JPS62199047A - 多結晶シリコン抵抗器 - Google Patents
多結晶シリコン抵抗器Info
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- JPS62199047A JPS62199047A JP4243686A JP4243686A JPS62199047A JP S62199047 A JPS62199047 A JP S62199047A JP 4243686 A JP4243686 A JP 4243686A JP 4243686 A JP4243686 A JP 4243686A JP S62199047 A JPS62199047 A JP S62199047A
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- resistor
- insulating film
- polycrystalline silicon
- heat sink
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- Pending
Links
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Landscapes
- Semiconductor Integrated Circuits (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は半導体集積回路に関し、特に半導体基板上の多
結晶シリコン抵抗器に関するものである0従来の技術 従来、この種の半導体集積回路にて用いられている多結
晶シリコンから成る抵抗器の一例は、第3図の断面図お
よび第4因子面図に示すように、ハ 半導体基板1を絶縁膜2で覆い、この絶縁膜2上に多結
晶クリコンを抵抗体3として形成していた。
結晶シリコン抵抗器に関するものである0従来の技術 従来、この種の半導体集積回路にて用いられている多結
晶シリコンから成る抵抗器の一例は、第3図の断面図お
よび第4因子面図に示すように、ハ 半導体基板1を絶縁膜2で覆い、この絶縁膜2上に多結
晶クリコンを抵抗体3として形成していた。
そして多結晶クリコンは、中に特定の不純物を拡散する
ことによって、一定の層抵抗を得るものである。従って
多結晶シリコンからなる抵抗体3の抵抗値は、抵抗体3
の幅Wと抵抗体の電極の取り出し口となる2個のコンタ
クト6の間隔りの比L/Wと層抵抗との積で表わされ、
不要な部分を工、チングによって除去し、希望する抵抗
値を有する抵抗体3を作る。次に多結晶シリコンから成
る抵抗体3を絶縁膜4で覆い、抵抗体3の電極の取り出
し口、となるコンタクト6を絶縁膜4に穴をあけて作り
、半導体基板1上の他の素子と抵抗体3とを接続するた
めの金属配叡7を絶縁膜4上に蒸着等の方法で形成して
いた。(例えば特開昭49−19778号) なお、第4図の平面図においては、便宜上第2の絶縁膜
を取り除いて示している。
ことによって、一定の層抵抗を得るものである。従って
多結晶シリコンからなる抵抗体3の抵抗値は、抵抗体3
の幅Wと抵抗体の電極の取り出し口となる2個のコンタ
クト6の間隔りの比L/Wと層抵抗との積で表わされ、
不要な部分を工、チングによって除去し、希望する抵抗
値を有する抵抗体3を作る。次に多結晶シリコンから成
る抵抗体3を絶縁膜4で覆い、抵抗体3の電極の取り出
し口、となるコンタクト6を絶縁膜4に穴をあけて作り
、半導体基板1上の他の素子と抵抗体3とを接続するた
めの金属配叡7を絶縁膜4上に蒸着等の方法で形成して
いた。(例えば特開昭49−19778号) なお、第4図の平面図においては、便宜上第2の絶縁膜
を取り除いて示している。
しかしながら、この多結晶シリコン抵抗器の層の厚さは
約0.5μ程度と非常に薄いため、抵抗値が比較的大き
く、比較的大きい電流例えば数mAを固有抵抗が数百0
備の多結晶シリコン抵抗器に筒密度に流した場合に、発
生するジュール熱に対して、抵抗体3から絶瞬膜4に伝
導し放出これる熱が小さいために、温度上昇を招くとい
う欠点があった。この欠点を解決するために、従来の多
結晶シリコン抵抗器では、多結晶シリコンの電流密度を
減らし、かつ放熱の面積を太きくし、熱を放出しやすく
する方法が採られていたoしかし多結晶シリコン抵抗器
の抵抗値は、先に述べた通り抵抗体30幅Wに対する抵
抗体3上のコンタクト6の間隔りの比L/Wに比例する
ので、面積を広くする場合、LとWとの双方を拡大しな
ければならず、半導体集積回路の小型化が図れないとい
う欠点があった。
約0.5μ程度と非常に薄いため、抵抗値が比較的大き
く、比較的大きい電流例えば数mAを固有抵抗が数百0
備の多結晶シリコン抵抗器に筒密度に流した場合に、発
生するジュール熱に対して、抵抗体3から絶瞬膜4に伝
導し放出これる熱が小さいために、温度上昇を招くとい
う欠点があった。この欠点を解決するために、従来の多
結晶シリコン抵抗器では、多結晶シリコンの電流密度を
減らし、かつ放熱の面積を太きくし、熱を放出しやすく
する方法が採られていたoしかし多結晶シリコン抵抗器
の抵抗値は、先に述べた通り抵抗体30幅Wに対する抵
抗体3上のコンタクト6の間隔りの比L/Wに比例する
ので、面積を広くする場合、LとWとの双方を拡大しな
ければならず、半導体集積回路の小型化が図れないとい
う欠点があった。
発明が解決しようとする問題点
本発明の目的は、上記の欠点、すなわち抵抗体からの放
熱が小さく温度上昇を招き易いとか、抵抗体の面積が大
きくなりすぎるという問題点を解決した多結晶シリコン
抵抗器を提供することにある0 問題点を解決するだめの手段 本発明は上述の欠点を解決するために、第1の絶縁膜に
より覆われた半導体基板と、この基板上に形成された多
結晶シリコンからなる抵抗体と、この抵抗体を憶う第2
の絶縁膜と、この抵抗体から電極を取シ出すために抵抗
体を伽っている第2の絶縁膜の一部に穴をあけ、この絶
縁膜の上に形成された2個のコンタクトと、このコンタ
クトを介して抵抗体から他の素子に接続される金属配線
と、第2の絶醸膜上に抵抗体の部分を覆うようにして配
設された金属から成る放熱板とからなる構成を採用する
ものである。
熱が小さく温度上昇を招き易いとか、抵抗体の面積が大
きくなりすぎるという問題点を解決した多結晶シリコン
抵抗器を提供することにある0 問題点を解決するだめの手段 本発明は上述の欠点を解決するために、第1の絶縁膜に
より覆われた半導体基板と、この基板上に形成された多
結晶シリコンからなる抵抗体と、この抵抗体を憶う第2
の絶縁膜と、この抵抗体から電極を取シ出すために抵抗
体を伽っている第2の絶縁膜の一部に穴をあけ、この絶
縁膜の上に形成された2個のコンタクトと、このコンタ
クトを介して抵抗体から他の素子に接続される金属配線
と、第2の絶醸膜上に抵抗体の部分を覆うようにして配
設された金属から成る放熱板とからなる構成を採用する
ものである。
作用
本発明は上述のように構成したので、抵抗体から発生す
る熱は、第2の絶AMを介して金属の放熱板に伝導され
、効率よく大気中に放散される。
る熱は、第2の絶AMを介して金属の放熱板に伝導され
、効率よく大気中に放散される。
その他の作用については従来と変らない。
実施例
矢に本発明の実施例について図面を参照して説明する。
本発明の一実施例を縦断圓図で示す第1図および平面図
で示す第2図を参照すると、本発明の多結晶7リコン抵
抗器は、第10M!R膜2で覆われた半導体基&1と、
多結晶シリコンから成る抵抗体3と、この抵抗体3を積
う第2の絶縁膜4と、金属からなる放熱板5と、コンタ
クト6と、金属配線7とからなり、第1の絶縁膜2は半
導体基板】と抵抗体3との間を絶縁し、第2の絶縁膜4
は抵抗体3を放熱板5および金属配?#A7から絶縁し
ている。またコンタクト6は多結晶シリコンから成る低
抗体3と金@配線7とを電気的に接続する作用をしてい
る。なお第2図の平面図では、便宜上第2の絶縁膜4を
取り除いて示している0いま、抵抗体3に金属配線7か
らコンタクト6を介して’KNeが流れ込むと、ジェー
ルの法則により抵抗体3は熱を発生し、この発生した熱
は第1の絶縁膜2および第2の絶縁膜4を介して半導体
基板lおよび金属から成る放熱板5に伝導される。
で示す第2図を参照すると、本発明の多結晶7リコン抵
抗器は、第10M!R膜2で覆われた半導体基&1と、
多結晶シリコンから成る抵抗体3と、この抵抗体3を積
う第2の絶縁膜4と、金属からなる放熱板5と、コンタ
クト6と、金属配線7とからなり、第1の絶縁膜2は半
導体基板】と抵抗体3との間を絶縁し、第2の絶縁膜4
は抵抗体3を放熱板5および金属配?#A7から絶縁し
ている。またコンタクト6は多結晶シリコンから成る低
抗体3と金@配線7とを電気的に接続する作用をしてい
る。なお第2図の平面図では、便宜上第2の絶縁膜4を
取り除いて示している0いま、抵抗体3に金属配線7か
らコンタクト6を介して’KNeが流れ込むと、ジェー
ルの法則により抵抗体3は熱を発生し、この発生した熱
は第1の絶縁膜2および第2の絶縁膜4を介して半導体
基板lおよび金属から成る放熱板5に伝導される。
金@はシリコン等と比較して比熱が小さく熱伝導率も良
いので、発生したジュール熱の多くは絶縁膜4を介し金
属から成る放熱板51C伝専され、空気対流によシ半導
体集積回路外へ放出される。便って多結晶シリコンから
成る抵抗体3中を比較的大きな電流が流れる場合でも、
温度上昇を抑えることができ、抵抗体3の面積を広くす
る必要がないという利点がある。さらに、これら半導体
基板は非常に小形のものであり、放熱&5の厚さも金属
配線7の厚さと同じ5〜10μ程度のものでも十分効果
があるため、放熱板5の金属を釡鵬配緑7の金属と同一
の例えばアルミニウムなどを用いることにより、同一工
程で形成することが可能である0 発明の効果 以上に説明したように、不発明によれば、絶縁膜で覆わ
れた半導体基板上に形成された多結晶シリコンから成る
抵抗体の上に絶縁膜を形成し、この絶縁膜の上に金属配
線と同一の金属からなる放熱板を設けることにより、従
来の多結晶シリコン抵抗器の製造工程を変えることなく
、放熱効果の良い多結晶クリコン抵抗器を製造すること
が可能になり、従来の多結晶シリコン抵抗器では欠点と
なっていた小型の抵抗で大電流を扱うことのでさ″る抵
抗器を蘭単に実現できるという効果がある。
いので、発生したジュール熱の多くは絶縁膜4を介し金
属から成る放熱板51C伝専され、空気対流によシ半導
体集積回路外へ放出される。便って多結晶シリコンから
成る抵抗体3中を比較的大きな電流が流れる場合でも、
温度上昇を抑えることができ、抵抗体3の面積を広くす
る必要がないという利点がある。さらに、これら半導体
基板は非常に小形のものであり、放熱&5の厚さも金属
配線7の厚さと同じ5〜10μ程度のものでも十分効果
があるため、放熱板5の金属を釡鵬配緑7の金属と同一
の例えばアルミニウムなどを用いることにより、同一工
程で形成することが可能である0 発明の効果 以上に説明したように、不発明によれば、絶縁膜で覆わ
れた半導体基板上に形成された多結晶シリコンから成る
抵抗体の上に絶縁膜を形成し、この絶縁膜の上に金属配
線と同一の金属からなる放熱板を設けることにより、従
来の多結晶シリコン抵抗器の製造工程を変えることなく
、放熱効果の良い多結晶クリコン抵抗器を製造すること
が可能になり、従来の多結晶シリコン抵抗器では欠点と
なっていた小型の抵抗で大電流を扱うことのでさ″る抵
抗器を蘭単に実現できるという効果がある。
第1図は本発明の多結晶シリコン抵抗器の実施例の縦断
面図、第2図は第1図の平面図、第3図は従来の一例の
縦断面図、第4図は第3図の平面図である。 】 ・・・・・半導体基板、2・・・・・・第1の絶縁
膜、3・・・・・抵抗体、4・・・・・・第2の絶縁膜
、5・・・・・放熱板、6・・・・・コンタクト、7・
・・・・全域配線。
面図、第2図は第1図の平面図、第3図は従来の一例の
縦断面図、第4図は第3図の平面図である。 】 ・・・・・半導体基板、2・・・・・・第1の絶縁
膜、3・・・・・抵抗体、4・・・・・・第2の絶縁膜
、5・・・・・放熱板、6・・・・・コンタクト、7・
・・・・全域配線。
Claims (1)
- 第1の絶縁膜により覆われた半導体基板上に形成された
多結晶シリコンから成る抵抗体と、この抵抗体上に形成
された第2の絶縁膜と、前記抵抗体より電極を取り出す
ために前記第2の絶縁膜の一部に穴をあけることにより
作られた2個のコンタクトと、これら2個のコンタクト
を介し前記抵抗体に接続される金属配線とからなる多結
晶シリコン抵抗器において、前記第2の絶縁膜上に前記
抵抗体の部分を覆うように配設された放熱板を備えてい
ることを特徴とする多結晶シリコン抵抗器。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4243686A JPS62199047A (ja) | 1986-02-27 | 1986-02-27 | 多結晶シリコン抵抗器 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4243686A JPS62199047A (ja) | 1986-02-27 | 1986-02-27 | 多結晶シリコン抵抗器 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS62199047A true JPS62199047A (ja) | 1987-09-02 |
Family
ID=12636016
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4243686A Pending JPS62199047A (ja) | 1986-02-27 | 1986-02-27 | 多結晶シリコン抵抗器 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS62199047A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH03104156A (ja) * | 1989-09-18 | 1991-05-01 | Sanyo Electric Co Ltd | 半導体装置 |
| KR20020090847A (ko) * | 2001-05-29 | 2002-12-05 | 미쓰비시덴키 가부시키가이샤 | 반도체 장치 |
| JP2010177506A (ja) * | 2009-01-30 | 2010-08-12 | Nec Corp | 配線基板及びその製造方法 |
| CN104037173A (zh) * | 2013-03-08 | 2014-09-10 | 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司 | 多晶硅电阻结构及其形成方法 |
-
1986
- 1986-02-27 JP JP4243686A patent/JPS62199047A/ja active Pending
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH03104156A (ja) * | 1989-09-18 | 1991-05-01 | Sanyo Electric Co Ltd | 半導体装置 |
| KR20020090847A (ko) * | 2001-05-29 | 2002-12-05 | 미쓰비시덴키 가부시키가이샤 | 반도체 장치 |
| JP2010177506A (ja) * | 2009-01-30 | 2010-08-12 | Nec Corp | 配線基板及びその製造方法 |
| CN104037173A (zh) * | 2013-03-08 | 2014-09-10 | 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司 | 多晶硅电阻结构及其形成方法 |
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