JPS6229190A - 半導体レ−ザ - Google Patents
半導体レ−ザInfo
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- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 title claims abstract description 18
- 239000012535 impurity Substances 0.000 claims abstract description 10
- 229910052723 transition metal Inorganic materials 0.000 claims abstract description 10
- 150000003624 transition metals Chemical class 0.000 claims abstract description 10
- 230000007704 transition Effects 0.000 claims abstract description 8
- 239000000969 carrier Substances 0.000 claims abstract description 3
- 230000006798 recombination Effects 0.000 claims abstract description 3
- 238000005215 recombination Methods 0.000 claims abstract description 3
- 230000010355 oscillation Effects 0.000 abstract description 6
- 230000005284 excitation Effects 0.000 abstract description 5
- 239000000463 material Substances 0.000 abstract description 4
- 125000005842 heteroatom Chemical group 0.000 abstract description 3
- 238000002347 injection Methods 0.000 abstract description 3
- 239000007924 injection Substances 0.000 abstract description 3
- 229910052691 Erbium Inorganic materials 0.000 abstract description 2
- NINIDFKCEFEMDL-UHFFFAOYSA-N Sulfur Chemical compound [S] NINIDFKCEFEMDL-UHFFFAOYSA-N 0.000 abstract description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 abstract description 2
- UYAHIZSMUZPPFV-UHFFFAOYSA-N erbium Chemical compound [Er] UYAHIZSMUZPPFV-UHFFFAOYSA-N 0.000 abstract description 2
- 229910052717 sulfur Inorganic materials 0.000 abstract description 2
- 239000011593 sulfur Substances 0.000 abstract description 2
- 239000000203 mixture Substances 0.000 abstract 2
- HCHKCACWOHOZIP-UHFFFAOYSA-N Zinc Chemical compound [Zn] HCHKCACWOHOZIP-UHFFFAOYSA-N 0.000 abstract 1
- 229910052725 zinc Inorganic materials 0.000 abstract 1
- 239000011701 zinc Substances 0.000 abstract 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 8
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 4
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 4
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 3
- 239000002994 raw material Substances 0.000 description 3
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 2
- 239000013078 crystal Substances 0.000 description 2
- 239000013307 optical fiber Substances 0.000 description 2
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 2
- 238000000927 vapour-phase epitaxy Methods 0.000 description 2
- 241000238557 Decapoda Species 0.000 description 1
- 229910000530 Gallium indium arsenide Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000003795 chemical substances by application Substances 0.000 description 1
- 239000012141 concentrate Substances 0.000 description 1
- AAOVKJBEBIDNHE-UHFFFAOYSA-N diazepam Chemical compound N=1CC(=O)N(C)C2=CC=C(Cl)C=C2C=1C1=CC=CC=C1 AAOVKJBEBIDNHE-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000006185 dispersion Substances 0.000 description 1
- 230000005274 electronic transitions Effects 0.000 description 1
- JBQYATWDVHIOAR-UHFFFAOYSA-N tellanylidenegermanium Chemical compound [Te]=[Ge] JBQYATWDVHIOAR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000012808 vapor phase Substances 0.000 description 1
- 238000001947 vapour-phase growth Methods 0.000 description 1
- 239000002023 wood Substances 0.000 description 1
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01S—DEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
- H01S5/00—Semiconductor lasers
- H01S5/30—Structure or shape of the active region; Materials used for the active region
- H01S5/305—Structure or shape of the active region; Materials used for the active region characterised by the doping materials used in the laser structure
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- H01S—DEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
- H01S3/00—Lasers, i.e. devices using stimulated emission of electromagnetic radiation in the infrared, visible or ultraviolet wave range
- H01S3/14—Lasers, i.e. devices using stimulated emission of electromagnetic radiation in the infrared, visible or ultraviolet wave range characterised by the material used as the active medium
- H01S3/16—Solid materials
- H01S3/1601—Solid materials characterised by an active (lasing) ion
- H01S3/1603—Solid materials characterised by an active (lasing) ion rare earth
- H01S3/1608—Solid materials characterised by an active (lasing) ion rare earth erbium
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- H01S—DEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
- H01S5/00—Semiconductor lasers
- H01S5/20—Structure or shape of the semiconductor body to guide the optical wave ; Confining structures perpendicular to the optical axis, e.g. index or gain guiding, stripe geometry, broad area lasers, gain tailoring, transverse or lateral reflectors, special cladding structures, MQW barrier reflection layers
- H01S5/22—Structure or shape of the semiconductor body to guide the optical wave ; Confining structures perpendicular to the optical axis, e.g. index or gain guiding, stripe geometry, broad area lasers, gain tailoring, transverse or lateral reflectors, special cladding structures, MQW barrier reflection layers having a ridge or stripe structure
- H01S5/227—Buried mesa structure ; Striped active layer
- H01S5/2275—Buried mesa structure ; Striped active layer mesa created by etching
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- H01S—DEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
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- H01S5/30—Structure or shape of the active region; Materials used for the active region
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- H01S5/00—Semiconductor lasers
- H01S5/30—Structure or shape of the active region; Materials used for the active region
- H01S5/305—Structure or shape of the active region; Materials used for the active region characterised by the doping materials used in the laser structure
- H01S5/3068—Structure or shape of the active region; Materials used for the active region characterised by the doping materials used in the laser structure deep levels
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- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01S—DEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
- H01S5/00—Semiconductor lasers
- H01S5/30—Structure or shape of the active region; Materials used for the active region
- H01S5/32—Structure or shape of the active region; Materials used for the active region comprising PN junctions, e.g. hetero- or double- heterostructures
- H01S5/323—Structure or shape of the active region; Materials used for the active region comprising PN junctions, e.g. hetero- or double- heterostructures in AIIIBV compounds, e.g. AlGaAs-laser, InP-based laser
- H01S5/3235—Structure or shape of the active region; Materials used for the active region comprising PN junctions, e.g. hetero- or double- heterostructures in AIIIBV compounds, e.g. AlGaAs-laser, InP-based laser emitting light at a wavelength longer than 1000 nm, e.g. InP-based 1300 nm and 1500 nm lasers
- H01S5/32391—Structure or shape of the active region; Materials used for the active region comprising PN junctions, e.g. hetero- or double- heterostructures in AIIIBV compounds, e.g. AlGaAs-laser, InP-based laser emitting light at a wavelength longer than 1000 nm, e.g. InP-based 1300 nm and 1500 nm lasers based on In(Ga)(As)P
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(産業上の利用分野)
本発明は、高効率でかつ安定な波長で発信する半導体レ
ーザに関する。
ーザに関する。
(従来技術とその問題点)
半導体レーザは、光フアイバ通信の光源として実用化が
始まっている。この用途で用いられる半導体レーザは、
発振モードが少なくかつ温度や駆動電流に対し安定であ
る事が望ましい。発振モードの数が多い半導体レーザを
用いると、光ファイバの材料分散により、伝送可能な帯
域が狭くなったり、発振モードが変化したときに大きな
雑音を発生し、伝送品質の低下を招くことが知られてい
る。ところが、従来の半導体レーザは室温では約10”
)Izのゲイン幅を有しているから、約10”Hz間隔
の軸モードが複数台まれ、単一で安定な周波数で発振さ
せることが非常に困かである。このことは、例えば、ヘ
テロストラフチャー・レーザ(](eterostru
cture La5ers) 、 B巻、アカデミツク
出版(Academic Press) 、 1978
年、B巻(partB) 、 253〜256ページに
記されている。
始まっている。この用途で用いられる半導体レーザは、
発振モードが少なくかつ温度や駆動電流に対し安定であ
る事が望ましい。発振モードの数が多い半導体レーザを
用いると、光ファイバの材料分散により、伝送可能な帯
域が狭くなったり、発振モードが変化したときに大きな
雑音を発生し、伝送品質の低下を招くことが知られてい
る。ところが、従来の半導体レーザは室温では約10”
)Izのゲイン幅を有しているから、約10”Hz間隔
の軸モードが複数台まれ、単一で安定な周波数で発振さ
せることが非常に困かである。このことは、例えば、ヘ
テロストラフチャー・レーザ(](eterostru
cture La5ers) 、 B巻、アカデミツク
出版(Academic Press) 、 1978
年、B巻(partB) 、 253〜256ページに
記されている。
そこで、本発明の目的は、このような従来の欠点を除去
せしめて、単一のモードで安定に発振する半導体レーザ
を提供することにある。
せしめて、単一のモードで安定に発振する半導体レーザ
を提供することにある。
(問題点を解決するための手段)
前述の問題点を解決するために本発明が提供する手段は
、ダブルヘテロ構造を有する半導体レーザであって、活
性層中に混入きれた遷移金属不純物の内a1を子の殻間
遷移による発光波長が、圧入キャリヤーの再結合による
発光波長より短くないことに特徴がある。
、ダブルヘテロ構造を有する半導体レーザであって、活
性層中に混入きれた遷移金属不純物の内a1を子の殻間
遷移による発光波長が、圧入キャリヤーの再結合による
発光波長より短くないことに特徴がある。
(作用)
本発明は、上述の手段により従来技術の問題点を解決し
た。ダブルヘテロ構造を有する半導体レーザの活性酒中
に遷移金属不純物が混入されているので、この不純物が
n層から注入きれる電子をトラップし、さらにpmから
注入される正孔をトラップし、発光する。このとき、遷
移金属不純物の内殻電子のうち、電子と正孔をトラップ
して受は取ったエネルギに等しい内殻電子の殻間遷移に
よる励起だけが選択的に起こる。そして、励起された内
殻電子は誘導放出をし、レーザ発振に寄与する。結晶中
の遷移金属の内殻電子の遷移のゲイン幅は非常に狭く約
10”〜10日Hzであり、従来の半導体レーザのゲイ
ン幅(約10”Hz)の1/10〜1/100となる。
た。ダブルヘテロ構造を有する半導体レーザの活性酒中
に遷移金属不純物が混入されているので、この不純物が
n層から注入きれる電子をトラップし、さらにpmから
注入される正孔をトラップし、発光する。このとき、遷
移金属不純物の内殻電子のうち、電子と正孔をトラップ
して受は取ったエネルギに等しい内殻電子の殻間遷移に
よる励起だけが選択的に起こる。そして、励起された内
殻電子は誘導放出をし、レーザ発振に寄与する。結晶中
の遷移金属の内殻電子の遷移のゲイン幅は非常に狭く約
10”〜10日Hzであり、従来の半導体レーザのゲイ
ン幅(約10”Hz)の1/10〜1/100となる。
そのため、モードは単一となり、かつ安定な周波数で発
振する。遷移金属不純物が用いられた理由は、内殻電子
の殻間遷移で発光するから、外殻電子で保護され高い効
率で電子遷移の発光が得られるからである。
振する。遷移金属不純物が用いられた理由は、内殻電子
の殻間遷移で発光するから、外殻電子で保護され高い効
率で電子遷移の発光が得られるからである。
(実施例)
以下本発明の実施例について図面を参照して詳細に説明
する。
する。
第1図は本発明の一実施例の半導体レーザを示す断面図
である。本実施例では、ダブル・\テロ構造を形成する
材料として、亜鉛(Zn)をドープしたInpHをp形
りラッド】にし、硫黄(S)をドープしたInp12を
n形りラッド居にし、エルビウム(Er)ヲトーブした
InGaAsP13を活性】にした。励起は、p側電極
14から正孔を注入し、n側電極15から電子を注入す
る電流注入によった。励起Trf、流が、効率よ< E
r−InGaAsP13に集中して流れるようにするた
めに、活性欝の両側が高抵抗Inp層16で埋め込まれ
た埋め込み構造とした。
である。本実施例では、ダブル・\テロ構造を形成する
材料として、亜鉛(Zn)をドープしたInpHをp形
りラッド】にし、硫黄(S)をドープしたInp12を
n形りラッド居にし、エルビウム(Er)ヲトーブした
InGaAsP13を活性】にした。励起は、p側電極
14から正孔を注入し、n側電極15から電子を注入す
る電流注入によった。励起Trf、流が、効率よ< E
r−InGaAsP13に集中して流れるようにするた
めに、活性欝の両側が高抵抗Inp層16で埋め込まれ
た埋め込み構造とした。
次に本実施例による半導体レーザの製作法について述べ
る。木製作法が従来の半導体レーザの製造と異なる点は
、5−Inp基板上にダブルヘテロ(DH)構造を形成
する工程において、活性届を成長する際Erを気相で混
入する点である。この工程は、気相成長法(Vapor
Phase Epitaxy、以後は略してVPEと
呼ぶ)によった、この気相成長法によるDH結晶の成長
法が通常の方法と異なるのはEr−InGaAsP活性
届13の成長のときに、原料として工)レビウム・バイ
トランド(ErHs )蒸気を通常のInGaAsP中
料に加えた点である。IncQとGacllガスは、I
nメタル及びGaメタルとHCQとを反応させる温度を
850℃とし、HcQ、と1nメタルやGaメタルと反
応させて得た。そして、えられた11cQとGBcQに
Ph、とAsH、及びErH,を加え700℃のSドー
ブエnp基板上にエビ成長させた。各原料の流量として
、IHcQ用のHcQは5.8cc/min、 Gac
Q用のH(Jは0.25cc/min、Ph、は3.2
5cc/min、 AsH,は1.75cc/minと
し、ErH3としては300″Cに加熱し昇華したガス
を用いた。
る。木製作法が従来の半導体レーザの製造と異なる点は
、5−Inp基板上にダブルヘテロ(DH)構造を形成
する工程において、活性届を成長する際Erを気相で混
入する点である。この工程は、気相成長法(Vapor
Phase Epitaxy、以後は略してVPEと
呼ぶ)によった、この気相成長法によるDH結晶の成長
法が通常の方法と異なるのはEr−InGaAsP活性
届13の成長のときに、原料として工)レビウム・バイ
トランド(ErHs )蒸気を通常のInGaAsP中
料に加えた点である。IncQとGacllガスは、I
nメタル及びGaメタルとHCQとを反応させる温度を
850℃とし、HcQ、と1nメタルやGaメタルと反
応させて得た。そして、えられた11cQとGBcQに
Ph、とAsH、及びErH,を加え700℃のSドー
ブエnp基板上にエビ成長させた。各原料の流量として
、IHcQ用のHcQは5.8cc/min、 Gac
Q用のH(Jは0.25cc/min、Ph、は3.2
5cc/min、 AsH,は1.75cc/minと
し、ErH3としては300″Cに加熱し昇華したガス
を用いた。
このようにして得られたDH構造を、図に示すような高
抵抗Inputsで埋め込んだ。
抵抗Inputsで埋め込んだ。
このようにして作られたErドープInGaAsP半導
体レーザに電流を注入してみると、波長1.54P@で
単一軸モードで安定に発振した。
体レーザに電流を注入してみると、波長1.54P@で
単一軸モードで安定に発振した。
上記実施例においては、ErをInGaAsP中にドー
プしたが、Erの他にNdをドープすると1.06褐や
1.3pの波長で発振する半導体レーザが得られる。N
dの原料としては、(NdH,)蒸気を用いれば良い。
プしたが、Erの他にNdをドープすると1.06褐や
1.3pの波長で発振する半導体レーザが得られる。N
dの原料としては、(NdH,)蒸気を用いれば良い。
上記実施例においては、InGaAsP中にErを入れ
たが、本発明はこの材料に限定されず、InGaAs、
AQGaAs等でも良い。
たが、本発明はこの材料に限定されず、InGaAs、
AQGaAs等でも良い。
(発明の効果)
本発明による半導体レーザは、混入された遷移金属不純
物の内殻電子の殻間遷移によって発振するから、ゲイン
幅が1010〜10”Hzと非常に狭く、そのため単一
の軸モードで安定な周波数で発振した。
物の内殻電子の殻間遷移によって発振するから、ゲイン
幅が1010〜10”Hzと非常に狭く、そのため単一
の軸モードで安定な周波数で発振した。
第1図は本発明の一実施例を示す断面図である。
11− Zn−Inpnチク2フ、12−5−Inpり
=/ ラド居、13−Er−InGaAsP活性1台、
14・p側電極、15 ・・・n側電極、16−・・高
抵抗InpNj。 代理人 弁理士 本 庄 伸 介 第1図 Er−1nGaAsP b nイ貝°」唱に亦シ匹
=/ ラド居、13−Er−InGaAsP活性1台、
14・p側電極、15 ・・・n側電極、16−・・高
抵抗InpNj。 代理人 弁理士 本 庄 伸 介 第1図 Er−1nGaAsP b nイ貝°」唱に亦シ匹
Claims (1)
- ダブルヘテロ構造を有する半導体レーザにおいて、活性
層中に混入された遷移金属不純物の内殻電子の殻間遷移
による発光波長が、注入キャリヤーの再結合による発光
波長より短くないことを特徴とする半導体レーザ。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP16833785A JPS6229190A (ja) | 1985-07-30 | 1985-07-30 | 半導体レ−ザ |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP16833785A JPS6229190A (ja) | 1985-07-30 | 1985-07-30 | 半導体レ−ザ |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6229190A true JPS6229190A (ja) | 1987-02-07 |
Family
ID=15866182
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP16833785A Pending JPS6229190A (ja) | 1985-07-30 | 1985-07-30 | 半導体レ−ザ |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6229190A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6795468B2 (en) | 1998-02-25 | 2004-09-21 | Internatioal Business Machines Corporation | Electric pumping of rare-earth-doped silicon for optical emission |
| US7403328B2 (en) * | 2004-08-18 | 2008-07-22 | National Chiao Tung University | Solar-pumped laser |
| JP2017108061A (ja) * | 2015-12-11 | 2017-06-15 | 三菱電機株式会社 | 半導体レーザの製造方法 |
-
1985
- 1985-07-30 JP JP16833785A patent/JPS6229190A/ja active Pending
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6795468B2 (en) | 1998-02-25 | 2004-09-21 | Internatioal Business Machines Corporation | Electric pumping of rare-earth-doped silicon for optical emission |
| US7403328B2 (en) * | 2004-08-18 | 2008-07-22 | National Chiao Tung University | Solar-pumped laser |
| US7417789B2 (en) * | 2004-08-18 | 2008-08-26 | National Chiao Tung University | Solar-pumped active device |
| JP2017108061A (ja) * | 2015-12-11 | 2017-06-15 | 三菱電機株式会社 | 半導体レーザの製造方法 |
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