JPS6217751B2 - - Google Patents

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JPS6217751B2
JPS6217751B2 JP56105183A JP10518381A JPS6217751B2 JP S6217751 B2 JPS6217751 B2 JP S6217751B2 JP 56105183 A JP56105183 A JP 56105183A JP 10518381 A JP10518381 A JP 10518381A JP S6217751 B2 JPS6217751 B2 JP S6217751B2
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JP
Japan
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liquid crystal
mim
voltage
pixel
crystal layer
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JP56105183A
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English (en)
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JPS587178A (ja
Inventor
Tomio Sonehara
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Seiko Epson Corp
Original Assignee
Seiko Epson Corp
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Publication date
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Publication of JPS587178A publication Critical patent/JPS587178A/ja
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Description

【発明の詳細な説明】 本発明は金属−絶縁体−金属装置(以下、
MIM装置)の非線型特性に基づくマルチプレク
ス駆動性能の高い液晶表示装置に関する。
近年、ドツトマトリクスに代表される、表示情
報量の大きな液晶パネルが要求されている。この
要求に答えるべく、従来のツイステツドネマチツ
ク液晶パネル(以下、TN液晶パネル)のマルチ
プレクス駆動性能の改良が鋭意なされている。
現在のマルチプレクス駆動は、選択されていな
い画素電極に印加される電圧の変動を防ぐために
電圧平均化法といわれる駆動法が主流となつてい
る。第1図は1/3バイアス法の波形例である。第
1図aは走査線にかかる電圧波形、bはマトリク
ス中の液晶画素1を選択した時の信号線にかかる
電圧波形である。この時、同一信号線上の他の液
晶画素には、V0/3の実効値を持つ電圧が印加
されている。同様に他の信号線にも選択画素に応
じ変化する電圧波形が加えられ、走査線の選択時
2に信号線も選択されていればV0、信号線が選
択されていなければV0/3、信号線の選択、非
選択によらず走査線が選択されていなければ
V0/3の電圧が各液晶画素に実効的に印加され
ている。各液晶画素はこれらの4状態を、1回の
走査時間にマルチプレクス駆動の走査線数個選択
する。ただし走査線は走査時間内に1度しか選択
されないので、各液晶画素は点灯時、V0状態を
1回、残りの走査時間はV0/3状態となり、非
点灯時は全走査時間V0/3状態となる。
このようにして非点灯の全画素に印加される実
効電圧は常に一定となる。これを一般化して、デ
ユーテイ比 1/N(Nはマルチプレクス駆動の
走査線数)、V/aバイアス法の場合、点灯画素
と非点灯画素にかかる実効電圧は各々(1)式、(2)式
となる。
ONとVOFFの比を最大にするのはa=√N+
1の時であり、その時のVON/VOFFは(3)式で表
わされる。
(3)式からわかるように、走査線数Nが増加する
と、VON/VOFF比は1に近づく。しかし現状の
TN液晶パネルの電圧−透過率特性から表示品質
が保てるNの限界は数十位である。
この限界を取り去る方法として、2周波駆動
法、薄膜トランジスタ(TET)マトリクス、
MOSトランジスタマトリクス、そしてMIM装置
等が考案されている。この中で、D.R.Baraffらに
よるMIM装置を用いた液晶表示パネル(SID
International Symposium Digest of Technical
Papers vol.11、p.200、April 1980)は、製造工
程が比較的簡単であり、従来のマルチプレクス駆
動が使用できるといつた利点を有している。この
場合のMIM装置の構成は、Ta薄膜−Ta2O5陽極
酸化膜−Ni・Cr膜からなつている。追試を行な
つたところ、第2図に示すような非線型特性が得
られた。このMIM装置を流れる電流は、(4)式で
与えられる。
d、s:MIM装置の絶縁層の厚さ、および面積 n:キヤリア密度 e:電子電荷 φ:トラツプレベル深さ ε:真空誘電率 μ:電子移動度 κ:ボルツマン定数 T:絶対温度 ε:光学的比誘電率(=n2) O.R.Baraffらの液晶パネルは、第3図に示すよ
うに、片側の基板にMIM装置が付設した構成で
あり、電気回路上は第4図に示すようなMIM装
置と液晶層が直列接続された等価回路となつてい
る。このMIM液晶パネルをマルチプレクス駆動
すると、MIM装置の非線型特性により、液晶層
にかかる実効電圧の比、VON/VOFFが大きく得
られる。この結果、走査線数Nを200程度にして
も液晶のON−OFFが可能となつている。
このように情報量の大きな表示が可能となる
MIM液晶パネルではあるが、小さな面積に情報
量を集中させることは極めて難しい。MIM液晶
パネルの特徴は、つまるところMIM装置の非線
形特性による抵抗のスイツチングであり、低抵抗
を通しての液晶層への充電と、液晶層のリークに
よる放電とを巧妙にコントロールしているところ
にある。第5図はMIM特性aと液晶層にかかる
電圧に波形bを示したものである。MIM液晶パ
ネルに印加する電圧波形は簡単のためcの波形と
している。尚1,3はON時の波形、2,4は
OFF時の波形である。これによると液晶層にか
かる電圧は、まず液晶層の容量CLCとMIMによ
る容量CMIMの容量分割された電圧5となり、次
にMIM装置の抵抗と液晶層の抵抗RLCによる抵
抗分割された電圧6を極限値とした電圧変化を行
なう。この時の時定数τは τ=(CLC+CMIM)×RLC・RMIM(VMIM)/RLC+RMIM(VMIM) …(5) VMIM:MIM装置にかかる電圧 で与えられる。
次にMIM液晶に印加される電圧が0になる
と、同様に容量分割された電圧を初期値とし、電
圧0を極限とした電圧変化が生じる。この時の時
定数は同じく(5)式で与えられるが、RLC≪RMIM
となるので、近似的には τ=(CLC+CMIM)RLC ……(6) で表わせる。
第6図はCMIMとCLCの比が1:1と1:10の
場合の液晶層にかかる電圧波形を示した図であ
る。これからもわかるように、容量の比を大きく
することによつて電圧が増加する。液晶は実効値
応答をするので簡単には図の面積を考えるとよ
い。
このようにCMIMとCLCの容量比は液晶にかか
る実効値を大きく変動させる。同時にON−OFF
実効値比も変動し、最適な素子定数のマツチング
状態では容量比が大きい程実効値比がとれる。
しかしながら、コンパクトな大情報量表示を目
的とした画素サイズの小さなMIM液晶パネルの
場合、製作上の制約からCMIMの小さなMIM装置
は実現が困難である。例として、絶縁体にTa2O5
を用い、電源電圧20Vで駆動する場合を考える。
液晶は比誘電率が5〜30程度変化するが簡単のた
め10とし、画素面積を1×10-7m2(約0.3mm角)、
ギヤツプを8μmとするとCLCは1.1pFである。
MIMはこれに対し10分の1とすると、Ta2O5
厚さを500Åとすれば、MIM装置の面積は25μm2
となる。画素毎の特性を揃えるためには、この5
μ角のMIM装置を精度よく製作しなければなら
ず、現在のフオトリソグラフイーの技術でも相当
に難しいことがわかる。
本発明はMIM装置と直列に、かつ液晶層と並
列に接続された補助容量(Cs)を設置し、これ
によりMIM装置の製作を容易にし、画素の特性
が揃つた表示品位の高い液晶表示装置を与えるも
のである。
次に実施例にもとづき本発明を詳説する。
第7図は補助容量としてBaTiO3層を液晶層内
に設置した1画素の模式図である。2がBaTiO3
層、3が液晶層である。1のMIM装置はTa及
び、Taの陽極酸化膜で製作されている。BaTiO3
層と液晶層は厚さ10μmであり、BaTiO3層は
BaTiO3の粉体とシリコン樹脂の混合物を幅0.15
mmでスクリーン印刷し、形成した。BaTiO3粉体
の粒径を10μ程度に揃えられればギヤツプの保持
機能も合わせ持たせることができる。これにより
BaTiO3層の容量を含む液晶層の等価容量CLC
は、液晶だけの場合の5〜10倍に増加した。
第8図は、補助容量として粒径約8μmの
BaTiO3粉体をMIM液晶パネルに、ギヤツプ保持
材を兼ね、散布した例である。この場合、散布量
が多量であるのと、均質に散布するのが難点であ
るが、本実施例では均質に散布されている画素の
容量と、ほとんどBaTiO3粉体の見られない画素
の容量比は1:3程度が得られ、散布による容量
の増加がみられた。
このようにして製作されたMIM液晶パネル
は、1/5バイアス法、ピーク電圧20V、N=200で
十分なON−OFFが可能となつた。尚、MIM装置
はTa−Ta2O5−Taの構造、10μm角であり、画
素面積は0.1mm2、ギヤツプ10μmである。
以上説明したように、本発明によれば画素に対
応した等価容量CLCの増加が可能となり、従来の
MIM液晶パネルのMIM装置に比べ装置形状の許
容最小値を大きくできる。このため製作が容易に
なり、MIM装置の特性が均一に揃う。さらに同
一形状のMIM液晶パネルに実施すると、大きな
容量比が簡単に実現され、液晶層とMIM装置の
素子定数のマツチングが容量になるという利点が
ある。
以上の実施例はBaTiO3の大きな比誘電率を利
用したものであるが、本発明はBaTiO3に何ら限
定されるものではなく、液晶の比誘電率より大き
な比誘電率を有する物質ならば応用できることを
示唆している。
上述の如く本発明は、一対の基板内に液晶が封
入され該基板の一方の基板上にマトリクス状に複
数の表示電極が形成され、各表示電極には金属−
絶縁体−金属の非線型薄膜素子が形成されてなる
液晶表示装置において、該表示電極と対向する基
板との間の該液晶の比誘電率より大きな比誘電率
を有する物質を介在させたから、該非線型薄膜素
子の容量に比し大きな液晶駆動電極容量を実現す
ることができるために、ON−OFFの実効値比を
大幅に向上することができる効果を有する。
【図面の簡単な説明】
第1図はV/3バイアス、マルチプレクス駆動
の波形を示すものである。aは走査線にかかる電
圧波形、bは信号線にかかる電圧波形、cは画素
1にかかる電圧波形である。 1……画素、2……選択時(斜線部) 第2図はMIM装置の特性例を示すものであ
る。第3図はMIM装置の模式図である。 1……上側基板(対向電極側)、2……下側基
板(MIM装置側)、3……画素 第4図はMIM液晶パネルの等価回路を示すも
のである。第5図はMIM液晶パネルの動作を表
わした図である。aはMIM装置の特性、bは液
晶層にかかる電圧波形、cはMIM液晶パネルに
入力する電圧波形である。 1……cの3に示す入力電圧に対応した液晶層
にかかる電圧波形、2……cの4に示す入力電圧
に対応した液晶層にかかる電圧波形、3,4……
入力電圧波形、5……容量分割された電圧値、6
……抵抗分割された電圧値 第6図は容量比を変えた時の液晶層にかかる電
圧波形を示したものである。aはCLC/CMIM
1の時、bはCLC/CMIMが10の時である。 第7図は本発明によるMIM液晶パネルの1画
素周辺の模式図である。 1……MIM装置部分、2……BaTiO3層、3…
…画素電極 第8図は本発明によるMIM液晶パネルの1画
素周辺の模式図である。 1……MIM装置部分、2……BaTiO3粒子、3
……画素電極。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1 一対の基板内に液晶が封入され該基板の一方
    の基板上にマトリクス状に複数の表示電極が形成
    され、各表示電極には金属−絶縁体−金属の非線
    型薄膜素子が形成されてなる液晶表示装置におい
    て、該表示電極と対向する基板との間に該液晶の
    比誘電率より大きな比誘電率を有する粒子が塗布
    もしくは分散されてなることを特徴とする液晶表
    示装置。
JP56105183A 1981-07-06 1981-07-06 液晶表示装置 Granted JPS587178A (ja)

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JP56105183A JPS587178A (ja) 1981-07-06 1981-07-06 液晶表示装置

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JP56105183A JPS587178A (ja) 1981-07-06 1981-07-06 液晶表示装置

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JPS587178A JPS587178A (ja) 1983-01-14
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JPH02173728A (ja) * 1988-12-27 1990-07-05 Seiko Epson Corp アクティブデバイス
JP2870016B2 (ja) * 1989-05-18 1999-03-10 セイコーエプソン株式会社 液晶装置

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