JPS6359552A - サーマルヘッドの抵抗値調整装置 - Google Patents
サーマルヘッドの抵抗値調整装置Info
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- JPS6359552A JPS6359552A JP20400586A JP20400586A JPS6359552A JP S6359552 A JPS6359552 A JP S6359552A JP 20400586 A JP20400586 A JP 20400586A JP 20400586 A JP20400586 A JP 20400586A JP S6359552 A JPS6359552 A JP S6359552A
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- resistance value
- voltage
- trimming
- heating resistor
- thermal head
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- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B41—PRINTING; LINING MACHINES; TYPEWRITERS; STAMPS
- B41J—TYPEWRITERS; SELECTIVE PRINTING MECHANISMS, i.e. MECHANISMS PRINTING OTHERWISE THAN FROM A FORME; CORRECTION OF TYPOGRAPHICAL ERRORS
- B41J2/00—Typewriters or selective printing mechanisms characterised by the printing or marking process for which they are designed
- B41J2/315—Typewriters or selective printing mechanisms characterised by the printing or marking process for which they are designed characterised by selective application of heat to a heat sensitive printing or impression-transfer material
- B41J2/32—Typewriters or selective printing mechanisms characterised by the printing or marking process for which they are designed characterised by selective application of heat to a heat sensitive printing or impression-transfer material using thermal heads
- B41J2/35—Typewriters or selective printing mechanisms characterised by the printing or marking process for which they are designed characterised by selective application of heat to a heat sensitive printing or impression-transfer material using thermal heads providing current or voltage to the thermal head
- B41J2/355—Control circuits for heating-element selection
Landscapes
- Electronic Switches (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
この発明は厚膜形サーマルヘッドの製造方法、特にその
発熱抵抗体の抵抗値の均一化に関するものである。
発熱抵抗体の抵抗値の均一化に関するものである。
厚膜形のサーマルヘッドは、ペースト状の抵抗材料をス
クリーン印刷法等によって所定のパターンに印刷し、そ
の後焼成することで発熱抵抗体を形成している。そのた
め厚膜形のサーマルヘッドは比較的短い製造工程によっ
て安価に製造できる反面、発熱抵抗体の抵抗値のばらつ
きが大きくなる欠点を持ち合せている。この発熱抵抗体
の抵抗値のばらつきは印字等の質に直接影響を及ぼすも
のであるため、厚膜形のサーマルヘッドの製造において
は発熱抵抗体の抵抗値の均一化は極めて重要なファクタ
である。この発熱抵抗体の抵抗値の均一化としては、発
熱抵抗体形成後、各発熱抵抗体に個別に比較的高圧の電
圧パルスを印加するとその抵抗値が低下するという現象
を利用したトリミング処理がある。
クリーン印刷法等によって所定のパターンに印刷し、そ
の後焼成することで発熱抵抗体を形成している。そのた
め厚膜形のサーマルヘッドは比較的短い製造工程によっ
て安価に製造できる反面、発熱抵抗体の抵抗値のばらつ
きが大きくなる欠点を持ち合せている。この発熱抵抗体
の抵抗値のばらつきは印字等の質に直接影響を及ぼすも
のであるため、厚膜形のサーマルヘッドの製造において
は発熱抵抗体の抵抗値の均一化は極めて重要なファクタ
である。この発熱抵抗体の抵抗値の均一化としては、発
熱抵抗体形成後、各発熱抵抗体に個別に比較的高圧の電
圧パルスを印加するとその抵抗値が低下するという現象
を利用したトリミング処理がある。
第５図は例えば特開昭６１−８３０５３号公報に示され
た従来のサーマルヘッドの製造方法を示すフローチャー
トである。図において、ＳＴＩは初期設定のステップ、
Ｓｒ１は前記ステップＳＴ１に続くプローバ及びスイッ
チングのステップ、Ｓｒ１は前記ステップＳＴ２に続く
電圧パルス印加のステップ、Ｓｒ１は前記ステップＳＴ
３に続く抵抗値測定のステップ、Ｓｒ１は前記ステップ
ＳＴ４に続く前回データとの比較のステップ、Ｓｒ６は
前記ステップＳＴ５に続く抵抗値減少検出のステップ、
Ｓｒ１は前記ステップＳＴ６に続くトリミングの全ドツ
ト終了検出のステップ、Ｓｒ１は前記ステップＳＴ５よ
り分岐したりプローブのステップ、Ｓｒ１は前記ステッ
プＳＴ６より分岐した電圧パルスの電圧調整のステップ
であり、前記ステップＳＴ７の分岐からはステップＳＴ
２へ、ステップＳＴ８からはステップＳＴ４へ、ステッ
プＳＴ９からはステップＳＴ３へ、それぞれ処理が戻さ
れる。
た従来のサーマルヘッドの製造方法を示すフローチャー
トである。図において、ＳＴＩは初期設定のステップ、
Ｓｒ１は前記ステップＳＴ１に続くプローバ及びスイッ
チングのステップ、Ｓｒ１は前記ステップＳＴ２に続く
電圧パルス印加のステップ、Ｓｒ１は前記ステップＳＴ
３に続く抵抗値測定のステップ、Ｓｒ１は前記ステップ
ＳＴ４に続く前回データとの比較のステップ、Ｓｒ６は
前記ステップＳＴ５に続く抵抗値減少検出のステップ、
Ｓｒ１は前記ステップＳＴ６に続くトリミングの全ドツ
ト終了検出のステップ、Ｓｒ１は前記ステップＳＴ５よ
り分岐したりプローブのステップ、Ｓｒ１は前記ステッ
プＳＴ６より分岐した電圧パルスの電圧調整のステップ
であり、前記ステップＳＴ７の分岐からはステップＳＴ
２へ、ステップＳＴ８からはステップＳＴ４へ、ステッ
プＳＴ９からはステップＳＴ３へ、それぞれ処理が戻さ
れる。
次に動作について説明する。まず、ステップＳＴ１にお
いて、トリミングする発熱抵抗体に加える電圧パルスの
初期値、トリミングの目標値等の初期条件が設定される
０次に、ステップＳＴ２において、サーマルヘッドにプ
ロービングし、トリミングするドツトを選択してその発
熱抵抗体を電圧パルス発生手段に接続し、ステップＳＴ
３で前記ステップ１で設定された初期値の電圧パルスを
印加する０次にステップＳＴ４でその発熱抵抗体の抵抗
値を測定し、ステップＳＴ５において抵抗値が減少した
か否かを識別し、していなければプローブの接触不良と
みなしてステップＳＴ８にてブロービングをやり直し、
ステップＳＴ４に戻って再度抵抗値の測定を行なう、抵
抗値が減少していればステップＳＴ６にてステップＳＴ
Ｉで設定されたトリミングの目標値と比較し、目標値よ
り小さくなっていなければ、ステップＳＴ９にて電圧パ
ルスの電圧値をΔＶだけ上昇させてステップＳＴ３に戻
り、電圧パルスの再印加を行なう、この処理はその発熱
抵抗体の抵抗値が前記目標値より小さくなるまで繰返さ
れ、目標値より小さくなればそのドツトの発熱抵抗体の
トリミングを終了してステップＳＴ７へ移る。ステップ
ＳＴ７では全ドツトのトリミングが終了したか否かを識
別しており、全ドツトのトリミングが終了していなけれ
ば処理をステップＳＴ２へ戻す、ステップＳＴ２では新
たなドツトが選択されてその発熱抵抗体が電圧パルス発
生手段に接続され、同様の処理が全ドツトのトリミング
終了まで繰返される。
いて、トリミングする発熱抵抗体に加える電圧パルスの
初期値、トリミングの目標値等の初期条件が設定される
０次に、ステップＳＴ２において、サーマルヘッドにプ
ロービングし、トリミングするドツトを選択してその発
熱抵抗体を電圧パルス発生手段に接続し、ステップＳＴ
３で前記ステップ１で設定された初期値の電圧パルスを
印加する０次にステップＳＴ４でその発熱抵抗体の抵抗
値を測定し、ステップＳＴ５において抵抗値が減少した
か否かを識別し、していなければプローブの接触不良と
みなしてステップＳＴ８にてブロービングをやり直し、
ステップＳＴ４に戻って再度抵抗値の測定を行なう、抵
抗値が減少していればステップＳＴ６にてステップＳＴ
Ｉで設定されたトリミングの目標値と比較し、目標値よ
り小さくなっていなければ、ステップＳＴ９にて電圧パ
ルスの電圧値をΔＶだけ上昇させてステップＳＴ３に戻
り、電圧パルスの再印加を行なう、この処理はその発熱
抵抗体の抵抗値が前記目標値より小さくなるまで繰返さ
れ、目標値より小さくなればそのドツトの発熱抵抗体の
トリミングを終了してステップＳＴ７へ移る。ステップ
ＳＴ７では全ドツトのトリミングが終了したか否かを識
別しており、全ドツトのトリミングが終了していなけれ
ば処理をステップＳＴ２へ戻す、ステップＳＴ２では新
たなドツトが選択されてその発熱抵抗体が電圧パルス発
生手段に接続され、同様の処理が全ドツトのトリミング
終了まで繰返される。
第６図はこの発熱抵抗体の抵抗値の減少を示す線図であ
り、トリミング前にはＲ１，Ｒ，、Ｒ，と大きくばらつ
いていた抵抗値が、目標値Ｒ０よりわずかに低い、狭い
範囲内に均一化される。図においてｖ５は前記電圧パル
スの初期値であり、電圧パルスの印加によって発熱抵抗
体の抵抗値が減少をはじめる境界電圧が通常２５Ｖ近傍
にあるため例えば２５Ｖに設定されている。また、ΔＶ
はステップＳＴ９による電圧パルスの電圧値の増し分で
あり、発熱抵抗体の抵抗値が減少し過ぎないように例え
ば２．５ｖに設定して除々に抵抗値を減少させている。
り、トリミング前にはＲ１，Ｒ，、Ｒ，と大きくばらつ
いていた抵抗値が、目標値Ｒ０よりわずかに低い、狭い
範囲内に均一化される。図においてｖ５は前記電圧パル
スの初期値であり、電圧パルスの印加によって発熱抵抗
体の抵抗値が減少をはじめる境界電圧が通常２５Ｖ近傍
にあるため例えば２５Ｖに設定されている。また、ΔＶ
はステップＳＴ９による電圧パルスの電圧値の増し分で
あり、発熱抵抗体の抵抗値が減少し過ぎないように例え
ば２．５ｖに設定して除々に抵抗値を減少させている。
従来のサーマルヘッド請造方法は以上のように構成され
ているので、１ドツトの発熱抵抗体のトリミングには２
０〜３０回の電圧パルスの印加。
ているので、１ドツトの発熱抵抗体のトリミングには２
０〜３０回の電圧パルスの印加。
及び抵抗値の測定をしなければならず、発熱抵抗体の抵
抗値の均一化には多大な時間を要するという問題点があ
った。
抗値の均一化には多大な時間を要するという問題点があ
った。
この発明は上記のような問題点を解消するためになされ
たもので、発熱抵抗体の抵抗値の均一化に多大の時間を
必要とすることのないサーマルヘッドの製造方法を得る
ことを目的とする。
たもので、発熱抵抗体の抵抗値の均一化に多大の時間を
必要とすることのないサーマルヘッドの製造方法を得る
ことを目的とする。
〔問題点を解決するための手段〕
この発明に係るサーマルヘッドの製造方法は。
サーマルヘッドのドツト中よりいくつかのサンプルを選
定してそれに電圧値の異なるいくつかの電圧パルスを低
いものから順に印加し、その都度発熱抵抗体の抵抗変化
を測定して抵抗値降下曲線近似のためのトリミング定数
α、βを求め、このトリミング定数α、βの所定の関係
式からのずれを検定して、そのずれが所定の範囲内にあ
る場合に当該トリミング定数α、βを用いて抵抗値降下
曲線を近似し、各ドツトのトリミングに際しては、まず
その発熱抵抗体の抵抗値を８ｕ定して、必要な抵抗値の
降下量から前記抵抗値降下曲線に基づいて印加する電圧
パルスの電圧値を決定するものである。
定してそれに電圧値の異なるいくつかの電圧パルスを低
いものから順に印加し、その都度発熱抵抗体の抵抗変化
を測定して抵抗値降下曲線近似のためのトリミング定数
α、βを求め、このトリミング定数α、βの所定の関係
式からのずれを検定して、そのずれが所定の範囲内にあ
る場合に当該トリミング定数α、βを用いて抵抗値降下
曲線を近似し、各ドツトのトリミングに際しては、まず
その発熱抵抗体の抵抗値を８ｕ定して、必要な抵抗値の
降下量から前記抵抗値降下曲線に基づいて印加する電圧
パルスの電圧値を決定するものである。
この発明におけるサーマルヘッドの製造方法は、当該サ
ーマルヘッド内のサンプルドツトの測定によって抵抗値
降下曲線を近似するとともに、その近似にあたってはト
リミング定数α、βの検定を行なって、近似された抵抗
値降下曲線が真の曲線から大きくずれることのないよう
にし、トリミングに際してこの抵抗値降下曲線を用いて
、測定したそのドツトの発熱抵抗体の抵抗値より印加す
る電圧パルスの電圧値を決定して、１回の電圧パルスの
印加で発熱抵抗体の抵抗値を目標値に近いものとする。
ーマルヘッド内のサンプルドツトの測定によって抵抗値
降下曲線を近似するとともに、その近似にあたってはト
リミング定数α、βの検定を行なって、近似された抵抗
値降下曲線が真の曲線から大きくずれることのないよう
にし、トリミングに際してこの抵抗値降下曲線を用いて
、測定したそのドツトの発熱抵抗体の抵抗値より印加す
る電圧パルスの電圧値を決定して、１回の電圧パルスの
印加で発熱抵抗体の抵抗値を目標値に近いものとする。
以下、この発明の一実施例を図について説明する。第１
図において、５ＴＩＩは初期設定のステップ、５Ｔ１２
は前記ステップＳＴＩ １に続くサンプルの抵抗変化測
定のステップ、５Ｔ１３は前記ステップ５Ｔ１２に続く
トリミング定数α、β算出のステップ、５Ｔ１４は前記
ステップ５Ｔ１３に続くトリミング定数α、βの検出の
ステップ、５Ｔ１５は前記ステップ５Ｔ１４に続く抵抗
値降下曲線近似のステップ、５Ｔ１６は前記ステップ５
Ｔ１５に続く抵抗値測定のステップ、５Ｔ１７は前記ス
テップ５Ｔ１６に続く印加電圧決定のステップ、５Ｔ１
８は前記ステップＳＴＩ ７に続く電圧パルス印加のス
テップ、５Ｔ１９は前記ステップ５Ｔ１８に続くトリミ
ングの全ドツト終了検出のステップ、５Ｔ２０は前記ス
テップ５Ｔ１４から分岐した別サンプルの選定のステッ
プであり、前記ステップ５Ｔ１９の分岐からはステップ
５Ｔ１６へ、ステップ５Ｔ２０がらはステップ５Ｔ１２
へ、それぞれ処理が戻される。
図において、５ＴＩＩは初期設定のステップ、５Ｔ１２
は前記ステップＳＴＩ １に続くサンプルの抵抗変化測
定のステップ、５Ｔ１３は前記ステップ５Ｔ１２に続く
トリミング定数α、β算出のステップ、５Ｔ１４は前記
ステップ５Ｔ１３に続くトリミング定数α、βの検出の
ステップ、５Ｔ１５は前記ステップ５Ｔ１４に続く抵抗
値降下曲線近似のステップ、５Ｔ１６は前記ステップ５
Ｔ１５に続く抵抗値測定のステップ、５Ｔ１７は前記ス
テップ５Ｔ１６に続く印加電圧決定のステップ、５Ｔ１
８は前記ステップＳＴＩ ７に続く電圧パルス印加のス
テップ、５Ｔ１９は前記ステップ５Ｔ１８に続くトリミ
ングの全ドツト終了検出のステップ、５Ｔ２０は前記ス
テップ５Ｔ１４から分岐した別サンプルの選定のステッ
プであり、前記ステップ５Ｔ１９の分岐からはステップ
５Ｔ１６へ、ステップ５Ｔ２０がらはステップ５Ｔ１２
へ、それぞれ処理が戻される。
第２図はこの発明のサーマルヘッドの製造方法を実施す
る装置の一例を示すブロック図であり、図において、１
はトリミング処理が行なわれるサーマルヘッド、２はこ
のサーマルヘッド１の各発熱抵抗体の端子にプローブを
押し当てるブロービング装置、３はブロービング装置２
に接続されて前記発熱抵抗体の選択を行なうリレー網、
４はリレー網３に接続されて電圧パルスの印加と抵抗値
の測定とを切り換えるスイッチ、５はスイッチ４の一方
に接続されて指定された電圧値の電圧パルスを送出する
パルス発生器、６はスイッチ４の他方に接続された抵抗
計、７は入出力部８、中央処理装置（以下、ＣＰＵとい
う）９、メモリ１０、キーボード１１等を備えて、前記
諸装置の制御を行なうとともに所要の演算処理を行なう
制御演算部、１２はこの制御演算部７に接続されたプリ
ンタである。
る装置の一例を示すブロック図であり、図において、１
はトリミング処理が行なわれるサーマルヘッド、２はこ
のサーマルヘッド１の各発熱抵抗体の端子にプローブを
押し当てるブロービング装置、３はブロービング装置２
に接続されて前記発熱抵抗体の選択を行なうリレー網、
４はリレー網３に接続されて電圧パルスの印加と抵抗値
の測定とを切り換えるスイッチ、５はスイッチ４の一方
に接続されて指定された電圧値の電圧パルスを送出する
パルス発生器、６はスイッチ４の他方に接続された抵抗
計、７は入出力部８、中央処理装置（以下、ＣＰＵとい
う）９、メモリ１０、キーボード１１等を備えて、前記
諸装置の制御を行なうとともに所要の演算処理を行なう
制御演算部、１２はこの制御演算部７に接続されたプリ
ンタである。
次に動作について説明する。第３図は前記抵抗値降下曲
線の一例を示す線図であり、図中の実線Ｙがその抵抗値
降下曲線で、横軸には電圧パルスによる印加電圧値が、
縦軸には電圧パルス印加による発熱抵抗体の抵抗変化率
が目盛られている。
線の一例を示す線図であり、図中の実線Ｙがその抵抗値
降下曲線で、横軸には電圧パルスによる印加電圧値が、
縦軸には電圧パルス印加による発熱抵抗体の抵抗変化率
が目盛られている。
実験の結果、第６図の縦軸を抵抗変化率にして。
初期の抵抗値から何％降下したかをプロットすると、第
３図に破線で示す如く、初期の抵抗値には関係なくほぼ
一定の曲線Ｙ上をたどり、その曲線Ｙは（１）式で近似
できることがわかった。
３図に破線で示す如く、初期の抵抗値には関係なくほぼ
一定の曲線Ｙ上をたどり、その曲線Ｙは（１）式で近似
できることがわかった。
Ｒｏ ΔＶ
なお、（１）式中、Ｒｏは発熱抵抗体の初期の抵抗値、
ｖｏは抵抗値に変化が現われはじめる印加電圧の境界値
、ΔＶは印加電圧の変化ステップ、α、βはサーマルヘ
ッドの構造、ドツト密度等で決まるトリミング定数であ
る。
ｖｏは抵抗値に変化が現われはじめる印加電圧の境界値
、ΔＶは印加電圧の変化ステップ、α、βはサーマルヘ
ッドの構造、ドツト密度等で決まるトリミング定数であ
る。
また、このトリミング定数α、β相互の関係は、第４図
に示すように、横軸にα、縦軸にβを目盛ってプロット
すると、はぼ一定の曲線Ｚ上をたどり、その曲線Ｚは（
２）式で近似できる双曲線であることがわかった。
に示すように、横軸にα、縦軸にβを目盛ってプロット
すると、はぼ一定の曲線Ｚ上をたどり、その曲線Ｚは（
２）式で近似できる双曲線であることがわかった。
β＝Ω・α ・・・ （２）
なお、（２）式中、Ω２ｍはドツト密度に関係なく一定
の値をとる定数である。
なお、（２）式中、Ω２ｍはドツト密度に関係なく一定
の値をとる定数である。
さらに、別の実験の結果、所定の電圧値の電圧パルスを
１回だけ印加した場合の抵抗減少率は、第３図の如く電
圧値を暫増させながら何回も電圧パルスを印加した場合
の同一電圧値のそれと同等の値を示すこともわかった。
１回だけ印加した場合の抵抗減少率は、第３図の如く電
圧値を暫増させながら何回も電圧パルスを印加した場合
の同一電圧値のそれと同等の値を示すこともわかった。
この発明はこれらの実験結果に基づくものである。
この実施例では、まず、ステップ１１で初期設定が行な
われ、次いでステップ１２でサンプルの抵抗変化測定が
行なわれる。即ち、リレー網３を制御してサーマルヘッ
ド１のサンプルとして指定されたドツトの発熱抵抗体を
選択し、スイッチ４を切り換えて抵抗計６へ接続して抵
抗値を測定し、その測定値を制御演算部７へ送り、制御
演算部７のＣＰＵ９はこれをメモリ１０へ格納する０次
にスイッチ４を切り換えてパルス発生器５より所定の電
圧値の電圧パルスを前記抵抗発熱体に印加する。ここで
、この電圧パルスは例えば幅が２μｓｅｃのパルスが１
５個周期５０μｓｅｃで連続するパルス列である０次に
、再度スイッチ４を切り換えて。
われ、次いでステップ１２でサンプルの抵抗変化測定が
行なわれる。即ち、リレー網３を制御してサーマルヘッ
ド１のサンプルとして指定されたドツトの発熱抵抗体を
選択し、スイッチ４を切り換えて抵抗計６へ接続して抵
抗値を測定し、その測定値を制御演算部７へ送り、制御
演算部７のＣＰＵ９はこれをメモリ１０へ格納する０次
にスイッチ４を切り換えてパルス発生器５より所定の電
圧値の電圧パルスを前記抵抗発熱体に印加する。ここで
、この電圧パルスは例えば幅が２μｓｅｃのパルスが１
５個周期５０μｓｅｃで連続するパルス列である０次に
、再度スイッチ４を切り換えて。
この電圧パルスが印加された発熱抵抗体を抵抗計６に接
続して抵抗値を測定し、制御演算部７へ送る。制御演算
部７のＣＰＵ９はそれを印加した電圧パルスの電圧値と
ともにメモリ１０に格納する。
続して抵抗値を測定し、制御演算部７へ送る。制御演算
部７のＣＰＵ９はそれを印加した電圧パルスの電圧値と
ともにメモリ１０に格納する。
以下、同様にして、電圧パルスの電圧値を適宜上昇させ
ながらこれらの処理を繰返す、この処理は少くとも３回
繰返して実行され、リレー網３を切り換えていくつかの
サンプルについて実行される。
ながらこれらの処理を繰返す、この処理は少くとも３回
繰返して実行され、リレー網３を切り換えていくつかの
サンプルについて実行される。
次に、ステップ５Ｔ１３において、このようにして測定
された抵抗変化に基づいて抵抗値降下曲線の近似のため
のトリミング定数α、βの算出が行なわれる。即ち、制
御演算部７のＣＰＵ９はメモリ１０に格納しておいた抵
抗変化から、電圧パルスによる各印加電圧における抵抗
変化率ΔＲ＝（Ｒ−Ｒ，） ／Ｒｅを求め、これを前記
（１）式に代入する。これによって各サンプル毎にそれ
ぞれα、β、ｖ０を未知数とする方程式を作成してこれ
を解く、ここで、三つの未知数に対して四つ以上の方程
式がある場合にはこれを統計的に処理して解を得る。得
られた解はさらに各サンプル間で統計的に処理されて、
印加電圧の境界値ｖ０とともに所望のトリミング定数α
、βが得られる。
された抵抗変化に基づいて抵抗値降下曲線の近似のため
のトリミング定数α、βの算出が行なわれる。即ち、制
御演算部７のＣＰＵ９はメモリ１０に格納しておいた抵
抗変化から、電圧パルスによる各印加電圧における抵抗
変化率ΔＲ＝（Ｒ−Ｒ，） ／Ｒｅを求め、これを前記
（１）式に代入する。これによって各サンプル毎にそれ
ぞれα、β、ｖ０を未知数とする方程式を作成してこれ
を解く、ここで、三つの未知数に対して四つ以上の方程
式がある場合にはこれを統計的に処理して解を得る。得
られた解はさらに各サンプル間で統計的に処理されて、
印加電圧の境界値ｖ０とともに所望のトリミング定数α
、βが得られる。
このようにして得られたトリミング定数α、βは、次に
ステップ５Ｔ１４において、（２）式の関係からのずれ
が検出される。即ち、第４図に点Ａで示す如く、ずれが
一定の範囲、例えば同図にハツチングを施した±５％の
領域をはずれた場合には誤測定とみなして、ステップ５
Ｔ１２による抵抗値変化の測定をやり直す、その場合、
ステップ５Ｔ２０によって以前に電圧パルスが印加され
たことのないドツトが新しいサンプルとして選択゛され
る。第４図に点Ｂで示す如く、ずれが一定の範囲内であ
る場合には、当該トリミング定数α。
ステップ５Ｔ１４において、（２）式の関係からのずれ
が検出される。即ち、第４図に点Ａで示す如く、ずれが
一定の範囲、例えば同図にハツチングを施した±５％の
領域をはずれた場合には誤測定とみなして、ステップ５
Ｔ１２による抵抗値変化の測定をやり直す、その場合、
ステップ５Ｔ２０によって以前に電圧パルスが印加され
たことのないドツトが新しいサンプルとして選択゛され
る。第４図に点Ｂで示す如く、ずれが一定の範囲内であ
る場合には、当該トリミング定数α。
βはステップＳＴＩ ５にて印加電圧の境界値ｖ０とと
もに（１）式に代入されて、抵抗変化率ΔＲと印加電圧
Ｖとの関係を示す抵抗値降下曲線が近似される。
もに（１）式に代入されて、抵抗変化率ΔＲと印加電圧
Ｖとの関係を示す抵抗値降下曲線が近似される。
これで準備段階を終了してステップ５Ｔ１６よりトリミ
ングの処理に入る。まず、ステップ５Ｔ１６において、
リレー網３でトリミングを実施するドツトを選択し、ス
イッチによってこれを抵抗計６に接続してその抵抗値を
測定する。次に、ステップ５Ｔ１７ではＣＰＵ９によっ
て、得られた抵抗値を目標値まで降下させるための抵抗
変化率ΔＲｎが算出され、さらに前述の抵抗値降下曲線
Ｙを用いて電圧パルスの印加電圧Ｖｎを決定する。
ングの処理に入る。まず、ステップ５Ｔ１６において、
リレー網３でトリミングを実施するドツトを選択し、ス
イッチによってこれを抵抗計６に接続してその抵抗値を
測定する。次に、ステップ５Ｔ１７ではＣＰＵ９によっ
て、得られた抵抗値を目標値まで降下させるための抵抗
変化率ΔＲｎが算出され、さらに前述の抵抗値降下曲線
Ｙを用いて電圧パルスの印加電圧Ｖｎを決定する。
その様子は第３図に示され、具体的には前記α。
βｔ Ｖａが代入された関係式に前記ΔＲｎを代入して
印加電圧Ｖｎを算出する。得られた印加電圧Ｖｎは制御
演算部７よりパルス発生器５へ送られる。ステップ５Ｔ
１８でスイッチ４が切り換えられると、パルス発生器５
からは電圧がＶｎの電圧パルスが送出され、トリミング
を実施するドツトの発熱抵抗体に印加される。これによ
って当該発熱抵抗体の抵抗値は目標値に近い値に降下す
る。
印加電圧Ｖｎを算出する。得られた印加電圧Ｖｎは制御
演算部７よりパルス発生器５へ送られる。ステップ５Ｔ
１８でスイッチ４が切り換えられると、パルス発生器５
からは電圧がＶｎの電圧パルスが送出され、トリミング
を実施するドツトの発熱抵抗体に印加される。これによ
って当該発熱抵抗体の抵抗値は目標値に近い値に降下す
る。
以下ステップ５Ｔ１９が全ドツトのトリミングの終了を
検出するまで、ステップ５Ｔ１６以後の処理が繰返され
る。
検出するまで、ステップ５Ｔ１６以後の処理が繰返され
る。
なお、上記実施例では１つのサンプルに対して。
少くとも３回の電圧パルス印加を行なって抵抗値降下曲
線を近似するものを示したが、抵抗値に変化が現われは
じめる印加電圧の境界値ｖ０を２５Ｖとして固定的に与
えてしまえば、２回の電圧パルス印加で抵抗値降下曲線
を近似することも可能となる。
線を近似するものを示したが、抵抗値に変化が現われは
じめる印加電圧の境界値ｖ０を２５Ｖとして固定的に与
えてしまえば、２回の電圧パルス印加で抵抗値降下曲線
を近似することも可能となる。
また、上記実施例では電圧パルスに所定数連続したパル
ス列を用いたが単パルスであってもよく。
ス列を用いたが単パルスであってもよく。
上記実施例と同様の効果を奏する。
以上のように、この発明によれば、少ないサンプルの抵
抗変化を測定して抵抗値降下曲線を近似し、トリミング
に際しては、そのドツトの発熱抵抗体の抵抗値を測定し
て、前記抵抗値降下曲線を用いて電圧パルスの電圧値を
決定するように構成したので、各ドツト毎に１回の電圧
パルスの印加によってトリミングが完了するため１発熱
抵抗体の抵抗値の均一化に要する時間を大幅に削減する
ことでき、さらに、抵抗値降下曲線の近似に際して、ト
リミング定数α、βの検出を行なっているので、近似さ
れた曲線が真の抵抗値降下曲線から大きくずれるような
ことはなく、抵抗値降下曲線の近似ミスによる過剰トリ
ミングあるいは発熱抵抗体の破壊、及びトリミング不足
あるいは未トリミングが生ずることのないサーマルヘッ
ドの製造方法が得られるなどの効果がある。
抗変化を測定して抵抗値降下曲線を近似し、トリミング
に際しては、そのドツトの発熱抵抗体の抵抗値を測定し
て、前記抵抗値降下曲線を用いて電圧パルスの電圧値を
決定するように構成したので、各ドツト毎に１回の電圧
パルスの印加によってトリミングが完了するため１発熱
抵抗体の抵抗値の均一化に要する時間を大幅に削減する
ことでき、さらに、抵抗値降下曲線の近似に際して、ト
リミング定数α、βの検出を行なっているので、近似さ
れた曲線が真の抵抗値降下曲線から大きくずれるような
ことはなく、抵抗値降下曲線の近似ミスによる過剰トリ
ミングあるいは発熱抵抗体の破壊、及びトリミング不足
あるいは未トリミングが生ずることのないサーマルヘッ
ドの製造方法が得られるなどの効果がある。
第１図はこの発明の一実施例によるサーマルヘッドの製
造方法を示すフローチャート、第２図はそれを実施する
ための装置の一例を示すブロック図、第３図はその抵抗
値降下曲線の一例を示す線図、第４図はそのトリミング
定数αとβの相互の関係を示す線図、第５図は従来のサ
ーマルヘッドの製造方法を示すフローチャート、第６図
はその発熱抵抗体の抵抗値の減少を示す線図である。 １はサーマルヘッド、２はプロービング装置、３はリレ
ー網、４はスイッチ、５はパルス発生器。 ６は抵抗計、７は制御演算部。 第１図 第２図 第４図 第５図 第６図
造方法を示すフローチャート、第２図はそれを実施する
ための装置の一例を示すブロック図、第３図はその抵抗
値降下曲線の一例を示す線図、第４図はそのトリミング
定数αとβの相互の関係を示す線図、第５図は従来のサ
ーマルヘッドの製造方法を示すフローチャート、第６図
はその発熱抵抗体の抵抗値の減少を示す線図である。 １はサーマルヘッド、２はプロービング装置、３はリレ
ー網、４はスイッチ、５はパルス発生器。 ６は抵抗計、７は制御演算部。 第１図 第２図 第４図 第５図 第６図
Claims (1)
- 複数の発熱抵抗体を備えたサーマルヘッドの前記発熱抵
抗体の各々に電圧パルスを印加し、その抵抗値を降下さ
せて均一化するサーマルヘッドの製造方法において、前
記発熱抵抗体中からサンプルを選び、電圧値の異なる電
圧パルスを低圧のものから順次、前記サンプルとして選
ばれた発熱抵抗体に印加して、印加電圧と抵抗変化の関
係を示す抵抗値降下曲線を近似するためのトリミング定
数α、βを求め、このトリミング定数α、βが所定の関
係式で表現される関係を有するものとして、得られた前
記トリミング定数α、βと前記関係式とのずれを検定し
、そのずれが一定の範囲内であれば、当該トリミング定
数α、βに基づいて前記抵抗値降下曲線を近似し、前記
各発熱抵抗体へ印加する前記電圧パルスの電圧値を、当
該発熱抵抗体の初期の抵抗値に基づいて前記抵抗値降下
曲線を用いて決定することを特徴とするサーマルヘッド
の製造方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61204005A JPH06414B2 (ja) | 1986-08-29 | 1986-08-29 | サーマルヘッドの抵抗値調整装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61204005A JPH06414B2 (ja) | 1986-08-29 | 1986-08-29 | サーマルヘッドの抵抗値調整装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6359552A true JPS6359552A (ja) | 1988-03-15 |
| JPH06414B2 JPH06414B2 (ja) | 1994-01-05 |
Family
ID=16483194
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP61204005A Expired - Lifetime JPH06414B2 (ja) | 1986-08-29 | 1986-08-29 | サーマルヘッドの抵抗値調整装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH06414B2 (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS63252759A (ja) * | 1987-04-09 | 1988-10-19 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | サ−マルヘツドの発熱抵抗体トリミング装置 |
| JPS63252760A (ja) * | 1987-04-09 | 1988-10-19 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | サ−マルヘツドの発熱抵抗体トリミング方法 |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS61131404A (ja) * | 1984-11-29 | 1986-06-19 | ロ−ム株式会社 | サ−マルヘツドにおけるパルストリミング法 |
-
1986
- 1986-08-29 JP JP61204005A patent/JPH06414B2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS61131404A (ja) * | 1984-11-29 | 1986-06-19 | ロ−ム株式会社 | サ−マルヘツドにおけるパルストリミング法 |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS63252759A (ja) * | 1987-04-09 | 1988-10-19 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | サ−マルヘツドの発熱抵抗体トリミング装置 |
| JPS63252760A (ja) * | 1987-04-09 | 1988-10-19 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | サ−マルヘツドの発熱抵抗体トリミング方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH06414B2 (ja) | 1994-01-05 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| EXPY | Cancellation because of completion of term |