JPS62297766A - ロジツク集積回路の測定装置 - Google Patents

ロジツク集積回路の測定装置

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JPS62297766A
JPS62297766A JP61140689A JP14068986A JPS62297766A JP S62297766 A JPS62297766 A JP S62297766A JP 61140689 A JP61140689 A JP 61140689A JP 14068986 A JP14068986 A JP 14068986A JP S62297766 A JPS62297766 A JP S62297766A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
dut
signal
input
timing
integrated circuit
Prior art date
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Pending
Application number
JP61140689A
Other languages
English (en)
Inventor
Yoshitaka Sogo
十河 芳孝
Shunichi Usui
臼井 俊一
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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Publication date
Application filed by Matsushita Electric Industrial Co Ltd filed Critical Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Priority to JP61140689A priority Critical patent/JPS62297766A/ja
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 3、発明の詳細な説明 産業上の利用分野 本発明はロジック集積回路の測定装置に関する。
従来の技術 従来、複数の入力端子を持つクロック同期式のロジック
集積回路の測定装置においては、信号源から被測定集積
回路素子(以下DUTと称する。)に対し、同軸線等を
介して所定のパルスパターンを有する入力信号を時間的
に正確に送り出し、被測定集積回路素子(以下DUT)
の入力端子の直前でレベル変換等の必要な処理を行い、
これをDUTの入力信号としていた。
ところが、この方法では、信号源から、DUTまでの信
号線の距離によって、信号の時間遅れが生じ、DUTの
複数の入力端子間で、信号に時間差が生じ、DUTが所
定の動作をしなくなるという不具合が生ずる。
即ち、クロック同期式のロジック集積回路を測定する際
に、複数個のDUTを同時に測定しようとすると、送出
端でのパターン信号に比へ、受信端でのパターン信号に
は相当な波形の崩れが発生し、そのためDUTの複数の
入力端子間でロジック信号に時間差が生じ、複数個のD
 U T間で、その動作が異なって来る。その様子を、
第4図〜第6図を用いて説明する。
第4図はDUTへの各信号の接続状態を示す図、第5図
は正常な場合のタイムチャートを示している。CKφは
、DUTのクロックであり、CO2C1,C2は、DU
T内部の動作タイミングを示している。COのタイミン
グで入力命令を読み取り、C1のタイミングで命令を解
読し、C2のタイミングでその結果を出力する。AO〜
A3は、入力信号で、4本の入力端子を介してOUTに
入力命令を与える。BO〜B2は出力信号で、DUTの
3本の出力端子からそれぞれ出力される。
この例に於いては、入力信号AO,A3が、共にHであ
れば、出力信号BOがHとなり、入力信号A1.A2が
共にHであれば、出力信号BOがし、且つ出力信号B1
がHとなる事を示している。即ち、入力信号AO,A3
が共にHの時は、DUT内部タイミングであるCOの2
のタイミングでDUTが入力命令を取り込み、DUT内
部タイミングC1の2のタイミングでDUTが入力命令
を解読し其の直後のDUTの内部タイミングC2のHの
タイミング12で出力信号BOをHとする。同様に入力
信号Al、A2が共にHの時はCφの5のタイミングで
DUTが入力命令を取り込み、DUT内部タイミングC
1の5のタイミングでDUTが入力命令を解読してその
直後の内部タイミングC2のHのタイミング5で出力信
号BOをり、BlをHとする。
発明が解決しようとする問題点 ところで、信号源からある距離を持たせて、同軸線等を
介して複数個のDUTを同時に動作させようとすると、
同軸線等の配線容量の為に波形筋れが生じ、誤動作が発
生することになる。その様子を第6図に示す。第6図で
は、入力信号AO〜A3が、配線容量のために波形が崩
れている。このため入力信号AO,A3は本来、Hであ
るにもかかわらず、実際にDUT側では、入力信号A3
のHのみを受けつけて、出力信号B2をHとする命令と
誤って解読し、第5図の動作と全(違う動作をしてしま
う。即ち、入力信号AO〜A3の波形の崩れが、命令取
り込みのタイミングと合わず誤動作をする。
このように、従来のロジック集積回路の測定装置では、
信号線の長さ、即ち、配線容量によって複数個のDUT
がそれぞれ、別々の動きをする事になり、測定をする上
で具合が悪い。
本発明は上記従来の問題点を解決するもので、複数のD
UTが配線容量によって誤動作するのを確実に防ぐこと
ができるロジック集積回路の測定装置を提供することを
目的をする。
問題点を解決するための手段 この目的を達成するために、本発明は、DUTのクロッ
クに対して、任意の遅れ時間をもったラッチ信号を、入
力信号と並行して送出し、DUTの入力端子の直前で上
記ラッチ信号を使って入力信号を精度よく復元し、この
復元された信号を各DUTの入力端子に与えるようにし
たものである。
作用 この構成によって同軸線等の配線容量によって波形の崩
れが生じたとしても、DUTの入力端子直前で波形整形
された信号が、DUTの入力端子に与えられる為、各D
UTが、誤動作するのを確実に防止することができる。
実施例 第1図〜第3図は本発明の一実施例を示すものであり、
第1図は、ブロック図を、第2図は第1図の動作のタイ
ミングチャートを、第3図はその時のDUTの結線状態
を示す。第1図において、1はCKOなるクロックを発
生するクロック発生装置であり、1/nの分局器2を通
してシフトレジスター3の入力端子りに接続されている
。一方、シフトレジスター3のシフトパルス入力端子S
Pへは、クロック発生装置1の出力CKOをそのまま与
えてシフトパルスとする。シフトレジスター3は、入力
端子りに与えられた信号を、シフトパルス入力端子SP
に与えられた信号でシフトし、出力端子5o−8nへ出
力する。出力端子SO〜Snは、スイッチ4によって任
意に選択され、選択された端子の信号がラッチパルスC
KDとしてフリップフロップFO〜FnのCK端子に与
えられる。フリップフロップFO−FnのD端子に印加
される信号源(図示せず)からの入力信号AO−6= 〜Anを、上記ラッチパルスCKDでラッチし、出力端
子QO−Qnから出力信号AxO−Axnとして出力す
る。
第2図は、分周器りの分周比を2 (n=2)とし、ラ
ッチパルスCKDとして、シフトレジスター3の出力端
子SL(クロック発生装置lがらのクロックCKOの1
周期分遅れ)を選択した場合を図示したものである。
第2図から明らかなように、入力信号AO−A3の波形
崩れは、ラッチパルスCKDのタイミングで、入力信号
AO−A31:1m対し、CK(7) 1 /2周期遅
れてラッチされ、波形整形されてフリップフロップFO
〜Fnの出力からA x O−A x nとして取り出
される。これらの出力信号AxO−Axnは第3図に示
すようにDUTの入力端子に加えられる。このため、命
令取込みタイミングが、DUT内部タイミングCOの2
から3に遅れる事になるが、以後の動作は、すべてDU
T内部タイミングCOの1サイクル分遅れて動作する為
、誤動作は発生しない。
即ち、DUTへの入力信号Axe、Ax3のH命令は、
DUT内部タイミングCOの3のタイミングで取込まれ
、その直後の内部タイミングC2のHのタイミング3で
DUTの出力信号BOをHとして出力する。同様にして
DUTへの入力信号Axl、Ax2のH命令は、DUT
内部タイミングCOの6のタイミングで取込まれ、その
直後の内部タイミングC2のHのタイミング6で、DU
Tの出力信号BOをLに、B1をHとする。すなわち、
第2図の場合、第5図の場合に比べて、内部タイミング
COの1サイクル分遅れを除いて、同じ動作をしており
、誤動作を防ぐ事の出る事を示している。
なお、実施例では、クロック発生装置1、分周器2、シ
フトレジスター3で、ラッチ信号を出力する手段を構成
している。
発明の効果 このように本発明では、DUTのクロックに対して、任
意の遅れ時間をもったラッチ信号を、入力信号と並行し
て送出し、これら信号を使って入力信号を精度よ(復元
し、それぞれのDUTの入力に与えるため、配線容量に
よる波形の崩れを修正し、DUTの誤動作を除く事が出
来る。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例におけるロジック集積回路の
測定装置のブロック図、第2図は第1図の各部のタイミ
ングチャート、第3図は第1図の実施例におけるDUT
の結線状態を示す図、第4図は従来のDUTの結線状態
を示す図、第5図。 第6図は従来の各部のタイミングチャート。 1・・・・・・クロック発生装置、2・・・・・・分周
器、3・・・シフトレジスター、4・・・・・・スイッ
チ、Fφ〜Fn・・・・・・フリップフロップ、DUT
・・・・・・被測定集積回路素子。CKφ・・・・・・
クロック、CK・・・・・・クロックの分周信号、Aφ
〜A3・・・・・・入力信号、Axφ〜Ax3・・・・
・・フリップフロップの出力信号(DUTの入力信号)
、Bφ〜B2・・・・・・出力信号、Aφ〜An・・・
・・・入力信号、D・・・・・・シフトレジスタ及びフ
リップフロップの入力、SP・・・・・・シフトパルス
入力端子、Sφ〜Sn・・・・・・シフトレジスタの出
力端子、CKD・・・・・・ラッチパルス、QO−Qn
・・・・・・フリップ70ツブの出力端子、AXφ〜A
xn・・・・・・フリップフロップの出力信号(DUT
の入力信号)、n・・・・・・分周比。 代理人の氏名 弁理士 中尾敏男 ばか1名 lO− CにF−m−グロック Cバーーーグロッグの分用侶ち cy5〜(:’2−DtJTの動作タイミング゛第2図 β2 Cバーーークロッグ AXf −AX3−m−人力01号 B戸〜B2−−−1カ椙乃 第3図 第5図 B? 第6図

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. クロック同期式の被測定ロジック集積回路の複数の入力
    端子に供給する複数の入力信号を送出する信号源と、上
    記被測定ロジック集積回路のクロックに対して所定時間
    遅延したラッチ信号を出力する手段と、上記ラッチ信号
    で上記複数の入力信号をラッチし、上記複数の入力信号
    を波形整形して上記被測定ロジック集積回路の入力端子
    に印加する手段とを備えたロジック集積回路の測定装置
JP61140689A 1986-06-17 1986-06-17 ロジツク集積回路の測定装置 Pending JPS62297766A (ja)

Priority Applications (1)

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JP61140689A JPS62297766A (ja) 1986-06-17 1986-06-17 ロジツク集積回路の測定装置

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JP61140689A JPS62297766A (ja) 1986-06-17 1986-06-17 ロジツク集積回路の測定装置

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JPS62297766A true JPS62297766A (ja) 1987-12-24

Family

ID=15274465

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JP61140689A Pending JPS62297766A (ja) 1986-06-17 1986-06-17 ロジツク集積回路の測定装置

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