JPS5988665A - 光応用磁界センサ - Google Patents
光応用磁界センサInfo
- Publication number
- JPS5988665A JPS5988665A JP19922782A JP19922782A JPS5988665A JP S5988665 A JPS5988665 A JP S5988665A JP 19922782 A JP19922782 A JP 19922782A JP 19922782 A JP19922782 A JP 19922782A JP S5988665 A JPS5988665 A JP S5988665A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- magnetic field
- field sensor
- determining
- ratio
- alternating current
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R33/00—Arrangements or instruments for measuring magnetic variables
- G01R33/02—Measuring direction or magnitude of magnetic fields or magnetic flux
- G01R33/032—Measuring direction or magnitude of magnetic fields or magnetic flux using magneto-optic devices, e.g. Faraday or Cotton-Mouton effect
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- Physics & Mathematics (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Measuring Magnetic Variables (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の利用分野〕
本発明は光応用磁界センサに係り、特に高電圧。
大筒、流、高周波等の電磁雑音の大きい悪環境下で使用
するに好適なファラデー効果を応用した光応用磁界セン
サに関する。
するに好適なファラデー効果を応用した光応用磁界セン
サに関する。
従来の光応用磁界センサは、例えば第1図に示すように
、発光部1、光ファイバー2、集光レンズ3、偏光子4
、鉛ガラス等の7アラデー効果を有する7アラデーロー
テーター51検光子6翫集光レンズ7.8、光ファイバ
ー9.10、フォトダイオード11,12、電流−電圧
変換増巾器13.14、アナログ加算器15、アナログ
減算器16、アナログ割算器17より成っている。
、発光部1、光ファイバー2、集光レンズ3、偏光子4
、鉛ガラス等の7アラデー効果を有する7アラデーロー
テーター51検光子6翫集光レンズ7.8、光ファイバ
ー9.10、フォトダイオード11,12、電流−電圧
変換増巾器13.14、アナログ加算器15、アナログ
減算器16、アナログ割算器17より成っている。
この様な光応用磁界センサにおいて、印加磁界がない状
態で、偏光子4を回転させ、検光子6によって2成分に
分解された光量が等しくなるように調節した後に、磁界
Hを印加すると)7ア2デー効果による偏波面の回転角
をθとし、電流−電圧変挨増巾器13.14の出力なV
、 、 V、とし、k′を定数として、理想的には次の
(11、(21式の値が得られる。
態で、偏光子4を回転させ、検光子6によって2成分に
分解された光量が等しくなるように調節した後に、磁界
Hを印加すると)7ア2デー効果による偏波面の回転角
をθとし、電流−電圧変挨増巾器13.14の出力なV
、 、 V、とし、k′を定数として、理想的には次の
(11、(21式の値が得られる。
V、−に’(1+gtn2θ) (11Vt −
k’ (1−sk 2θ)(2)したがって、アナロ
グ加算器15.アナログ減算器16.アナ四グ割算器1
7により、(S)式の演算を行えば、 th2θ−219の範囲で、ファラデー回転角θに比例
した出力、すなわち、印加磁界Hに比例した出力Vを得
ることができる。
k’ (1−sk 2θ)(2)したがって、アナロ
グ加算器15.アナログ減算器16.アナ四グ割算器1
7により、(S)式の演算を行えば、 th2θ−219の範囲で、ファラデー回転角θに比例
した出力、すなわち、印加磁界Hに比例した出力Vを得
ることができる。
以下、これをより詳細に説明すると、光応用磁界センサ
では、直線偏波光がガラス等のファラデー効果を示す物
体中を通過した時、光路長と磁界成分の積に比例した量
だけ偏波面が回転する。偏波面の回転量の検出は、ウォ
ラストンプリズム、偏光ビームスプリッタ等の偏光ダリ
ズムを検光子として使用する。直@偏波光を作る偏光子
との相対的な角度を適切に選べば、検光子より出射した
2本の光は、前述の如く、7ア2デ一回転角θに対して
、kを光の伝送効率を示す定数として、k(1+df1
2θ)とk(1−tsn2θ)のエネルギーの光として
分離される。通常の使用では2θくlとなり、上記k(
1+出2θ) 、 k (1−sIn2θ)はそれぞ
れk (1+2θ)、k (1−2θ)とすることがで
きる。この2つの光エネルギーに比例した光エネルギー
P1−α+k(1+20)、P2−αzk (12θ)
(たタシ、CLs−(Lt#i比例定数)を光ファイバ
ー等により伝送し、フォトダイオードで電気信号に変換
することで、I、−G、blk (1+26) 、I、
−a、b、k(1−219)(ただし、bl、blは比
例定数)の光電流出力11.I。
では、直線偏波光がガラス等のファラデー効果を示す物
体中を通過した時、光路長と磁界成分の積に比例した量
だけ偏波面が回転する。偏波面の回転量の検出は、ウォ
ラストンプリズム、偏光ビームスプリッタ等の偏光ダリ
ズムを検光子として使用する。直@偏波光を作る偏光子
との相対的な角度を適切に選べば、検光子より出射した
2本の光は、前述の如く、7ア2デ一回転角θに対して
、kを光の伝送効率を示す定数として、k(1+df1
2θ)とk(1−tsn2θ)のエネルギーの光として
分離される。通常の使用では2θくlとなり、上記k(
1+出2θ) 、 k (1−sIn2θ)はそれぞ
れk (1+2θ)、k (1−2θ)とすることがで
きる。この2つの光エネルギーに比例した光エネルギー
P1−α+k(1+20)、P2−αzk (12θ)
(たタシ、CLs−(Lt#i比例定数)を光ファイバ
ー等により伝送し、フォトダイオードで電気信号に変換
することで、I、−G、blk (1+26) 、I、
−a、b、k(1−219)(ただし、bl、blは比
例定数)の光電流出力11.I。
が得られる。光ファイバーおよびフォトダイメートの特
性がまったく同一の理想的な場合には1α、−C2,b
l−b、となり、ファラデー回転量直(I+ It)
/ (It+工t)となるが、通常0重+αt 、b
l ’r b2となっているので、V+ −(LlJ
C,k (1+ 20)、V! −CL2 b2 C2
k (1−20)(ただし、CI、CIは比例定数、■
1 # ■tは増巾器の出力)でc、 、 c、を調節
することにより、”+btC+ −a2b、c2トL/
、77 ラテ−回転量”(Vs−7g) / (V1+
Vt )として検出することができる。
性がまったく同一の理想的な場合には1α、−C2,b
l−b、となり、ファラデー回転量直(I+ It)
/ (It+工t)となるが、通常0重+αt 、b
l ’r b2となっているので、V+ −(LlJ
C,k (1+ 20)、V! −CL2 b2 C2
k (1−20)(ただし、CI、CIは比例定数、■
1 # ■tは増巾器の出力)でc、 、 c、を調節
することにより、”+btC+ −a2b、c2トL/
、77 ラテ−回転量”(Vs−7g) / (V1+
Vt )として検出することができる。
この検出方式では、比をとるために、送光部分の光量変
動の影響を受けない利点がある。しかし、集光レンズ7
、光ファイバー9、フォトダイオード11の送光部分と
、集光レンズ8、光ファイバー10、フォトダイオード
12の送光部分とで、湿度特性1経時変化等により光量
の伝送特性が変化してアンバランスが生じると、すなわ
ちcLIb、cl−a2b、C2となるようにcI h
C2を調節したときがらCI bl e cL!!
blの値が変化すると、(L、llI C1%a2
bl C1となり、ファラデー回転量の検出誤差が増加
する欠点があった。
動の影響を受けない利点がある。しかし、集光レンズ7
、光ファイバー9、フォトダイオード11の送光部分と
、集光レンズ8、光ファイバー10、フォトダイオード
12の送光部分とで、湿度特性1経時変化等により光量
の伝送特性が変化してアンバランスが生じると、すなわ
ちcLIb、cl−a2b、C2となるようにcI h
C2を調節したときがらCI bl e cL!!
blの値が変化すると、(L、llI C1%a2
bl C1となり、ファラデー回転量の検出誤差が増加
する欠点があった。
本発明の目的は、上記した従来技術の欠点をなくシ、高
精度の磁界測定を長期間にわたり安定して行なうことの
できる光応用磁界センサを提供することにある。
精度の磁界測定を長期間にわたり安定して行なうことの
できる光応用磁界センサを提供することにある。
この目的を達成するため、本発明は、検出された各電気
信号のうちの各交流成分を求める手段と1これらの交流
成分の比を求める手段と、この比を用いて前記電気信号
を補正する手段とを備えた較正手段な設けることにより
、前記温度特性、経時変化等に起因する検出誤差を常時
補正するようにしたことを特徴とする。
信号のうちの各交流成分を求める手段と1これらの交流
成分の比を求める手段と、この比を用いて前記電気信号
を補正する手段とを備えた較正手段な設けることにより
、前記温度特性、経時変化等に起因する検出誤差を常時
補正するようにしたことを特徴とする。
すなわち、被測定磁界の強さ−Hva +)(AO(以
下、添字DoGi直流分、ム0は交流分を示す)とする
と、ファラデー回転量θ−ve” L ・(Hna +
Hao )(ただし、■eはヴエルデ定数、Lは光路長
)となり、V、 −a、1b、 C1k (1+2Ve
@HDOeL+2Ve”HAOeL) 、v、 −α
2b!c、l((1−2Ve”HD□” L−ZVes
HA□*L)を得る。■1−αt bl C1k(1−
1−2Vea HDO* L ) +a、、b、c、k
s (2Ve−HAo ・LL v、−alb@c2k
(1−2Ve・Hp□ * L) −CLtbQ c2
k・(2Ve−HAO・L)と展開できることから、V
l、V、の右辺の第2項に注目すると、(LlbI C
1−(Z2 b2 C! と調節した後は、■1の交流
会−V、の交流会となるので、光ファイバーの劣化ある
いはフォトダイオードの劣化等により、CLIbl、C
L2b!が変化した時は、電気信号である■。
下、添字DoGi直流分、ム0は交流分を示す)とする
と、ファラデー回転量θ−ve” L ・(Hna +
Hao )(ただし、■eはヴエルデ定数、Lは光路長
)となり、V、 −a、1b、 C1k (1+2Ve
@HDOeL+2Ve”HAOeL) 、v、 −α
2b!c、l((1−2Ve”HD□” L−ZVes
HA□*L)を得る。■1−αt bl C1k(1−
1−2Vea HDO* L ) +a、、b、c、k
s (2Ve−HAo ・LL v、−alb@c2k
(1−2Ve・Hp□ * L) −CLtbQ c2
k・(2Ve−HAO・L)と展開できることから、V
l、V、の右辺の第2項に注目すると、(LlbI C
1−(Z2 b2 C! と調節した後は、■1の交流
会−V、の交流会となるので、光ファイバーの劣化ある
いはフォトダイオードの劣化等により、CLIbl、C
L2b!が変化した時は、電気信号である■。
の交流会および■2の交流会を検出し、■1の交流会−
■2の交流会となるようにC1,C2を調節することで
、常時光ファイバー、フォトダイオード等の劣化、濃度
特性、経時変化による誤差を補正できる。
■2の交流会となるようにC1,C2を調節することで
、常時光ファイバー、フォトダイオード等の劣化、濃度
特性、経時変化による誤差を補正できる。
以下、本発明の一実施例を第2図により説明する。光の
通過する順に、発光部11光ファイバー2、集光レンズ
3、偏光子4.7アラデーローテーター5、検光子6、
集光レンズ7.8、光ファイバー9,10、フォトダイ
オード11,12、電流−電圧変換増巾器i 3 、1
4 、/(ンドノくスフ22.23、アナ四グ割算器2
4、アナログ掛算器25、”rナログ減算器26、アナ
四グ加算器2人アナログvlI1w器28より構成され
ている。
通過する順に、発光部11光ファイバー2、集光レンズ
3、偏光子4.7アラデーローテーター5、検光子6、
集光レンズ7.8、光ファイバー9,10、フォトダイ
オード11,12、電流−電圧変換増巾器i 3 、1
4 、/(ンドノくスフ22.23、アナ四グ割算器2
4、アナログ掛算器25、”rナログ減算器26、アナ
四グ加算器2人アナログvlI1w器28より構成され
ている。
発光部1では発光ダイオ−ドルレーザダイオード、レー
ザ等周知の手段で発光させ、一部の光を光ファイバー2
に導いた後、集光レン7:3で光の発散を防ぎ、偏光プ
リズム等周知の偏光子4で直線偏光した光をファラデー
ローチーター5に入射する。ファラデーローチーター5
に印加される磁界HK比例17てファラデー回転θが生
じる。ファラデー回転の角度θを検出するために、検光
子6で2本の光1/C分け、集光レンズ7#8で光7ア
イ/(−9,10に効率良く光を入射させ、フォトダイ
オード11.12で光エネルギーを光電流に変えNWi
気信号を得る。光電流を電流−電圧の変換増巾器13.
14にて電圧信号に変換する。この時の増巾率を調節す
ることで、αI bl cl−α! bl! C2とす
ることができる。バンドパスフィルター18゜19によ
り、電圧信号V2. V、のうちの交流会を取り出し、
検波器20.21で直流に変換後、ゲート積分器22.
23で積分する。この積分により、ノイズの影響等を低
減することが可能である。
ザ等周知の手段で発光させ、一部の光を光ファイバー2
に導いた後、集光レン7:3で光の発散を防ぎ、偏光プ
リズム等周知の偏光子4で直線偏光した光をファラデー
ローチーター5に入射する。ファラデーローチーター5
に印加される磁界HK比例17てファラデー回転θが生
じる。ファラデー回転の角度θを検出するために、検光
子6で2本の光1/C分け、集光レンズ7#8で光7ア
イ/(−9,10に効率良く光を入射させ、フォトダイ
オード11.12で光エネルギーを光電流に変えNWi
気信号を得る。光電流を電流−電圧の変換増巾器13.
14にて電圧信号に変換する。この時の増巾率を調節す
ることで、αI bl cl−α! bl! C2とす
ることができる。バンドパスフィルター18゜19によ
り、電圧信号V2. V、のうちの交流会を取り出し、
検波器20.21で直流に変換後、ゲート積分器22.
23で積分する。この積分により、ノイズの影響等を低
減することが可能である。
集光レンズ8、光ファイバー10、フォトダイオード1
2あるいは集光レンズ7、光ファイバー9、フォトダイ
オード11等の温度特性、経時変化により、積分器23
の出力が積分□器22の出力より小さく Qると、その
比率を割算器24で算出し、掛算器25で元の信号に掛
けることにより、誤差を補正する。加算器26、減算器
27、割算器28v −■ はθ”−餐一1−クーでファラデー回転量を検出するた
めの周知の演算回路である。なお、積分器22と積分器
23の比が当初はけぼ1であったものが、片方の光7テ
イバーの結露あるいは断線等による異常により、1より
大きくずれることも考えられ、この値を監視することに
より、正常動作範囲からはずれた等の故障を診断するこ
ともできる。
2あるいは集光レンズ7、光ファイバー9、フォトダイ
オード11等の温度特性、経時変化により、積分器23
の出力が積分□器22の出力より小さく Qると、その
比率を割算器24で算出し、掛算器25で元の信号に掛
けることにより、誤差を補正する。加算器26、減算器
27、割算器28v −■ はθ”−餐一1−クーでファラデー回転量を検出するた
めの周知の演算回路である。なお、積分器22と積分器
23の比が当初はけぼ1であったものが、片方の光7テ
イバーの結露あるいは断線等による異常により、1より
大きくずれることも考えられ、この値を監視することに
より、正常動作範囲からはずれた等の故障を診断するこ
ともできる。
本実胛例によれば、すべてアナログの演算回路を使用し
ているので、較正速度が早い効果がある。
ているので、較正速度が早い効果がある。
第3図は本発明の他の実施例を示す。この実施例では、
第2図の実施例と同様にフォトダイオード11.12に
発生する電流信号を電流−1u圧変換増巾器13.14
にて電圧信号Ns、’lK変換i’l巾器]、3.14
にで?!!圧信号Vt、VzKf換した後、A/D変換
器29.30でディジタル信号v 、a 、 v、aに
変換し、これらの信号をマイクロプロセッサ−等のディ
ジタル信号処理器31 K入力して、ここで信号■、°
中からその交流成分vl’A Oと信号■2°中からそ
の交流成分v、 ’AOをそれぞれ取り出し、これらの
交流我分v1°人01■l’Ao と信号V!′から
、Vt” −Vt’ X (V1’AO/ Vt’ha
)をディジタル演算で求め、この■、′と信号V1′
からvo−(■1°−V、″) / (V+’ + V
2”)のディジタル演算を行ない、このVを光応用磁界
センサのディジタル出力とする。
第2図の実施例と同様にフォトダイオード11.12に
発生する電流信号を電流−1u圧変換増巾器13.14
にて電圧信号Ns、’lK変換i’l巾器]、3.14
にで?!!圧信号Vt、VzKf換した後、A/D変換
器29.30でディジタル信号v 、a 、 v、aに
変換し、これらの信号をマイクロプロセッサ−等のディ
ジタル信号処理器31 K入力して、ここで信号■、°
中からその交流成分vl’A Oと信号■2°中からそ
の交流成分v、 ’AOをそれぞれ取り出し、これらの
交流我分v1°人01■l’Ao と信号V!′から
、Vt” −Vt’ X (V1’AO/ Vt’ha
)をディジタル演算で求め、この■、′と信号V1′
からvo−(■1°−V、″) / (V+’ + V
2”)のディジタル演算を行ない、このVを光応用磁界
センサのディジタル出力とする。
本実施例によれば、マイクロプロセッサ−を利用してい
るため、構成が著しく簡単になるとともに、デ・rジタ
ル演算により誤差が著しく小さくなって、高精度の磁界
センサを構成できる効果がある0 〔発明の効果〕 以上述べたように、本発明によれば、温度特性、経時変
化等に起因する検出誤差を常時補正することができるの
で、高精度の磁界測定を長期間にわたり安定に行ない得
る効果がある。
るため、構成が著しく簡単になるとともに、デ・rジタ
ル演算により誤差が著しく小さくなって、高精度の磁界
センサを構成できる効果がある0 〔発明の効果〕 以上述べたように、本発明によれば、温度特性、経時変
化等に起因する検出誤差を常時補正することができるの
で、高精度の磁界測定を長期間にわたり安定に行ない得
る効果がある。
第1図は従来の光応用磁界センサを示す構成図、第2図
は本発明の一実鮨例に係る光応用磁界センサを示す構成
図、第3図は本発明の他の実絶例に係る光応用磁界セン
サを示す構成図である。 1・・・・・・発光W、、2 、9 、10・・・・・
・光ファイバー、3.7.8・・・・・・集光レンズ、
4・・・・:・偏光子、5・・・・・・ファラデーロー
チーター、6・・・・・・検光子、11゜12・・・・
・・フォトダイオード% 13.14・・・・・・電流
−電圧変換増巾器、18.19・・・・・・バンドパス
フィルター、20.21・・・・・・検波器、22.2
3・・・・・・積分器、24.28・・・・・・割算器
、25・・・・・・掛算器、26・・・・・・減算器、
27・・・・・・加算器、29.30・・・・・・A/
D変換器、31・・・・・・ディジタル信号処理器。
、 il1図 112図 ′LX43図
は本発明の一実鮨例に係る光応用磁界センサを示す構成
図、第3図は本発明の他の実絶例に係る光応用磁界セン
サを示す構成図である。 1・・・・・・発光W、、2 、9 、10・・・・・
・光ファイバー、3.7.8・・・・・・集光レンズ、
4・・・・:・偏光子、5・・・・・・ファラデーロー
チーター、6・・・・・・検光子、11゜12・・・・
・・フォトダイオード% 13.14・・・・・・電流
−電圧変換増巾器、18.19・・・・・・バンドパス
フィルター、20.21・・・・・・検波器、22.2
3・・・・・・積分器、24.28・・・・・・割算器
、25・・・・・・掛算器、26・・・・・・減算器、
27・・・・・・加算器、29.30・・・・・・A/
D変換器、31・・・・・・ディジタル信号処理器。
、 il1図 112図 ′LX43図
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 から出射する少なくとも2つの光信号を各別の電いて、
前記各電気信号のうちの各交流成分を求める手段と、こ
れらの交流成分の比を求める手段とこの比を用いて前記
!偽信号を補正する手段とを備えた較正手段を設けたこ
とを特徴とVろ光応用磁界センサ。 λ 特許請求の範囲第1項において111汀記交流成分
を求める手段はバンドパスフィルタ、検波器及び積分器
からなり、前記比を求める手段は割算器からなり、前記
補正する手段は掛算器からなることを特徴とする光応用
磁界センサ。 3、 特許請求の範囲第1項において、前記較正手段は
アナログ信号である前記74を偽信号をディジタル信号
に変換する手段を備え、前記交流成分を求める手段、前
記比を求める手段及び前記補正する手段はディジタル信
号処理装置からなることを特徴とする光応用磁界センサ
。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP19922782A JPS5988665A (ja) | 1982-11-13 | 1982-11-13 | 光応用磁界センサ |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP19922782A JPS5988665A (ja) | 1982-11-13 | 1982-11-13 | 光応用磁界センサ |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5988665A true JPS5988665A (ja) | 1984-05-22 |
Family
ID=16404258
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP19922782A Pending JPS5988665A (ja) | 1982-11-13 | 1982-11-13 | 光応用磁界センサ |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5988665A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS59159076A (ja) * | 1983-03-02 | 1984-09-08 | Hitachi Ltd | 光学式磁界センサ |
| JPS6182179A (ja) * | 1984-09-29 | 1986-04-25 | Toshiba Corp | 磁界計測方法 |
| JPS6182178A (ja) * | 1984-09-29 | 1986-04-25 | Toshiba Corp | 磁界計測方法 |
-
1982
- 1982-11-13 JP JP19922782A patent/JPS5988665A/ja active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS59159076A (ja) * | 1983-03-02 | 1984-09-08 | Hitachi Ltd | 光学式磁界センサ |
| JPS6182179A (ja) * | 1984-09-29 | 1986-04-25 | Toshiba Corp | 磁界計測方法 |
| JPS6182178A (ja) * | 1984-09-29 | 1986-04-25 | Toshiba Corp | 磁界計測方法 |
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