JPS62228962A - 計数率計 - Google Patents
計数率計Info
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- JPS62228962A JPS62228962A JP7074386A JP7074386A JPS62228962A JP S62228962 A JPS62228962 A JP S62228962A JP 7074386 A JP7074386 A JP 7074386A JP 7074386 A JP7074386 A JP 7074386A JP S62228962 A JPS62228962 A JP S62228962A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の目的〕
（産業上の利用分野）
この発明は、放射線計測装置に関し、特にデジタル式放
射線計数率計に関する。
射線計数率計に関する。
（従来の技術）
原子力介７ｈ所その他の原子力利用施設の放射線監視！
Ａ置では、放射線検出器により検出される放射線パルス
を処理して一定時間ごとの計数値の平均値を出力する計
数率計が用いられている。このＪ：つなＭ数率計として
従来は、クックＶ−ボ回路によるアナログ方式のものや
、放射線検出器にカウンタを接続し、一定時間毎にカウ
ンタの内容を読み込んで、その平均１ａをとる方式や、
さらには、入カバスル計数値に応じて時定数を変化させ
、前回計数率計算値との乗算と、今回計数率との■１に
より計数率を求めるアナログ式計算方式等がとられてい
る。
Ａ置では、放射線検出器により検出される放射線パルス
を処理して一定時間ごとの計数値の平均値を出力する計
数率計が用いられている。このＪ：つなＭ数率計として
従来は、クックＶ−ボ回路によるアナログ方式のものや
、放射線検出器にカウンタを接続し、一定時間毎にカウ
ンタの内容を読み込んで、その平均１ａをとる方式や、
さらには、入カバスル計数値に応じて時定数を変化させ
、前回計数率計算値との乗算と、今回計数率との■１に
より計数率を求めるアナログ式計算方式等がとられてい
る。
ところが上記従来のアナログ方式の計数率計では、コン
デンサと抵抗による時定数が一義的に決定されているた
め、パルスの入力変動に対して柔軟な対応がとれない問
題がある。また平均値処理やアナログ式計算方式を用い
る計数率計においては、標準偏差と時定数との関係から
時定数の制約、計数時間の設定により、計数率の変動に
対づる応答性が鈍いといった問題がある。さらに、これ
らの計算方式をとる放射線監視装置では、計数率に対す
る標準偏差が一定のため、検出感度を保つ目的からバッ
クグラウンド（ＢＧ＞レベルにおける検出感度に合せて
鉛遮蔽を厚くするといった手間のかかる対策をとらねば
ならなかった。
デンサと抵抗による時定数が一義的に決定されているた
め、パルスの入力変動に対して柔軟な対応がとれない問
題がある。また平均値処理やアナログ式計算方式を用い
る計数率計においては、標準偏差と時定数との関係から
時定数の制約、計数時間の設定により、計数率の変動に
対づる応答性が鈍いといった問題がある。さらに、これ
らの計算方式をとる放射線監視装置では、計数率に対す
る標準偏差が一定のため、検出感度を保つ目的からバッ
クグラウンド（ＢＧ＞レベルにおける検出感度に合せて
鉛遮蔽を厚くするといった手間のかかる対策をとらねば
ならなかった。
つまり、放射線監視装置の検出感度は次に示す式（１）
のようにＢＧ計数率ｎβと標準偏差σに依存するため、
［３Ｇ ：、ｆ数率ｎβが上ると、検出感度Ａが保てな
くなり、サンプラの交換、鉛遮蔽の増強あるいは計数率
計回路部の変更等によってＢＧレベルの上昇に対応しな
ければならなかったのである。
のようにＢＧ計数率ｎβと標準偏差σに依存するため、
［３Ｇ ：、ｆ数率ｎβが上ると、検出感度Ａが保てな
くなり、サンプラの交換、鉛遮蔽の増強あるいは計数率
計回路部の変更等によってＢＧレベルの上昇に対応しな
ければならなかったのである。
Ａ＝３（２ｎ ａ ａ／７）＝ （１）ｎβ ：ＢＧ計
数率 σ：標準偏差 η：検出効率 （発明が解決しようとする問題点） 上記したように従来の計数率計では、放射線検出器から
の放射線パルスの入力変動が大きい場合に柔軟な対応が
とれないことや、Ｓｌ数率の変動に対する応答性が鈍い
といった問題があった。また、平均値処理あるいはアナ
ログ式計算方式をとる計数率計を用いる放射線監視装置
では、計数率に対する標準偏差が一定のため、検出感度
を保つ目的からＢＧレベルにおける検出感度に合せて鉛
遮蔽を厚くする等の手間のかかる対策をとらねばならな
い問題らあった。
数率 σ：標準偏差 η：検出効率 （発明が解決しようとする問題点） 上記したように従来の計数率計では、放射線検出器から
の放射線パルスの入力変動が大きい場合に柔軟な対応が
とれないことや、Ｓｌ数率の変動に対する応答性が鈍い
といった問題があった。また、平均値処理あるいはアナ
ログ式計算方式をとる計数率計を用いる放射線監視装置
では、計数率に対する標準偏差が一定のため、検出感度
を保つ目的からＢＧレベルにおける検出感度に合せて鉛
遮蔽を厚くする等の手間のかかる対策をとらねばならな
い問題らあった。
この発明は、このような従来の問題に鑑みてなされたも
のであって、マイクロコンピュータの演ｔ７機能により
、放射線パルス計数値とＢＧレベル、または低計数率限
界設定値との差の変動に応じて標準偏差を自動的に変化
させ、その標準偏差から時定数を新たに決定し、計数率
を演算することにより、応答速度を向上させ、かつ一定
の精度で計測することができる計数率計を提供すること
を目的とする。
のであって、マイクロコンピュータの演ｔ７機能により
、放射線パルス計数値とＢＧレベル、または低計数率限
界設定値との差の変動に応じて標準偏差を自動的に変化
させ、その標準偏差から時定数を新たに決定し、計数率
を演算することにより、応答速度を向上させ、かつ一定
の精度で計測することができる計数率計を提供すること
を目的とする。
（問題点を解決するための手段）
この発明は第１図に示したように、放射線検出器からの
放射線パルス計数手段と、計数値入力、低計数率限界値
および種々の計数率に対応して異なった標準偏差を登録
したテーブルを格納する記憶手段と、前記入力計数値と
、低計数率限界値との差分に応じてテーブルから標準偏
差を決定する手段と、決定された標準偏差から時定数を
求め、この時定数と入力計数値から計数率を演算する手
段と、演算された計数率の出力手段とを備えた計数率計
を要旨とするものである。
放射線パルス計数手段と、計数値入力、低計数率限界値
および種々の計数率に対応して異なった標準偏差を登録
したテーブルを格納する記憶手段と、前記入力計数値と
、低計数率限界値との差分に応じてテーブルから標準偏
差を決定する手段と、決定された標準偏差から時定数を
求め、この時定数と入力計数値から計数率を演算する手
段と、演算された計数率の出力手段とを備えた計数率計
を要旨とするものである。
（作用）
この発明の計数率計においては、放射線パルス計数値と
低計数率限界値との差分の変動に応じて標準偏差を自動
的に変化させ、その決定された標準偏差から時定数を演
算し、得られた時定数と入力翳］数値とから割数率を決
定づる。
低計数率限界値との差分の変動に応じて標準偏差を自動
的に変化させ、その決定された標準偏差から時定数を演
算し、得られた時定数と入力翳］数値とから割数率を決
定づる。
（実施例）
以下、この発明を図に示す実施例に基づいて詳説する。
第２図はこの発明の一実施例の回路ブロック図を示すも
のであり、放ｆ）１１ｍｌ監視装置に備えられている放
射線ダストリーンブラ１の鉛遮蔽物２内に設置された放
射線検出器３は、放射線レベルを検出し、ｌＩｉ用線用
層パルス信号この発明の実施例に係る計数率計４に出力
している。
のであり、放ｆ）１１ｍｌ監視装置に備えられている放
射線ダストリーンブラ１の鉛遮蔽物２内に設置された放
射線検出器３は、放射線レベルを検出し、ｌＩｉ用線用
層パルス信号この発明の実施例に係る計数率計４に出力
している。
計数率計４は、放射線検出器３からのカウントパルス信
号を受けて、計数値を出力するパルスカウントモジュー
ル５、このパルレスカウント七ジュール５からの計数値
出力を格納するメモリ６を備えている。メモリ６はさら
に、外部入力装置７により低計数率限界値および第３図
に示すような標準偏差テーブル８の格納も行なう。
号を受けて、計数値を出力するパルスカウントモジュー
ル５、このパルレスカウント七ジュール５からの計数値
出力を格納するメモリ６を備えている。メモリ６はさら
に、外部入力装置７により低計数率限界値および第３図
に示すような標準偏差テーブル８の格納も行なう。
計数率計４はさらに、マイクロプロセッサ９、クロック
発成器１０を備えている。このマイクロプロセッサ９は
、−周期毎にメモリ６より放射線パルス計数値を読み出
し、同じくメモリ６に格納されている低計数率限界値と
の差分をとり、同じくメモリ６内に格納されている標準
偏差テーブル８から、第３図に示すように差分値の大き
さに応じて測定許容標準偏差値σｉをとり出ず。そして
さらに、とり出した標準備差σｉと前回計数率計算値と
より時定数を決定し、新たに計数率を算出する。
発成器１０を備えている。このマイクロプロセッサ９は
、−周期毎にメモリ６より放射線パルス計数値を読み出
し、同じくメモリ６に格納されている低計数率限界値と
の差分をとり、同じくメモリ６内に格納されている標準
偏差テーブル８から、第３図に示すように差分値の大き
さに応じて測定許容標準偏差値σｉをとり出ず。そして
さらに、とり出した標準備差σｉと前回計数率計算値と
より時定数を決定し、新たに計数率を算出する。
計数率計４にはまたさらに、出力インターフェース１１
が備えられ、外部表示装置１２および外部記録装置１３
と接続されており、前記マイクロプロセッサ９により計
算された今回計数率がこの出力インターフェース１１を
通して表示装置１２および／または外部記録装置１３に
出力される。
が備えられ、外部表示装置１２および外部記録装置１３
と接続されており、前記マイクロプロセッサ９により計
算された今回計数率がこの出力インターフェース１１を
通して表示装置１２および／または外部記録装置１３に
出力される。
前記標準偏差σ１を決定するための標準偏差テーブル８
および計数率限界値は外部入力装置７によりオペレータ
が外から更新することができる。
および計数率限界値は外部入力装置７によりオペレータ
が外から更新することができる。
上記構成の計数率計による計数率演算動作を次に、第４
図に示すフローチャートを基に説明する。
図に示すフローチャートを基に説明する。
マイクロプロセッサ９は、下記の計数率計算式（２）に
より計数率を計算する。
より計数率を計算する。
ＲＥ ＝Ｃ＋ （Ｒｔ −１−Ｃ） ｅ −１／τ・・
・・・・（２） Ｒ【＝今回計数率計算結果 Ｒｔ−１：前回計数率計算結果 Ｃ：計数値 τ：時定数 ここで、時定数では、次の式（３）に示すように、標準
偏差σと計数値Ｃにより変動する。
・・・・（２） Ｒ【＝今回計数率計算結果 Ｒｔ−１：前回計数率計算結果 Ｃ：計数値 τ：時定数 ここで、時定数では、次の式（３）に示すように、標準
偏差σと計数値Ｃにより変動する。
τ＝１／２σ２Ｃ・・・・・・（３）
従って、従来の計算方式では、標準偏差σを固定し、計
数値Ｃの変動だけで時定数τを変化させて計数率Ｒを求
めていたが、放射線パルス計数値等のランダム的な数値
は、統計学上ポアソン分布に従うことが知られており、
しかも標準偏差σとの間には次の式（４）が成り立つ。
数値Ｃの変動だけで時定数τを変化させて計数率Ｒを求
めていたが、放射線パルス計数値等のランダム的な数値
は、統計学上ポアソン分布に従うことが知られており、
しかも標準偏差σとの間には次の式（４）が成り立つ。
σ＝１／Ｆじ鰐・・・・・・（３）
この式（４）から、計数値Ｃが大きいほどその計数値自
体の持つ標準偏差σは小さく、逆に計数ｍｃが小さいほ
ど、つまり低計数率の場合はど標準偏差σが大きくなる
ことが明らかである。
体の持つ標準偏差σは小さく、逆に計数ｍｃが小さいほ
ど、つまり低計数率の場合はど標準偏差σが大きくなる
ことが明らかである。
従って、放射線監視装置の最高検出感度を保証するため
に、計数率演算時の標準偏差を最小１＝準偏差に固定化
するための計数率レベルとして初期ＢＧレベル等を用い
て低計数率限界値を定める。
に、計数率演算時の標準偏差を最小１＝準偏差に固定化
するための計数率レベルとして初期ＢＧレベル等を用い
て低計数率限界値を定める。
そして、それ以下の計数値が計測されたときには標準偏
差を一定にし、上記式（２）および式（３）より計数率
を計算するが、それ以上の計数値が計測された場合には
標準偏差を計数値に応じて変動させ、計数畠を演算する
。
差を一定にし、上記式（２）および式（３）より計数率
を計算するが、それ以上の計数値が計測された場合には
標準偏差を計数値に応じて変動させ、計数畠を演算する
。
この演算のフローを第４図に基づいて説明すると、プロ
セッサ９はクロック発、振器１０からのクロック信号を
受け、一定周期毎にメモリ６内の放射線パルス計数値Ｃ
を読み込む一ステップ２１゜続いて、この計数値Ｃをメ
モリ６に格納されている低計数率限界値ＲＯと比較し、
入力計数値Ｃの方が大きい場合には入力計数値Ｃと低計
数率限界値ＲＯとの差分Δを計算し、第３図に示したよ
うにその差分値Δを基に、登録テーブル８から対応する
標準偏差σｉを求める一ステップ２２−２４゜ 前記ステップ２２における比較において、計数値Ｃが低
計数率限界値ＲＯより小さい場合、標準偏差は自動的に
最小標準偏差σ０にセットされる一ステップ２５゜ こうして決定された標準偏差σ１と入力計数値Ｃより時
定数τを上記式（３）に基づいて計算するーステップ２
６゜ 続いて、算出された時定数でと入力計数値Ｃより計数率
Ｒｔが、上記式（２）に基づいて計算されるーステップ
２７゜ このようにして算出された新たなＲ【は、メモリ６に前
回計数率結果Ｒｔ−１として格納され、同時に表示装置
１２および／または外部記録装置１３に出力されるース
テップ２８゜ このようにして、入力計数値Ｃと低計数値限界値ＲＯと
の差分Δを求め、その差分Δの大きさによりメモリ６に
格納されている標準偏差登録テーブル８から標準偏差σ
ｉを捜し出し、この新たに設定される標準偏差σ１に基
づいて時定数τを求め、新たな計数率Ｒ［を計算するの
である。この標準偏差σ１は差分値Δによって異なり、
差分Δが大きくなるほど、つまり高計数率になるほど大
きな値となる。これは式（４）より明らかなように、高
計数率になるほど、それ自体が持つ標準偏差が小さくな
り、計測標準偏差σ１を大きくしても検出感度への影響
がほとんどないことを考慮したためである。
セッサ９はクロック発、振器１０からのクロック信号を
受け、一定周期毎にメモリ６内の放射線パルス計数値Ｃ
を読み込む一ステップ２１゜続いて、この計数値Ｃをメ
モリ６に格納されている低計数率限界値ＲＯと比較し、
入力計数値Ｃの方が大きい場合には入力計数値Ｃと低計
数率限界値ＲＯとの差分Δを計算し、第３図に示したよ
うにその差分値Δを基に、登録テーブル８から対応する
標準偏差σｉを求める一ステップ２２−２４゜ 前記ステップ２２における比較において、計数値Ｃが低
計数率限界値ＲＯより小さい場合、標準偏差は自動的に
最小標準偏差σ０にセットされる一ステップ２５゜ こうして決定された標準偏差σ１と入力計数値Ｃより時
定数τを上記式（３）に基づいて計算するーステップ２
６゜ 続いて、算出された時定数でと入力計数値Ｃより計数率
Ｒｔが、上記式（２）に基づいて計算されるーステップ
２７゜ このようにして算出された新たなＲ【は、メモリ６に前
回計数率結果Ｒｔ−１として格納され、同時に表示装置
１２および／または外部記録装置１３に出力されるース
テップ２８゜ このようにして、入力計数値Ｃと低計数値限界値ＲＯと
の差分Δを求め、その差分Δの大きさによりメモリ６に
格納されている標準偏差登録テーブル８から標準偏差σ
ｉを捜し出し、この新たに設定される標準偏差σ１に基
づいて時定数τを求め、新たな計数率Ｒ［を計算するの
である。この標準偏差σ１は差分値Δによって異なり、
差分Δが大きくなるほど、つまり高計数率になるほど大
きな値となる。これは式（４）より明らかなように、高
計数率になるほど、それ自体が持つ標準偏差が小さくな
り、計測標準偏差σ１を大きくしても検出感度への影響
がほとんどないことを考慮したためである。
そして、このようにして求めた標準偏差σ１より求めら
れる時定数では逆に、標ｔ＄隔差σｉが大きくなるほど
小さくなり、その結果、高計数率に対する応答性は速く
なる。
れる時定数では逆に、標ｔ＄隔差σｉが大きくなるほど
小さくなり、その結果、高計数率に対する応答性は速く
なる。
なお、上記実施例では限界値を外部入力装置７によりオ
ペレータが変更する方式としていたが、この低計数率限
界値ＲＯの設定を自動的に行なうようにすることも可能
でる。その場合には、定期的にナンプラ１へ清浄水また
はパージガスを流して８Ｇレベルを計測し、その平均値
を低計数率限界値に適用することにより、８Ｇレベルの
変動に対しても自動的に対応できるものとなる。
ペレータが変更する方式としていたが、この低計数率限
界値ＲＯの設定を自動的に行なうようにすることも可能
でる。その場合には、定期的にナンプラ１へ清浄水また
はパージガスを流して８Ｇレベルを計測し、その平均値
を低計数率限界値に適用することにより、８Ｇレベルの
変動に対しても自動的に対応できるものとなる。
またさらに、標準偏差登録テーブル８をオペレータが外
部入力装置７により変更する方式をとっていたが、ＢＧ
レベルを定期的に計測し、その日Ｇレベルが前回より規
定幅以上に高くなった場合には自動的に凛準偏差登録テ
ーブルの変更を行ない、常に検出感度以上の計測ができ
るようにすることも可能である。つまり、第５図に示す
ように、検出器３によりＢＧレベルを計測し、マイクロ
プロセッサ９によりＢＧレベルの計数率を演算し、その
平均値を算出するーステップ３１．３２゜続いて、前回
ＢＧ計数率の平均値と今回ＢＧ計数率との差をとり、そ
の差が規定幅を超えたかどか比較するーステップ３３，
３４゜ この比較において、差分が規定幅を超えた場合、上記式
（１）を変形した次の式（５）に基づき新たに最小標準
偏着σβを算出し、この新たな最小標１ｔ！ｉ（Ｑ差σ
βに合せて標準偏差登録テーブル８の内容を変更する。
部入力装置７により変更する方式をとっていたが、ＢＧ
レベルを定期的に計測し、その日Ｇレベルが前回より規
定幅以上に高くなった場合には自動的に凛準偏差登録テ
ーブルの変更を行ない、常に検出感度以上の計測ができ
るようにすることも可能である。つまり、第５図に示す
ように、検出器３によりＢＧレベルを計測し、マイクロ
プロセッサ９によりＢＧレベルの計数率を演算し、その
平均値を算出するーステップ３１．３２゜続いて、前回
ＢＧ計数率の平均値と今回ＢＧ計数率との差をとり、そ
の差が規定幅を超えたかどか比較するーステップ３３，
３４゜ この比較において、差分が規定幅を超えた場合、上記式
（１）を変形した次の式（５）に基づき新たに最小標準
偏着σβを算出し、この新たな最小標１ｔ！ｉ（Ｑ差σ
βに合せて標準偏差登録テーブル８の内容を変更する。
−ステップ３５．３６゜上記ステップ３４における比較
において、差分が規定幅を超えない場合には、前回ＢＧ
計数率平均値および標準偏差テーブルをそのまま用いる
一ステップ３７゜ このようにして得られた新たな最小標！１！偏停および
標準偏差登録テーブルはメモリ６に格納され、計数率の
′ｔＪ算に利用するーステップ３８゜このようにして、
自動的に低計数率限界値および標準偏差登録テーブルを
変更することにより、ＢＧレベルが上背してぎても、鉛
遮蔽その他によりサンプラ１のＢＧレベルをさげずども
常に検出感度以上に計測ができ、サンプラの長寿命化が
図れるものとなる。
において、差分が規定幅を超えない場合には、前回ＢＧ
計数率平均値および標準偏差テーブルをそのまま用いる
一ステップ３７゜ このようにして得られた新たな最小標！１！偏停および
標準偏差登録テーブルはメモリ６に格納され、計数率の
′ｔＪ算に利用するーステップ３８゜このようにして、
自動的に低計数率限界値および標準偏差登録テーブルを
変更することにより、ＢＧレベルが上背してぎても、鉛
遮蔽その他によりサンプラ１のＢＧレベルをさげずども
常に検出感度以上に計測ができ、サンプラの長寿命化が
図れるものとなる。
この発明は上記の構成を有するため、放射線レベルが高
くなったときには標準（Ｉａｉ差を変動させ、時定数を
短くすることができ、応答性を向上させることができる
。また、入力計数値の変動に応じて自動的に標準偏差を
変動させるため、精度の良い計数率の計測が行なえる。
くなったときには標準（Ｉａｉ差を変動させ、時定数を
短くすることができ、応答性を向上させることができる
。また、入力計数値の変動に応じて自動的に標準偏差を
変動させるため、精度の良い計数率の計測が行なえる。
さらにまた、８Ｇレベルの変動に応じて標準偏差登録テ
ーブルの最小標準偏差も自動的に変更するように構成す
るならば、ＢＧレベルが上界ツるような場合でも、放射
線監視装置の鉛遮蔽を厚くしたり、計数率計の回路構成
に変更を加えるといった手間のかかる対応をする必要が
なく、装置の長Ｘｆ命化が図れるものである。
ーブルの最小標準偏差も自動的に変更するように構成す
るならば、ＢＧレベルが上界ツるような場合でも、放射
線監視装置の鉛遮蔽を厚くしたり、計数率計の回路構成
に変更を加えるといった手間のかかる対応をする必要が
なく、装置の長Ｘｆ命化が図れるものである。
第１図はこの発明のクレーム対応図、第２図はこの発明
の一実施例のブロック図、第３図は上記実施例の動作説
明図、第４図は上記実施例の動作を説明ザるフローチャ
ート、第５図はこの発明の他の実施例のＢＧレベルの変
動によるＪ！ｙ、準偏差最小値の自動補正動作を示すフ
ローチャートである。 １・・・サンプラ ３・・・検出器 ４・・・計数率計 ５・・・パルスカウントモジュール ６・・・メモリ ７・・・外部人力装置 ８・・・標準偏差テーブル ９・・・マイクロプロセッサ １０・・・クロック発振器 １１・・・出力イクターフェース １２・・・表示装置 １３・・・外部記録装置 久毘友升押τ 剣近穣痴 り シ ニイ芙−δｔ＼
文第４図 第５図
の一実施例のブロック図、第３図は上記実施例の動作説
明図、第４図は上記実施例の動作を説明ザるフローチャ
ート、第５図はこの発明の他の実施例のＢＧレベルの変
動によるＪ！ｙ、準偏差最小値の自動補正動作を示すフ
ローチャートである。 １・・・サンプラ ３・・・検出器 ４・・・計数率計 ５・・・パルスカウントモジュール ６・・・メモリ ７・・・外部人力装置 ８・・・標準偏差テーブル ９・・・マイクロプロセッサ １０・・・クロック発振器 １１・・・出力イクターフェース １２・・・表示装置 １３・・・外部記録装置 久毘友升押τ 剣近穣痴 り シ ニイ芙−δｔ＼
文第４図 第５図
Claims (1)
- （１）放射線パルスを計数し、その計数率を出力する計
数率計において、放射線パルスの計数手段と、この計数
手段による計数値を格納し、低計数率限界値を格納し、
また種々の計数値に応じて異なった標準偏差を登録した
テーブルを格納する記憶手段と、前記計数手段からの入
力計数値と前記低計数率限界値との差分値に応じて前記
テーブルから標準偏差を決定する手段と、この決定され
た標準偏差から時定数を求めると共に、この時定数と前
記入力計数値から計数率を演算する手段と、この計数率
の演算結果の出力手段とを備えて成る計数率計。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7074386A JPS62228962A (ja) | 1986-03-31 | 1986-03-31 | 計数率計 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7074386A JPS62228962A (ja) | 1986-03-31 | 1986-03-31 | 計数率計 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS62228962A true JPS62228962A (ja) | 1987-10-07 |
Family
ID=13440295
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP7074386A Pending JPS62228962A (ja) | 1986-03-31 | 1986-03-31 | 計数率計 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS62228962A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0919913A1 (en) * | 1997-11-14 | 1999-06-02 | Japan Nuclear Cycle, Development Institute | Microcomputer and its access speed control method |
| JP2013072675A (ja) * | 2011-09-27 | 2013-04-22 | Mitsubishi Electric Corp | 放射線モニタ |
| JP2014235014A (ja) * | 2013-05-31 | 2014-12-15 | 三菱電機株式会社 | 放射線測定装置 |
| JP2016217891A (ja) * | 2015-05-21 | 2016-12-22 | 三菱電機株式会社 | 放射性ガスモニタリング装置 |
-
1986
- 1986-03-31 JP JP7074386A patent/JPS62228962A/ja active Pending
Cited By (5)
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