JPS6230141U - - Google Patents

Description

【図面の簡単な説明】

第１図はこの考案の一実施例の装置にかかり、
同図ａは側面断面図、同図ｂは上面断面図、第２
図は制御部の構成を説明するブロツク図、第３図
は光芯案内板を示す図ａは断面図、同図ｂは正面
図、第４図ないし第６図はいずれも光芯案内板を
示し、各図ａは要部の正面図、各図ｂは断面図、
第７図は従来の装置を示し、同図ａは側面断面図
、同図ｂは上面断面図である。 １１……暗室、１１ａ……光芯案内板（暗室の
一側面の一部）、１２……搬送装置、１５，１５
……マグネツト、１６……通電装置部、１７……
接触子、１８，２８，３８……光芯案内板の開孔
、１９……制御部、１０２……測定検査装置、１
０３……発光・受光素子、１０３ａ……発光素子
の発光部、１０３ｂ……リード。

Claims (1)

【実用新案登録請求の範囲】
1. 発光・受光素子の測定検査装置を内装した暗室
   と、被検査素子をそのリードを磁性吸着支持しそ
   の発・受光部を上記暗室に向けて搬送する搬送装
   置と、前記搬送装置に設けられ被検査素子のリー
   ドに接触子を弾接させる通電装置部と、前記暗室
   の一側面の一部である光芯案内板に設けられ搬送
   された発光・受光素子の発・受光部を挿通させる
   開孔と、上記搬送装置、通電装置部、測定検査装
   置の動作を制御する制御部を具備した発光・受光
   素子検査装置。