JPS6228899B2 - - Google Patents
Info
- Publication number
- JPS6228899B2 JPS6228899B2 JP1209080A JP1209080A JPS6228899B2 JP S6228899 B2 JPS6228899 B2 JP S6228899B2 JP 1209080 A JP1209080 A JP 1209080A JP 1209080 A JP1209080 A JP 1209080A JP S6228899 B2 JPS6228899 B2 JP S6228899B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- circuit
- signal
- test
- input terminal
- receiving
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
Links
- 238000012360 testing method Methods 0.000 claims description 111
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 claims description 44
- 239000002131 composite material Substances 0.000 claims description 5
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 10
- 230000004044 response Effects 0.000 description 7
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 6
- 238000004804 winding Methods 0.000 description 4
- 230000002411 adverse Effects 0.000 description 3
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 3
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 3
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 3
- 230000009471 action Effects 0.000 description 1
- 230000008859 change Effects 0.000 description 1
- 230000002950 deficient Effects 0.000 description 1
- 230000003111 delayed effect Effects 0.000 description 1
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 230000007257 malfunction Effects 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000003071 parasitic effect Effects 0.000 description 1
- 238000010998 test method Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04L—TRANSMISSION OF DIGITAL INFORMATION, e.g. TELEGRAPHIC COMMUNICATION
- H04L1/00—Arrangements for detecting or preventing errors in the information received
- H04L1/24—Testing correct operation
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04B—TRANSMISSION
- H04B3/00—Line transmission systems
- H04B3/02—Details
- H04B3/20—Reducing echo effects or singing; Opening or closing transmitting path; Conditioning for transmission in one direction or the other
- H04B3/23—Reducing echo effects or singing; Opening or closing transmitting path; Conditioning for transmission in one direction or the other using a replica of transmitted signal in the time domain, e.g. echo cancellers
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04B—TRANSMISSION
- H04B3/00—Line transmission systems
- H04B3/02—Details
- H04B3/46—Monitoring; Testing
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Computer Networks & Wireless Communication (AREA)
- Signal Processing (AREA)
- Monitoring And Testing Of Transmission In General (AREA)
- Cable Transmission Systems, Equalization Of Radio And Reduction Of Echo (AREA)
- Maintenance And Management Of Digital Transmission (AREA)
- Digital Transmission Methods That Use Modulated Carrier Waves (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明はハイブリツド結合器によつて伝送線路
に結合された送信回路および受信回路を具えてい
る装置を試験する回路にあつて、前記装置は差回
路を具備したエコーキヤンセラーを具えており、
前記差回路は前記ハイブリツド結合器の受信端に
接続される一方の入力端子と、エコーコピー信号
発生器に接続される他方の入力端子と、前記受信
回路に接続される出力端子とを有しており、試験
すべき装置に伝送線路端から帰還をかけて、受信
回路が返還する信号と送信回路に供給される信号
を比較して試験するようにした試験回路に関する
ものである。
に結合された送信回路および受信回路を具えてい
る装置を試験する回路にあつて、前記装置は差回
路を具備したエコーキヤンセラーを具えており、
前記差回路は前記ハイブリツド結合器の受信端に
接続される一方の入力端子と、エコーコピー信号
発生器に接続される他方の入力端子と、前記受信
回路に接続される出力端子とを有しており、試験
すべき装置に伝送線路端から帰還をかけて、受信
回路が返還する信号と送信回路に供給される信号
を比較して試験するようにした試験回路に関する
ものである。
試験すべき装置は、例えばデータ伝送モデム
（変復調器）のようなものとすることができ、こ
の変復調器の送信回路は伝送線路に伝送すべきデ
ータの関数として搬送波を変調する送信機とし、
また、上記変復調器の受信回路は伝送線路から受
信したデータを返還する受信機とする。この変復
調器に組込んだエコーキヤンセラーの目的は、ハ
イブリツド結合器の不良動作、または伝送線路に
おけるエコー信号により、送信機から到来してハ
イブリツド結合器の受信端に現われる信号が受信
機の入力端子に到達しないようにすることにあ
る。かようなエコー信号を示す信号はエコーキヤ
ンセラーの差回路の出力端子にて相殺される。
（変復調器）のようなものとすることができ、こ
の変復調器の送信回路は伝送線路に伝送すべきデ
ータの関数として搬送波を変調する送信機とし、
また、上記変復調器の受信回路は伝送線路から受
信したデータを返還する受信機とする。この変復
調器に組込んだエコーキヤンセラーの目的は、ハ
イブリツド結合器の不良動作、または伝送線路に
おけるエコー信号により、送信機から到来してハ
イブリツド結合器の受信端に現われる信号が受信
機の入力端子に到達しないようにすることにあ
る。かようなエコー信号を示す信号はエコーキヤ
ンセラーの差回路の出力端子にて相殺される。
変復調器を試験するには伝送線路側から帰還を
かけるのが普通であり、何れにせよ、このような
帰還をかけるには、送信機が発生する信号に相当
する帰還信号がハイブリツド結合器の受信端に現
われるようにする。このようにして帰還をかけ、
しかも送信機にテストシーケンスを供給する変復
調器を試験することは、受信機によつて返還され
る信号が斯るテストシーケンスと同一か、否かを
立証することにある。かような試験方式をエコー
キヤンセラーを具えている変復調器に用いると、
つぎのような問題に遭遇する。すなわち、テスト
シーケンスの伝送中にハイブリツド結合器の受信
端に現われる帰還信号がエコー信号としてエコー
キヤンセラーで処理され、従つて、差回路の出力
端子では相殺されてしまう。これがため、試験期
間中にエコーキヤンセラーが適切に動作すること
により、実際には受信機の入力端子に信号が現わ
れなくなり、従つて、受信機が返還する信号は不
確定な信号となり、何れにしても送信機に供給さ
れるテストシーケンスとは相違する。このように
して行われる試験によつては、変復調器が適切に
動作しているか、否かと云う事実については如何
なる指示も与えられない。そこで、エコーキヤン
セラーを試験回路から外して試験操作を行なえ
ば、変復調器の送信機および受信機の動作特性に
関する情報を得ることができる。しかし、エコー
キヤンセラーを設けたり、設けなかつたりして変
復調器を試験しても、この変復調器におけるエコ
ーキヤンセラーの動作についての情報は何も得ら
れない。
かけるのが普通であり、何れにせよ、このような
帰還をかけるには、送信機が発生する信号に相当
する帰還信号がハイブリツド結合器の受信端に現
われるようにする。このようにして帰還をかけ、
しかも送信機にテストシーケンスを供給する変復
調器を試験することは、受信機によつて返還され
る信号が斯るテストシーケンスと同一か、否かを
立証することにある。かような試験方式をエコー
キヤンセラーを具えている変復調器に用いると、
つぎのような問題に遭遇する。すなわち、テスト
シーケンスの伝送中にハイブリツド結合器の受信
端に現われる帰還信号がエコー信号としてエコー
キヤンセラーで処理され、従つて、差回路の出力
端子では相殺されてしまう。これがため、試験期
間中にエコーキヤンセラーが適切に動作すること
により、実際には受信機の入力端子に信号が現わ
れなくなり、従つて、受信機が返還する信号は不
確定な信号となり、何れにしても送信機に供給さ
れるテストシーケンスとは相違する。このように
して行われる試験によつては、変復調器が適切に
動作しているか、否かと云う事実については如何
なる指示も与えられない。そこで、エコーキヤン
セラーを試験回路から外して試験操作を行なえ
ば、変復調器の送信機および受信機の動作特性に
関する情報を得ることができる。しかし、エコー
キヤンセラーを設けたり、設けなかつたりして変
復調器を試験しても、この変復調器におけるエコ
ーキヤンセラーの動作についての情報は何も得ら
れない。
本発明の目的は前述した欠点を除去し、かつエ
コーキヤンセラーを具えている変復調器の如き装
置に対する極めて簡単な試験回路を提供せんとす
るにある。
コーキヤンセラーを具えている変復調器の如き装
置に対する極めて簡単な試験回路を提供せんとす
るにある。
本発明はハイブリツド結合器によつて伝送線路
に結合された送信回路および受信回路を具えてい
る装置を試験する回路にあつて、前記装置は差回
路を具備したエコーキヤンセラーを具えており、
前記差回路は前記ハイブリツド結合器の受信端に
接続される一方の入力端子と、エコーコピー信号
発生器に接続される他方の入力端子と、前記受信
回路に接続される出力端子とを有しており、試験
すべき装置に伝送線路端から帰還をかけて、受信
回路が返還する信号と送信回路に供給される信号
を比較して試験するようにした試験回路におい
て、該試験回路に加算回路を設け、該加算回路の
第１入力端子は前記差回路の出力端子に接続し、
加算回路の出力端子は前記受信回路に接続し、加
算回路の第２入力端子は、試験期間中は閉成され
る断続回路を介してハイブリツド結合器の受信ま
たは伝送端に接続し、前記試験回路にはさらに、
前記差回路によつて供給される信号が、エコーキ
ヤンセラーの適切な動作に対する限定値に相当す
る限界値以上となる際に、受信回路によつて返還
される信号を伝送回路に供給されるテスト信号と
は相違させる手段を設けたことを特徴とする。
に結合された送信回路および受信回路を具えてい
る装置を試験する回路にあつて、前記装置は差回
路を具備したエコーキヤンセラーを具えており、
前記差回路は前記ハイブリツド結合器の受信端に
接続される一方の入力端子と、エコーコピー信号
発生器に接続される他方の入力端子と、前記受信
回路に接続される出力端子とを有しており、試験
すべき装置に伝送線路端から帰還をかけて、受信
回路が返還する信号と送信回路に供給される信号
を比較して試験するようにした試験回路におい
て、該試験回路に加算回路を設け、該加算回路の
第１入力端子は前記差回路の出力端子に接続し、
加算回路の出力端子は前記受信回路に接続し、加
算回路の第２入力端子は、試験期間中は閉成され
る断続回路を介してハイブリツド結合器の受信ま
たは伝送端に接続し、前記試験回路にはさらに、
前記差回路によつて供給される信号が、エコーキ
ヤンセラーの適切な動作に対する限定値に相当す
る限界値以上となる際に、受信回路によつて返還
される信号を伝送回路に供給されるテスト信号と
は相違させる手段を設けたことを特徴とする。
図面につき本発明を説明する。
第１図は片側を端局１に、他側を伝送線路２お
よび３に接続する変復調器の一例を示すブロツク
線図を示す。端局１の伝送端Emに現われる伝送
すべきデータは変復調器のエミツター（送信機）
４に供給され、この送信機はデータを搬送波の変
調により伝送する際には本来変調器として作用す
る。上記送信機はデータをベースバンドにて伝送
する際には単にエンコーダとすることもできる。
送信機４の出力端子はハイブリツド結合器６の伝
送端５に接続する。この結合器６の２線ポートの
端子７および８は伝送線路２および３に接続す
る。ハイブリツド結合器の受話端９は変復調器の
受信機１０に接続する必要があり、この受信機の
出力端子は端局１の受信端Reに接続する。
よび３に接続する変復調器の一例を示すブロツク
線図を示す。端局１の伝送端Emに現われる伝送
すべきデータは変復調器のエミツター（送信機）
４に供給され、この送信機はデータを搬送波の変
調により伝送する際には本来変調器として作用す
る。上記送信機はデータをベースバンドにて伝送
する際には単にエンコーダとすることもできる。
送信機４の出力端子はハイブリツド結合器６の伝
送端５に接続する。この結合器６の２線ポートの
端子７および８は伝送線路２および３に接続す
る。ハイブリツド結合器の受話端９は変復調器の
受信機１０に接続する必要があり、この受信機の
出力端子は端局１の受信端Reに接続する。
ハイブリツド結合器６の機能は、送信機４から
到来する信号だけを伝送線路２，３に供給し、こ
の伝送線路の他端（図示せず）から到来する信号
は受信機１０に送給することにある。図面ではか
かるハイブリツド結合器を慣例にならつて差動変
圧器形態にて図示してあり、この変圧器の巻線１
１は端子５，９に接続され、中央タツプ点は平衡
抵抗１２を介して接地され、また上記変圧器の巻
線１３は端子７と８に接続される。原則的には巻
線１１および１３と平衡抵抗１２との比率を適当
に選択することによつてハイブリツド結合器の機
能を果すことができる。しかし実際上、かかる機
能が完全に果されることは決してない。送信機が
信号を伝送すると、ハイブリツド結合器６の受信
端９にはエコー信号を示す寄性信号が現われる。
このようなエコー信号はハイブリツド結合器の欠
陥および／または伝送線路におけるインピーダン
スの不連続性によつて生じたりし、このエコー信
号は受信機１０に到達し得る。
到来する信号だけを伝送線路２，３に供給し、こ
の伝送線路の他端（図示せず）から到来する信号
は受信機１０に送給することにある。図面ではか
かるハイブリツド結合器を慣例にならつて差動変
圧器形態にて図示してあり、この変圧器の巻線１
１は端子５，９に接続され、中央タツプ点は平衡
抵抗１２を介して接地され、また上記変圧器の巻
線１３は端子７と８に接続される。原則的には巻
線１１および１３と平衡抵抗１２との比率を適当
に選択することによつてハイブリツド結合器の機
能を果すことができる。しかし実際上、かかる機
能が完全に果されることは決してない。送信機が
信号を伝送すると、ハイブリツド結合器６の受信
端９にはエコー信号を示す寄性信号が現われる。
このようなエコー信号はハイブリツド結合器の欠
陥および／または伝送線路におけるインピーダン
スの不連続性によつて生じたりし、このエコー信
号は受信機１０に到達し得る。
上記エコー信号をなくのに、従来はエコーキヤ
ンセラー（エコー除去装置）を用いており、この
エコーキヤンセラーには差回路１４を設け、この
回路の（＋）入力端子はハイブリツド結合器６の
受信端９に接続し、（−）入力端子はエコーコビ
ー信号発生器１５の出力端子に接続し、また上記
差回路１４の出力端子は受信機１０の入力端子に
接続している。エコーコピー信号発生器１５は送
信機４に供給されるデータ信号からエコーコピー
信号を発生するものであり、この発生器は基本的
にはデイジタルフイルター装置であり、このフイ
ルター装置の可変係数は差回路１４によつて発生
される差信号Ｅによつて制御され、実効値が低減
される。斯種形式のエコーキヤンセラーは、例え
ば本願人の出願に係る公開フランス国特許第
7701197号（1977年１月17日出願）に記載されて
いる。エコーキヤンセラーとしては、変復調器の
送信機４の出力信号から信号発生器１５によつて
エコーコピー信号を発生させる形式のものも既知
である。何れの場合にも伝送線路の他端から変復
調器に伝送される信号がない時は、エコーキヤン
セラーの収斂に必要な時間が経た後に差信号Ｅ
（以後誤差信号と称する）はほぼ０とる。
ンセラー（エコー除去装置）を用いており、この
エコーキヤンセラーには差回路１４を設け、この
回路の（＋）入力端子はハイブリツド結合器６の
受信端９に接続し、（−）入力端子はエコーコビ
ー信号発生器１５の出力端子に接続し、また上記
差回路１４の出力端子は受信機１０の入力端子に
接続している。エコーコピー信号発生器１５は送
信機４に供給されるデータ信号からエコーコピー
信号を発生するものであり、この発生器は基本的
にはデイジタルフイルター装置であり、このフイ
ルター装置の可変係数は差回路１４によつて発生
される差信号Ｅによつて制御され、実効値が低減
される。斯種形式のエコーキヤンセラーは、例え
ば本願人の出願に係る公開フランス国特許第
7701197号（1977年１月17日出願）に記載されて
いる。エコーキヤンセラーとしては、変復調器の
送信機４の出力信号から信号発生器１５によつて
エコーコピー信号を発生させる形式のものも既知
である。何れの場合にも伝送線路の他端から変復
調器に伝送される信号がない時は、エコーキヤン
セラーの収斂に必要な時間が経た後に差信号Ｅ
（以後誤差信号と称する）はほぼ０とる。
例えば、端局１から変復調器を試験するには、
伝送線路側から変復調器に帰還をかけて、端局１
の伝送端Emにテストシーケンスを発生させ、こ
のテストシーケンスを端局１の受信端Reにて得
られる信号と比較して行うのが普通である。変復
調器には、伝送線路を断線し、かつハイブリツド
結合器６の端子７と８との間に断続器１６を介し
て整合インピーダンス１７を接続することにより
帰還をかけることができる。断続器１６は試験を
行う瞬時に端局１によつて供給される帰還制御信
号Ｓによつて閉じることができる。このようにハ
イブリツド結合器を不完全にすると、端局１の伝
送端Emに現われるテストシーケンスに応答し
て、ハイブリツド結合器６の受信端９には受信機
１０にて処理するのに十分なレベルの帰還信号ｙ
Bが直接得られる。この帰還信号ｙBのレベルが十
分でない場合には、平衡インピーダンス１２また
はインピーダンス１７を調整して、結合器を不平
衡にして試験を行うことができる。
伝送線路側から変復調器に帰還をかけて、端局１
の伝送端Emにテストシーケンスを発生させ、こ
のテストシーケンスを端局１の受信端Reにて得
られる信号と比較して行うのが普通である。変復
調器には、伝送線路を断線し、かつハイブリツド
結合器６の端子７と８との間に断続器１６を介し
て整合インピーダンス１７を接続することにより
帰還をかけることができる。断続器１６は試験を
行う瞬時に端局１によつて供給される帰還制御信
号Ｓによつて閉じることができる。このようにハ
イブリツド結合器を不完全にすると、端局１の伝
送端Emに現われるテストシーケンスに応答し
て、ハイブリツド結合器６の受信端９には受信機
１０にて処理するのに十分なレベルの帰還信号ｙ
Bが直接得られる。この帰還信号ｙBのレベルが十
分でない場合には、平衡インピーダンス１２また
はインピーダンス１７を調整して、結合器を不平
衡にして試験を行うことができる。
受信端Reにて受信される信号が伝送端Emにて
発生させたテストシーケンスと同じか、相違して
いるかを端局にて単に立証することによつて、エ
コーキヤンセラーを具えていない変復調器が満足
に動作するか、否かを確実に知ることができるこ
とは明らかである。これに対し、第１図に示す変
復調器では端局１の伝送端Emに発生されるテス
トシーケンス応答して、ハイブリツド結合器６の
受信端９に帰還信号ｙBを発生させると共に、エ
コーキヤンセラーの信号発生器１５の出力端子に
エコーコピー信号ｙBも発生させる。これら２つ
の信号間の差、すなわちＥ＝ｙB−ｙBは、実際に
はエコーキヤンセラー収斂（コンバーゼンス）に
必要な時間を経た後に相殺される。結局は、端局
１の伝送端に発生させたテストシーケンスに応答
して、エコーキヤンセラーが適切に動作している
際には、変復調器の受信機１０の入力端子に信号
が現われず、従つて端局１の受信端Reには不確
定な信号が現われる。これがため、このような試
験によつては変復調器の受信機の正常な動作を認
めることができず、しかも変復調器が満足に動作
しているか否かについての指示も端局に何等与え
られないと云う欠点がある。
発生させたテストシーケンスと同じか、相違して
いるかを端局にて単に立証することによつて、エ
コーキヤンセラーを具えていない変復調器が満足
に動作するか、否かを確実に知ることができるこ
とは明らかである。これに対し、第１図に示す変
復調器では端局１の伝送端Emに発生されるテス
トシーケンス応答して、ハイブリツド結合器６の
受信端９に帰還信号ｙBを発生させると共に、エ
コーキヤンセラーの信号発生器１５の出力端子に
エコーコピー信号ｙBも発生させる。これら２つ
の信号間の差、すなわちＥ＝ｙB−ｙBは、実際に
はエコーキヤンセラー収斂（コンバーゼンス）に
必要な時間を経た後に相殺される。結局は、端局
１の伝送端に発生させたテストシーケンスに応答
して、エコーキヤンセラーが適切に動作している
際には、変復調器の受信機１０の入力端子に信号
が現われず、従つて端局１の受信端Reには不確
定な信号が現われる。これがため、このような試
験によつては変復調器の受信機の正常な動作を認
めることができず、しかも変復調器が満足に動作
しているか否かについての指示も端局に何等与え
られないと云う欠点がある。
本発明は上述したような欠点を除去し得る異な
る試験回路を提供するものである。第２図は第１
図に示す変復調器と同一の変復調器に組込んだ本
発明による試験回路の第１例を示すブロツク線図
であり、ここに第１図のものと同一部分を示すも
のには同一符号を付して示してある。
る試験回路を提供するものである。第２図は第１
図に示す変復調器と同一の変復調器に組込んだ本
発明による試験回路の第１例を示すブロツク線図
であり、ここに第１図のものと同一部分を示すも
のには同一符号を付して示してある。
第２図に基ずく本発明による試験回路は加算回
路２０を具えており、この回路の入力端子２１は
差回路１４の出力端子に接続し、上記回路の出力
端子は受信機１０の入力端子に接続する。加算回
路２０の第２入力端子２２は断続回路２３によつ
てハイブリツド結合器６の受信端９に接続する。
上記断続回路２３は、試験期間中端局により供給
される帰還制御信号Ｓによつて閉成されるように
制御する。本発明による試験回路は特に、差回路
１４により発生されるエコーキヤンセラーの誤差
信号Ｅが、斯るエコーキヤンセラーが適切に動作
しているか否かを試験するために選定した限定値
に相当する限界値以上となる際に、端局１の受信
端Reに現われる受信機１０により返還された信
号を、端局１の伝送端Emに発生させたテストシ
ーケンスとは相違させる手段を設ける。
路２０を具えており、この回路の入力端子２１は
差回路１４の出力端子に接続し、上記回路の出力
端子は受信機１０の入力端子に接続する。加算回
路２０の第２入力端子２２は断続回路２３によつ
てハイブリツド結合器６の受信端９に接続する。
上記断続回路２３は、試験期間中端局により供給
される帰還制御信号Ｓによつて閉成されるように
制御する。本発明による試験回路は特に、差回路
１４により発生されるエコーキヤンセラーの誤差
信号Ｅが、斯るエコーキヤンセラーが適切に動作
しているか否かを試験するために選定した限定値
に相当する限界値以上となる際に、端局１の受信
端Reに現われる受信機１０により返還された信
号を、端局１の伝送端Emに発生させたテストシ
ーケンスとは相違させる手段を設ける。
第２図に示す例では、受信機１０によつて返還
される信号をテストシーケンスとは相違させるた
めの上記手段を信号検出器２４で構成し、この検
出器の入力端子は差回路１４の出力端子に接続
し、検出器の出力端子は断続回路２６を介して受
信機１０のポート（端子）２５に接続する。上記
断続回路２６も帰還制御信号Ｓによつて閉成され
る。誤差信号Ｅが上述した限界値以上になると、
信号検出器２４が論理信号を発生し、この信号が
斯る試験瞬時に受信機１０のポート２５に供給さ
れるため、この受信機の出力端子には伝送テスト
シーケンスとは異なる信号が発生する。最後に、
信号検出器２４のポート２７には帰還制御信号Ｓ
によつて閉じる断続回路２８と遅延回路２９とを
介して論理信号Ｒを供給する。上記遅延回路２９
はエコーキヤンセラーの収斂に必要な最大期間τ
に相当する時間だけ論理信号を遅延させる。ポー
ト２７に信号Ｒが存在しない時間中、すなわち、
帰還制御信号Ｓが現われてから時間τ経過するま
での時間には信号検出器２４の出力が出ないよう
にする。従つて、上述したように、時間τが径過
するまでは信号検出器２４は受信機１０に作用し
ない。
される信号をテストシーケンスとは相違させるた
めの上記手段を信号検出器２４で構成し、この検
出器の入力端子は差回路１４の出力端子に接続
し、検出器の出力端子は断続回路２６を介して受
信機１０のポート（端子）２５に接続する。上記
断続回路２６も帰還制御信号Ｓによつて閉成され
る。誤差信号Ｅが上述した限界値以上になると、
信号検出器２４が論理信号を発生し、この信号が
斯る試験瞬時に受信機１０のポート２５に供給さ
れるため、この受信機の出力端子には伝送テスト
シーケンスとは異なる信号が発生する。最後に、
信号検出器２４のポート２７には帰還制御信号Ｓ
によつて閉じる断続回路２８と遅延回路２９とを
介して論理信号Ｒを供給する。上記遅延回路２９
はエコーキヤンセラーの収斂に必要な最大期間τ
に相当する時間だけ論理信号を遅延させる。ポー
ト２７に信号Ｒが存在しない時間中、すなわち、
帰還制御信号Ｓが現われてから時間τ経過するま
での時間には信号検出器２４の出力が出ないよう
にする。従つて、上述したように、時間τが径過
するまでは信号検出器２４は受信機１０に作用し
ない。
上述した試験回路の種々の回路部品は、試験期
間以外は変復調器の動作には少しも影響を及ぼさ
ない。試験期間以外は断続器２３が開いており、
加算回路２０は差回路１４の出力端子に現われる
信号を何等変更することなく受信機１０の入力端
子に伝送する。この受信機１０に伝送される信号
は、変復調器が伝送線路２，３の他端から到来す
る信号を受信する際には高レベルの信号となる
が、断続器２６が開いているため、信号検出器２
４によつて検出し得る限界値以上の信号が通過す
る際でも受信機１０は全く影響を受けない。
間以外は変復調器の動作には少しも影響を及ぼさ
ない。試験期間以外は断続器２３が開いており、
加算回路２０は差回路１４の出力端子に現われる
信号を何等変更することなく受信機１０の入力端
子に伝送する。この受信機１０に伝送される信号
は、変復調器が伝送線路２，３の他端から到来す
る信号を受信する際には高レベルの信号となる
が、断続器２６が開いているため、信号検出器２
４によつて検出し得る限界値以上の信号が通過す
る際でも受信機１０は全く影響を受けない。
試験瞬時には端局１から供給される帰還制御信
号Ｓによつて断続回路１６，２３，２６，２８の
閉成動作を制御する。端局１の伝送端Emに発生
させるテストシーケンスに応答して帰還信号ｙB
が差回路１４の（＋）入力端子と加算回路２０の
入力端子２２に現われる。エコーキヤンセラーの
収斂期間中は、差回路１４の出力端子に現われる
信号Ｅが一定限界値の信号検出器２４に流れる
が、この際受信機１０は斯る信号によつては影響
されない。その理由は、上述したように信号検出
器２４の出力はエコーキヤンセラーの収斂に必要
な最大期間τの間は抑制されるからである。
号Ｓによつて断続回路１６，２３，２６，２８の
閉成動作を制御する。端局１の伝送端Emに発生
させるテストシーケンスに応答して帰還信号ｙB
が差回路１４の（＋）入力端子と加算回路２０の
入力端子２２に現われる。エコーキヤンセラーの
収斂期間中は、差回路１４の出力端子に現われる
信号Ｅが一定限界値の信号検出器２４に流れる
が、この際受信機１０は斯る信号によつては影響
されない。その理由は、上述したように信号検出
器２４の出力はエコーキヤンセラーの収斂に必要
な最大期間τの間は抑制されるからである。
エコーキヤンセラーが斯る期間τの終りに正し
く動作している場合には、差回路１４の出力端子
に現われる信号Ｅはほぼ０となり、これは信号検
出器２４における一定限界値（この値はエコーキ
ヤンセラーが適切に動作するための限界値であ
る）以下である。この場合、信号検出器２４の出
力は受信機１０に殆ど影響を及ぼさない。さら
に、加算回路２０の入力端子２２に供給される帰
還信号ｙBは実際にはそのまま加算回路２０の出
力端子に現われるが、この加算回路２０の他方の
入力端子２１に供給される信号Ｅはほぼ０とな
る。帰還信号ｙBに応答して、受信機１０は端局
１の受信端Reに伝送端Emから送給されたテスト
シーケンスを返還する。
く動作している場合には、差回路１４の出力端子
に現われる信号Ｅはほぼ０となり、これは信号検
出器２４における一定限界値（この値はエコーキ
ヤンセラーが適切に動作するための限界値であ
る）以下である。この場合、信号検出器２４の出
力は受信機１０に殆ど影響を及ぼさない。さら
に、加算回路２０の入力端子２２に供給される帰
還信号ｙBは実際にはそのまま加算回路２０の出
力端子に現われるが、この加算回路２０の他方の
入力端子２１に供給される信号Ｅはほぼ０とな
る。帰還信号ｙBに応答して、受信機１０は端局
１の受信端Reに伝送端Emから送給されたテスト
シーケンスを返還する。
エコーキヤンセラーが正しく動作しない場合の
試験回路の動作を説明するには、欠陥の種類を区
別する必要がある。先ず第１種類の欠陥は、エコ
ーキヤンセラーが発散信号を発生、すなわち、信
号発生器１５が帰還信号ｙBとは全く異なる不確
定信号ｙBを発生するようになることである。こ
の場合には、差回路１４の出力端子に現われる。
誤差信号Ｅおよび加算回路２０の出力端子に現わ
れる合成信号Ｅ＋ｙBも不確定な信号となる。従
つて、受信機１０は伝送端Emから伝送されるテ
ストシーケンスとは異なる信号を端局１の受信端
Reに返還する。この結果、変復調器が正しく動
作していないことを推定することができ、このこ
とは誤差信号Ｅが信号検出器２４の限界値を越す
ことからしても立証される。
試験回路の動作を説明するには、欠陥の種類を区
別する必要がある。先ず第１種類の欠陥は、エコ
ーキヤンセラーが発散信号を発生、すなわち、信
号発生器１５が帰還信号ｙBとは全く異なる不確
定信号ｙBを発生するようになることである。こ
の場合には、差回路１４の出力端子に現われる。
誤差信号Ｅおよび加算回路２０の出力端子に現わ
れる合成信号Ｅ＋ｙBも不確定な信号となる。従
つて、受信機１０は伝送端Emから伝送されるテ
ストシーケンスとは異なる信号を端局１の受信端
Reに返還する。この結果、変復調器が正しく動
作していないことを推定することができ、このこ
とは誤差信号Ｅが信号検出器２４の限界値を越す
ことからしても立証される。
実際上よく遭遇することのある第２番目の種類
の欠陥は、信号発生器１５が信号ｙB０を発生
し、これにより差回路１４の出力端子に誤差信号
ＥｙBを発生するようになることである。この
場合には実際上、受信機１０によつて認め得る
2yBに等しい信号が伝送テストシーケンスに相当
する帰還信号として加算回路２０の出力端子に現
われる。しかしこの場合には、誤差信号Ｅが信号
検出器２４の一定限界値以上となるため、受信機
１０は依然として伝送テストシーケンスとは異な
る信号を端局１の受信端Reに返還し続ける。
の欠陥は、信号発生器１５が信号ｙB０を発生
し、これにより差回路１４の出力端子に誤差信号
ＥｙBを発生するようになることである。この
場合には実際上、受信機１０によつて認め得る
2yBに等しい信号が伝送テストシーケンスに相当
する帰還信号として加算回路２０の出力端子に現
われる。しかしこの場合には、誤差信号Ｅが信号
検出器２４の一定限界値以上となるため、受信機
１０は依然として伝送テストシーケンスとは異な
る信号を端局１の受信端Reに返還し続ける。
さらに実際よく遭遇することのある欠陥は、信
号発生器１５が帰還信号ｙBと同じ形態ではある
が、振幅が誤差信号Ｅ＝ｙB−ｙBを相殺するのに
は十分でない信号ｙBを発生するようになること
である。このような場合には、試験中に誤差信号
Ｅが信号検出器２４の限界値（この値はできるだ
け低い値とするのが望ましい）以上となり、受信
機１０が伝送テストシーケンスとは異なる信号を
受信端Reに返還するようになる。
号発生器１５が帰還信号ｙBと同じ形態ではある
が、振幅が誤差信号Ｅ＝ｙB−ｙBを相殺するのに
は十分でない信号ｙBを発生するようになること
である。このような場合には、試験中に誤差信号
Ｅが信号検出器２４の限界値（この値はできるだ
け低い値とするのが望ましい）以上となり、受信
機１０が伝送テストシーケンスとは異なる信号を
受信端Reに返還するようになる。
本発明による試験回路では、断続回路２３を介
して加算回路２０の入力端子２２に供給する信号
を、必ずしもハイブリツド結合器６の受信端９に
得られ、かつ、差回路１４の（＋）入力端子に供
給される帰還信号ｙBとする必要はなく、上記加
算回路２０の入力端子２２に供給する信号は、受
信機１０に対する等価信号、例えばハイブリツド
結合器６の伝送端５に得られる信号、すなわち、
送信機４の出力端子に得られる信号と同じ信号と
することができる。
して加算回路２０の入力端子２２に供給する信号
を、必ずしもハイブリツド結合器６の受信端９に
得られ、かつ、差回路１４の（＋）入力端子に供
給される帰還信号ｙBとする必要はなく、上記加
算回路２０の入力端子２２に供給する信号は、受
信機１０に対する等価信号、例えばハイブリツド
結合器６の伝送端５に得られる信号、すなわち、
送信機４の出力端子に得られる信号と同じ信号と
することができる。
信号検出器２４としては、他の用途に対する変
復調器の受信機によく見られるような信号検出回
路を用いることができる。このような場合には、
加算回路２０を受信機１０に組込むことができ
る。
復調器の受信機によく見られるような信号検出回
路を用いることができる。このような場合には、
加算回路２０を受信機１０に組込むことができ
る。
第３図は変復調器に用いられる本発明による試
験回路の第２例を示すブロツク線図である。この
第３図において、第２図のものと同一部分を示す
ものには同一符号を付してある。この試験回路も
加算回路２０を具えており、この加算回路の出力
端子を受信機１０に接続しているが、この例では
差回路１４の出力端子と加算回路２０の入力端子
２１との間に回路３０を設け、かつ、断続回路２
３と加算回路２０の入力端子２２との間における
帰還通路に回路３１を設けている。回路３０と３
１はそれぞれ異なる作用をし、これらの回路の何
れか一方が信号を受信すると、受信機１０は対応
する信号を受信端Reに返還するが、試験期間中
に差回路１４によつて発生される誤差信号Ｅが、
エコーキヤンセラーの適切な動作に対する限定値
に相当する限界値以上になると、加算回路２０に
よつて発生される合成信号は、受信機１０の出力
端子にテストシーケンスとは異なる信号を発生さ
せる。
験回路の第２例を示すブロツク線図である。この
第３図において、第２図のものと同一部分を示す
ものには同一符号を付してある。この試験回路も
加算回路２０を具えており、この加算回路の出力
端子を受信機１０に接続しているが、この例では
差回路１４の出力端子と加算回路２０の入力端子
２１との間に回路３０を設け、かつ、断続回路２
３と加算回路２０の入力端子２２との間における
帰還通路に回路３１を設けている。回路３０と３
１はそれぞれ異なる作用をし、これらの回路の何
れか一方が信号を受信すると、受信機１０は対応
する信号を受信端Reに返還するが、試験期間中
に差回路１４によつて発生される誤差信号Ｅが、
エコーキヤンセラーの適切な動作に対する限定値
に相当する限界値以上になると、加算回路２０に
よつて発生される合成信号は、受信機１０の出力
端子にテストシーケンスとは異なる信号を発生さ
せる。
ついでこの第２の実施例における回路３０およ
び３１の幾つかの作用について説明する。
び３１の幾つかの作用について説明する。
例えば、回路３０を用いて、回路３１を省くこ
とができる。この回路３０は、例えば入力端子に
到来する信号の符号（極性）を変える単なるイン
バータ回路とすることができる。試験期間以外は
断続回路２３が開いており、受信機１０にて符号
変換を考慮することは容易なことであり、インバ
ータ回路３０を設けても、変復調器の動作を何等
妨害することはない。試験期間中は断続回路２３
が閉じており、エコーキヤンセラーが適切に動作
する際には受信機１０の出力端子にテストシーケ
ンスが現われる。この場合、差回路１４の出力端
子に現われる誤差信号Ｅはほぼ０である。エコー
キヤンセラーが正確に動作しない場合に実際に生
ずる前述した３種類の欠陥につき説明する。信号
Ｅが不確定の時には受信機１０が伝送テストシー
ケンスとは異なる信号を端局１の受信端Reに返
還することは明らかである。誤差信号Ｅがインバ
ータ回路３０により行われる符号変換により、例
えばＥｙBとなる時は、加算回路２０によつて
発生される信号ｙB−Ｅはほぼ０となり、従つ
て、これに応答して、伝送テストシーケンスとは
異なる不確定信号が受信機１０の出力端子に得ら
れる。最後に、誤差信号Ｅが帰還信号ｙBと同一
形状の時はＥの値が高くなる重大な欠陥を検出す
ることができ、この場合、加算器２０により発生
される信号ｙB−Ｅは受信機１０の感度限定値よ
りも小さくなる。
とができる。この回路３０は、例えば入力端子に
到来する信号の符号（極性）を変える単なるイン
バータ回路とすることができる。試験期間以外は
断続回路２３が開いており、受信機１０にて符号
変換を考慮することは容易なことであり、インバ
ータ回路３０を設けても、変復調器の動作を何等
妨害することはない。試験期間中は断続回路２３
が閉じており、エコーキヤンセラーが適切に動作
する際には受信機１０の出力端子にテストシーケ
ンスが現われる。この場合、差回路１４の出力端
子に現われる誤差信号Ｅはほぼ０である。エコー
キヤンセラーが正確に動作しない場合に実際に生
ずる前述した３種類の欠陥につき説明する。信号
Ｅが不確定の時には受信機１０が伝送テストシー
ケンスとは異なる信号を端局１の受信端Reに返
還することは明らかである。誤差信号Ｅがインバ
ータ回路３０により行われる符号変換により、例
えばＥｙBとなる時は、加算回路２０によつて
発生される信号ｙB−Ｅはほぼ０となり、従つ
て、これに応答して、伝送テストシーケンスとは
異なる不確定信号が受信機１０の出力端子に得ら
れる。最後に、誤差信号Ｅが帰還信号ｙBと同一
形状の時はＥの値が高くなる重大な欠陥を検出す
ることができ、この場合、加算器２０により発生
される信号ｙB−Ｅは受信機１０の感度限定値よ
りも小さくなる。
上述した本発明による実施例では、インバータ
回路３０の作用が差回路１４の入力端子（＋）お
よび（−）に供給される信号をそれぞれ反転する
ことによつて成されるため、このインバータ回路
の出力端子にはｙB−ｙBに相当する信号−Ｅ，Ｅ
が得られる。エコーコピー信号発生器１５につい
ては、これに供給される誤差信号の符号変換を容
易に考慮することができる。
回路３０の作用が差回路１４の入力端子（＋）お
よび（−）に供給される信号をそれぞれ反転する
ことによつて成されるため、このインバータ回路
の出力端子にはｙB−ｙBに相当する信号−Ｅ，Ｅ
が得られる。エコーコピー信号発生器１５につい
ては、これに供給される誤差信号の符号変換を容
易に考慮することができる。
本発明のさらに好適な実施に当つては、インバ
ータ回路３０を省いて、帰還信号の符号を変える
インバータ回路３１を用いることもできる。この
場合には、試験中に加算回路２０の出力端子に信
号Ｅ−ｙBが得られる。
ータ回路３０を省いて、帰還信号の符号を変える
インバータ回路３１を用いることもできる。この
場合には、試験中に加算回路２０の出力端子に信
号Ｅ−ｙBが得られる。
さらに本発明の好適な実施に当つては、回路３
０または３１を遅延回路とし、試験期間中に加算
回路２０の出力端子に現われる合成信号によつて
受信機１０の出力端子にて伝送テストシーケンス
とは異なる信号を検出するようにすることもでき
る。
０または３１を遅延回路とし、試験期間中に加算
回路２０の出力端子に現われる合成信号によつて
受信機１０の出力端子にて伝送テストシーケンス
とは異なる信号を検出するようにすることもでき
る。
例えば回路３１を省いて、遅延時間がT/2の回
路３０を用いることができ、この場合、Ｔは端局
によつて供給され、かつ、受信される各データビ
ツトの接続時間とする。回路３０による遅延動作
が試験期間以外は変復調器の動作に悪影響を及ぼ
さないことは明らかである。試験期間中エコーキ
ヤンセラーが適切に動作する（Ｅ０）際には、
変復調器が適切に動作しているか否かを確めるこ
とができる。誤差信号Ｅが不確定となるようなエ
コーキヤンセラーの欠陥動作は常に簡単に認識す
ることができることは明らかである。エコーキヤ
ンセラーが正確に動作せず、誤差信号ＥがｙBに
等しいか、またはほぼｙBに等しくなると、回路
３０による遅延T/2により伝送テストシーケンス
ビツト持続時間Ｔの中心にて符号変換を生ずる信
号が加算回路２０の出力端子に得られ、これに応
答して、受信機１０は伝送テストシーケンスとは
異なる任意のランダム信号を発生し、これにより
変復調器が正確に動作していないことが認められ
る。
路３０を用いることができ、この場合、Ｔは端局
によつて供給され、かつ、受信される各データビ
ツトの接続時間とする。回路３０による遅延動作
が試験期間以外は変復調器の動作に悪影響を及ぼ
さないことは明らかである。試験期間中エコーキ
ヤンセラーが適切に動作する（Ｅ０）際には、
変復調器が適切に動作しているか否かを確めるこ
とができる。誤差信号Ｅが不確定となるようなエ
コーキヤンセラーの欠陥動作は常に簡単に認識す
ることができることは明らかである。エコーキヤ
ンセラーが正確に動作せず、誤差信号ＥがｙBに
等しいか、またはほぼｙBに等しくなると、回路
３０による遅延T/2により伝送テストシーケンス
ビツト持続時間Ｔの中心にて符号変換を生ずる信
号が加算回路２０の出力端子に得られ、これに応
答して、受信機１０は伝送テストシーケンスとは
異なる任意のランダム信号を発生し、これにより
変復調器が正確に動作していないことが認められ
る。
遅延回路３０を省いて、遅延時間が例えばT/2
の遅延回路３１を用いることもできる。或いはま
た、上述した２つの例を組合わせることもでき
る。第３図は本発明による試験回路の斯る変形例
を示しており、回路３０および３１はそれぞれイ
ンバータ回路および遅延回路のようなものとする
ことができる。回路３０または３１は遅延回路を
後続させるインバータ回路とすることもできる。
の遅延回路３１を用いることもできる。或いはま
た、上述した２つの例を組合わせることもでき
る。第３図は本発明による試験回路の斯る変形例
を示しており、回路３０および３１はそれぞれイ
ンバータ回路および遅延回路のようなものとする
ことができる。回路３０または３１は遅延回路を
後続させるインバータ回路とすることもできる。
回路３０および３１としては上述した以外の機
能を呈するものを用いることもできる。しかしこ
の場合、斯る機能が試験期間以外においては変復
調器の動作に悪影響を及ばさず、しかも試験期間
中エコーキヤンセラーが正しく動作しない場合に
は、加算回路２０により発生される合成信号によ
つて、受信機１０の出力端子にテストシーケンス
とは異なる信号を発生せしめるようにする必要が
ある。
能を呈するものを用いることもできる。しかしこ
の場合、斯る機能が試験期間以外においては変復
調器の動作に悪影響を及ばさず、しかも試験期間
中エコーキヤンセラーが正しく動作しない場合に
は、加算回路２０により発生される合成信号によ
つて、受信機１０の出力端子にテストシーケンス
とは異なる信号を発生せしめるようにする必要が
ある。
第２および３図につき述べた本発明の各実施例
を組合わせることもできる。すなわち、第３図の
試験回路に第２図に示したと全く同様に接続され
る信号検出器２４を設けることもできる。この信
号検出器２４を設けることによつて第３図の試験
回路は、０ではないが、極めて僅かな誤差信号Ｅ
に基ずくエコーキヤンセラーも動作上の極めて小
さな欠陥に対しても極めて高感度に作用し得るよ
うになる。
を組合わせることもできる。すなわち、第３図の
試験回路に第２図に示したと全く同様に接続され
る信号検出器２４を設けることもできる。この信
号検出器２４を設けることによつて第３図の試験
回路は、０ではないが、極めて僅かな誤差信号Ｅ
に基ずくエコーキヤンセラーも動作上の極めて小
さな欠陥に対しても極めて高感度に作用し得るよ
うになる。
第４図に示す本発明による試験回路の第３番目
の変形例もエコーキヤンセラーの動作上の小さな
欠陥に対して極めて感度良く動作するものであ
る。なお、この第４図においても、前記各図の素
子と同一部分を示すものには同一符号を付して示
してある。
の変形例もエコーキヤンセラーの動作上の小さな
欠陥に対して極めて感度良く動作するものであ
る。なお、この第４図においても、前記各図の素
子と同一部分を示すものには同一符号を付して示
してある。
第４図の試験回路は差回路１４の出力端子と加
算回路２０の入力端子２１との間に回路４０を具
えており、好ましくは断続回路２３と加算回路２
０の入力端子２２との間における帰還信号路に減
衰回路４１を配置する。回路４０の機能は、帰還
信号ｙBに応答して、この回路が伝送テストシー
ケンスに相当するような、受信機１０によつては
認識できない差信号を発生するように、斯る回路
の入力端子に供給される信号の形状を変化させる
ことにある。回路４０は、例えばフイルターのよ
うなものとすることができる。最後に、上記回路
４０の入―出力端子間には信号によつて制御さ
れる断続回路４２を接続する。この断続回路４２
は試験期間以外は閉じており、試験期間中は開放
するものとする。
算回路２０の入力端子２１との間に回路４０を具
えており、好ましくは断続回路２３と加算回路２
０の入力端子２２との間における帰還信号路に減
衰回路４１を配置する。回路４０の機能は、帰還
信号ｙBに応答して、この回路が伝送テストシー
ケンスに相当するような、受信機１０によつては
認識できない差信号を発生するように、斯る回路
の入力端子に供給される信号の形状を変化させる
ことにある。回路４０は、例えばフイルターのよ
うなものとすることができる。最後に、上記回路
４０の入―出力端子間には信号によつて制御さ
れる断続回路４２を接続する。この断続回路４２
は試験期間以外は閉じており、試験期間中は開放
するものとする。
従つて試験期間以外は、閉成した断続回路４２
によつて回路４０が短絡され、また開放した断続
回路２３によつて回路４１が非接続となるため、
変復調器の動作がこれらの回路４０および４１に
よつて悪影響を受けないことは明らかである。
によつて回路４０が短絡され、また開放した断続
回路２３によつて回路４１が非接続となるため、
変復調器の動作がこれらの回路４０および４１に
よつて悪影響を受けないことは明らかである。
上記回路４０および４１は試験期間中だけ動作
するものである。エコーキヤンセラーが適切に動
作する時は、回路４０に供給される誤差信号Ｅが
ほぼ０となり、この回路４０もほぼ０の信号を発
生する。この結果、受信機１０はテストシーケン
スと同じ信号を端局の受信端Reに返還する。エ
コーキヤンセラーが正しく動作せず、従つて、誤
差信号が不確定の時は、伝送テストシーケンスと
は異なる信号が常に受信機１０の出力端子に得ら
れる。誤差信号Ｅが帰還信号ｙBに等しいか、ま
たはほぼ等しくなるように、エコーキヤンセラー
が不正確に動作する時は、回路４０がｙBとは異
なる信号を発生し、また、受信機１０は加算回路
２０から得られる合成信号中の帰還信号ｙBを最
早認識できなくなる。従つてこの場合、受信機１
０は伝送テストシーケンスとは異なる信号を受信
端Reに返還するようになる。この際、０ではな
いが、極めて小さな誤差信号の値に基ずくエコー
キヤンセラーの動作上の僅かの欠陥を検出するに
は、減衰回路４１を用いるのが有利である。この
回路４１の減衰係数ｋは適当に選定して、実際
上、エコーキヤンセラーが適切に動作している際
にだけ受信機１０に供給される信号である信号
kyBが受信機１０の感度限定値以上となるように
し、伝送テストシーケンスを端局１の受信端Re
に返還せしめるようにする。波形が回路４０によ
つて変形される弱い誤差信号Ｅにより加算回路２
０の出力端子に発生する信号では、受信機１０が
伝送テストシーケンスに対応する帰還信号を認識
することはできない。従つて、できるだけ低くす
るのが望ましく、しかも減衰係数ｋによつて制御
し得る誤差信号Ｅの値以上では、受信機１０が伝
送テストシーケンスとは異なる信号を供給するよ
うにする。
するものである。エコーキヤンセラーが適切に動
作する時は、回路４０に供給される誤差信号Ｅが
ほぼ０となり、この回路４０もほぼ０の信号を発
生する。この結果、受信機１０はテストシーケン
スと同じ信号を端局の受信端Reに返還する。エ
コーキヤンセラーが正しく動作せず、従つて、誤
差信号が不確定の時は、伝送テストシーケンスと
は異なる信号が常に受信機１０の出力端子に得ら
れる。誤差信号Ｅが帰還信号ｙBに等しいか、ま
たはほぼ等しくなるように、エコーキヤンセラー
が不正確に動作する時は、回路４０がｙBとは異
なる信号を発生し、また、受信機１０は加算回路
２０から得られる合成信号中の帰還信号ｙBを最
早認識できなくなる。従つてこの場合、受信機１
０は伝送テストシーケンスとは異なる信号を受信
端Reに返還するようになる。この際、０ではな
いが、極めて小さな誤差信号の値に基ずくエコー
キヤンセラーの動作上の僅かの欠陥を検出するに
は、減衰回路４１を用いるのが有利である。この
回路４１の減衰係数ｋは適当に選定して、実際
上、エコーキヤンセラーが適切に動作している際
にだけ受信機１０に供給される信号である信号
kyBが受信機１０の感度限定値以上となるように
し、伝送テストシーケンスを端局１の受信端Re
に返還せしめるようにする。波形が回路４０によ
つて変形される弱い誤差信号Ｅにより加算回路２
０の出力端子に発生する信号では、受信機１０が
伝送テストシーケンスに対応する帰還信号を認識
することはできない。従つて、できるだけ低くす
るのが望ましく、しかも減衰係数ｋによつて制御
し得る誤差信号Ｅの値以上では、受信機１０が伝
送テストシーケンスとは異なる信号を供給するよ
うにする。
第４図に示す試験回路は第２および３図に示す
例と組合わせることもできることは勿論である。
例と組合わせることもできることは勿論である。
上述した何れの場合も、エコーキヤンセラーを
具えているデータ伝送変復調器に本発明による試
験回路を使用する例につき述べたが、斯種の試験
に係る前述したような問題は、双方向伝送線路を
片方向伝送線路に結合し、かつ、受信線路に伝送
線路に発生するエコーを相殺するエコーキヤンセ
ラーを設けるようにする電話方式における２線―
４線結合器にも見られる。本発明による回路が斯
種装置の適切な動作を試験するのに極めて好適な
ものであることは明らかである。
具えているデータ伝送変復調器に本発明による試
験回路を使用する例につき述べたが、斯種の試験
に係る前述したような問題は、双方向伝送線路を
片方向伝送線路に結合し、かつ、受信線路に伝送
線路に発生するエコーを相殺するエコーキヤンセ
ラーを設けるようにする電話方式における２線―
４線結合器にも見られる。本発明による回路が斯
種装置の適切な動作を試験するのに極めて好適な
ものであることは明らかである。
第１図はエコーキヤンセラーを具えている変復
調器の一例を示すブロツク線図、第２図は第１図
の変復調器に関連する本発明による試験回路の第
１例を示すブロツク線図、第３および４図は同じ
く本発明による試験回路の第２および第３変形例
をそれぞれ示すブロツク線図である。 １……端局、２，３……伝送線路、４……送信
機、５……ハイブリツド結合器の伝送端、６……
ハイブリツド結合器、７，８……ハイブリツド結
合器の２線ポート、９……ハイブリツド結合器の
受信端、１０……受信機、１１，１３……差動変
圧器の巻線、１２……平衡抵抗、１４……差回
路、１４，１５……エコーキヤンセラー、１６…
…断続器、１７……整合インピーダンス、２０…
…加算回路、２３，２６，２８……断続回路、２
４……信号検出器、２９……遅延回路、３０，３
１……インバータ回路または遅延回路、４０……
フイルター、４１……減衰回路、４２……断続回
路、Em……端局の伝送端、Re……端局の受信
端、Ｓ……帰還制御信号。
調器の一例を示すブロツク線図、第２図は第１図
の変復調器に関連する本発明による試験回路の第
１例を示すブロツク線図、第３および４図は同じ
く本発明による試験回路の第２および第３変形例
をそれぞれ示すブロツク線図である。 １……端局、２，３……伝送線路、４……送信
機、５……ハイブリツド結合器の伝送端、６……
ハイブリツド結合器、７，８……ハイブリツド結
合器の２線ポート、９……ハイブリツド結合器の
受信端、１０……受信機、１１，１３……差動変
圧器の巻線、１２……平衡抵抗、１４……差回
路、１４，１５……エコーキヤンセラー、１６…
…断続器、１７……整合インピーダンス、２０…
…加算回路、２３，２６，２８……断続回路、２
４……信号検出器、２９……遅延回路、３０，３
１……インバータ回路または遅延回路、４０……
フイルター、４１……減衰回路、４２……断続回
路、Em……端局の伝送端、Re……端局の受信
端、Ｓ……帰還制御信号。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ ハイブリツド結合器によつて伝送線路に結合
された送信回路および受信回路を具えている装置
を試験する回路にあつて、前記装置は差回路を具
備したエコーキヤンセラーを具えており、前記差
回路は前記ハイブリツド結合器の受信端に接続さ
れる一方の入力端子と、エコーコピー信号発生器
に接続される他方の入力端子と、前記受信回路に
接続される出力端子とを有しており、試験すべき
装置に伝送線路端から帰還をかけて、受信回路が
返還する信号と送信回路に供給される信号を比較
して試験するようにした試験回路において、該試
験回路に加算回路を設け、該加算回路の第１入力
端子は前記差回路の出力端子に接続し、加算回路
の出力端子は前記受信回路に接続し、加算回路の
第２入力端子は、試験期間中は閉成される断続回
路を介してハイブリツド結合器の受信または伝送
端に接続し、前記試験回路にはさらに、前記差回
路によつて供給される信号が、エコーキヤンセラ
ーの適切な動作に対する限定値に相当する限界値
以上となる際に、受信回路によつて返還される信
号を伝送回路に供給されるテスト信号とは相違さ
せる手段を設けたことを特徴とする試験回路。 ２ 試験回路に信号検出器を設け、該検出器を差
回路の出力端子と、試験中は閉成される断続回路
を介して受信回路のポートとの間に接続し、信号
検出器の入力端子に到来する信号が前記限界値以
上となる際に、前記信号検出器によつて受信回路
が返還する信号とテスト信号とを相違させるよう
にしたことを特徴とする特許請求の範囲１記載の
試験回路。 ３ 前記加算回路の第１入力端子に直列に接続さ
れる回路および前記加算回路の第２入力端子に直
列に接続される回路の何れか一方または双方の回
路を設け、これら回路の何れか一方が信号を受信
する際に受信回路が対応する信号を返還するよう
に前記両回路を別々に動作させて、試験中に差回
路によつて供給される信号が前記限界値以上とな
る際に、加算回路によつて供給される合成信号が
受信回路の出力端子にテスト信号とは異なる信号
を発生せしめるようにしたことを特徴とする特許
請求の範囲１または２の何れか一方に記載の試験
回路。 ４ 加算回路の入力端子に直列に接続する前記両
回路の何れか一方をインバータとして動作させる
ようにしたことを特徴とする特許請求の範囲３記
載の試験回路。 ５ 加算回路の入力端子に直列に接続する前記両
回路の何れか一方を遅延装置として動作させるよ
うにしたことを特徴とする特許請求の範囲３また
は４の何れか１つに記載の試験回路。 ６ 加算回路の第１入力端子に直列に入力信号の
形状を変える回路を接続し、該回路の両端子間に
断続回路を接続し、該断続回路を試験期間以外は
閉成し、試験期間中は開放すべく制御するように
したことを特徴とする特許請求の範囲１〜５の何
れか１つに記載の試験回路。 ７ 加算回路の第２入力端子に直列に減衰回路を
設けたことを特徴とする特許請求の範囲６記載の
試験回路。
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| FR7902903A FR2448258A1 (fr) | 1979-02-05 | 1979-02-05 | Systeme de test d'un dispositif muni d'un annuleur d'echo |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS55104151A JPS55104151A (en) | 1980-08-09 |
| JPS6228899B2 true JPS6228899B2 (ja) | 1987-06-23 |
Family
ID=9221610
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1209080A Granted JPS55104151A (en) | 1979-02-05 | 1980-02-05 | Testing circuit |
Country Status (7)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4549049A (ja) |
| EP (1) | EP0014505B1 (ja) |
| JP (1) | JPS55104151A (ja) |
| AU (1) | AU530523B2 (ja) |
| CA (1) | CA1144999A (ja) |
| DE (1) | DE3060426D1 (ja) |
| FR (1) | FR2448258A1 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH02503211A (ja) * | 1987-04-15 | 1990-10-04 | シユンドス・デフイブラトール・アクテイエボラーグ | 繊維パルプの製造方法及び製造装置 |
Families Citing this family (16)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| SE434789B (sv) * | 1982-12-21 | 1984-08-13 | Ellemtel Utvecklings Ab | Forfarande for detektering av farliga linjespenningar over en tvatradig linje |
| SE441052B (sv) * | 1984-02-01 | 1985-09-02 | Ellemtel Utvecklings Ab | Forfarande for att testa funktionen hos en anordning for adaptiv ekoeliminering |
| DE3583052D1 (de) * | 1984-03-30 | 1991-07-11 | Siemens Ag | Schaltungsanordnung zum pruefen der funktionsfaehigkeit einer datenuebertragunseinrichtung. |
| JPS6239924A (ja) * | 1985-08-16 | 1987-02-20 | Nec Corp | デ−タ伝送装置 |
| US4825459A (en) * | 1985-12-30 | 1989-04-25 | American Telephone And Telegraph Company | Local loop test arrangement in an echo canceller based full duplex modem |
| ES2037147T3 (es) * | 1987-07-16 | 1993-06-16 | Siemens Aktiengesellschaft | Instalacion de prueba para compensadores digitales de ecos. |
| NL8701750A (nl) * | 1987-07-24 | 1989-02-16 | At & T & Philips Telecomm | Zend-ontvanginrichting voor vol-duplex datatransmissie met een echocompensator en testvoorzieningen. |
| JP2580669B2 (ja) * | 1988-01-26 | 1997-02-12 | 日本電気株式会社 | 折返し試験回路 |
| DE3908284C1 (en) * | 1989-03-14 | 1990-06-07 | Siemens Ag, 1000 Berlin Und 8000 Muenchen, De | Test device for checking the cancelling function of a digital echo canceller |
| JP2745694B2 (ja) * | 1989-06-27 | 1998-04-28 | 日本電気株式会社 | 双方向バス伝送方式 |
| FR2674076A1 (fr) * | 1991-03-14 | 1992-09-18 | Bull Sa | Circuit integre a impedances asservies et application aux emetteurs-recepteurs notamment pour la communication entre unites d'un systeme informatique. |
| FR2674082B1 (fr) * | 1991-03-14 | 1994-11-25 | Bull Sa | Procedes de test pour transmissions serie bidirectionnelles et circuits pour leur mise en óoeuvre. |
| US5267300A (en) * | 1991-10-07 | 1993-11-30 | Racal-Datacom, Inc. | High speed digital data transmission over switched voice network |
| JP2763990B2 (ja) * | 1992-08-12 | 1998-06-11 | 富士通株式会社 | ２線式全二重モデム |
| US6011783A (en) * | 1997-06-11 | 2000-01-04 | Nortel Networks Corporation | Method and apparatus for monitoring echo cancellation performance within a telephone communications network |
| KR19990075508A (ko) * | 1998-03-20 | 1999-10-15 | 김영환 | 반향제거기 시험을 위한 펄스부호변조 데이터 지연장치 |
Family Cites Families (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US3647993A (en) * | 1970-05-18 | 1972-03-07 | Wescom | Tone disabler |
| US3721958A (en) * | 1971-04-30 | 1973-03-20 | Gen Electric | Testing arrangement for a data communication system |
| US3783194A (en) * | 1972-11-20 | 1974-01-01 | Milgo Electronic Corp | Data modem having a fast turn-around time over direct distance dialed networks |
| NL170688C (nl) * | 1976-06-28 | 1982-12-01 | Philips Nv | Inrichting voor simultane tweerichtingsdatatransmissie over tweedraadsverbindingen. |
| IT1091970B (it) * | 1977-01-17 | 1985-07-06 | Trt Telecom Radio Electr | Dispositivo digitale per la cancellazione di echi,per un modulatore/demodulatore,per la trasmissione di dati mediante modulazione di una portante |
| FR2386202A1 (fr) * | 1977-03-31 | 1978-10-27 | Cit Alcatel | Dispositif de test en local pour un equipement de transmission de donnees duplex |
-
1979
- 1979-02-05 FR FR7902903A patent/FR2448258A1/fr active Granted
-
1980
- 1980-01-29 EP EP80200079A patent/EP0014505B1/fr not_active Expired
- 1980-01-29 DE DE8080200079T patent/DE3060426D1/de not_active Expired
- 1980-01-31 CA CA000344859A patent/CA1144999A/en not_active Expired
- 1980-02-01 AU AU55143/80A patent/AU530523B2/en not_active Ceased
- 1980-02-05 JP JP1209080A patent/JPS55104151A/ja active Granted
-
1983
- 1983-07-18 US US06/514,540 patent/US4549049A/en not_active Expired - Fee Related
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH02503211A (ja) * | 1987-04-15 | 1990-10-04 | シユンドス・デフイブラトール・アクテイエボラーグ | 繊維パルプの製造方法及び製造装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| FR2448258A1 (fr) | 1980-08-29 |
| EP0014505B1 (fr) | 1982-05-19 |
| EP0014505A1 (fr) | 1980-08-20 |
| JPS55104151A (en) | 1980-08-09 |
| AU530523B2 (en) | 1983-07-21 |
| DE3060426D1 (en) | 1982-07-08 |
| CA1144999A (en) | 1983-04-19 |
| FR2448258B1 (ja) | 1982-01-08 |
| AU5514380A (en) | 1980-08-14 |
| US4549049A (en) | 1985-10-22 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JPS6228899B2 (ja) | ||
| US4032911A (en) | Signal repeater for power distribution line communication systems | |
| JP3408253B2 (ja) | エコーキャンセラーのディスエーブルトーン信号を検出するための方法 | |
| US4993045A (en) | Modem diagnostic loop | |
| KR930001630A (ko) | 에코캔슬러를 구비한 쌍방향 데이타 전송 단말 장치 | |
| US4368362A (en) | Automatic telephone loaded/nonloaded facility type identification circuit | |
| JPS62501811A (ja) | デ−タ バス パイロツト ト−ン | |
| US6408021B1 (en) | PCM modem adaptation system utilizing a silence period | |
| US7023812B1 (en) | System and method for improving modem transmission through private branch exchanges, central offices, and other systems | |
| JPS6175651A (ja) | 変復調装置 | |
| US4027114A (en) | Echo prevention circuit | |
| JPS6354048A (ja) | ル−プバツク試験方式 | |
| JPS6053933B2 (ja) | デ−タ送受信装置 | |
| JPH0541679A (ja) | モデム用エコーキヤンセラのバルクデイレイ測定法 | |
| JPS6141782B2 (ja) | ||
| JPS58215838A (ja) | 光中継器監視回路 | |
| JPS6222302B2 (ja) | ||
| JPS63318822A (ja) | エコ−キャンセラ−方式２線４線変換回路 | |
| JPS5829906B2 (ja) | ファクシミリ用検出回路 | |
| JPS61163761A (ja) | 変復調装置試験方式 | |
| JPS59256A (ja) | 変復調装置試験方式 | |
| JPH0537504A (ja) | クロツク信号伝送システム | |
| JPH02295304A (ja) | ハイブリッド回路 | |
| JPH02145090A (ja) | 帯域内信号装置 | |
| JPH03108846A (ja) | 伝送路の折り返し試験装置 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |