JPS62203003A - 凸非球面形状測定装置 - Google Patents
凸非球面形状測定装置Info
- Publication number
- JPS62203003A JPS62203003A JP61045581A JP4558186A JPS62203003A JP S62203003 A JPS62203003 A JP S62203003A JP 61045581 A JP61045581 A JP 61045581A JP 4558186 A JP4558186 A JP 4558186A JP S62203003 A JPS62203003 A JP S62203003A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- light
- convex
- reflected
- aspherical surface
- half mirror
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Landscapes
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は、反射型ノ゛−ンプレートを用いて、凸非球面
の形状を測定する凸非球面形状測定装置に関するもので
ある。
の形状を測定する凸非球面形状測定装置に関するもので
ある。
従来の技術
以下、第2図に基ずいて凸非球面形状測定の従来技術に
ついて説明する。
ついて説明する。
まず、第2図に示すように矢印Aから入射するレーザ一
平面波が、ハーフミラ−21で透過光さ反射光とに2等
分される。そして、その透過光は、ハーフミラ−22を
透過後、凸レンズ23を透過し、被測凸非球面24で反
射し、再び凸レンズ23を透過し、ハーフミラ−22で
反射し、凸レンズ25の方向に進む。
平面波が、ハーフミラ−21で透過光さ反射光とに2等
分される。そして、その透過光は、ハーフミラ−22を
透過後、凸レンズ23を透過し、被測凸非球面24で反
射し、再び凸レンズ23を透過し、ハーフミラ−22で
反射し、凸レンズ25の方向に進む。
一方、ハーフミラ−21で反射した光はミラー26 、
27で反射し、ホログラム28で回折し、ハーフミラ−
22を透過し、凸レンズ25に至る。ここで、ホログラ
ム28の位置は、被測凸非球面24の凸レンズ23に関
する像位置と共役な位置とする。この時、凸レンズ25
に至った光は、凸レンズ25を透過し、ピンホール29
を経て、ホログラム28の回折光と、被測凸非球面24
の凸レンズ23に関する像を形成する光とは干渉する。
27で反射し、ホログラム28で回折し、ハーフミラ−
22を透過し、凸レンズ25に至る。ここで、ホログラ
ム28の位置は、被測凸非球面24の凸レンズ23に関
する像位置と共役な位置とする。この時、凸レンズ25
に至った光は、凸レンズ25を透過し、ピンホール29
を経て、ホログラム28の回折光と、被測凸非球面24
の凸レンズ23に関する像を形成する光とは干渉する。
その干渉縞を測定することにより、被測凸非球面の形状
を知ることができる。
を知ることができる。
なお、このような技術を紹介するものとして、P198
2〜1992 )等がある。
2〜1992 )等がある。
発明が解決しようとする問題点
しかし、第2図に示した様な構成では、ハーフミラ−2
枚、ミラー2枚と干渉計の構成要素が多く、そのためミ
ラー、ハーフミラ−の形状誤差、アライメント誤差を取
り除くことが非常に困難だった。また、透過型ホログラ
ムを用いるため、光の利用効率が低く、干渉縞形状のコ
ントラストの低下を招と、測定形状の認識誤差の原因と
なっていた。
枚、ミラー2枚と干渉計の構成要素が多く、そのためミ
ラー、ハーフミラ−の形状誤差、アライメント誤差を取
り除くことが非常に困難だった。また、透過型ホログラ
ムを用いるため、光の利用効率が低く、干渉縞形状のコ
ントラストの低下を招と、測定形状の認識誤差の原因と
なっていた。
本発明は、上記従来技術の欠点に°監み、ミラー系の誤
差要因を減らし、光の利用効率を高くし、被測凸非球面
の測定形状を高精度に認識できることを目的とする。
差要因を減らし、光の利用効率を高くし、被測凸非球面
の測定形状を高精度に認識できることを目的とする。
問題点を解決するだめの手段
本発明はレーサー光源より出射された平面波を透過光と
反射光きに分けるハーフミラ−と、前記ハーフミラ−で
等分された位置に設けられ、前記ハーフミラ−の透過光
と反射光とを入射する同一形状の第1.第2の凸レンズ
と、前記第1の凸レンズの出射光を被測凸非球面で反射
させ、前記第2の凸レンズの出射光を反射型のゾーンプ
レートで反射させ、前記被測凸非球面の反射光が前記第
1の凸レンズを通った後の光と前記反射型のゾーンプレ
ートの反射光光が前記第2のレンズを通った後の光とを
重ねる手段と、その光の重ね合わせにより生じる干渉縞
を観測する観測手段とを設けることにより、上記目的を
達成するものである。
反射光きに分けるハーフミラ−と、前記ハーフミラ−で
等分された位置に設けられ、前記ハーフミラ−の透過光
と反射光とを入射する同一形状の第1.第2の凸レンズ
と、前記第1の凸レンズの出射光を被測凸非球面で反射
させ、前記第2の凸レンズの出射光を反射型のゾーンプ
レートで反射させ、前記被測凸非球面の反射光が前記第
1の凸レンズを通った後の光と前記反射型のゾーンプレ
ートの反射光光が前記第2のレンズを通った後の光とを
重ねる手段と、その光の重ね合わせにより生じる干渉縞
を観測する観測手段とを設けることにより、上記目的を
達成するものである。
作 用
本発明は上記構成のように、ハーフミラ−を1枚用いる
だけで、また反射型のゾーンプレートを用いることによ
り、ミラー系のアライメント誤差、形状誤差を大巾に軽
減し、また光の利用効率が高くなり、干渉縞のコントラ
ストが向上し、干渉縞の読取り誤差要因が軽減され、高
精度で凸非球面を測定することができる。
だけで、また反射型のゾーンプレートを用いることによ
り、ミラー系のアライメント誤差、形状誤差を大巾に軽
減し、また光の利用効率が高くなり、干渉縞のコントラ
ストが向上し、干渉縞の読取り誤差要因が軽減され、高
精度で凸非球面を測定することができる。
実施例
以下、図面を参照しながら本発明の一実施例について説
明する。
明する。
第1図は本発明の一実施例における凸非球面形状測定装
置の要部概念図である。
置の要部概念図である。
第1図において、1はレーザー光源2からのレーザー光
を平面波とするコリメーターレンズ、3はコリメーター
レンズ1を介して入射するレーザー光の平面波を透過光
と反射光とに分けるハーフミラ−14,5はその透過光
と反射光とが入射する同一形状の凸レンズ、6は被測凸
非球面、7は反射型のゾーンプレート、8は凸レンズ4
,5からの球面波をハーフミラ−3を介して結像させる
結像レンズ、9は結像レンズ8により生じる干渉縞によ
り被測凸非球面6の形状を見る観測面である。
を平面波とするコリメーターレンズ、3はコリメーター
レンズ1を介して入射するレーザー光の平面波を透過光
と反射光とに分けるハーフミラ−14,5はその透過光
と反射光とが入射する同一形状の凸レンズ、6は被測凸
非球面、7は反射型のゾーンプレート、8は凸レンズ4
,5からの球面波をハーフミラ−3を介して結像させる
結像レンズ、9は結像レンズ8により生じる干渉縞によ
り被測凸非球面6の形状を見る観測面である。
上記構成において、以下その動作を説明する。
ます、レーサー光源2より発したレーザー光は、コリメ
ータレンズlで平面波となり、ハーフミラ−3で反射光
吉透過光の2つに分かれる。ハーフミラ−3の反射光は
凸レンズ4を通り、被測凸非球面6で反射後、再び凸レ
ンズ4を通り、ハーフミラ−3を介して結像レンズ8に
より干渉縞の観測面9に至る。
ータレンズlで平面波となり、ハーフミラ−3で反射光
吉透過光の2つに分かれる。ハーフミラ−3の反射光は
凸レンズ4を通り、被測凸非球面6で反射後、再び凸レ
ンズ4を通り、ハーフミラ−3を介して結像レンズ8に
より干渉縞の観測面9に至る。
一方、ハーフミラ−3を通過し、凸レンズ5に至った光
は、反射型のゾーンプレート7で回折し、その光は再度
凸レンズ5を通り、ハーフミラ−3で反射後、結像レン
ズ8を介して干渉縞の観察面に至る。ここで、凸レンズ
4,5は全く同じ形状をしていて、凸レンズ4及び5の
距離がハーフミラ−3から互いに等しいようにし、また
反射型のゾーンプレート7による回折光が被測凸非球面
・lの反射光と等しくなるように反射型のゾーンプレー
ト7を作成することにより、干渉縞の観測面9には被測
凸非球面6の本来の形状からのずれの分だけの干渉縞が
観察できる。
は、反射型のゾーンプレート7で回折し、その光は再度
凸レンズ5を通り、ハーフミラ−3で反射後、結像レン
ズ8を介して干渉縞の観察面に至る。ここで、凸レンズ
4,5は全く同じ形状をしていて、凸レンズ4及び5の
距離がハーフミラ−3から互いに等しいようにし、また
反射型のゾーンプレート7による回折光が被測凸非球面
・lの反射光と等しくなるように反射型のゾーンプレー
ト7を作成することにより、干渉縞の観測面9には被測
凸非球面6の本来の形状からのずれの分だけの干渉縞が
観察できる。
発明の効果
以上の様に本発明では、ハーフミラ−1枚を用いるだけ
で、他に一切のミラー系を用いず、ミラ−系のアライメ
ント誤差、形状誤差を大巾lこ軽減し、かつ、反射型の
ゾーンプレートを用いることにより、光の利用効率が高
くなり、干渉縞のコントラストが向上し、干渉縞の読取
り誤差要因が軽減され、高精度で凸非球面を測定するこ
きがでと、その効果は大きい。
で、他に一切のミラー系を用いず、ミラ−系のアライメ
ント誤差、形状誤差を大巾lこ軽減し、かつ、反射型の
ゾーンプレートを用いることにより、光の利用効率が高
くなり、干渉縞のコントラストが向上し、干渉縞の読取
り誤差要因が軽減され、高精度で凸非球面を測定するこ
きがでと、その効果は大きい。
第1図は本発明の一実施例における凸非球面形状測定装
置の要部概念図、第2図は従来の凸非球面形状測定装置
の要部概念図である。 1・・コリメーターレンズ、2・ レーザー光源、3・
・・ハーフミラ−14,5・・・凸レンズ、6・・・被
測凸非球面、7・・・反射型のゾーンプレート、8・・
・結像レンズ、9・・・観測面。 代理人の氏名 弁理士 中 尾 敏 男 はか1名Ml
図 ”f T v−h町のwy口
置の要部概念図、第2図は従来の凸非球面形状測定装置
の要部概念図である。 1・・コリメーターレンズ、2・ レーザー光源、3・
・・ハーフミラ−14,5・・・凸レンズ、6・・・被
測凸非球面、7・・・反射型のゾーンプレート、8・・
・結像レンズ、9・・・観測面。 代理人の氏名 弁理士 中 尾 敏 男 はか1名Ml
図 ”f T v−h町のwy口
Claims (1)
- レーザー光源より出射された平面波を透過光と反射光と
に分けるハーフミラーと、前記ハーフミラーで等分され
た位置に設けられ、前記ハーフミラーの透過光と反射光
とを入射する同一形状の第1、第2の凸レンズと、前記
第1の凸レンズの出射光を被測凸非球面で反射させ、前
記第2の凸レンズの出射光を反射型のゾーンプレートで
反射させ、前記被測凸非球面の反射光が前記第1の凸レ
ンズを通った後の光と前記反射型のゾーンプレートの反
射光光が前記第2のレンズを通った後の光とを重ねる手
段と、その光の重ね合わせにより生じる干渉縞を観測す
る観測手段とを具備する凸非球面形状測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61045581A JPS62203003A (ja) | 1986-03-03 | 1986-03-03 | 凸非球面形状測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61045581A JPS62203003A (ja) | 1986-03-03 | 1986-03-03 | 凸非球面形状測定装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS62203003A true JPS62203003A (ja) | 1987-09-07 |
Family
ID=12723313
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP61045581A Pending JPS62203003A (ja) | 1986-03-03 | 1986-03-03 | 凸非球面形状測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS62203003A (ja) |
-
1986
- 1986-03-03 JP JP61045581A patent/JPS62203003A/ja active Pending
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US6909510B2 (en) | Application of the phase shifting diffraction interferometer for measuring convex mirrors and negative lenses | |
| EP1225420A2 (en) | Laser-based interferometric measuring apparatus and method | |
| JPS63215902A (ja) | 物体の位置検出装置 | |
| US3642374A (en) | Optical inspecting method | |
| JPS62203003A (ja) | 凸非球面形状測定装置 | |
| JPH06288735A (ja) | 放物面鏡形状検査測定用の位相共役干渉計 | |
| JPS5953209U (ja) | 光学式測長スケ−ル | |
| JPS5945506U (ja) | 光学式測長スケ−ル | |
| JP2001241916A (ja) | 斜入射干渉計用光学系およびこれを用いた装置 | |
| JPH05164991A (ja) | 干渉計装置 | |
| JPH0814854A (ja) | 計算機ホログラムを有する平板及びそれを用いた計測 方法 | |
| JPH02259512A (ja) | 一体型干渉測定装置 | |
| JP2899688B2 (ja) | 円筒面検査用ホログラム干渉計 | |
| JPH11325848A (ja) | 非球面形状測定装置 | |
| JP2621792B2 (ja) | 空間的コヒーレンスの測定方法およびその測定装置 | |
| JPH04151542A (ja) | 球面ミラー及び浮遊微粒子計数器 | |
| JPS63298107A (ja) | 斜入射干渉計装置 | |
| JPH0334002B2 (ja) | ||
| JPS61187630A (ja) | シリンドリカルレンズの光学的測定法 | |
| JPH0540025A (ja) | 形状測定装置 | |
| CN120576691A (zh) | 一种自准直仪中心共轭像消除系统 | |
| JPS60129652U (ja) | アナモフィックレンズの焦線曲り量測定装置 | |
| JP3373552B2 (ja) | 反射対物レンズのアライメント解析方法および反射対物レンズの調整方法 | |
| JPS61272605A (ja) | 面形状測定用干渉計 | |
| JPH0323485A (ja) | ホログラム作成装置 |