JPS62273463A - 測定装置用表示装置 - Google Patents
測定装置用表示装置Info
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- JPS62273463A JPS62273463A JP11674286A JP11674286A JPS62273463A JP S62273463 A JPS62273463 A JP S62273463A JP 11674286 A JP11674286 A JP 11674286A JP 11674286 A JP11674286 A JP 11674286A JP S62273463 A JPS62273463 A JP S62273463A
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- Japan
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- Controls And Circuits For Display Device (AREA)
- Testing, Inspecting, Measuring Of Stereoscopic Televisions And Televisions (AREA)
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
3、発明の詳細な説明
[産業上の利用分野]
本発明は測定情報を陰極線管に表示する測定装置用表示
装置に関する。
装置に関する。
[従来の技術]
例えばオシロスコープ等の測定装置では、陰極線管(以
下CRTと略記する)に測定波形を表示するが、測定の
為の設定条件や、各糎演算結果等を示す文字及び数値を
測定波形と同時に表示する場合もある。測定波形は、X
−Y方式で表示し、また、文字及び数値は、波形表示の
合間に、ベクトル方式で表示したり、1文字単位の小さ
な領域毎にラスク方式で表示したりする。
下CRTと略記する)に測定波形を表示するが、測定の
為の設定条件や、各糎演算結果等を示す文字及び数値を
測定波形と同時に表示する場合もある。測定波形は、X
−Y方式で表示し、また、文字及び数値は、波形表示の
合間に、ベクトル方式で表示したり、1文字単位の小さ
な領域毎にラスク方式で表示したりする。
このようなCRT上の表示には、全測定情報を表示する
時間を一定に保ちつつ繰り返し表示する方式と、全測定
情報の例えば1文字といった表示単位部分を一定の時間
に保ちつつ表示する方式とがある。
時間を一定に保ちつつ繰り返し表示する方式と、全測定
情報の例えば1文字といった表示単位部分を一定の時間
に保ちつつ表示する方式とがある。
ところで測定情報の中には、その表示内容が変化するも
の(可変情報)や、全く変化しないもの(固定情報)が
ある。たとえば電圧値を表示する場合を例にとると、数
値(可変情報)(よ測定する毎に変化するが、測定項目
や電圧の単位を示す「V」 (固定情報)は同一の測定
において変化することばない。従来は、この表示内容の
一定な固定情報までも電子ビームにより表示していた。
の(可変情報)や、全く変化しないもの(固定情報)が
ある。たとえば電圧値を表示する場合を例にとると、数
値(可変情報)(よ測定する毎に変化するが、測定項目
や電圧の単位を示す「V」 (固定情報)は同一の測定
において変化することばない。従来は、この表示内容の
一定な固定情報までも電子ビームにより表示していた。
[解決しようとする問題点]
全測定情報を表示する時間を一定に保つ方式では、この
時間を適切に選択すれば、ちらつきが発生しない。その
かわり表示する情報量の多少により表示単位部分を表示
する時間が変化することから輝度が変化してしまう。さ
らに表示する情報量が非常に多くなると輝度が下がり過
ぎて判読不能になってしまう問題点があった。
時間を適切に選択すれば、ちらつきが発生しない。その
かわり表示する情報量の多少により表示単位部分を表示
する時間が変化することから輝度が変化してしまう。さ
らに表示する情報量が非常に多くなると輝度が下がり過
ぎて判読不能になってしまう問題点があった。
一方、表示単位部分を表示する時間を一定に保つ方式で
:よ、表示する情報量の多少によって全画面の表示に要
する時間が変化する、その結果測定情報が非常に多くな
ると、ちらつきが増して判読不能になってしまう問題点
があった。
:よ、表示する情報量の多少によって全画面の表示に要
する時間が変化する、その結果測定情報が非常に多くな
ると、ちらつきが増して判読不能になってしまう問題点
があった。
また、固定情報まで電子ビームによりCRTに表示して
いたので、その分だけ電子ビームが表示する情報が多く
なり、輝度が下がるという問題点もあった。
いたので、その分だけ電子ビームが表示する情報が多く
なり、輝度が下がるという問題点もあった。
従って、本発明の目的は、表示する情報量の多少に関係
なく輝度が一定に保たれ旦つちらつきの発生しない測定
装置用表示装置の提供にある。
なく輝度が一定に保たれ旦つちらつきの発生しない測定
装置用表示装置の提供にある。
[問題点を解決するための手段]
固定情報及び複数の可変情報から成る測定情報を表示す
る本発明の測定装置用表示装置は、表示可能な最大情報
量に応じてタイミングが決まる基準制御信号を発生する
基準制御信号発生手段と、基準制御信号発生手段からの
基準制御信号に応じて各可変情報に対する表示信号を発
生する表示信号発生手段と、表示信号発生手段からの表
示信号に応じて電子ビームを偏向して可変情報を表示ス
クリーンに表示すると共に、表示スクリーンの所定位置
に固定情報が予め設けられた陰極線管と、可変情報の表
示されない対応表示期間中に陰極線管の電子ビームを遮
断する輝度制御回路とを具えている。
る本発明の測定装置用表示装置は、表示可能な最大情報
量に応じてタイミングが決まる基準制御信号を発生する
基準制御信号発生手段と、基準制御信号発生手段からの
基準制御信号に応じて各可変情報に対する表示信号を発
生する表示信号発生手段と、表示信号発生手段からの表
示信号に応じて電子ビームを偏向して可変情報を表示ス
クリーンに表示すると共に、表示スクリーンの所定位置
に固定情報が予め設けられた陰極線管と、可変情報の表
示されない対応表示期間中に陰極線管の電子ビームを遮
断する輝度制御回路とを具えている。
[作用]
このように本発明によれば、表示可能な最大情報量に応
じてタイミングを決めているので各表示単位部分に割り
当てられた表示時間が常に一定であると共に、表示され
ない可変情報の対応表示期間中は電子ビームを遮断して
いるので、全情報の表示時間に対する各表示単位の表示
時間の比が表示する情報の多少に関係なく一定となり、
輝度も一定であり、ちらつきが無くなる。また、表示ス
クリーンの所定位置には固定情報が予め設けられている
ので、可変情報の表示に割り当てる時間が増加する。従
って、表示装置全体の輝度を上げることができる。
じてタイミングを決めているので各表示単位部分に割り
当てられた表示時間が常に一定であると共に、表示され
ない可変情報の対応表示期間中は電子ビームを遮断して
いるので、全情報の表示時間に対する各表示単位の表示
時間の比が表示する情報の多少に関係なく一定となり、
輝度も一定であり、ちらつきが無くなる。また、表示ス
クリーンの所定位置には固定情報が予め設けられている
ので、可変情報の表示に割り当てる時間が増加する。従
って、表示装置全体の輝度を上げることができる。
[実施例コ
以下、添付図を参照して本発明の好適な実施例を説明す
る。第1図は、本発明を半導体特性試験装置(カーブト
レーサ)に応用したときの装置全体のブロック図を示す
。
る。第1図は、本発明を半導体特性試験装置(カーブト
レーサ)に応用したときの装置全体のブロック図を示す
。
中央処理装置(以下CPUと略記する)12は、リード
・オンリ・メモリ(以下ROMと略記する)14に予め
記憶された制御手順のプログラムにより、カーブトレー
サ全体の動作を制御する。なお、この際、ランダム・ア
クセス・、メモリ(以下RAMと略記する)16は、C
PU12が動作する為に必要な一時記憶装置となる。測
定回路10は、半導体の静特性を測定し、その測定した
静特性の測定波形をデジタルデータに変換する。表示R
AM22は、測定回路10からの測定データや測定の際
の設定情報の如<CRT38上に表示する可変情報を記
憶する。ベクトル発生器18:よ表示RAM22に記憶
された波形デジタル・データに応じて、表示波形の水平
偏向信号、垂直偏向信号及び輝度制御信号を夫々出力す
る。文字発生器20(よ、表示RAM22に記憶された
設定情報の文字コード信号により、表示文字の水平偏向
信号、垂直偏向信号及び輝度制御信号を夫々出力する。
・オンリ・メモリ(以下ROMと略記する)14に予め
記憶された制御手順のプログラムにより、カーブトレー
サ全体の動作を制御する。なお、この際、ランダム・ア
クセス・、メモリ(以下RAMと略記する)16は、C
PU12が動作する為に必要な一時記憶装置となる。測
定回路10は、半導体の静特性を測定し、その測定した
静特性の測定波形をデジタルデータに変換する。表示R
AM22は、測定回路10からの測定データや測定の際
の設定情報の如<CRT38上に表示する可変情報を記
憶する。ベクトル発生器18:よ表示RAM22に記憶
された波形デジタル・データに応じて、表示波形の水平
偏向信号、垂直偏向信号及び輝度制御信号を夫々出力す
る。文字発生器20(よ、表示RAM22に記憶された
設定情報の文字コード信号により、表示文字の水平偏向
信号、垂直偏向信号及び輝度制御信号を夫々出力する。
これら表示RAM22、ベクトル発生器18及び文字発
生器20が表示信号発生手段を構成する。第1電子スイ
ツチ26は、ベクトル発生器18又(よ文字発生器20
からの水平偏向信号を選択して水平偏向増幅回路32に
供給する。第2電子スイツチ28は、ベクトル発生器1
8又(才文字発生器20からの垂直偏向信号を選択して
垂直偏向増幅回路34に供給する。第3電子スイツチ3
0は、ベクトル発生器18又は文字発生器20からの輝
度制卸信号を選択して輝度制御回路36に供給する。
生器20が表示信号発生手段を構成する。第1電子スイ
ツチ26は、ベクトル発生器18又(よ文字発生器20
からの水平偏向信号を選択して水平偏向増幅回路32に
供給する。第2電子スイツチ28は、ベクトル発生器1
8又(才文字発生器20からの垂直偏向信号を選択して
垂直偏向増幅回路34に供給する。第3電子スイツチ3
0は、ベクトル発生器18又は文字発生器20からの輝
度制卸信号を選択して輝度制御回路36に供給する。
これら回路32−36の出力信号をCRT38に供給す
る。基準制御信号発生手段24は、CRT38に第3A
図の如く情報を表示させるのに必要な基準制御信号を発
生し、ブロックIF5−22及び26−30を制御する
。
る。基準制御信号発生手段24は、CRT38に第3A
図の如く情報を表示させるのに必要な基準制御信号を発
生し、ブロックIF5−22及び26−30を制御する
。
第3A図に示すような表示を得る為に、第1図のブロッ
ク図に示した各部は以下のような動作をする。測定回路
10は、例丸ばトランジスタのベース電流を媒介変数と
するコレクタ電圧対コレクタ電流特性を測定し、その測
定データを電圧と電流の1対のデジタル・データに変換
する。CPU12はROM14内に予め書き込まれてい
たプログラムに従って、変換された一連のデジタル測定
データを、表示RAM22内の波形領域50 (第4図
)に書き込む。第4図は表示RAM22内の、メモリ・
マツプである。本発明では、可変情報である測定回路1
0からの測定データ数の最大数は常に一定であり、例え
ば、コレクタ電圧とコレクタ電流の測定データ対は10
24個である。一連の測定データの最初のデータ対であ
る電圧データ(xO)及び電流データ(Y o )を表
示RAM22の波形領域50の先頭番地54及び次の番
地56に夫々CPU12が書き込む。一連の測定データ
の次のデータ対については、番地56の次の番地へ電圧
データを及び番地56の次の次の番地へ電流データをC
PU12が書き込む。以下これを繰り返し、一連の測定
データの最後のデータ対についてば、CPU12が波形
領域50の最終の番地の1つ前の番地58に電圧データ
を書き込むと共に最後の番地60に電流データYXo!
3を書き込む。
ク図に示した各部は以下のような動作をする。測定回路
10は、例丸ばトランジスタのベース電流を媒介変数と
するコレクタ電圧対コレクタ電流特性を測定し、その測
定データを電圧と電流の1対のデジタル・データに変換
する。CPU12はROM14内に予め書き込まれてい
たプログラムに従って、変換された一連のデジタル測定
データを、表示RAM22内の波形領域50 (第4図
)に書き込む。第4図は表示RAM22内の、メモリ・
マツプである。本発明では、可変情報である測定回路1
0からの測定データ数の最大数は常に一定であり、例え
ば、コレクタ電圧とコレクタ電流の測定データ対は10
24個である。一連の測定データの最初のデータ対であ
る電圧データ(xO)及び電流データ(Y o )を表
示RAM22の波形領域50の先頭番地54及び次の番
地56に夫々CPU12が書き込む。一連の測定データ
の次のデータ対については、番地56の次の番地へ電圧
データを及び番地56の次の次の番地へ電流データをC
PU12が書き込む。以下これを繰り返し、一連の測定
データの最後のデータ対についてば、CPU12が波形
領域50の最終の番地の1つ前の番地58に電圧データ
を書き込むと共に最後の番地60に電流データYXo!
3を書き込む。
表示RAM22には、この他の可変情報である設定情報
用の記憶領域52もある。本発明では可変情報の最大量
は固定であるので、カーブトレーサのCRT38上に表
示する設定情報の最大文字数を例えば1024とする。
用の記憶領域52もある。本発明では可変情報の最大量
は固定であるので、カーブトレーサのCRT38上に表
示する設定情報の最大文字数を例えば1024とする。
CRT38上に設定情報、例えば数字を表示する場合に
は、表示する数字1文字に対し、その表示する文字の内
容と位置とを夫々示す1対のデータが表示RA M 2
2内の設定情報領域52に書かれている。これら数字デ
ータは、CPU12により測定回路10の設定に応じて
書き込まれる。例えば第3A図の位置47に文字115
11を表示するには、表示RAM22の設定情報領域5
2の例えば番地66に以下のようなデータを書き込めば
よい。設定表示の内容を書き込む番地66には、数字″
5“に対応するカーブトレーサ独自に設定した内部コー
ド(Cに)を書く。設定表示の位置を書き込む番地68
には、CRT38上の数字″5′″が表示される水平方
向の位置及び垂直方向の位置を表わすカーブトレーサ独
自に設定した夫々の数値(Pl)を書く。なお、表示す
る設定情報の文字数が設定情報領域52に記憶できる文
字数(1024文字)よりも少ない場合、使用しない番
地にはCPU12がスペース・コードを書き込む点に留
意されたい。
は、表示する数字1文字に対し、その表示する文字の内
容と位置とを夫々示す1対のデータが表示RA M 2
2内の設定情報領域52に書かれている。これら数字デ
ータは、CPU12により測定回路10の設定に応じて
書き込まれる。例えば第3A図の位置47に文字115
11を表示するには、表示RAM22の設定情報領域5
2の例えば番地66に以下のようなデータを書き込めば
よい。設定表示の内容を書き込む番地66には、数字″
5“に対応するカーブトレーサ独自に設定した内部コー
ド(Cに)を書く。設定表示の位置を書き込む番地68
には、CRT38上の数字″5′″が表示される水平方
向の位置及び垂直方向の位置を表わすカーブトレーサ独
自に設定した夫々の数値(Pl)を書く。なお、表示す
る設定情報の文字数が設定情報領域52に記憶できる文
字数(1024文字)よりも少ない場合、使用しない番
地にはCPU12がスペース・コードを書き込む点に留
意されたい。
基準制御信号発生手段24は、クロック信号発生器、カ
ウンタ等のロジック回路で構成されており、ベクトル発
生器18及び文字発生器20の表示タイミング、表示R
AM22の読出しアドレス及びスイッチ26−30の切
り替えを制御する基準制御信号を発生する。この基準制
御信号のタイミングは、表示のちらつきを考慮し、可変
情報の最大量に応じて予め決定する。よって、基準制御
信号発生手段24からの基準制御信号の1つであるアド
レス信号により、所定の一定速度で、表示RAM22の
全領域、即ち先頭番地54から最終番地72までの各番
地を順々に指定する。最終番地72に達した後は、直ち
に先頭番地54に戻り、これを繰り返す。表示RAM2
2内の波形領域50と設定情報領域52ば同じ記憶容量
なので、これら領域をアドレス信号の最上位ビットによ
り区別する。第2図はこの最上位ビットのタイミングチ
ャートを示しており、波形情報を表示する時間40と設
定情報を表示する時間42が交互に繰り返している。す
なわち、このアドレス信号の最上位ビットが例えば低論
理の場合、表示RAM22内の波形領域50の各番地か
ら波形デジタル・データが順次読み出され、この波形デ
ジタル・データがベクトル発生器18に供給される。こ
の間、ベクトル発生器18の出力を選択するように、こ
の最上位ビットによりスイッチ26−30は第1図に図
示したような接点に接続される。従ってベクトル発生器
18の水平偏向信号、垂直偏向信号及び輝度制御信号は
、スイッチ26−30を経由して水平偏向増幅回路32
、垂直偏向増幅回路34及び輝度制御回路36に夫々加
えられる。この結果、表示RAM22内の波形領域50
に書き込まれている波形デジタル・データは、第2図の
タイミングチャート上の時間40の間、CRT38上に
例えば第3図Aの波形44のように波形として表示され
る。
ウンタ等のロジック回路で構成されており、ベクトル発
生器18及び文字発生器20の表示タイミング、表示R
AM22の読出しアドレス及びスイッチ26−30の切
り替えを制御する基準制御信号を発生する。この基準制
御信号のタイミングは、表示のちらつきを考慮し、可変
情報の最大量に応じて予め決定する。よって、基準制御
信号発生手段24からの基準制御信号の1つであるアド
レス信号により、所定の一定速度で、表示RAM22の
全領域、即ち先頭番地54から最終番地72までの各番
地を順々に指定する。最終番地72に達した後は、直ち
に先頭番地54に戻り、これを繰り返す。表示RAM2
2内の波形領域50と設定情報領域52ば同じ記憶容量
なので、これら領域をアドレス信号の最上位ビットによ
り区別する。第2図はこの最上位ビットのタイミングチ
ャートを示しており、波形情報を表示する時間40と設
定情報を表示する時間42が交互に繰り返している。す
なわち、このアドレス信号の最上位ビットが例えば低論
理の場合、表示RAM22内の波形領域50の各番地か
ら波形デジタル・データが順次読み出され、この波形デ
ジタル・データがベクトル発生器18に供給される。こ
の間、ベクトル発生器18の出力を選択するように、こ
の最上位ビットによりスイッチ26−30は第1図に図
示したような接点に接続される。従ってベクトル発生器
18の水平偏向信号、垂直偏向信号及び輝度制御信号は
、スイッチ26−30を経由して水平偏向増幅回路32
、垂直偏向増幅回路34及び輝度制御回路36に夫々加
えられる。この結果、表示RAM22内の波形領域50
に書き込まれている波形デジタル・データは、第2図の
タイミングチャート上の時間40の間、CRT38上に
例えば第3図Aの波形44のように波形として表示され
る。
基準制御信号の最上位ビットが例えば高論理の場合には
、表示RAM22内の設定領域52の各番地から設定情
報が順次読み出され、文字発生器20に供給される。こ
の文字発生器20の出力を選択するようにスイッチ26
−30は第1図に図示した゛のと反対の接点に接続され
る。従って文字発生器20の水平偏向信号、垂直偏向信
号及び輝度制御信号は、スイッチ26−30を経由して
水平偏向増幅回路32、垂直偏向増幅回路34及び輝度
制御回路36に夫々加えられる。この結果表示RAM2
2内の設定情報領域52に書き込まれている設定情報は
、第2図のタイミングチャート上の時間42の間、例え
ば第3図Aの右側部分のように表示される。なお、46
で示すVERT/DIVの如き設定項目の表示及び48
で示すAの如き単位の表示は、表示47とは異なり固定
情報であるので、cRrgs上の所定位置に印刷等によ
り予め設けておく。また、表示RAM22の設定情報領
域52からの読出し信号がスペース・コードの場合、文
字発生器20はブランキング信号を発生するので、輝度
制御回路36は、CRT38の電子ビームを遮断する。
、表示RAM22内の設定領域52の各番地から設定情
報が順次読み出され、文字発生器20に供給される。こ
の文字発生器20の出力を選択するようにスイッチ26
−30は第1図に図示した゛のと反対の接点に接続され
る。従って文字発生器20の水平偏向信号、垂直偏向信
号及び輝度制御信号は、スイッチ26−30を経由して
水平偏向増幅回路32、垂直偏向増幅回路34及び輝度
制御回路36に夫々加えられる。この結果表示RAM2
2内の設定情報領域52に書き込まれている設定情報は
、第2図のタイミングチャート上の時間42の間、例え
ば第3図Aの右側部分のように表示される。なお、46
で示すVERT/DIVの如き設定項目の表示及び48
で示すAの如き単位の表示は、表示47とは異なり固定
情報であるので、cRrgs上の所定位置に印刷等によ
り予め設けておく。また、表示RAM22の設定情報領
域52からの読出し信号がスペース・コードの場合、文
字発生器20はブランキング信号を発生するので、輝度
制御回路36は、CRT38の電子ビームを遮断する。
よって、スペース・コードはCRT38に何ら表示され
ない。このように表示RAM22を情報量に関係なく常
に一定速度で読み出し、情報表示されない対応表示期間
は、スペース・コードによ))CRT38の電子ビーム
を遮断するので、全表示期間に対する各表示単位の表示
期間の比は常に一定となり、情報量に応じてCRT38
の表示輝度が変化しない。
ない。このように表示RAM22を情報量に関係なく常
に一定速度で読み出し、情報表示されない対応表示期間
は、スペース・コードによ))CRT38の電子ビーム
を遮断するので、全表示期間に対する各表示単位の表示
期間の比は常に一定となり、情報量に応じてCRT38
の表示輝度が変化しない。
第3B図は、第3A図右側部分の設定表示領域の他の例
を示し、この例では、固定情報と可変情報の配分が異な
っている。すなわち、PERVERT DIVの如き
設定項目の表示50が固定情報であり、500の如き数
字の表示52が可変情報であることは、第3A図と同様
であるが、μAの如き単位表示54を可変情報とした。
を示し、この例では、固定情報と可変情報の配分が異な
っている。すなわち、PERVERT DIVの如き
設定項目の表示50が固定情報であり、500の如き数
字の表示52が可変情報であることは、第3A図と同様
であるが、μAの如き単位表示54を可変情報とした。
その理由は、測定条件の設定によっては、対応する設定
値がなくなる場合があるからである。
値がなくなる場合があるからである。
上述は本発明の好適な実施例について説明した力へ本発
明の要旨を逸脱することなく覆々の変形及び変更が可能
である。例えば、上述の実施例では、CRTに表示する
可変情報は総て表示RAMに記憶されていたカベ可変情
報である測定回路からの測定結果(例えばアナログ波形
)をそのままCRTに表示してもよい。しかし、この場
合、測定結果を表示する期間と全表示期間とは予め定め
ておく。また設定値表示期間のスペース・コード部分を
測定結果の表示に利用してもよい。また、固定情報はC
RT内部に内部目盛等と共に予め設けてもよい。しかし
、透明シート又は透明板に固定情報を印刷等により設け
、その透明シート又は透明板をCRT管面に設置しても
よい。
明の要旨を逸脱することなく覆々の変形及び変更が可能
である。例えば、上述の実施例では、CRTに表示する
可変情報は総て表示RAMに記憶されていたカベ可変情
報である測定回路からの測定結果(例えばアナログ波形
)をそのままCRTに表示してもよい。しかし、この場
合、測定結果を表示する期間と全表示期間とは予め定め
ておく。また設定値表示期間のスペース・コード部分を
測定結果の表示に利用してもよい。また、固定情報はC
RT内部に内部目盛等と共に予め設けてもよい。しかし
、透明シート又は透明板に固定情報を印刷等により設け
、その透明シート又は透明板をCRT管面に設置しても
よい。
[発明の効果コ
上述の如く本発明によれば、表示信号発生手段゛を制御
する基準制御信号のタイミングが、表示可能な可変情報
の最大情報量に応じて予め決定しており、また可変情報
の表示されない対応表示期間中にはCRTの電子ビーム
を遮断するので、可変情報の表示単位当たりの表示期間
と全表示期間との比が常に一定になる。よって、可変情
報の情報量に関係なく表示輝度が一定になる。また、固
定情報は、予めCRTの所定位置に設けられているので
、固定情報まで電子ビームにより表示する必要がなく、
電子ビームにより表示する情報量を減らすことができる
。よって、情報の表示単位当なりの表示期間を長くする
ことができるので表示輝度を高くできるし、また全表示
期間を短くできるので、単位時間当たりの表示繰り返し
回数が増え、表示のちらつきをなくせる。
する基準制御信号のタイミングが、表示可能な可変情報
の最大情報量に応じて予め決定しており、また可変情報
の表示されない対応表示期間中にはCRTの電子ビーム
を遮断するので、可変情報の表示単位当たりの表示期間
と全表示期間との比が常に一定になる。よって、可変情
報の情報量に関係なく表示輝度が一定になる。また、固
定情報は、予めCRTの所定位置に設けられているので
、固定情報まで電子ビームにより表示する必要がなく、
電子ビームにより表示する情報量を減らすことができる
。よって、情報の表示単位当なりの表示期間を長くする
ことができるので表示輝度を高くできるし、また全表示
期間を短くできるので、単位時間当たりの表示繰り返し
回数が増え、表示のちらつきをなくせる。
第1図は本発明の好適な一実施例の構成図、第2図はタ
イミング図、第3A図は、CRTの表示の一例を示す図
、第3B図はCRTの他の表示を示す図、第4図は、表
示RA Mの構成図である。 図に於いて、18−22は表示信号発生手段、24は基
準制御信号発生手段、36(よ輝度制御回路、38:よ
CRTである。
イミング図、第3A図は、CRTの表示の一例を示す図
、第3B図はCRTの他の表示を示す図、第4図は、表
示RA Mの構成図である。 図に於いて、18−22は表示信号発生手段、24は基
準制御信号発生手段、36(よ輝度制御回路、38:よ
CRTである。
Claims (1)
- 固定情報及び複数の可変情報から成る測定情報を表示す
る測定装置用表示装置において、表示可能な最大情報量
に応じてタイミングが決まる基準制御信号を発生する基
準制御信号発生手段と、該基準制御信号発生手段からの
上記基準制御信号に応じて上記各可変情報に対する表示
信号を発生する表示信号発生手段と、該表示信号発生手
段からの上記表示信号に応じて電子ビームを偏向して上
記可変情報を表示スクリーンに表示すると共に、該表示
スクリーンの所定位置に上記固定情報が予め設けられた
陰極線管と、上記可変情報の表示されない対応表示期間
中に上記陰極線管の電子ビームを遮断する輝度制御回路
とを具えた測定装置用表示装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11674286A JPS62273463A (ja) | 1986-05-21 | 1986-05-21 | 測定装置用表示装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11674286A JPS62273463A (ja) | 1986-05-21 | 1986-05-21 | 測定装置用表示装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS62273463A true JPS62273463A (ja) | 1987-11-27 |
| JPH0513580B2 JPH0513580B2 (ja) | 1993-02-22 |
Family
ID=14694659
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP11674286A Granted JPS62273463A (ja) | 1986-05-21 | 1986-05-21 | 測定装置用表示装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS62273463A (ja) |
-
1986
- 1986-05-21 JP JP11674286A patent/JPS62273463A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0513580B2 (ja) | 1993-02-22 |
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