JPS62200532A

JPS62200532A - 光デイスク

Info

Publication number: JPS62200532A
Application number: JP61039306A
Authority: JP
Inventors: Wasaku Yamada; 山田　和作
Original assignee: Ricoh Co Ltd
Current assignee: Ricoh Co Ltd
Priority date: 1986-02-26
Filing date: 1986-02-26
Publication date: 1987-09-04

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】［技術分野］本発明は、光ディスクに関する。

［従来技術］近年、光反応記録材料（光記憶媒体）を円盤状に成形し
た光ディスクを記憶媒体として用いる光デイスク装置を
、電算機システムの補助記憶装置等に使用とする提案が
ある。

このような光ディスクの概略構成を、第６図および第７
図に示す。

図において、光ディスク１は、ベース材２）記録フォー
マットに従ったプリフォーマット領域（後述）が形成さ
れている一本の記録トラックＴＲが螺旋状に形成された
アクリル樹脂等の透明材からなるディスク材３、および
、ベース材２とディスク材３をエアギャップ４を介して
結合するスペーサ５からなり、ディスク材３のエアギャ
ップ４側の面には光反応記録材料が一様の厚さく例えば
データを記録再生するレーザビームの１／８波長）に形
成されている。また、６は光ディスク１を回転駆動する
モータ（図示１１１８）のスピンドルが挿通されるスピ
ンドル孔である。

このような記録トラックＴＲは、その幅およびトラック
間の距離がともに１μｍ程度の、非常に微細な構造をも
つ。

記録トラックＴＨの信号フォーマットの一例を第８図（
ａ）、（ｂ）に示す。

図において、記録トラックＴＲには、プリフォーマット
領域ＰＦ、データ領域ＯＦおよびプリフォーマット領域
ＰＦとデータ領域ＤＦを隔てるギャップＧＰＩからなる
セクタＳＣが、ギャップＧＰ２に隔てられて複数個連続
的に設定される。

また、プリフォーマット領域ＰＦは、回路条件を整合す
るための同期信号すなわちデータ書き込み読み出し回路
のピットクロックを記録データの発生タイミングに同期
させるためのビット同期信号ＢＳからなるプリアンプル
、このプリフォーマット領域ＰＦを検出するための自己
相関の鋭いビット列（パターン）からなるセクタ同期信
号ＳＳ、および。

セクタＳＣを識別するためのセクタアドレスＳＡからな
る。

なお、プリアンプルをなすビット同期信号ＢＳとしては
、光ディスク１にレーザディスクを照射して、反射光を
検出する光ピツクアップ部からの読み出し信号によりビ
ットクロックおよびデータを抽出するためのＰＬＬ（Ｐ
ｈａｓｅ　Ｌｏｃｋｅｄ　Ｌｏｏｐ）回路を、適確にロ
ックできるような信号が用いられる。例えば、最小反転
周期で読み出し信号の状態を変化する信号（すなわち、
記録状態が最小ピット（小孔）長の繰り返しになるｒｏ
ｌｏｌｏｌ・・・」である。

また、データ領域ＤＦは、フレーム同期信号ＦＳが付設
されてフレーム構成をとる複数個のデータと、これらの
データの先頭に付設されたプリアンプル（ビット同期信
号ＢＳ）からなる、なお、フレーム同期信号ＦＳは、セ
クタ同期信号ｓｓと同様の自己相関の鋭いパターンから
なる。

第９図に示したように、このようなプリフォーマット領
域ＰＦは、光ディスク１の製造時に形成されており、ま
た、データ領域ＤＦに相当する部分は。

光ピツクアップを案内できるような案内溝であるデータ
溝ＤＧに形成されている。また、プリフォーマット領域
ＰＦを形成しているピットは、レーザビームの１／４波
長の深さをもち、またデータ溝ＤＧは、レーザビームの
１７８の波長の深さに形成されている。

このようにして、光ディスク１には極く微細な構造の記
録トラックＴＲが形成され、この記録トラックＴＲには
さらに微細な構造のデータビットからなるプリフォーマ
ット領域ＰＦが形成されている。

゛また、これらの記録トラックＴＲおよびプリフォーマ
ット領域ＰＦを形成するピットは、それらの凹凸状態が
反転されて形成されている母型を転写することでディス
ク材３に直接形成される。

したがって、ディスク材３の表面に形成した光反応記録
材料の厚さの不拘−１反射率のばらつき。

あるいは、ディスク材３を形成するときの転写工程での
極く僅かな欠陥によりデータエラーが発生しやすく、そ
のために、工場出荷時に反射率等の検査を実施し、この
検査で欠陥が発見された光ディスクは、通常廃棄される
。

従来、この光ディスクの検査は、実際に記録トラックを
トレースしてその反射率を検出することで行なっている
。

しかしながら、このような検査方法では、１枚の光ディ
スクを検査するために数時間を要するので、非常に効率
が悪い。

一般に、光ディスクにおける欠陥の分布は、はぼ同心円
状になるので、例えば記録トラックの内周部あるいは外
周部のいずれかを検査するだけではその光デイスク全体
の信頼度を判別することができず、比較的広範囲に渡っ
て検査する必要があり、記録トラックを直接トレースし
た場合には、いずれにせよ時間がかかる。

また、実際に記録トラックにデータを書き込み、その書
き込んだデータを読み出して書き込む前のデータと比較
すること（ベリファイ）で、さらに信頼性の高い検査を
実施できるが、記録トラックに検査用のデータを記録す
るとその記録したセクタを使用できなくなり、また特定
のセクタを検査用のセクタに設定するとデータの記録の
ためのセクタの管理が複雑になって好ましくない。

［目的］本発明は、このような実情に鑑みてなされたものであり
、検査を簡単に実施できる光ディスクを提供することを
目的としている。

［構成］本発明は、データ溝と交差する方向に、データ溝が形成
されている領域の外側にわたって検査用の検査溝を形成
し、この検査溝をトレースすることで光ディスクを検査
できるようにしている。

以下、添付図面を参照しながら、本発明の実施例を詳細
に説明する。

第１図は、本発明の一実施例にかかる光ディスク１を示
している。

同図において、この光ディスク１は、第６図および第７
図に示した従来のものに、半径方向に４つの検査溝１１
〜１４を形成したものである。

この検査溝１１〜１４は、第２図に示したように、記録
トラックＴＲのデータ溝ＤＧと同じ深さでかつほぼ同じ
幅に設定され、その両端部が記録トラックＴＲの最外周
および最内周よりも外側にそれぞれ若干突出している。

このようにして、検査溝１１〜１４を設けたので。

光ディスクｌを検査するときには、この検査溝１１〜１
４をトレースして反射率を検出するだけで、光ディスク
１の記録トラックＴＲの最外周から最内周までの反射率
を判別することができる。

また、検査溝１１〜１４は、記録トラックＴＲの最外周
および最内周よりも外側に、突出しているので。

検査溝１１〜１４を探すときには、記録トラックＴＲの
外側の部分をスキャンすればよいので、検査溝１１〜１
４を容易に検出することができる。

なお、検査溝１１−１４の深さを記録トラックＴＲのデ
ータ溝ＤＧと同じ深さに設定し、かつ、この検査溝１１
−１４にはなにもデータを記録していないので。

データの記録再生時に光ヘッド（図示路）を記録トラッ
クＴＨに位置決めするためのトラッキング制御に、この
検査溝１１〜１４が原因となる悪影響があられれる可能
性は少ない。すなわち、データ溝ＤＧに案内された光ヘ
ッドが検査溝１１〜１４と交差する部分を通過するとき
、反射光のレベル等が変動することが考えられるが、デ
ータ溝ＤＧと検査溝１１〜１４が交差している部分の間
隔が比較的広いので、その影響が続く範囲は極くわずか
でありすぐ回復する。そのため、トラッキング制御に悪
影響があられれる可能性は小さい。

ところで、光ディスク１を回転する方法には、光ヘッド
に対する光ディスク１の記録トラックの線速度を一定に
保つ方法と、角速度を一定に保つ方法の２つがある。前
者の方法を等線速度（ＣＬＶ）と称し、後者の方法を等
角速度（ＣＡＶ）と称す。

等線速度で駆動するときには、光ディスク１の回転速度
（角速度）は光ヘッドの位置によって変化し２等角速度
で駆動するときには、光ディスクｌの回転速度は一定で
ある。

そのために１等角速度で駆動される光ディスク１″は、
第３図に示したように、プリフォーマット領域ＰＦが半
径方向に一直線に並ぶ。

従来技術の欄で説明したように、セクタとセクタの間に
はギャップＧＰ２が位置しく第８図（ａ）　ｖ　（ｂ）
参照）、シたがって、このギャップＧＰ２の部分も半径
方向に一直線に並ぶ、このギャップＧＰ２は、データ溝
ＤＧが形成されていない部分なので、データ溝ＤＧが切
れている部分が半径方向に一直線に並ぶ。

そこで１等線速度で駆動される光ディスク１′には、デ
ータ溝ＤＧが切れているギャップＧＰ２の部分に検査溝
２１を形成する。なお、この検査溝２１は、各プリフォ
ーマット領域ＰＦに対応して複数個を形成することがで
きる。また、その深さはデータ溝ＤＧと同じに設定し、
幅はデータ溝ＤＧと同程度に設定する。

この場合、検査溝２１が形成されている部分にはデータ
溝ＤＧが位置しないので、検査溝２１を形成したことが
原因して、データ溝ＤＧへの光ヘッドのトラッキング制
御になんらかの悪影響が出るおそれはない。

また、検査溝２１にデータを記録した場合でも、この検
査溝２１に記録されたデータによって記録トラックＴＨ
に記録されるデータが影響されることはない。したがっ
て、検査時、この検査溝２１に所定のデータを書き込み
、その書き込んだデータを読み出して元のデータと比較
する処理を実施することができる。

またさらに、記録トラックＴＲにプリフォーマット領域
ＰＦを形成したように、あらかじめ検査溝２１に所定の
データを形成しておき、検査時にその形成したデータを
読み出して元のデータと比較することで、ディスク材へ
のデータの形成状況（例えばプリフォーマット領域ＰＦ
の良否）を判断することもできる。

ところで、上述した実施例では、半径方向に複数の検査
溝を設けているが、第５図に示したように、螺旋状の検
査溝ＣＧを１本形成しても、上述したものと同様な効果
を得られ、さらに、検査時に１つの検査溝ＣＧをトレー
スするだけで光ディスク１″の検査が終了するので、検
査に要する時間をさらに短縮できる。

［効果］以上説明したように１本発明によれば、データ溝と交差
する方向に、データ溝が形成されている領域の外側にわ
たって検査用の検査溝を形成し、この検査溝をトレース
することで検査できるようにしているので、光ディスク
の検査を極めて簡単に実施できるという効果を得られる
。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の一実施例にかかる光ディスクを示した
平面図、第２図は検査溝の一例を示した概略構成図、第
３図は本発明の他の実施例にかかる光ディスクを示した
平面図、第４図は検査溝の他の例を示した概略構成図、
第５図は本発明のさらに他の実施例を示した平面図、第
６図は光ディスクの従来例を示した平面図、第７図は光
ディスクの構造を示した断面図、第８図（ａ）、（ｂ）
はデータの記録形式を示した信号配置図、第９図はデー
タ溝とプリフォーマット領域の一例を示した概略構成図
である。１．１’、１”・・・光ディスク、１１〜１４．２１．
ＣＧ・・・検査溝。代理人　弁理士　　紋　１）　誠　　″第１図第２図第３図第４図第５図第６図第７図

Claims

【特許請求の範囲】

（１）円盤状の光記憶媒体に記録トラックをなすデータ
溝および記録トラックへのデータの記録の区切りを示す
プリフォーマットデータをあらかじめ形成した光ディス
クにおいて、上記データ溝と交差する方向に、そのデー
タ溝が形成されている領域よりも外側の領域にわたって
検査用の検査溝を形成することを特徴とする光ディスク
。
（２）特許請求の範囲第１項記載において、前記検査溝
は、半径方向に複数個形成されることを特徴とした光デ
ィスク。
（３）特許請求の範囲第１項記載において、前記検査溝
には、あらかじめ所定のデータを記録することを特徴と
する光ディスク。