JPS62199047A - 多結晶シリコン抵抗器 - Google Patents

多結晶シリコン抵抗器

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JPS62199047A
JPS62199047A JP4243686A JP4243686A JPS62199047A JP S62199047 A JPS62199047 A JP S62199047A JP 4243686 A JP4243686 A JP 4243686A JP 4243686 A JP4243686 A JP 4243686A JP S62199047 A JPS62199047 A JP S62199047A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
resistor
insulating film
polycrystalline silicon
heat sink
metal
Prior art date
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Pending
Application number
JP4243686A
Other languages
English (en)
Inventor
Tomoaki Masuda
増田 智章
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
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Publication date
Application filed by NEC Corp filed Critical NEC Corp
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Publication of JPS62199047A publication Critical patent/JPS62199047A/ja
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は半導体集積回路に関し、特に半導体基板上の多
結晶シリコン抵抗器に関するものである0従来の技術 従来、この種の半導体集積回路にて用いられている多結
晶シリコンから成る抵抗器の一例は、第3図の断面図お
よび第4因子面図に示すように、ハ 半導体基板1を絶縁膜2で覆い、この絶縁膜2上に多結
晶クリコンを抵抗体3として形成していた。
そして多結晶クリコンは、中に特定の不純物を拡散する
ことによって、一定の層抵抗を得るものである。従って
多結晶シリコンからなる抵抗体3の抵抗値は、抵抗体3
の幅Wと抵抗体の電極の取り出し口となる2個のコンタ
クト6の間隔りの比L/Wと層抵抗との積で表わされ、
不要な部分を工、チングによって除去し、希望する抵抗
値を有する抵抗体3を作る。次に多結晶シリコンから成
る抵抗体3を絶縁膜4で覆い、抵抗体3の電極の取り出
し口、となるコンタクト6を絶縁膜4に穴をあけて作り
、半導体基板1上の他の素子と抵抗体3とを接続するた
めの金属配叡7を絶縁膜4上に蒸着等の方法で形成して
いた。(例えば特開昭49−19778号) なお、第4図の平面図においては、便宜上第2の絶縁膜
を取り除いて示している。
しかしながら、この多結晶シリコン抵抗器の層の厚さは
約0.5μ程度と非常に薄いため、抵抗値が比較的大き
く、比較的大きい電流例えば数mAを固有抵抗が数百0
備の多結晶シリコン抵抗器に筒密度に流した場合に、発
生するジュール熱に対して、抵抗体3から絶瞬膜4に伝
導し放出これる熱が小さいために、温度上昇を招くとい
う欠点があった。この欠点を解決するために、従来の多
結晶シリコン抵抗器では、多結晶シリコンの電流密度を
減らし、かつ放熱の面積を太きくし、熱を放出しやすく
する方法が採られていたoしかし多結晶シリコン抵抗器
の抵抗値は、先に述べた通り抵抗体30幅Wに対する抵
抗体3上のコンタクト6の間隔りの比L/Wに比例する
ので、面積を広くする場合、LとWとの双方を拡大しな
ければならず、半導体集積回路の小型化が図れないとい
う欠点があった。
発明が解決しようとする問題点 本発明の目的は、上記の欠点、すなわち抵抗体からの放
熱が小さく温度上昇を招き易いとか、抵抗体の面積が大
きくなりすぎるという問題点を解決した多結晶シリコン
抵抗器を提供することにある0 問題点を解決するだめの手段 本発明は上述の欠点を解決するために、第1の絶縁膜に
より覆われた半導体基板と、この基板上に形成された多
結晶シリコンからなる抵抗体と、この抵抗体を憶う第2
の絶縁膜と、この抵抗体から電極を取シ出すために抵抗
体を伽っている第2の絶縁膜の一部に穴をあけ、この絶
縁膜の上に形成された2個のコンタクトと、このコンタ
クトを介して抵抗体から他の素子に接続される金属配線
と、第2の絶醸膜上に抵抗体の部分を覆うようにして配
設された金属から成る放熱板とからなる構成を採用する
ものである。
作用 本発明は上述のように構成したので、抵抗体から発生す
る熱は、第2の絶AMを介して金属の放熱板に伝導され
、効率よく大気中に放散される。
その他の作用については従来と変らない。
実施例 矢に本発明の実施例について図面を参照して説明する。
本発明の一実施例を縦断圓図で示す第1図および平面図
で示す第2図を参照すると、本発明の多結晶7リコン抵
抗器は、第10M!R膜2で覆われた半導体基&1と、
多結晶シリコンから成る抵抗体3と、この抵抗体3を積
う第2の絶縁膜4と、金属からなる放熱板5と、コンタ
クト6と、金属配線7とからなり、第1の絶縁膜2は半
導体基板】と抵抗体3との間を絶縁し、第2の絶縁膜4
は抵抗体3を放熱板5および金属配?#A7から絶縁し
ている。またコンタクト6は多結晶シリコンから成る低
抗体3と金@配線7とを電気的に接続する作用をしてい
る。なお第2図の平面図では、便宜上第2の絶縁膜4を
取り除いて示している0いま、抵抗体3に金属配線7か
らコンタクト6を介して’KNeが流れ込むと、ジェー
ルの法則により抵抗体3は熱を発生し、この発生した熱
は第1の絶縁膜2および第2の絶縁膜4を介して半導体
基板lおよび金属から成る放熱板5に伝導される。
金@はシリコン等と比較して比熱が小さく熱伝導率も良
いので、発生したジュール熱の多くは絶縁膜4を介し金
属から成る放熱板51C伝専され、空気対流によシ半導
体集積回路外へ放出される。便って多結晶シリコンから
成る抵抗体3中を比較的大きな電流が流れる場合でも、
温度上昇を抑えることができ、抵抗体3の面積を広くす
る必要がないという利点がある。さらに、これら半導体
基板は非常に小形のものであり、放熱&5の厚さも金属
配線7の厚さと同じ5〜10μ程度のものでも十分効果
があるため、放熱板5の金属を釡鵬配緑7の金属と同一
の例えばアルミニウムなどを用いることにより、同一工
程で形成することが可能である0 発明の効果 以上に説明したように、不発明によれば、絶縁膜で覆わ
れた半導体基板上に形成された多結晶シリコンから成る
抵抗体の上に絶縁膜を形成し、この絶縁膜の上に金属配
線と同一の金属からなる放熱板を設けることにより、従
来の多結晶シリコン抵抗器の製造工程を変えることなく
、放熱効果の良い多結晶クリコン抵抗器を製造すること
が可能になり、従来の多結晶シリコン抵抗器では欠点と
なっていた小型の抵抗で大電流を扱うことのでさ″る抵
抗器を蘭単に実現できるという効果がある。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の多結晶シリコン抵抗器の実施例の縦断
面図、第2図は第1図の平面図、第3図は従来の一例の
縦断面図、第4図は第3図の平面図である。 】 ・・・・・半導体基板、2・・・・・・第1の絶縁
膜、3・・・・・抵抗体、4・・・・・・第2の絶縁膜
、5・・・・・放熱板、6・・・・・コンタクト、7・
・・・・全域配線。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 第1の絶縁膜により覆われた半導体基板上に形成された
    多結晶シリコンから成る抵抗体と、この抵抗体上に形成
    された第2の絶縁膜と、前記抵抗体より電極を取り出す
    ために前記第2の絶縁膜の一部に穴をあけることにより
    作られた2個のコンタクトと、これら2個のコンタクト
    を介し前記抵抗体に接続される金属配線とからなる多結
    晶シリコン抵抗器において、前記第2の絶縁膜上に前記
    抵抗体の部分を覆うように配設された放熱板を備えてい
    ることを特徴とする多結晶シリコン抵抗器。
JP4243686A 1986-02-27 1986-02-27 多結晶シリコン抵抗器 Pending JPS62199047A (ja)

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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH03104156A (ja) * 1989-09-18 1991-05-01 Sanyo Electric Co Ltd 半導体装置
KR20020090847A (ko) * 2001-05-29 2002-12-05 미쓰비시덴키 가부시키가이샤 반도체 장치
JP2010177506A (ja) * 2009-01-30 2010-08-12 Nec Corp 配線基板及びその製造方法
CN104037173A (zh) * 2013-03-08 2014-09-10 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司 多晶硅电阻结构及其形成方法

Cited By (4)

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Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH03104156A (ja) * 1989-09-18 1991-05-01 Sanyo Electric Co Ltd 半導体装置
KR20020090847A (ko) * 2001-05-29 2002-12-05 미쓰비시덴키 가부시키가이샤 반도체 장치
JP2010177506A (ja) * 2009-01-30 2010-08-12 Nec Corp 配線基板及びその製造方法
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