絶縁のために例えば5jOtから
なる第2の絶縁層5を導電層4上に成膜する(第2図(
e))。
部磁17!f7.との絶縁のために例えば5jOtから
なる第2の絶縁層5を導電層4上に成膜する(第2図(
e))。
第六に後述する下部磁性層7の段差部での断線あるいは
後述する上部磁性層7と下部磁性層2との結合の悪さを
回避するために第2の絶縁層5の所定の端部にテーパエ
ツチングによりテーパ部5Cを形成する(第2図(f)
)。
後述する上部磁性層7と下部磁性層2との結合の悪さを
回避するために第2の絶縁層5の所定の端部にテーパエ
ツチングによりテーパ部5Cを形成する(第2図(f)
)。
第七に後述する上部磁性層7と下部磁性層2との連結部
にある第1の絶縁層3の一方の端部蕊をエツチングによ
り除去する(第2図(g))。
にある第1の絶縁層3の一方の端部蕊をエツチングによ
り除去する(第2図(g))。
第八に第2の絶縁層5上にフォトレジストを塗布し、フ
ォトレジスト被膜6を形成し、これを熱処理によりフォ
トレジスト被膜6の外形を第2の絶縁層5のテーパ部5
cに沿ってなだらかに形成する(第2図(h))。
ォトレジスト被膜6を形成し、これを熱処理によりフォ
トレジスト被膜6の外形を第2の絶縁層5のテーパ部5
cに沿ってなだらかに形成する(第2図(h))。
第九にフォトレジスト被膜6と第2の絶縁層5のエツチ
ング速度が等しくなるような条件でイオンビームエツチ
ングを行ない、第2の絶縁層5のテーパ部5cがフォト
レジスト被膜6のなだらかな外形に沿った第2の絶縁層
5のエツチング形状を1 得る(第2図(i)
)・ 第十に第2の絶縁層5上に上部磁性層7を所定パターン
に成膜・エッチングして形成し薄膜磁気ヘッドが完成す
る(第2図(j))。
ング速度が等しくなるような条件でイオンビームエツチ
ングを行ない、第2の絶縁層5のテーパ部5cがフォト
レジスト被膜6のなだらかな外形に沿った第2の絶縁層
5のエツチング形状を1 得る(第2図(i)
)・ 第十に第2の絶縁層5上に上部磁性層7を所定パターン
に成膜・エッチングして形成し薄膜磁気ヘッドが完成す
る(第2図(j))。
(発明が解決しようとする問題点)
しかしながら、上記の従来例ではフォトレジスト被膜6
を形成する以前に第2の絶縁層5の端部にテーパ部5c
を付けているので、このテーノ(エツチングの工程、と
りわけテーパ部5Cの角度の精度管理が難しく、一様な
テーパ形状を得にくいたへ所定の形状・寸法の上部磁性
層が形成されず、磁気特性のばらつきの少ない安定な薄
膜磁気ヘッドが得られにくいという欠点があった。
を形成する以前に第2の絶縁層5の端部にテーパ部5c
を付けているので、このテーノ(エツチングの工程、と
りわけテーパ部5Cの角度の精度管理が難しく、一様な
テーパ形状を得にくいたへ所定の形状・寸法の上部磁性
層が形成されず、磁気特性のばらつきの少ない安定な薄
膜磁気ヘッドが得られにくいという欠点があった。
(発明の目的)
本発明は上記欠点に鑑みなされたもので、第2の絶縁層
へのテーパエツチングの工程を経ずに、上部磁性層下の
絶縁層の形状を精度よくなだらかに形成することを目的
とする。
へのテーパエツチングの工程を経ずに、上部磁性層下の
絶縁層の形状を精度よくなだらかに形成することを目的
とする。
(実施例)
上記目的を達成するための実施例を以下図面に基づいて
説明する。その製造工程を第1図(al〜(i)に示す
。
説明する。その製造工程を第1図(al〜(i)に示す
。
第一の工程(第1図(a))から第四の工程(第1図(
d))までは従来例(第2図(a)〜(d))と同一で
ある。
d))までは従来例(第2図(a)〜(d))と同一で
ある。
そして、第五に下部磁性層2と後述する例えばNi−F
eからなる上部磁性層7との連結を可能にするために、
その連結部となる第1の絶縁層3の一方の端部3aをエ
ツチングにより除去する(第1図(e))。
eからなる上部磁性層7との連結を可能にするために、
その連結部となる第1の絶縁層3の一方の端部3aをエ
ツチングにより除去する(第1図(e))。
第六に導電層4上に該導電層4と後述する上部磁性層7
との絶縁のための例えばSin、からなる第2の絶縁層
5を成膜する(第1図(f))。
との絶縁のための例えばSin、からなる第2の絶縁層
5を成膜する(第1図(f))。
第七に第2の絶縁層5上にフォトレジストを塗布し、フ
ォトレジスト被膜6を形成し、これを熱処理によりフォ
トレジスト被膜6の端部6aをなだらかな丸みを帯びた
形状にし、ポストベーキングによりフォトレジスト中の
溶剤を押し出し焼き固める。この熱処理のとき、第2の
絶縁層5にはテーパを付けていないので、従来例のよう
に上部磁性層下の絶縁層のテーパ形状に沿ったフォトレ
ジスト被膜の塗布状態ではなく、第2の絶縁層5の端部
5a上でのみなだらかな丸みを帯びた形状となる(第1
図(g))。
ォトレジスト被膜6を形成し、これを熱処理によりフォ
トレジスト被膜6の端部6aをなだらかな丸みを帯びた
形状にし、ポストベーキングによりフォトレジスト中の
溶剤を押し出し焼き固める。この熱処理のとき、第2の
絶縁層5にはテーパを付けていないので、従来例のよう
に上部磁性層下の絶縁層のテーパ形状に沿ったフォトレ
ジスト被膜の塗布状態ではなく、第2の絶縁層5の端部
5a上でのみなだらかな丸みを帯びた形状となる(第1
図(g))。
第八にフォトレジスト被膜6と第2の絶縁層5とのエツ
チング速度が等しくなるような条件でイオンビームエツ
チングを行なうことにより、フォトレジスト被膜6を含
む第2の絶縁層5の全面を徐々に除去し、フォトレジス
ト被膜6が除去された後の第2の絶縁層5の形状がエツ
チング前のフォトレジスト被膜6の形状と略同−にする
(第1図(h))。尚、ここで用いる第2の絶縁層5の
材料は有機物質、無機物質のいずれでも使用可能である
。第2の絶縁層5が例えばポリイミド樹脂等からなる有
機物質の場合はその有機物質を塗布し、例えばstow
あるいはA&0.からなる無機物質の場合はその無機物
質をスパッタまたは蒸着により成膜する。
チング速度が等しくなるような条件でイオンビームエツ
チングを行なうことにより、フォトレジスト被膜6を含
む第2の絶縁層5の全面を徐々に除去し、フォトレジス
ト被膜6が除去された後の第2の絶縁層5の形状がエツ
チング前のフォトレジスト被膜6の形状と略同−にする
(第1図(h))。尚、ここで用いる第2の絶縁層5の
材料は有機物質、無機物質のいずれでも使用可能である
。第2の絶縁層5が例えばポリイミド樹脂等からなる有
機物質の場合はその有機物質を塗布し、例えばstow
あるいはA&0.からなる無機物質の場合はその無機物
質をスパッタまたは蒸着により成膜する。
第九に端部5bがなだらかに丸みを帯びて形成された第
2の絶縁層5上に上部磁性層7を所定パターンに成膜・
エッチングして形成し、本発明の薄膜磁気ヘッドを得る
(第1図(i))。
2の絶縁層5上に上部磁性層7を所定パターンに成膜・
エッチングして形成し、本発明の薄膜磁気ヘッドを得る
(第1図(i))。
(発明の効果)
本発明は叙上の通り、上部磁性層下の絶縁層の形状をテ
ーバエツチングの工程を経ずになだらかなテーパ状に形
成する工程を有する薄膜磁気ヘッドの製造方法なので、
磁気ギャップを形成する第1の絶縁層3の他方の端部3
b上の上部磁性層7のエツジ部7aの形状を精度よくな
だらかなテーバで一定膜厚の所定の寸法l(第1図(i
l参照)が安定して得られることから磁気特性が向上・
安定するため、薄膜磁気ヘッドの性能を高めることがで
きる。
ーバエツチングの工程を経ずになだらかなテーパ状に形
成する工程を有する薄膜磁気ヘッドの製造方法なので、
磁気ギャップを形成する第1の絶縁層3の他方の端部3
b上の上部磁性層7のエツジ部7aの形状を精度よくな
だらかなテーバで一定膜厚の所定の寸法l(第1図(i
l参照)が安定して得られることから磁気特性が向上・
安定するため、薄膜磁気ヘッドの性能を高めることがで
きる。
第1図(a)〜fi)は本発明の薄膜磁気ヘッドの製造
工程を説明するため断面図、第2図(al〜(j)は従
来の薄膜磁気ヘッドの製造工程を説明するための断面図
である。 l・・・非磁性基板 2・・・下部磁性層 3・・・絶縁層(磁気ギヤノブ形成絶縁層)4・・・導
電層 5・・・絶縁層 6・・・フォトレジスト被膜 7・・・上部磁性層 l・・・導電層4aの端部からイオンビームエツチング
後の絶縁層5の端部5bまでの寸法特許出願人 アルプ
ス電気株式会社 第 1 図 第2 図 第 2 図
工程を説明するため断面図、第2図(al〜(j)は従
来の薄膜磁気ヘッドの製造工程を説明するための断面図
である。 l・・・非磁性基板 2・・・下部磁性層 3・・・絶縁層(磁気ギヤノブ形成絶縁層)4・・・導
電層 5・・・絶縁層 6・・・フォトレジスト被膜 7・・・上部磁性層 l・・・導電層4aの端部からイオンビームエツチング
後の絶縁層5の端部5bまでの寸法特許出願人 アルプ
ス電気株式会社 第 1 図 第2 図 第 2 図
Claims (1)
- 非磁性基板上に下部磁性層を成膜により形成する第一の
工程と、該下部磁性層上に磁気ギャップ形成のための第
1の絶縁層を成膜する第二の工程と、該絶縁層上にコイ
ルとなる導電層を成膜・エッチングにより形成する第三
の工程と、上部・下部両磁性層の連結部形成のために前
記絶縁層をエッチングする第四の工程と、前記導電層上
に該導電層と上部磁性層との絶縁のための第2の絶縁層
を成膜する第五の工程と、該絶縁層上にフォトレジスト
被膜を成膜後、エッチングにより前記第2の絶縁層の形
状をなだらかなテーパ状に形成する第七の工程と、前記
第2の絶縁層上に上部磁性層を成膜・エッチングにより
形成する第7の工程とを備えた薄膜磁気ヘッドの製造方
法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15624685A JPS6216221A (ja) | 1985-07-16 | 1985-07-16 | 薄膜磁気ヘツドの製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15624685A JPS6216221A (ja) | 1985-07-16 | 1985-07-16 | 薄膜磁気ヘツドの製造方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6216221A true JPS6216221A (ja) | 1987-01-24 |
Family
ID=15623573
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP15624685A Pending JPS6216221A (ja) | 1985-07-16 | 1985-07-16 | 薄膜磁気ヘツドの製造方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6216221A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0192912A (ja) * | 1987-10-02 | 1989-04-12 | Fuji Photo Film Co Ltd | 薄膜磁気ヘッドの製造方法 |
-
1985
- 1985-07-16 JP JP15624685A patent/JPS6216221A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0192912A (ja) * | 1987-10-02 | 1989-04-12 | Fuji Photo Film Co Ltd | 薄膜磁気ヘッドの製造方法 |
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