JPS62288105A - 電子写真感光体用セレン・テルル材料およびその製法 - Google Patents
電子写真感光体用セレン・テルル材料およびその製法Info
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- JPS62288105A JPS62288105A JP13224186A JP13224186A JPS62288105A JP S62288105 A JPS62288105 A JP S62288105A JP 13224186 A JP13224186 A JP 13224186A JP 13224186 A JP13224186 A JP 13224186A JP S62288105 A JPS62288105 A JP S62288105A
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Landscapes
- Photoreceptors In Electrophotography (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
3、発明の詳細な説明
産業上の利用分野
本発明は電子写真感光体用のSe T・材料、詳しくは
該感光体の感光層を構成するSe Te薄膜形成用の材
料、およびその製法に関する。
該感光体の感光層を構成するSe Te薄膜形成用の材
料、およびその製法に関する。
従来の技術
従来、電子写真用感光体の高感度化に伴い2種々の感光
材料および増感剤混入等の研死がなされている。しかし
2合金材料等の蒸着による感光層の形成においては、構
成成分の蒸気圧や原子量等の違いにより、蒸発源組成は
時間と共に変化し。
材料および増感剤混入等の研死がなされている。しかし
2合金材料等の蒸着による感光層の形成においては、構
成成分の蒸気圧や原子量等の違いにより、蒸発源組成は
時間と共に変化し。
それに伴ない感光層薄膜の組成も厚さ方向に変る不都合
がある。この不都合は1例えば感光体製品のばらつき増
大に伴う不良率の増大、感光体交換の必要性に伴う複写
条件の再設定等、多大なコスト上昇を引き起す原因とな
る。かかる不都合を改善するために、一方では多数の蒸
発方法が提案されているが、未だ決定的な解決策とは成
り得ていない。
がある。この不都合は1例えば感光体製品のばらつき増
大に伴う不良率の増大、感光体交換の必要性に伴う複写
条件の再設定等、多大なコスト上昇を引き起す原因とな
る。かかる不都合を改善するために、一方では多数の蒸
発方法が提案されているが、未だ決定的な解決策とは成
り得ていない。
一方、高感度感光体用の高純度のSe To合金材料を
得る方法として、従来以下の方法が行われている。すな
わち、高純度(99,999%以上)のSeおよびT・
を所定の比率にてパイン、クスアンプル又は石英管内に
真空封入し、450℃以上に加熱熔融して数時間攪拌し
た後、封入アンプルから熔融物を取出して水中に入れて
急冷し、インゴットを得る。或いは、同様に高純度のS
eおよびToを所定の比率に秤量し、還元性ガスを通じ
ながら450℃以上に加熱熔融し、数時間攪拌した後、
急冷・造粒する。蒸発材料として使用する際は2通常得
られたSe To金合金細粉砕しそして錠剤等に成形す
る。
得る方法として、従来以下の方法が行われている。すな
わち、高純度(99,999%以上)のSeおよびT・
を所定の比率にてパイン、クスアンプル又は石英管内に
真空封入し、450℃以上に加熱熔融して数時間攪拌し
た後、封入アンプルから熔融物を取出して水中に入れて
急冷し、インゴットを得る。或いは、同様に高純度のS
eおよびToを所定の比率に秤量し、還元性ガスを通じ
ながら450℃以上に加熱熔融し、数時間攪拌した後、
急冷・造粒する。蒸発材料として使用する際は2通常得
られたSe To金合金細粉砕しそして錠剤等に成形す
る。
発明の解決すべき問題点
上記の従来の製法はいずれも、5sTe合金製造工程が
複雑且つ長時間の処理を要し、また高純度のSeおよび
Teを使用していることからも、SeT・合金材料製品
は高価になる。更に、製品化されたS・、 Teを使
用するため、それらの製品の貯蔵中に不可避的に酸素が
混入すること、工業的にはS・To熔融物を水中で急冷
するために酸素等の不純物が混入すること等により、
99.999%以上はどの高純度の原料を使用する割
には不純物濃度が高くなる。
複雑且つ長時間の処理を要し、また高純度のSeおよび
Teを使用していることからも、SeT・合金材料製品
は高価になる。更に、製品化されたS・、 Teを使
用するため、それらの製品の貯蔵中に不可避的に酸素が
混入すること、工業的にはS・To熔融物を水中で急冷
するために酸素等の不純物が混入すること等により、
99.999%以上はどの高純度の原料を使用する割
には不純物濃度が高くなる。
問題点を解決するための手段
本発明者は、感光体の高感度化を達成するに最も一般的
なSe To金合金感光層とする電子写真感光体に関し
鋭意研究の結果、5eTa合金に含有される酸素濃度が
、上述した感光層薄膜の組成変化という不都合を助長し
ている事を見出した。即ちSeTa合金中の酸素濃度の
変化に伴ないSo To蒸着膜の厚さ方向のSe /
To組成が著しく変化し、従って感光体製品のばらつき
に著しい影響を与えているっちなみに、SeT・合金(
To40重量係重量光層に含有される酸素原子比と暗電
位(ばらつきを含む領域)との関係を第4図(、)に、
そして該感光層の含有酸素原子比と800 Mの波長光
における光感度(ばらつきを含む領域)との関係を第4
図(b)に示す。第4図体)および(b)から、含有酸
素原子比が約100 ppm以上になると、Sc+Te
g光層の暗電位又は光感度のいずれかが低下しく含有酸
素原子比が100〜1000 ppmの範囲では暗電位
が低下し一方該比が11000ppを越えると光感度が
減少する)感光体製品のばらつきも多くなる。従って、
Se T。
なSe To金合金感光層とする電子写真感光体に関し
鋭意研究の結果、5eTa合金に含有される酸素濃度が
、上述した感光層薄膜の組成変化という不都合を助長し
ている事を見出した。即ちSeTa合金中の酸素濃度の
変化に伴ないSo To蒸着膜の厚さ方向のSe /
To組成が著しく変化し、従って感光体製品のばらつき
に著しい影響を与えているっちなみに、SeT・合金(
To40重量係重量光層に含有される酸素原子比と暗電
位(ばらつきを含む領域)との関係を第4図(、)に、
そして該感光層の含有酸素原子比と800 Mの波長光
における光感度(ばらつきを含む領域)との関係を第4
図(b)に示す。第4図体)および(b)から、含有酸
素原子比が約100 ppm以上になると、Sc+Te
g光層の暗電位又は光感度のいずれかが低下しく含有酸
素原子比が100〜1000 ppmの範囲では暗電位
が低下し一方該比が11000ppを越えると光感度が
減少する)感光体製品のばらつきも多くなる。従って、
Se T。
合金中の含有酸素原子比が約100 ppm未満2%に
数十ppm以下であれば、暗電位および光感度の両者に
優れ、しかも製品のばらつきも少ない感光体が得られる
ことを2本発明者は見出した。
数十ppm以下であれば、暗電位および光感度の両者に
優れ、しかも製品のばらつきも少ない感光体が得られる
ことを2本発明者は見出した。
従って本発明の目的は、酸素含有濃度が低く。
均一に混合された電子写真感光体用のSe To材料を
提供することにある。本発明の別の目的は、上記のSe
To材料の簡単な製法を提供することにろるO 本発明の上記の目的は、セレン(S、)イオンおよびテ
ルル(T・)イオンを所定の濃度比で含む溶液の還元同
時析出物(共沈物)をS@To合金感光層形成用の材料
として用いることにより達成される。
提供することにある。本発明の別の目的は、上記のSe
To材料の簡単な製法を提供することにろるO 本発明の上記の目的は、セレン(S、)イオンおよびテ
ルル(T・)イオンを所定の濃度比で含む溶液の還元同
時析出物(共沈物)をS@To合金感光層形成用の材料
として用いることにより達成される。
上記の共沈物は、S・イオンおよびTeイオンを所定の
濃度で含む溶液に還元性の気体又は液体を導入すること
によって製造し得る。
濃度で含む溶液に還元性の気体又は液体を導入すること
によって製造し得る。
上記のSeイオンおよびT・イオンはそれぞれ陽イオン
である。S・イオン源化合物としては2例えばH,S・
0.(亜セレン酸)のようなオキソ酸、および(aO)
、 S・0(R=アルキル基)等のアルキル含有化合物
が使用できる。Toイオン源化合物としては例えばH2
TeO3(亜テルル酸)のようなオキソ酸。
である。S・イオン源化合物としては2例えばH,S・
0.(亜セレン酸)のようなオキソ酸、および(aO)
、 S・0(R=アルキル基)等のアルキル含有化合物
が使用できる。Toイオン源化合物としては例えばH2
TeO3(亜テルル酸)のようなオキソ酸。
およびTo (0CH20H20)2のような有機テル
ル化合物が使用できる。しかし好ましいSeおよびTe
の各イオン源化合物はそれぞれH2Seo、およびH2
TeO3である。
ル化合物が使用できる。しかし好ましいSeおよびTe
の各イオン源化合物はそれぞれH2Seo、およびH2
TeO3である。
SeイオンおよびTaイオンの溶媒としては、用いたセ
レン化合物およびテルル化合物を溶解し得。
レン化合物およびテルル化合物を溶解し得。
且つ還元反応に不活性の溶媒が使用し得2例えば水、ア
ルコール等である。
ルコール等である。
代表的なS・イオンおよびToイオン含有溶液はHl
8@03およびH2TeO3を含む水溶液、および(R
O)2S@’(R=アルキル基)とT・(0CHt C
Ht O)2を含むアルコール溶液でるるか1%にHl
Se 03とH,T・0゜の水溶液が有利に使用され
る。
8@03およびH2TeO3を含む水溶液、および(R
O)2S@’(R=アルキル基)とT・(0CHt C
Ht O)2を含むアルコール溶液でるるか1%にHl
Se 03とH,T・0゜の水溶液が有利に使用され
る。
上記の還元性気体又は液体としては通常ヒドラジン(N
2H4)pH2ガス等、非酸素系(酸素を含まない)還
元剤が好ましく、特にヒドラジンが好ましい。
2H4)pH2ガス等、非酸素系(酸素を含まない)還
元剤が好ましく、特にヒドラジンが好ましい。
反応温度は特に限定されないが1通常室温〜約100°
Cである。
Cである。
S・およびTeの同時析出は通常、 SeおよびT・
の各イオン含有溶液に還元性の気体又は液体を導入後、
数十分ないし2時間程度で完了する。Se Te共沈物
はその後、慣用法に従って濾過、洗浄および乾燥して粉
体として得られる。
の各イオン含有溶液に還元性の気体又は液体を導入後、
数十分ないし2時間程度で完了する。Se Te共沈物
はその後、慣用法に従って濾過、洗浄および乾燥して粉
体として得られる。
得られたSe Te粉体をそのままSo To感光層蒸
発材料として使用し得るが、好ましくは錠剤等に成形し
て使用する。或いは輸送および保存等の都合上、必要に
応じて非酸化性雰囲気中で熔融および造粒してもよい。
発材料として使用し得るが、好ましくは錠剤等に成形し
て使用する。或いは輸送および保存等の都合上、必要に
応じて非酸化性雰囲気中で熔融および造粒してもよい。
本発明のS@Te材料を電子写真感光体として用いる場
合の支持体は、導電性の支持体2例えばAI。
合の支持体は、導電性の支持体2例えばAI。
An、 In、 ?Jb、 Ta、 Ni、 V+ T
l、 Pt、 Pd、 Cr、 Pb等の金属又はこれ
らの合金の支持体;或いは必要に応じて上記の導電性材
料の薄膜又はIrk103 、5n02 。
l、 Pt、 Pd、 Cr、 Pb等の金属又はこれ
らの合金の支持体;或いは必要に応じて上記の導電性材
料の薄膜又はIrk103 、5n02 。
CuI等の導電性材料の薄膜を施したPET 、ボリイ
ミ′ド2等の絶縁性支持体でろる0支持体の形状は。
ミ′ド2等の絶縁性支持体でろる0支持体の形状は。
例えば円筒状、平板状、シート状、スクリーン状等であ
る。
る。
電子写真感光体のデバイスとして、上記の支持体上に静
電潜像形成プロセス又は使用する材料の特性に応じて電
荷発生層、電荷注入層、電荷注入阻止層、電荷輸送層、
絶縁層1表面層等が静電潜像が形成される様に機能的に
積層されるが2本発明のS・To材料は主として感光層
の電荷発生層として使用される。
電潜像形成プロセス又は使用する材料の特性に応じて電
荷発生層、電荷注入層、電荷注入阻止層、電荷輸送層、
絶縁層1表面層等が静電潜像が形成される様に機能的に
積層されるが2本発明のS・To材料は主として感光層
の電荷発生層として使用される。
電荷発生層の形成は1通常I”l/D法(物理的蒸着法
)が用いられる。蒸着基板は目的とする層構成に従って
選ばれ、具体的にはAI、 O,処理したAt基体、
NiCu、 AI等の導電性材料薄膜を有するPEで基
体、PET絶縁層、PET−AI−電子注入阻止層−P
VK等の電荷輸送層まで積層した基体等であり得る。
)が用いられる。蒸着基板は目的とする層構成に従って
選ばれ、具体的にはAI、 O,処理したAt基体、
NiCu、 AI等の導電性材料薄膜を有するPEで基
体、PET絶縁層、PET−AI−電子注入阻止層−P
VK等の電荷輸送層まで積層した基体等であり得る。
更に本発明のSeで・材料は、従来のSa To合金材
料と同様に、 I’/に等公知の感光層形成用樹脂と
混合し塗布して分散系の電荷発生層を形成し。
料と同様に、 I’/に等公知の感光層形成用樹脂と
混合し塗布して分散系の電荷発生層を形成し。
別に電荷輸送層を塗布又は蒸着して感光層を形成するこ
ともできる◇ 本発明のSaT・材料の真空蒸着による感光体形成法を
以下に具体的に説明する。上記のような単層又は多層の
基板を真空蒸着槽内に設置し2本発明によるSe T・
材料な該槽内に粉体2錠剤等の粉末成形体又は合金粒体
の形体で充填し、槽内を排気する。所定の真空度1例え
ばI X IF’ Torr 、に排気した後、蒸発に
要するエネルギーを与える媒体を作動させる。例えば抵
抗加熱蒸発源であれば抵抗体に通電し、SaT・材料を
蒸発させる0所定の膜厚のSe Ta層を得た後1通電
を停止する。膜厚の制御には1例えば蒸着された重さに
より発振周波数が変化する水晶振動子や光学的な制御器
が用いられる。その後、必要に応じて静電潜像を形成す
るに必要な層を蒸着、塗布、浸漬等の方法で積層して電
子写真感光体を得る。
ともできる◇ 本発明のSaT・材料の真空蒸着による感光体形成法を
以下に具体的に説明する。上記のような単層又は多層の
基板を真空蒸着槽内に設置し2本発明によるSe T・
材料な該槽内に粉体2錠剤等の粉末成形体又は合金粒体
の形体で充填し、槽内を排気する。所定の真空度1例え
ばI X IF’ Torr 、に排気した後、蒸発に
要するエネルギーを与える媒体を作動させる。例えば抵
抗加熱蒸発源であれば抵抗体に通電し、SaT・材料を
蒸発させる0所定の膜厚のSe Ta層を得た後1通電
を停止する。膜厚の制御には1例えば蒸着された重さに
より発振周波数が変化する水晶振動子や光学的な制御器
が用いられる。その後、必要に応じて静電潜像を形成す
るに必要な層を蒸着、塗布、浸漬等の方法で積層して電
子写真感光体を得る。
作用
本発明の製法によると、従来の方法とは異なり。
SeイオンおよびTeイオンの溶液からSa Toを直
接還元共沈させるために、 SeとTeが極めて均一
に混合されており、且つ酸素含有濃度が・低い。Saお
よびT・の各単体を原料として用いる方法における長時
間の真空中又は還元ガス中の熔融・混合工程を必要とせ
ずに、低酸素含有濃度のSo To材料を簡単な工程で
短時間に製造できる。
接還元共沈させるために、 SeとTeが極めて均一
に混合されており、且つ酸素含有濃度が・低い。Saお
よびT・の各単体を原料として用いる方法における長時
間の真空中又は還元ガス中の熔融・混合工程を必要とせ
ずに、低酸素含有濃度のSo To材料を簡単な工程で
短時間に製造できる。
実施例
次に本発明を実施例により添付図面を参照して更に詳し
く説明する。
く説明する。
実施例1:
H2S・0.としてSeイオンを1209/l含有する
水溶液と、 H2T@03としてTeイオンを120y
/l含有する水溶液とを6:4 (容量比)の割合で混
合しながら80℃に昇温した。80℃に温度を制御しな
がら還元性液体のヒドラジン(N2 H4)を1fl分
の割合で混合水溶液に1時間導入した後、黒色の沈澱物
を得た。該黒色沈澱物を濾過により分離し、純水で洗浄
し、乾燥して、T039.5重量裂を含有する平均粒径
3μのSeT・粉末を得た。
水溶液と、 H2T@03としてTeイオンを120y
/l含有する水溶液とを6:4 (容量比)の割合で混
合しながら80℃に昇温した。80℃に温度を制御しな
がら還元性液体のヒドラジン(N2 H4)を1fl分
の割合で混合水溶液に1時間導入した後、黒色の沈澱物
を得た。該黒色沈澱物を濾過により分離し、純水で洗浄
し、乾燥して、T039.5重量裂を含有する平均粒径
3μのSeT・粉末を得た。
このSe Ta粉末を加圧成形機にて径gm、厚さ1f
lの錠剤に成形し、第1図に示す真空蒸着装置1内の抵
抗加熱蒸発源4に、AI、O,処理、した(At、O。
lの錠剤に成形し、第1図に示す真空蒸着装置1内の抵
抗加熱蒸発源4に、AI、O,処理、した(At、O。
膜厚20k) AIパイプ基板2上に成膜されるSS
T。
T。
膜厚が1μとなる様に秤量し、そして充填した。
抵抗加熱蒸発源3には該基板2に成膜されるS・膜厚が
50μとなる様に秤量されたSeを充填した。
50μとなる様に秤量されたSeを充填した。
次に基板2の温度を75℃に昇温した後、槽1内を排気
してI X 10−5Torrの真空度に至った後、蒸
発源3に通電し9図示していない制御系(熱電対)によ
り300”Cまで昇温し、20分間その温度に保持して
基板2上に50μ厚のSe膜を形成した。その後同様に
蒸発源4に通電し9図示していない制御系(熱電対)に
より450℃まで昇温し、3分間保持することにより、
S・膜上に1μ厚のSe Te膜を形成した。次に通電
を停止し、槽1内を大気圧に戻して、第2図に示すAI
層5. AI、O,膜6,8・膜7およびSST・膜8
から成る電子写真感光体を得た。同じ操作を5回繰り返
して、感光体製品のばらつきを調べた。
してI X 10−5Torrの真空度に至った後、蒸
発源3に通電し9図示していない制御系(熱電対)によ
り300”Cまで昇温し、20分間その温度に保持して
基板2上に50μ厚のSe膜を形成した。その後同様に
蒸発源4に通電し9図示していない制御系(熱電対)に
より450℃まで昇温し、3分間保持することにより、
S・膜上に1μ厚のSe Te膜を形成した。次に通電
を停止し、槽1内を大気圧に戻して、第2図に示すAI
層5. AI、O,膜6,8・膜7およびSST・膜8
から成る電子写真感光体を得た。同じ操作を5回繰り返
して、感光体製品のばらつきを調べた。
比較例1:
sN(99,999%)S・と6’ (99,9999
%)T・をパイレックスアンプル内に1重量比が6:4
となる様に秤量し、真空封入した後、振とり炉を用いて
550℃にて2時間混合した。その後急冷し、Te40
重量%のSe T・合金インゴットを得た。
%)T・をパイレックスアンプル内に1重量比が6:4
となる様に秤量し、真空封入した後、振とり炉を用いて
550℃にて2時間混合した。その後急冷し、Te40
重量%のSe T・合金インゴットを得た。
この合金を細粉砕(≦100μ)シ゛、加圧成形機にて
径8鵡、厚さ2fiの錠剤に成形した。
径8鵡、厚さ2fiの錠剤に成形した。
この錠剤を用いて実施例1と全く同じ操作により電子写
真感光体を得た。なお、同じ操作を5回繰り返した。
真感光体を得た。なお、同じ操作を5回繰り返した。
実施例2:
実施例1で得られたSe T・粉末を石英レトルト内に
入れ、パージガスとしてArガスを流入させながら55
0℃にて30分間加熱熔融した後、不活性ガスで溝ださ
れた室内のステンレススチール板上に。
入れ、パージガスとしてArガスを流入させながら55
0℃にて30分間加熱熔融した後、不活性ガスで溝ださ
れた室内のステンレススチール板上に。
熔融したSe T・をシ1ツティングして半球状のSe
T・合金粒を得た。比較例1と同様に細粉砕し、加圧成
形して径g m 、厚さ2jIIIIの錠剤を得た。
T・合金粒を得た。比較例1と同様に細粉砕し、加圧成
形して径g m 、厚さ2jIIIIの錠剤を得た。
この錠剤を用いて実施例1と全く同じ操作によシミ子写
真感光体を得た。この操作を5回繰返した。
真感光体を得た。この操作を5回繰返した。
実施例1,2および比較例1で得られた電子写真感光体
について電気特性の測定を行い、第3図(−)に示す暗
電位および第3図(b)に示す光感度(波長800m)
を得た。第3図(11)〜(b)中、黒丸は平均値を示
す。
について電気特性の測定を行い、第3図(−)に示す暗
電位および第3図(b)に示す光感度(波長800m)
を得た。第3図(11)〜(b)中、黒丸は平均値を示
す。
第3図(、)、 (b)から、実施例1,2で得られた
電子写真感光体は、電気特性の平均値およびバラツキ共
に比較例1の感光体と同等であることがわかる0 発明の効果 第3図(、)と第4図(畠)、および第3図(b)と第
4図(blの各グラフなそ、れぞれ比較すると1本発明
によ、るSe T・材料を使用して形成したSe T・
感光層の・含有酸素濃度(含有酸素原子比)は約100
ppm未満であることがわかる。
電子写真感光体は、電気特性の平均値およびバラツキ共
に比較例1の感光体と同等であることがわかる0 発明の効果 第3図(、)と第4図(畠)、および第3図(b)と第
4図(blの各グラフなそ、れぞれ比較すると1本発明
によ、るSe T・材料を使用して形成したSe T・
感光層の・含有酸素濃度(含有酸素原子比)は約100
ppm未満であることがわかる。
また第3図(−)および(b)のグラフから明らかなよ
うに2本発明のSe To材料は、従来高純度のSSお
よびTeを用いてしかも複雑な工程によってしか得られ
なかったSe To合金材料を使用した場合と同等の高
品質の電子写真感光体を与える。しかも本発明のSe
To材料は安価な原料から簡単な製法で製造でき、従っ
て高品質且つ製品バラツキの少ないSST・感光体を低
コストにて提供可能となる。
うに2本発明のSe To材料は、従来高純度のSSお
よびTeを用いてしかも複雑な工程によってしか得られ
なかったSe To合金材料を使用した場合と同等の高
品質の電子写真感光体を与える。しかも本発明のSe
To材料は安価な原料から簡単な製法で製造でき、従っ
て高品質且つ製品バラツキの少ないSST・感光体を低
コストにて提供可能となる。
第1図は電子写真感光体作製のための真空蒸着装置の概
略正面断面図、第2図は実施例1で得られた電子写真感
光体の概略断面図、第3図(、)および(b)は実施例
1および2並びに比較例1で得られた電子写真感光体の
それぞれ暗電位(&)および光感、&(波長soom)
(b)を示すグラフ、第4図(−)はS・To感光層中
の含有酸素原子比と暗電位の関係を示すグラフ、そして
第4図(b)はSe Ts感光層中の含有酸素原子比と
光感度(波長5ooyn)の関係を示すグラフである。 1・・・真空蒸着槽、2・・・基板、3・・・S・蒸発
源。 4・・・SeT・蒸発源。 特許出頚人 富士ゼロックスHp式会社第1目 44a#J、子L(PPM) 4SeTe凛あ涼 目 (b)
略正面断面図、第2図は実施例1で得られた電子写真感
光体の概略断面図、第3図(、)および(b)は実施例
1および2並びに比較例1で得られた電子写真感光体の
それぞれ暗電位(&)および光感、&(波長soom)
(b)を示すグラフ、第4図(−)はS・To感光層中
の含有酸素原子比と暗電位の関係を示すグラフ、そして
第4図(b)はSe Ts感光層中の含有酸素原子比と
光感度(波長5ooyn)の関係を示すグラフである。 1・・・真空蒸着槽、2・・・基板、3・・・S・蒸発
源。 4・・・SeT・蒸発源。 特許出頚人 富士ゼロックスHp式会社第1目 44a#J、子L(PPM) 4SeTe凛あ涼 目 (b)
Claims (4)
- (1)セレンイオンおよびテルルイオンを含む溶液の還
元同時析出物から成ることを特徴とする、電子写真感光
体用SeTe材料。 - (2)該析出物の非酸化熔融造粒物である、特許請求の
範囲第1項のSeTe材料。 - (3)所定濃度比のセレンイオンおよびテルルイオンを
含む溶液に還元性の気体又は液体を導入してセレンおよ
びテルルを同時に析出させることを特徴とする、電子写
真感光体用SeTe材料の製法。 - (4)H_2SeO_3およびH_2TeO_3を所定
のSe/Te濃度比で含む水溶液にヒドラジンを導入す
ることを特徴とする、特許請求の範囲第3項の製法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP13224186A JPS62288105A (ja) | 1986-06-06 | 1986-06-06 | 電子写真感光体用セレン・テルル材料およびその製法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP13224186A JPS62288105A (ja) | 1986-06-06 | 1986-06-06 | 電子写真感光体用セレン・テルル材料およびその製法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS62288105A true JPS62288105A (ja) | 1987-12-15 |
Family
ID=15076665
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP13224186A Pending JPS62288105A (ja) | 1986-06-06 | 1986-06-06 | 電子写真感光体用セレン・テルル材料およびその製法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS62288105A (ja) |
Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS563630A (en) * | 1979-06-15 | 1981-01-14 | Inst Obu Niyuukuria Enaajii Re | Recovery of metals |
| JPS5788010A (en) * | 1980-11-22 | 1982-06-01 | Agency Of Ind Science & Technol | Separation of selenium and tellurium from acidic aqueous solution |
| JPS60235705A (ja) * | 1984-04-23 | 1985-11-22 | ゼロツクス コーポレーシヨン | 調整した平均晶子サイズを有するカルコゲンおよびカルコゲナイド合金の製造方法 |
-
1986
- 1986-06-06 JP JP13224186A patent/JPS62288105A/ja active Pending
Patent Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS563630A (en) * | 1979-06-15 | 1981-01-14 | Inst Obu Niyuukuria Enaajii Re | Recovery of metals |
| JPS5788010A (en) * | 1980-11-22 | 1982-06-01 | Agency Of Ind Science & Technol | Separation of selenium and tellurium from acidic aqueous solution |
| JPS60235705A (ja) * | 1984-04-23 | 1985-11-22 | ゼロツクス コーポレーシヨン | 調整した平均晶子サイズを有するカルコゲンおよびカルコゲナイド合金の製造方法 |
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