JPS62281402A - 厚膜抵抗アレ−のトリミング方法 - Google Patents
厚膜抵抗アレ−のトリミング方法Info
- Publication number
- JPS62281402A JPS62281402A JP61124941A JP12494186A JPS62281402A JP S62281402 A JPS62281402 A JP S62281402A JP 61124941 A JP61124941 A JP 61124941A JP 12494186 A JP12494186 A JP 12494186A JP S62281402 A JPS62281402 A JP S62281402A
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- Japan
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- resistance
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- trimming
- high voltage
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- Apparatuses And Processes For Manufacturing Resistors (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
3、発明の詳細な説明
[産業上の利用分野コ
この発明は抵抗アレーの各抵抗をその形状を変えること
なく所定の抵抗値に設定するためのトリミング方法に関
し、特に詳しく言うと、トリミングを行うため抵抗アレ
ーに高電圧パルスを印加するに際しての電圧値の制御方
法に関する。
なく所定の抵抗値に設定するためのトリミング方法に関
し、特に詳しく言うと、トリミングを行うため抵抗アレ
ーに高電圧パルスを印加するに際しての電圧値の制御方
法に関する。
例えば、サーマルプリンタにおいて、厚膜抵抗7レーに
よりヘッドを構成する場合抵抗アレーの各抵抗の形状を
変えないでそれの抵抗を所定の値に設定するようにトリ
ミングを行なっている。すなわち、サーマルプリントヘ
ッドに用いる抵抗アレーは、最大温度および発熱面積等
発熱温度が問題になるため、レーザトリミングのような
抵抗形状を変えるようなトリミング方法は採用できない
。
よりヘッドを構成する場合抵抗アレーの各抵抗の形状を
変えないでそれの抵抗を所定の値に設定するようにトリ
ミングを行なっている。すなわち、サーマルプリントヘ
ッドに用いる抵抗アレーは、最大温度および発熱面積等
発熱温度が問題になるため、レーザトリミングのような
抵抗形状を変えるようなトリミング方法は採用できない
。
そこで一般には、高電圧パルスを印加して、厚膜抵抗の
導電粒子間を遮っているガラス貿の障壁を静電破壊して
短絡させ、抵抗値を下げるトリミング方法が使われてい
る。この方法は、使用する厚膜抵抗ペースト、導電ペー
ストおよび焼成条件によって、そのトリミング特性およ
び以降の抵抗安定度が異なるため、一様に規定すること
は困難である6 すなわち、サーマルプリントヘッドは近来分解能が高ま
り、8本/Im以上の密度の抵抗アレーを持つものが多
くなり、例えばA4版では1700本以上の抵抗数を持
つ抵抗アレーとなる。ところでその初期抵抗値のバラツ
キは±15%程もあり。
導電粒子間を遮っているガラス貿の障壁を静電破壊して
短絡させ、抵抗値を下げるトリミング方法が使われてい
る。この方法は、使用する厚膜抵抗ペースト、導電ペー
ストおよび焼成条件によって、そのトリミング特性およ
び以降の抵抗安定度が異なるため、一様に規定すること
は困難である6 すなわち、サーマルプリントヘッドは近来分解能が高ま
り、8本/Im以上の密度の抵抗アレーを持つものが多
くなり、例えばA4版では1700本以上の抵抗数を持
つ抵抗アレーとなる。ところでその初期抵抗値のバラツ
キは±15%程もあり。
これを±3%以内にするには、1つのヘッド当り170
0本以上の抵抗素子をトリミングする必要がある。
0本以上の抵抗素子をトリミングする必要がある。
今、第1図および第2図により従来のトリミング方法を
説明すると、サーマルプリントヘッドの抵抗アレー1の
各抵抗素子2は、基板3上に設けられた共通電極4とド
ライブ回路等に接続される電極5との間に設けられてお
り、共通電極4に当てられたプローブ6と、電極5に当
てられたプローブ7とによりまず第1番目の抵抗素子2
の初期抵抗値を測定する。この測定は切替えスイッチ8
の抵抗測定装置9側に切替えて行う。測定結果は。
説明すると、サーマルプリントヘッドの抵抗アレー1の
各抵抗素子2は、基板3上に設けられた共通電極4とド
ライブ回路等に接続される電極5との間に設けられてお
り、共通電極4に当てられたプローブ6と、電極5に当
てられたプローブ7とによりまず第1番目の抵抗素子2
の初期抵抗値を測定する。この測定は切替えスイッチ8
の抵抗測定装置9側に切替えて行う。測定結果は。
制御装置10に送られ、制御装置10はプログラム電′
g11およびパルス発生回路12を駆動して、まず高電
圧Aを設定する。ここで切替えスイッチ8をパルス印加
側に切替え、電圧Aパルスをプローブ6゜7を介して第
1番目の抵抗素子に印加する。再び切替えスイッチ8を
抵抗測定装置9側に切替え。
g11およびパルス発生回路12を駆動して、まず高電
圧Aを設定する。ここで切替えスイッチ8をパルス印加
側に切替え、電圧Aパルスをプローブ6゜7を介して第
1番目の抵抗素子に印加する。再び切替えスイッチ8を
抵抗測定装置9側に切替え。
第1番目の抵抗素子2の抵抗値を測定し、測定結果を制
御装置10に送り、制御装置10はプログラム電源11
およびパルス発生回路12を駆動して、高電圧Bを設定
する。この高電圧Bによる電圧パルスBを切替えスイッ
チ8を切替えることにより第1番目の抵抗素子2に再び
印加する。そして再び第1番目の抵抗素子2の抵抗値を
測定し、測定結果により高電圧Cによる電圧パルスCを
再度第1番目の抵抗素子2に印加する。以下、同様な操
作を抵抗値が所望の値になるまで1段々に印加電圧を上
げて一般には6回以上繰返され、所望の抵抗値に達した
ら、第2番目の抵抗素子2にプローブ6゜7を移動して
いく、この基本的な手順を第2図に示す。
御装置10に送り、制御装置10はプログラム電源11
およびパルス発生回路12を駆動して、高電圧Bを設定
する。この高電圧Bによる電圧パルスBを切替えスイッ
チ8を切替えることにより第1番目の抵抗素子2に再び
印加する。そして再び第1番目の抵抗素子2の抵抗値を
測定し、測定結果により高電圧Cによる電圧パルスCを
再度第1番目の抵抗素子2に印加する。以下、同様な操
作を抵抗値が所望の値になるまで1段々に印加電圧を上
げて一般には6回以上繰返され、所望の抵抗値に達した
ら、第2番目の抵抗素子2にプローブ6゜7を移動して
いく、この基本的な手順を第2図に示す。
このような方法では、1700本以上もの抵抗素子をト
リミングするためには時間がかかりすぎる。そこで、多
数のプローブを使用して並列処理をする方法も提案され
ている。並列処理の方法には、大別して以下の2つの方
法がある。
リミングするためには時間がかかりすぎる。そこで、多
数のプローブを使用して並列処理をする方法も提案され
ている。並列処理の方法には、大別して以下の2つの方
法がある。
第1の方法は、第2図の各工程に対応させて、多数の工
程を予め用意する方法である。例えば高電圧A、B、C
・・・の設定を別々のプローブ、すなわち、別々の工程
に分離させ、電圧パルスA(例えば350V)の印加が
終ったら、ステージを1ステツプ移動して、電圧パルス
B(例えば400V)を印加する。電圧パルスBの印加
が終ったら、ステージを1ステツプ更に移動して、電圧
パルスC(例えば450V)を印加し、次いで電圧パル
スDとに移動させる方法である。この場合、ステージが
移動すれば各プローブは同時に移動するので、1つが高
電圧の設定をAからBに移動させれば、他の工程も、例
えば、高電圧設定をBからCに、CからDに移動させる
ことができる。このような方法は、高電圧パルスの電源
をプログラマブルではなく、各工程に応じた固定電圧の
電源にする等の、システムのハードの単機能化が計れる
利点があるが、工程中での最長の時間を必要とするプロ
ーブの移動時間が1つの処理工程ごとに必要になるため
1期待する程トリミング時間を短くすることはできない
。また、アレー中の初期抵抗値がばらつくため、別々の
抵抗測定工程でその抵抗変化ではなくその絶対値である
抵抗値を制御してゆくためのソフトも困難になる。更に
初期値のバラツキにより高電圧設定の段数も多くする必
要がある。
程を予め用意する方法である。例えば高電圧A、B、C
・・・の設定を別々のプローブ、すなわち、別々の工程
に分離させ、電圧パルスA(例えば350V)の印加が
終ったら、ステージを1ステツプ移動して、電圧パルス
B(例えば400V)を印加する。電圧パルスBの印加
が終ったら、ステージを1ステツプ更に移動して、電圧
パルスC(例えば450V)を印加し、次いで電圧パル
スDとに移動させる方法である。この場合、ステージが
移動すれば各プローブは同時に移動するので、1つが高
電圧の設定をAからBに移動させれば、他の工程も、例
えば、高電圧設定をBからCに、CからDに移動させる
ことができる。このような方法は、高電圧パルスの電源
をプログラマブルではなく、各工程に応じた固定電圧の
電源にする等の、システムのハードの単機能化が計れる
利点があるが、工程中での最長の時間を必要とするプロ
ーブの移動時間が1つの処理工程ごとに必要になるため
1期待する程トリミング時間を短くすることはできない
。また、アレー中の初期抵抗値がばらつくため、別々の
抵抗測定工程でその抵抗変化ではなくその絶対値である
抵抗値を制御してゆくためのソフトも困難になる。更に
初期値のバラツキにより高電圧設定の段数も多くする必
要がある。
並列処理の2つ目の方法は、第1および第2図に基づく
システムを、隣接する抵抗素子にも拡張して、n個設置
する方法である。この方法によれば、制御装置10を除
く他の装置、すなわち切替えスイッチ8、抵抗測定装置
9、プログラム電源11そしてパルス発生回路12とを
n個用意するというコストアップの面はあるが、1つの
プローブ位置で1つの抵抗素子のトリミングを完了でき
るため、n個のプローブの移動を1回のステージ移動で
すませることができ、トリミング時間は最も短くなり、
実用的である4また、n個の並列システムであるため、
システムの内容は簡単化され製作し易い。この方法を採
用してトリミングを実施する場合、従来は一定間隔の高
電圧パルスを印加しながら、目標抵抗値を得てゆく方法
を使用している。
システムを、隣接する抵抗素子にも拡張して、n個設置
する方法である。この方法によれば、制御装置10を除
く他の装置、すなわち切替えスイッチ8、抵抗測定装置
9、プログラム電源11そしてパルス発生回路12とを
n個用意するというコストアップの面はあるが、1つの
プローブ位置で1つの抵抗素子のトリミングを完了でき
るため、n個のプローブの移動を1回のステージ移動で
すませることができ、トリミング時間は最も短くなり、
実用的である4また、n個の並列システムであるため、
システムの内容は簡単化され製作し易い。この方法を採
用してトリミングを実施する場合、従来は一定間隔の高
電圧パルスを印加しながら、目標抵抗値を得てゆく方法
を使用している。
すなわち、300V、350V、450V・750V、
800V、850V(7)ように、高電圧パ)L/ ス
(7)大きさを変え、目標とする抵抗値(例えば±3%
)に入れていた。このため、多数の高電圧設定工程が必
要となり、パルス発生および測定待ち時間、高電圧設定
等の時間の掛かる工程も数多く必要であり、更には多く
の繰返し工程を必要とするため。
800V、850V(7)ように、高電圧パ)L/ ス
(7)大きさを変え、目標とする抵抗値(例えば±3%
)に入れていた。このため、多数の高電圧設定工程が必
要となり、パルス発生および測定待ち時間、高電圧設定
等の時間の掛かる工程も数多く必要であり、更には多く
の繰返し工程を必要とするため。
トリミングに要する時間が長くなっていた。
[発明の目的]
この発明の目的は、上述したように従来の並列処理によ
るトリミング方法が、それぞれその電圧値が異なるパル
スを多数回印加するため、全体的なトリミング時間が短
縮できない点に着目し、パルスの印加回数を従来より大
幅に削減し全体的なトリミング時間を短縮して所望の抵
抗値に設定することができる厚膜抵抗アレーのトリミン
グ方法を提供することである。
るトリミング方法が、それぞれその電圧値が異なるパル
スを多数回印加するため、全体的なトリミング時間が短
縮できない点に着目し、パルスの印加回数を従来より大
幅に削減し全体的なトリミング時間を短縮して所望の抵
抗値に設定することができる厚膜抵抗アレーのトリミン
グ方法を提供することである。
〔発明の構成]
この発明の厚膜抵抗アレーのトリミング方法は、1つの
抵抗素子に対してそれぞれ電圧値の異なる高電圧パルス
を印加することにより抵抗素子の抵抗値の変化率を予め
測定し、被処理抵抗素子の初期抵抗値を測定して所望の
抵抗値にするための目標抵抗変化率を求め、まず目標抵
抗変化率の略半分の第1の抵抗変化率に対応する高電圧
パルスを複数回印加し1次いで目標抵抗変化率と第1の
抵抗変化率の差の略半分の抵抗変化率を第1の抵抗変化
率を加えた第2の抵抗変化率に対応する高電圧パルスを
複数回印加するようにして目標抵抗変化率に近ずけるよ
うに抵抗素子をトリミングすることを特徴とするもので
ある。
抵抗素子に対してそれぞれ電圧値の異なる高電圧パルス
を印加することにより抵抗素子の抵抗値の変化率を予め
測定し、被処理抵抗素子の初期抵抗値を測定して所望の
抵抗値にするための目標抵抗変化率を求め、まず目標抵
抗変化率の略半分の第1の抵抗変化率に対応する高電圧
パルスを複数回印加し1次いで目標抵抗変化率と第1の
抵抗変化率の差の略半分の抵抗変化率を第1の抵抗変化
率を加えた第2の抵抗変化率に対応する高電圧パルスを
複数回印加するようにして目標抵抗変化率に近ずけるよ
うに抵抗素子をトリミングすることを特徴とするもので
ある。
[実 施 例コ
以下、この発明の一実施例を上述した第1図および第3
,4図により説明する。抵抗アレー1を構成する複数個
の抵抗素子2の内、1つの抵抗素子2を取出し、パルス
幅を1定にした高電圧パルスを、例えば第3図に示すよ
うにO■から1000Vの範囲内で種々変えて、この抵
抗素子2に印加する。この時の抵抗素子2の抵抗値の変
化を示す曲線データを得ておく。すなわち、例えば20
0Vの高電圧パルスを印加すると、抵抗素子2の抵抗値
が何%変化するかのデータを事前に得ておく。
,4図により説明する。抵抗アレー1を構成する複数個
の抵抗素子2の内、1つの抵抗素子2を取出し、パルス
幅を1定にした高電圧パルスを、例えば第3図に示すよ
うにO■から1000Vの範囲内で種々変えて、この抵
抗素子2に印加する。この時の抵抗素子2の抵抗値の変
化を示す曲線データを得ておく。すなわち、例えば20
0Vの高電圧パルスを印加すると、抵抗素子2の抵抗値
が何%変化するかのデータを事前に得ておく。
具体的にトリミングすべき抵抗アレー1の抵抗素子2の
初期抵抗値をプローブ6と7および抵抗測定装置9によ
り測定する。この結果、抵抗素子2の目標の抵抗値がこ
の初期抵抗値の一27%であるとする。まず、この−2
7%の半分である−13.5%まで下げるに必要な電圧
値を第3図の曲線データを基にして求める。第3′図に
よれば、−13,5%まで下げるには400■の高電圧
パルスが必要である。そこで400Vの高電圧パルスを
制御装置10、プログラム電源11およびパルス発生回
路12により、抵抗素子2に2回印加して、 −13,
5%までトリミングする。次いで、現在の−13,5%
と目標値の一27%の差である−13.5%の半分であ
る−6.75%を現在の−13,5%に加えた−20.
25%まで下げるに必要な電圧値である510Vを第3
図から求め、この510vの高電圧パルスを同様にして
抵抗素子2に2回印加して、−20,25%までトリミ
ングする。この時のパーセンティジである− 20.2
5%と目標のパーセンティジである一27%との差であ
る−6.75%の半分である−3.37%を現在の−2
0,25%に加えた−23.62%まで下げるに必要な
電圧値である600vを第3図から求め、この600V
の高電圧パルスを同様にして抵抗素子2に2回印加して
、−23,62%までトリミングする。最後に、−27
%と−23,62%の差である−3.8%の半分の−1
,9%を−23,62%に加えた−25.52%に対応
する660Vの高電圧パルスを同様にして抵抗素子2に
2回印加して、−25,52%までトリミングする。こ
の4回のトリミングにより略目標値に達したことになる
。
初期抵抗値をプローブ6と7および抵抗測定装置9によ
り測定する。この結果、抵抗素子2の目標の抵抗値がこ
の初期抵抗値の一27%であるとする。まず、この−2
7%の半分である−13.5%まで下げるに必要な電圧
値を第3図の曲線データを基にして求める。第3′図に
よれば、−13,5%まで下げるには400■の高電圧
パルスが必要である。そこで400Vの高電圧パルスを
制御装置10、プログラム電源11およびパルス発生回
路12により、抵抗素子2に2回印加して、 −13,
5%までトリミングする。次いで、現在の−13,5%
と目標値の一27%の差である−13.5%の半分であ
る−6.75%を現在の−13,5%に加えた−20.
25%まで下げるに必要な電圧値である510Vを第3
図から求め、この510vの高電圧パルスを同様にして
抵抗素子2に2回印加して、−20,25%までトリミ
ングする。この時のパーセンティジである− 20.2
5%と目標のパーセンティジである一27%との差であ
る−6.75%の半分である−3.37%を現在の−2
0,25%に加えた−23.62%まで下げるに必要な
電圧値である600vを第3図から求め、この600V
の高電圧パルスを同様にして抵抗素子2に2回印加して
、−23,62%までトリミングする。最後に、−27
%と−23,62%の差である−3.8%の半分の−1
,9%を−23,62%に加えた−25.52%に対応
する660Vの高電圧パルスを同様にして抵抗素子2に
2回印加して、−25,52%までトリミングする。こ
の4回のトリミングにより略目標値に達したことになる
。
この実施例では3つの異なった高電圧パルスをそれぞれ
2回ずつ印加しているが、これは第4図に示すように、
同一電圧パルス(ここでは400V)を複数回抵抗素子
に印加した場合の抵抗値の変化率は、1回目の高電圧パ
ルスの印加でトリミング効果の大半が得られ、それ以降
は飽和していくことに着目したものである。そこで、安
全を見込んで1度設定した高電圧に対して、2回のパル
スを印加して、トリミングを完全に飽和させておき、そ
れ以降のトリミングの不規則な変化を除去している。
2回ずつ印加しているが、これは第4図に示すように、
同一電圧パルス(ここでは400V)を複数回抵抗素子
に印加した場合の抵抗値の変化率は、1回目の高電圧パ
ルスの印加でトリミング効果の大半が得られ、それ以降
は飽和していくことに着目したものである。そこで、安
全を見込んで1度設定した高電圧に対して、2回のパル
スを印加して、トリミングを完全に飽和させておき、そ
れ以降のトリミングの不規則な変化を除去している。
第3図の曲線に対応してパルス電圧を選択したり、パル
スの回数を決めたり、一連のシーケンスを制御するには
、制御装置10内にマイクロコンピュータを設け、これ
により制御すればよい。
スの回数を決めたり、一連のシーケンスを制御するには
、制御装置10内にマイクロコンピュータを設け、これ
により制御すればよい。
[発明の効果]
以上のように、この発明の厚膜抵抗アレーのトリミング
方法は、1つの抵抗素子に対してそれぞれ電圧値の異な
る高電圧パルスを印加して抵抗素子の抵抗値の変化率を
予め測定しておき、処理すべき抵抗素子の初期抵抗値を
測定して所望の抵抗値にするための目標抵抗変化率を求
め、まず、この目標抵抗変化率の略半分の抵抗変化率に
対する高電圧値を上記の測定データから求め、その値の
高電圧パルスを印加して第1回目のトリミングを行い、
次いでこの第1回目のトリミングによる抵抗変化率と目
標抵抗変化率の差分の略半分の値を第1回目のトリミン
グの抵抗変化率に加えた抵抗変化率に対応する高電圧値
を上記の測定データから求め、その値の高電圧パルスを
印加して第2回目のトリミングを行うというようにして
、目標抵抗変化率まであるいはその近くまでトリミング
するものである。したがって、従来のトリミング方法に
比ムでトリミング回数を少なくすることができ、サーマ
ルテリントヘッド全体のトリミングに要する時間は大幅
に減少させることができる。さらにこの方法を実施する
装置は、従来の装置をそのシーケンスを変えるだけの簡
単な変更で利用できる。
方法は、1つの抵抗素子に対してそれぞれ電圧値の異な
る高電圧パルスを印加して抵抗素子の抵抗値の変化率を
予め測定しておき、処理すべき抵抗素子の初期抵抗値を
測定して所望の抵抗値にするための目標抵抗変化率を求
め、まず、この目標抵抗変化率の略半分の抵抗変化率に
対する高電圧値を上記の測定データから求め、その値の
高電圧パルスを印加して第1回目のトリミングを行い、
次いでこの第1回目のトリミングによる抵抗変化率と目
標抵抗変化率の差分の略半分の値を第1回目のトリミン
グの抵抗変化率に加えた抵抗変化率に対応する高電圧値
を上記の測定データから求め、その値の高電圧パルスを
印加して第2回目のトリミングを行うというようにして
、目標抵抗変化率まであるいはその近くまでトリミング
するものである。したがって、従来のトリミング方法に
比ムでトリミング回数を少なくすることができ、サーマ
ルテリントヘッド全体のトリミングに要する時間は大幅
に減少させることができる。さらにこの方法を実施する
装置は、従来の装置をそのシーケンスを変えるだけの簡
単な変更で利用できる。
第1図は基本的なトリミングのシステムを概略的に示す
図、第2図はトリミングの基本的な手順を示す図、第3
図は高電圧パルスに対する抵抗値の変化率の曲線カーブ
を示すグラフ、第4図はパルス印加数に対する抵抗値変
化を示すグラフである。 図面中、1は抵抗アレー、2は抵抗素子、6゜7はプロ
ーブ、9は抵抗測定装置、12はパルス発生回路である
。 特許出願人・ 株式会社富士通ゼネラル代理人 弁理士
大 原 拓 也 第1図 ち
図、第2図はトリミングの基本的な手順を示す図、第3
図は高電圧パルスに対する抵抗値の変化率の曲線カーブ
を示すグラフ、第4図はパルス印加数に対する抵抗値変
化を示すグラフである。 図面中、1は抵抗アレー、2は抵抗素子、6゜7はプロ
ーブ、9は抵抗測定装置、12はパルス発生回路である
。 特許出願人・ 株式会社富士通ゼネラル代理人 弁理士
大 原 拓 也 第1図 ち
Claims (1)
- 基板上に複数の抵抗素子が厚膜印刷により設けられた
厚膜抵抗アレーの前記各抵抗素子に高電圧パルスを印加
することにより所定の抵抗値に設定するトリミング方法
において、1つの前記抵抗素子に対してそれぞれ電圧値
の異なる高電圧パルスを印加することにより前記抵抗素
子の抵抗値の変化率を予め測定し、被処理抵抗素子の初
期抵抗値を測定して所望の抵抗値にするための目標抵抗
変化率を求め、まず前記目標抵抗変化率の略半分の第1
の抵抗変化率に対応する高電圧パルスを複数回印加し、
次いで前記目標抵抗変化率と前記第1の抵抗変化率の差
の略半分の抵抗変化率を前記第1の抵抗変化率を加えた
第2の抵抗変化率に対応する高電圧パルスを複数回印加
するようにして前記目標抵抗変化率に近づけるように前
記抵抗素子をトリミングすることを特徴とする厚膜抵抗
アレーのトリミング方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61124941A JPS62281402A (ja) | 1986-05-30 | 1986-05-30 | 厚膜抵抗アレ−のトリミング方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61124941A JPS62281402A (ja) | 1986-05-30 | 1986-05-30 | 厚膜抵抗アレ−のトリミング方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS62281402A true JPS62281402A (ja) | 1987-12-07 |
Family
ID=14897978
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP61124941A Pending JPS62281402A (ja) | 1986-05-30 | 1986-05-30 | 厚膜抵抗アレ−のトリミング方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS62281402A (ja) |
-
1986
- 1986-05-30 JP JP61124941A patent/JPS62281402A/ja active Pending
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